DE19632656A1 - Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder der Drehstellung eines Gegenstandes - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder der Drehstellung eines GegenstandesInfo
- Publication number
- DE19632656A1 DE19632656A1 DE1996132656 DE19632656A DE19632656A1 DE 19632656 A1 DE19632656 A1 DE 19632656A1 DE 1996132656 DE1996132656 DE 1996132656 DE 19632656 A DE19632656 A DE 19632656A DE 19632656 A1 DE19632656 A1 DE 19632656A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- value
- track
- signal
- increments
- magnetized
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
- G01D5/24409—Interpolation using memories
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine
Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder
Drehstellung eines Gegenstandes nach dem Oberbegriff der
Patentansprüche 1 bzw. 7.
Verfahren und Vorrichtungen dieser Art sind aus der Zeit
schrift "Elektronik" 1/1994 in einem Aufsatz von Thomas
Henke "Spurenauswertung mit Spezialchip", Seite 24 bis
31 bekannt.
Grundsätzlich gehen inkrementale Impulsgeber für die
Positionserkennung und Drehzahlmessung von elektrischen
Impulsen aus, die berührungslos durch Lichtschranken oder
Magnetfeldsensoren generiert werden. Auf einem Bauteil
wzb. einer drehbaren Scheibe, deren Drehstellung erfaßt
werden soll, sind zu diesem Zweck drei magnetisierte Spuren
aufgebracht, denen je ein Magnetfeldsensor gegenüberliegt.
Die erste Spur erzeugt bei hochwertigen Gebern ein sinus
förmiges Ausgangssignal. Die zweite Spur erzeugt ein dem
gegenüber um eine viertel Periode (90°) phasenverschobenes,
cosinusförmiges Signal. Die dritte Spur enthält lediglich
eine sogenannte Null- oder Referenzmarke, die einmal pro
mechanischer Umdrehung an einer definierten Stelle einen
kurzen Ausgangsimpuls erzeugt, um eine absolute Lagebestim
mung nach Einschalten des Systems zu ermöglichen. Bei hoch
auflösenden Auswerteverfahren werden nicht nur die Nulldurch
gänge der Sinus- und Cosinussignale ausgewertet, sondern
aus digitalisierten Momentanwerten der Spursignale der
ersten und zweiten Spur wird mit Hilfe einer Tabelle über
eine Arcustangensfunktion ein hochaufgelöster Lagewinkel
ermittelt. Die Winkeltabelle ist entweder in einem separaten
Festwertspeicher oder im Codebereich eines angeschlossenen
Mikroprozessors abgelegt. Um Mehrdeutigkeiten der Arcustan
gensfunktion auszuschließen ist eine Logikschaltung vorge
sehen, die anhand der Nulldurchgänge der Sinus- und Cosinus-
Signale bestimmt, in welchem Quadranten der Sinus- oder
Cosinusfunktion man sich befindet. Mittels der Information
über den Quadranten wird der aus der Winkeltabelle ausge
lesene Wert der Arcustangensfunktion korrigiert.
Da der volle Abtastbereich mehrere volle Perioden des Sinus-
oder Cosinus-Signales umfaßt, kann zwar innerhalb einer
Periode dieser Signale ein genauer relativer Wert bezüglich
der Periode ermittelt werden. Ein absoluter Wert kann aber
nur dadurch erhalten werden, daß ausgehend von dem Referenz
signal der dritten Spur die Anzahl der durchlaufenden Perio
den mitgezählt wird. Wird ein solches System erstmalig
eingeschaltet, so läßt sich kein genauer absoluter Wert
erhalten. Vielmehr muß nach dem ersten Einschalten die
drehbare Scheibe mindestens soweit gedreht werden, daß
das Referenzsignal der dritten Spur erzeugt wird. Dies
ist für viele Anwendungszwecke nicht hinnehmbar.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, Verfahren und Vorrichtung
der eingangs genannten Art dahingehend zu verbessern, daß
ein Absolutwert der Lage oder der Drehstellung jederzeit
und auch nach erstem Einschalten der Vorrichtung abgelesen
werden kann, ohne daß eine Bewegung stattfinden muß.
Diese Aufgabe wird für das Verfahren durch die im Patent
anspruch 1 und für die Vorrichtung durch die im Patent
anspruch 7 angegebenen Merkmale gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der
Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Das Grundprinzip der Erfindung sieht vor, daß zwei Spuren
vorgesehen sind, von denen eine eine Anzahl n von Inkrementen
aufweist, von denen jedes in einem zugeordneten Sensor
eine volle Periode (2π) eines Sinus- und eines Cosinus-Signa
les erzeugt und deren zweite eine um eins verschiedene
Anzahl n-1 oder n+1 von Inkrementen aufweist. Jede Spur
wird durch zwei bezüglich eines Inkrementes um π/2 versetzt
angeordneten Sensoren abgetastet, so daß der eine ein
sinusförmiges und der andere ein cosinusförmiges Signal
pro abgetasteter Inkrement-Periode erzeugt. Aus den Sinus-
und Cosinus-Signalen jedes Inkrementes wird ein Lagesignal
(α) erzeugt. Aufgrund der unterschiedlichen Anzahl von
Inkrementen besteht zwischen den Lagesignalen (α) für jede
Spur eine Phasendifferenz, die über den Meßbereich linear
anwächst. Bei negativer Differenz an Phasensprüngen wird
diese Differenz um einen konstanten Additionswert korrigiert,
womit man einen exakt linearen Verlauf des korrigierten
Phasendifferenzsignales erhält. Da sich diese Phasendifferenz
zwangsläufig einstellt, erhält man jederzeit und auch
unmittelbar nach dem Einschalten der Vorrichtung einen
exakten Absolut-Lagewert, ohne daß eine Bewegung über eine
Nullmarke hinweg erfolgen muß.
Nach einer Weiterbildung der Erfindung wird eine Feinauf
lösung innerhalb der einzelnen Inkremente der beiden Spuren
dadurch erreicht, daß das Sinus- und das Cosinus-Signal
der Spur hinsichtlich ihres Vorzeichens untersucht werden
und daraus bestimmt wird, in welchen Quadranten der Sinus-
und der Cosinusfunktion sich der Sensor befindet. Weiter
wird während jeder Abtastperiode von einem Signalgenerator
stufenweise entsprechend einer vorgegebenen Auflösung ein
Signal erzeugt, das mit dem Sinus- oder dem Cosinus-Signal
der einen Spur multipliziert wird, wobei anschließend dieses
Produkt mit dem anderen Signal (Cosinus oder Sinus) derselben
Spur verglichen wird. Sobald dieser Vergleich eine Überein
stimmung zeigt, wird der aktuelle Wert des Signalgenerators
gespeichert und entweder direkt als Winkelwert oder als
Tangens bzw. Cotangens des entsprechenden Winkels inter
pretiert. Entsprechend dem zuvor festgestellten Quadranten
wird dieser Wert dann noch korrigiert, worauf man den
Lagewert innerhalb eines Inkrementes erhält.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbei
spielen im Zusammenhang mit der Zeichnung ausführlicher
erläutert.
Es zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Scheibe mit
zwei Spuren;
Fig. 2a eine lineare Abwicklung von zwei Spuren mit einer
unterschiedlichen Anzahl von magnetisierten Inkre
menten;
Fig. 2b den Verlauf der von den beiden Spuren der
Fig. 2a erzeugten Sinus-Signale;
Fig. 2c den Verlauf der Feinauflösung des innerhalb jedes
Inkrementes ermittelten Winkels;
Fig. 2d den Verlauf der Phasendifferenz, d. h. der
Differenz der Signale der Fig. 2c;
Fig. 3 ein Blockschaltbild einer Variante der Erfindung
zur Ermittlung des Winkels innerhalb eines
Inkrementes;
Fig. 4 ein Blockschaltbild ähnlich Fig. 3 nach einer
zweiten Variante der Erfindung; und
Fig. 5 ein Blockschaltbild zur Ermittlung des Ab
solutwertes der Position aus den Signalen beider
Spuren.
Fig. 1 zeigt die Draufsicht auf eine Scheibe 1, die zwei
Spuren 2 und 3 aufweist, die auf konzentrischen Kreisen
liegen. Jede Spur 2 und 3 weist mehrere aufeinanderfolgende
Inkremente I₁₁, I₁₂ . . . , In bzw. I₂₁, I₂₂ . . . I2(n-1) auf. Jedes
Inkrement ist magnetisiert, so daß in jeder Spur immer
aufeinanderfolgend kurze Magnete mit Nord- und Südpol an
geordnet sind. Selbstverständlich können die beiden Spuren
auch auf zwei verschiedenen Seiten der Scheibe 1 angeordnet
sein und dann deckungsgleich zueinander liegen. Die beiden
Spuren weisen eine um eins verschiedene Anzahl von Inkre
menten auf. Beispielsweise weist die äußere Spur 2 eine
Anzahl von n Inkrementen auf, während die innere Spur 3
die Anzahl n-1 von Inkrementen aufweist. Im dargestellten
Ausführungsbeispiel umfaßt der Meßbereich einen Vollkreis,
d. h. 360°. Für den Fall, daß der Meßbereich kleiner sein
soll, sind die Inkremente der einzelnen Spuren so anzuordnen,
daß innerhalb des Meßbereiches eine um eins verschiedene
Anzahl von vollen Inkrementen liegt. Jedes Inkrement einer
Spur hat die gleiche Länge bzw. überdeckt denselben
Winkelbereich.
Da die innere Spur 3 eine kleinere Anzahl von Inkrementen
hat als die äußere Spur 2, sind die Inkremente der inneren
Spur etwas länger als die der äußeren, so daß Punkte gleicher
Phasenlagen der einzelnen Inkremente der beiden Spuren
eine zunehmend größere Phasendifferenz δ aufweisen, wenn
man in Richtung des Pfeiles β fortschreitet.
Fig. 2a zeigt die beiden Spuren mit der räumlichen Zuordnung
der einzelnen Inkremente. Beim Abtasten mit einem entspre
chenden Sensor, beispielsweise einer Hallsonde, einer Induk
tionsspule oder einem sonstigen Magnetsensor erzeugt jedes
Inkrement eine volle Periode eines Sinus-Signales. Die
Spur 1 in Fig. 2b hat dabei eine volle Periode mehr als
die Spur 2, d. h. die Phasendifferenz zwischen den beiden
Spuren 1 und 2 der Fig. 2b wächst linear von Null bis
zum Wert 2π (entsprechend 360° einer vollen Sinus-Periode
eines Inkrementes) an.
In Fig. 2c ist der Winkel bzw. die Länge der Inkremente
jeweils vom Anfang bis zum Ende eines Inkrementes aufgezeigt,
wobei jedes Inkrement bezogen auf die Periode des Sinus-
Signales auf die Länge 2π normiert ist.
Fig. 2d zeigt schließlich die Differenz α₁-α₂ der Fig.
3c, die linear anwächst, im Bereich zwischen Phasensprüngen
der beiden Spursignale allerdings negativ wird. Wie sich
mathematisch ohne weiteres nachweisen läßt und in Fig.
2d abzulesen ist, verläuft die Differenz im negativen
Bereich ebenfalls linear mit derselben Steigung, so daß
eine Korrektur des Kurvenverlaufes auf eine durchgehende
gerade Linie, die in Fig. 2d mit "korrigierte Phasendiffe
renz" bezeichnet und strichliert dargestellt ist, ohne
weiteres möglich ist, indem man bei negativer Phasendifferenz
einen konstanten Wert von 2π hinzuaddiert (soweit Größen
in Radian angegeben sind, beziehen sie sich immer auf die
Länge eines Inkrementes der Spur 1).
Fig. 3 zeigt ein Blockschaltbild einer Vorrichtung zum
Ermitteln des Winkel- bzw. Lagewertes innerhalb eines In
krementes. Jedes Inkrement wird durch zwei Sensoren abge
tastet, die bezogen auf die Länge des Inkrementes von 360°
bzw. 2π um 90° bzw. π/2 gegeneinander versetzt sind, so
daß der eine Sensor ein sinusförmiges Signal A*sin(α)
erzeugt, das an einen Anschluß 4 angelegt wird, während
der andere Sensor ein demgegenüber um 90° bzw. π/2 versetztes
cosinusförmiges Signal A*cos(α) erzeugt, das an einen An
schluß 5 angelegt wird. Beide Signale werden von einer
Sample & Hold-Schaltung 6 bzw. 7 abgetastet und dort zwi
schengespeichert. Der jeweilige Abtastwert wird in Kompa
ratoren 8 bzw. 9 mit einer Referenzspannung von Null ver
glichen, so daß am Ausgang der Komparatoren 8 und 9 ein
impuls- oder rechteckförmiges Signal entsteht, das im
Ergebnis dem Vorzeichen bzw. der Signum-Funktion der Signale
an den Anschlüssen 4 und 5 entspricht. Aus diesen beiden
Signum-Funktionen wird in einem Baustein 10 bestimmt, in
welchem Quadrant des Inkrementes sich der das sinusförmige
Signal erzeugende Sensor befindet. Der erste Quadrant geht
von 0° bis 90° bzw. 0 bis π/2; der zweite von 90° bis 180°
d. h. π/2 bis π, usw. Der Block 10 wird daher auch als
Quadrantenlogik bezeichnet.
Bekanntlich ist der Quotient aus Sinus und Cosinus eines
Winkels der Tangens dieses Winkels. Es gilt somit:
tan(α) = A*sin(α)/A*cos(α)
wobei sich der "Verstärkungsfaktor" A der beiden Sensoren
herauskürzt. Löst man diese Gleichung auf, so erhält man
die Beziehung
A*cos(α)*tan(α) - A*sin(α) = 0,
bei der der Faktor A ebenfalls herausgekürzt werden kann.
Diese Gleichung wird durch die nachfolgend beschriebene
Schaltung in folgender Weise gelöst:
Ein Funktionsgenerator 11 erzeugt taktweise ein stufig inkrementiertes Signal, das als Winkel β interpretiert wird und einen Bereich von 0 bis geringfügig kleiner als 90°, bzw. geringfügig kleiner als π/2 abdeckt. Dieses Signal wird einem Funktionsgenerator 12 zugeführt, der aus dem aktuellen Wert von β einen aktuellen Wert entsprechend tan(β) ermittelt. In der Praxis wird man hierzu eine Wertetabelle in einem Speicher ablegen und je nach Eingabewert der Größe β den zugehörigen Wert der Tangens funktion auslesen. Da β nur viertelkreisig (0 β < π/2) erzeugt wird, wird ein vollkreisiges β mit Hilfe der Quadrantenlogik 10 gemäß den allgemein bekannten Reduktions formeln der Tangensfunktion bestimmt. Es gelten:
tan(β) = -tan(β) für β = 180° - β
tan(β) = tan(β) für β = 180° + β,
tan(β) = -tan(β) für β = 270° + β.
Ein Funktionsgenerator 11 erzeugt taktweise ein stufig inkrementiertes Signal, das als Winkel β interpretiert wird und einen Bereich von 0 bis geringfügig kleiner als 90°, bzw. geringfügig kleiner als π/2 abdeckt. Dieses Signal wird einem Funktionsgenerator 12 zugeführt, der aus dem aktuellen Wert von β einen aktuellen Wert entsprechend tan(β) ermittelt. In der Praxis wird man hierzu eine Wertetabelle in einem Speicher ablegen und je nach Eingabewert der Größe β den zugehörigen Wert der Tangens funktion auslesen. Da β nur viertelkreisig (0 β < π/2) erzeugt wird, wird ein vollkreisiges β mit Hilfe der Quadrantenlogik 10 gemäß den allgemein bekannten Reduktions formeln der Tangensfunktion bestimmt. Es gelten:
tan(β) = -tan(β) für β = 180° - β
tan(β) = tan(β) für β = 180° + β,
tan(β) = -tan(β) für β = 270° + β.
Damit muß β nur Werte von 0 bis 90° durchlaufen und trotzdem
kann mit Hilfe der Quadrantenlogik der volle Bereich von
0 bis 360° abgedeckt werden. Am Ausgang des Funktionsgene
rators 12 steht somit ein Wert für tan(β) an. Der Ausgang
der Sample & Hold-Schaltung 6 mit dem Wert A*cos(α) und
der Ausgang des Funktionsgenerators 12 mit dem Wert tan(β)
werden einem Multiplizierer zugeführt, der somit den ersten
Term der obigen Gleichung, nämlich A*cos(α)*tan(β)
bildet. Dieser Term wird dem positiven Eingang eines
Subtrahierers 14 zugeführt, dessen negativen Eingang der
Ausgang der Sample & Hold-Schaltung 7, d. h. der Wert A*sin(α)
zugeführt wird. Sobald der Ausgang des Subtrahierers 14
den Wert Null angenommen hat, ist die Gleichung "gelöst"
und der Funktionsgenerator 11 erhält ein Steuersignal,
das die weitere Inkrementierung des Wertes im Funktions
generator 11 unterbricht. Der letzte aktuelle Wert von
β im Funktionsgenerator 11 wird daraufhin gleich dem Wert
von α gesetzt und einem Korrekturschaltkreis 15 zugeführt,
dessen anderem Eingang das Ausgangssignal der Quadrantenlogik
10 zugeführt wird. Der Korrekturschaltkreis 15 gibt dann
an seinem Ausgang 16 einen Wert von α aus, der über eine
volle Periode eines Inkrementes der abgetasteten Spur richtig
ist.
Solange das Ausgangssignal des Subtrahierers 14 noch positive
Werte anzeigt, ist die obige Gleichung noch nicht "gelöst"
und der Funktionsgenerator 11 inkrementiert bei jedem Takt
den Wert von β.
Da die Tangens- und Cotangens-Funktionen bei 90° bzw. π/2
und 270° bzw. drei π/2 den Wert unendlich annehmen, d. h.
eine Polstelle haben, muß dafür gesorgt werden, daß dieser
Wert nicht exakt erreicht werden kann. Je nach gewähltem
Auflösungsvermögen, das bei einem Drehwinkelgeber beispiels
weise bei 0,01% liegt, kann sich der vom Funktionsgenerator
11 erzeugte Wert von β sehr nahe dem Wert von 90° annähern,
ohne daß die Werte von tan(β) übermäßig groß werden. Somit
läßt sich durch geeignete Wahl der Inkrementierungsgröße
des Funktionsgenerators 11 das Problem der Polstellen auf
elegante Weise lösen.
Eine andere Möglichkeit bestünde darin, das Ausgangssignal
der Sample & Hold-Schaltung 6 mittels eines Komparators
daraufhin zu untersuchen, ob es den Wert Null hat. In diesem
Falle würde das Ausgangssignal des Funktionsgenerators
11 unwirksam geschaltet und die Korrekturschaltung 15 würde
je nach Vorzeichen des Sinussignales, das am Ausgang des
Komparators 8 anliegt, den Wert von 90° oder 270° ausgeben.
Mit der Schaltung nach Fig. 3 erhält man somit ein Signal
α, das mit hoher Auflösung den Lage- oder Winkelwert der
Abtastung innerhalb eines Inkrementes anzeigt.
Fig. 4) zeigt eine ähnliche Schaltung, bei der der Funk
tionsgenerator 11 und die Wertetabelle 12 zu einem Funk
tionsgenerator 17 zusammengefaßt sind, der ein dem tan(β)
entsprechendes Signal erzeugt. Eine Wertetabelle 18 für
die Arcustangensfunktion wandelt dann, wenn der Ausgang
des Subtrahierers 14 anzeigt, daß die oben genannte Gleichung
gelöst ist, den aktuellen Wert von tan(β) in den Wert von
α am Ausgang 16 um, wobei auch dies unter Steuerung der
Quadrantenlogik 10 erfolgt, so daß die Mehrdeutigkeiten
der Arcustangensfunktion eliminiert werden können.
Auch hier wird das Problem der Polstellen dadurch gelöst,
daß das Ausgangssignal des Funktionsgenerators 17 begrenzt
ist. Auch hier besteht die Möglichkeit, Polstellen der
Tangensfunktionen dadurch abzufangen, daß der Fall abgefangen
wird, bei dem das Ausgangssignal der Sample & Hold-Schaltung
6 kleiner als ein vorgegebener Wert ist, bei dem also die
Cosinusfunktion nahe bei Null liegt, womit man sich im
Rahmen des vorgegebenen Auflösungsvermögens nahe bei 90°
oder bei 270° befindet, wobei diese beiden Fälle durch
das Vorzeichen des Sinus-Signales, d. h. das Ausgangssignal
des Komparators 8 unterschieden werden können.
Auch mit der Schaltung nach Fig. 4 erhält man somit eine
Feinauflösung des Weges bzw. des Winkels innerhalb eines
Inkrementes einer Spur.
In der Praxis wird man die Schaltungen der Fig. 3 und
4 durch einen programmierten Mikroprozessor realisieren,
bei dem die beiden Sample & Hold-Schaltungen 6 und 7
zusätzlich einen Analog-/Digital-Wandler enthalten.
Fig. 5 zeigt ein Blockschaltbild einer Schaltung, die
das Ausgangssignal α am Anschluß 16 der Fig. 3 und 4
weiter verarbeitet. Mit der Schaltung der Fig. 3 oder
4 werden beide Spuren 2 und 3 (Fig. 1) abwechselnd, d. h.
zeitlich nacheinander abgetastet. Am Anschluß 16 steht
somit abwechselnd ein Signal α1 für die erste Spur und
α2 für die zweite Spur an. Dieses Signal wird über einen
Umschalter 18 zu Zwischenspeichern 19 und 20 weitergeleitet.
Der Zwischenspeicher 19 speichert den Wert α1 und der
Zwischenspeicher 20 den Wert α2. Die beiden Zwischenspeicher
19 und 20 sind mit einem Subtrahierer 21 verbunden, der
die Differenz δ = α(1)-α(2) bildet, also die Phasendiffe
renz zwischen den Spursignalen. Dieses Ausgangssignal δ
ist in Fig. 2d dargestellt. Es muß jetzt noch für negative
Werte korrigiert werden. Hierfür wird in einem Block 22
überprüft, ob das Signal δ negativ oder positiv ist. Ist
es positiv, so muß es nicht mehr korrigiert werden und
stellt direkt den zu erfassenden Winkel bzw. die zu
erfassende Strecke über den gesamten Meßbereich dar. Ist
es dagegen negativ, so muß es noch mit einem konstanten
additiven Wert k korrigiert werden, wobei dieser Korrek
turwert gerade der Länge bzw. dem Winkelbereich 2π eines
Inkrementes entspricht. Der Ausgang des Korrekturschalt
kreises 23 ist mit einer Ausgabeeinheit 24 verbunden, die
je nach Ergebnis der Abfrage in dem Block 22 entweder den
korrigierten oder den unkorrigierten Wert für δ ausgibt.
Claims (10)
1. Verfahren zum berührungslosen Erfassen der Lage oder
Drehstellung eines Gegenstandes, bei dem auf dem
Gegenstand zwei parallele Spuren von magnetisierten
Inkrementen aufgebracht sind und den Spuren
gegenüberliegend mindestens je ein Sensor angeordnet
ist, der ein sinusförmiges oder ein cosinusförmiges
elektrisches Ausgangssignal in Abhängigkeit von der
relativen Drehstellung bzw. der relativen Lage zwischen
der Spur und dem Sensor erzeugt, wobei aus den
Momentanwerten der Spuren ein hoch aufgelöster Lagewert
(α) bezogen auf das jeweilige magnetisierte Inkrement
bestimmt wird und wobei durch Auswertung der
Spursignale der beiden Spuren ermittelt wird, im
Bereich welchen magnetisierten Inkrementes sich der
jeweilige Sensor momentan befindet,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwei Spuren (2, 3) abgetastet werden, von denen jede im zugeordneten Sensor je ein sinusförmiges und ein cosinusförmiges Signal erzeugt,
daß die eine Spur eine Anzahl n von magnetisierten Inkrementen (I₁₁ . . . In) und die zweite Spur eine davon verschiedene Anzahl von magnetisierten Inkrementen (I₂₁ . . . I2(n-1)) aufweist und
daß die Differenz (6) der hoch aufgelösten Lagewerte (α1, α2) zur Bestimmung des absoluten Lagewertes bzw. der absoluten Drehstellung ermittelt wird.
dadurch gekennzeichnet,
daß zwei Spuren (2, 3) abgetastet werden, von denen jede im zugeordneten Sensor je ein sinusförmiges und ein cosinusförmiges Signal erzeugt,
daß die eine Spur eine Anzahl n von magnetisierten Inkrementen (I₁₁ . . . In) und die zweite Spur eine davon verschiedene Anzahl von magnetisierten Inkrementen (I₂₁ . . . I2(n-1)) aufweist und
daß die Differenz (6) der hoch aufgelösten Lagewerte (α1, α2) zur Bestimmung des absoluten Lagewertes bzw. der absoluten Drehstellung ermittelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß bei negativem Wert der Differenz (6) der hoch
aufgelösten Lagewerte (α1, α2) der negative Wert mit
einem konstanten additiven Korrekturwert K korrigiert
wird, der dem Wert der Länge bzw. des Drehwinkelberei
ches des abgetasteten magnetisierten Inkrementes
entspricht.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Vorzeichen bzw. die Signumfunktion
der Sinus- und der Cosinussignale jeder Spur ermittelt
wird und daraus bestimmt wird, in welchem Quadranten
innerhalb des jeweiligen magnetisierten Inkrementes
sich der jeweilige Sensor befindet.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß innerhalb eines zeitlichen
Abtastzyklus ein sich stufenweise ändernder Wert (β
oder tanβ) erzeugt wird,
daß aus den Spursignalen (A cosα; A sinα) die Differenz A*cosα*tanβ - A*sinα gebildet wird und
daß der Wert β gleich dem Wert α gesetzt wird, wenn diese Differenz 0 ist.
daß aus den Spursignalen (A cosα; A sinα) die Differenz A*cosα*tanβ - A*sinα gebildet wird und
daß der Wert β gleich dem Wert α gesetzt wird, wenn diese Differenz 0 ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Wert von α nur im Bereich 0 und < 90° bzw.
π/2 variiert wird.
6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Wert der Funktion tanα in Abhängigkeit von
dem ermittelten Quadranten wie folgt bestimmt wird:
Quadrant 1 tan α
Quadrant 2 -tan(π-α)
Quadrant 3 tan α
Quadrant 4 -tan(3π/2+α)
Quadrant 1 tan α
Quadrant 2 -tan(π-α)
Quadrant 3 tan α
Quadrant 4 -tan(3π/2+α)
7. Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage
oder der Drehstellung eines Gegenstandes, bei dem
auf dem Gegenstand zwei parallele Spuren von
magnetisierten Inkrementen aufgebracht sind, mit
mindestens je einem jeder Spur zugeordneten Sensor,
der ein sinusförmiges oder cosinusförmiges elektrisches
Ausgangssignal in Abhängigkeit von der relativen
Drehstellung bzw. der relativen Lage zwischen der
Spur und dem Sensor erzeugt und mit einer Rechen
einheit, die aus einem sinusförmigen und einem
cosinusförmigen Signal bestimmt, in welchem Quadranten
einer vollen Periode des sinus- oder cosinusförmigen
Signales sich der Sensor befindet und die weiter mit
Hilfe der Tangensfunktion und dem ermittelten
Quadranten einen Lagewert innerhalb des einzelnen
Inkrementes sowie einen Lagewert bezogen auf einen
Referenzpunkt der Spur ermittelt, dadurch gekenn
zeichnet, daß nur zwei Spuren (2, 3) vorgesehen sind,
von denen eine eine Anzahl n von magnetisierten
Inkrementen (I₁₁ . . . In) und die andere eine davon
verschiedene Anzahl von magnetisierten Inkrementen
(I₂₁ . . . I2(n-1)) aufweist,
daß ein Funktionsgenerator (11; 17) vorgesehen ist, der innerhalb eines Abtastzyklus einen sich stufenweise ändernden Wert (β bzw. tan(β)) erzeugt,
daß ein Multiplizierer (13) vorgesehen ist, der das Produkt der Tangensfunktion dieses Wertes (β) und des cosinusförmigen Spursignales A*cos(α)*tan(β) bildet,
daß ein Subtrahierer (14) vorgesehen ist, der die Differenz dieses Produktes und des sinusförmigen Spursignales
A*cos(α)*tan(β) - A*sin(α) bildet,
daß das Ausgangssignal des Subtrahierers (14) mit einem Steuereingang des Funktionsgenerators (11, 17) verbunden ist und den Momentanwert (β) des Funktions generators einer Ausgabeeinheit (15, 16) zuführt, wenn das Ausgangssignal des Subtrahierers (14) kleiner als ein vorgegebener Grenzwert ist,
daß ein weiterer Subtrahierer (21) vorgesehen ist, der die Differenz (δ) der Lage bzw. Winkelwerte der beiden Spuren (α1, α2) bildet, wobei diese Differenz dem Absolutwert der Lage bzw. des Winkels bezogen auf einen Referenzpunkt beider Spuren entspricht.
daß ein Funktionsgenerator (11; 17) vorgesehen ist, der innerhalb eines Abtastzyklus einen sich stufenweise ändernden Wert (β bzw. tan(β)) erzeugt,
daß ein Multiplizierer (13) vorgesehen ist, der das Produkt der Tangensfunktion dieses Wertes (β) und des cosinusförmigen Spursignales A*cos(α)*tan(β) bildet,
daß ein Subtrahierer (14) vorgesehen ist, der die Differenz dieses Produktes und des sinusförmigen Spursignales
A*cos(α)*tan(β) - A*sin(α) bildet,
daß das Ausgangssignal des Subtrahierers (14) mit einem Steuereingang des Funktionsgenerators (11, 17) verbunden ist und den Momentanwert (β) des Funktions generators einer Ausgabeeinheit (15, 16) zuführt, wenn das Ausgangssignal des Subtrahierers (14) kleiner als ein vorgegebener Grenzwert ist,
daß ein weiterer Subtrahierer (21) vorgesehen ist, der die Differenz (δ) der Lage bzw. Winkelwerte der beiden Spuren (α1, α2) bildet, wobei diese Differenz dem Absolutwert der Lage bzw. des Winkels bezogen auf einen Referenzpunkt beider Spuren entspricht.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Schaltkreis (22) vorgesehen ist, der überprüft,
ob das Ausgangssignal des weiteren Subtrahierers (21)
negativ ist und daß ein Korrekturschaltkreis (23)
vorgesehen ist, der bei negativem Ausgangssignal des
weiteren Subtrahierers (21) zu dessen Signal einen
konstanten Wert (k) hinzuaddiert.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch
gekennzeichnet, daß der Funktionsgenerator (11, 17)
nur Werte der Größe β im Bereich zwischen 0 und kleiner
90° bzw. π/2 erzeugt bzw. nur Werte der Tangensfunktion
in diesem Bereich und daß ein Korrekturschaltkreis
(15, 18) vorgesehen ist, der in Abhängigkeit von dem
ermittelten Quadranten einen Lagewert (α) innerhalb
eines jeweiligen Inkrementes einer Spur über den vollen
Wertebereich einer Periode des Sinus- oder Cosinussig
nales erzeugt.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß die Anzahl der Inkremente der
einen Spur (2) um 1 verschieden von der Anzahl der
Inkremente der zweiten Spur (3) ist und daß die Länge
bzw. der Winkelbereich der einzelnen Inkremente
innerhalb einer Spur jeweils gleich groß ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996132656 DE19632656A1 (de) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder der Drehstellung eines Gegenstandes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996132656 DE19632656A1 (de) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder der Drehstellung eines Gegenstandes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19632656A1 true DE19632656A1 (de) | 1998-02-19 |
Family
ID=7802551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1996132656 Withdrawn DE19632656A1 (de) | 1996-08-13 | 1996-08-13 | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder der Drehstellung eines Gegenstandes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19632656A1 (de) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19849554C1 (de) * | 1998-10-27 | 2000-03-02 | Ruf Electronics Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Absolutposition bei Weg- und Winkelgebern |
DE10140710A1 (de) * | 2001-05-21 | 2003-01-02 | Ruf Electronics Gmbh | Winkelaufnehmer mit magneto-resistiven Sensorelementen |
DE10124761A1 (de) * | 2001-05-21 | 2003-02-20 | Siemens Ag | Verfahren zur kontaktlosen, linearen Positionsmessung |
EP1327862A2 (de) * | 2002-01-11 | 2003-07-16 | Mitutoyo Corporation | Absolutes Positionsmesssystem |
DE10117279B4 (de) * | 2000-04-07 | 2005-09-08 | Yazaki Corp. | Nicht-lineares Hall IC |
DE102004001570A1 (de) * | 2004-01-10 | 2005-12-29 | AMK Arnold Müller GmbH & Co. KG | Magnetische Messvorrichtung |
DE102004038622B3 (de) * | 2004-08-09 | 2006-05-18 | Siemens Ag | Ermittlungsverfahren für eine tatsächliche Absolutlage eines relativ zu einem Grundelement bewegbaren Zusatzelements, korrespondierendes Erstellverfahren für eine Korrekturwerttabelle, korrespondierende Ermittlungseinrichtung und Speichereinrichtung, in der eine Korrekturwerttabelle hinterlegt ist |
EP2821754A3 (de) * | 2013-07-02 | 2015-04-15 | Gill Corporate Limited | Positionsanzeigevorrichtung |
CN108444506A (zh) * | 2018-05-31 | 2018-08-24 | 苏州汇川技术有限公司 | 编码器码盘、绝对值编码器、位置获取方法及*** |
DE102021208762A1 (de) | 2021-08-11 | 2023-02-16 | Zf Friedrichshafen Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen einer Winkellage eines drehbar gelagerten Objekts |
-
1996
- 1996-08-13 DE DE1996132656 patent/DE19632656A1/de not_active Withdrawn
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6466889B1 (en) | 1998-10-27 | 2002-10-15 | Ruf Electronics, Gmbh | Method and apparatus for determining absolute position of displacement and angle sensors |
DE19849554C1 (de) * | 1998-10-27 | 2000-03-02 | Ruf Electronics Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Absolutposition bei Weg- und Winkelgebern |
DE10117279B4 (de) * | 2000-04-07 | 2005-09-08 | Yazaki Corp. | Nicht-lineares Hall IC |
DE10124761B4 (de) * | 2001-05-21 | 2004-02-19 | Siemens Ag | Sensorzeile und Verfahren zur kontaktlosen, linearen Positionsmessung |
DE10140710A1 (de) * | 2001-05-21 | 2003-01-02 | Ruf Electronics Gmbh | Winkelaufnehmer mit magneto-resistiven Sensorelementen |
DE10124761A1 (de) * | 2001-05-21 | 2003-02-20 | Siemens Ag | Verfahren zur kontaktlosen, linearen Positionsmessung |
EP1327862A2 (de) * | 2002-01-11 | 2003-07-16 | Mitutoyo Corporation | Absolutes Positionsmesssystem |
US6772087B2 (en) | 2002-01-11 | 2004-08-03 | Mitutoyo Corporation | Absolute position measuring device |
EP1327862A3 (de) * | 2002-01-11 | 2003-09-17 | Mitutoyo Corporation | Absolutes Positionsmesssystem |
DE102004001570A1 (de) * | 2004-01-10 | 2005-12-29 | AMK Arnold Müller GmbH & Co. KG | Magnetische Messvorrichtung |
DE102004001570B4 (de) * | 2004-01-10 | 2015-10-01 | AMK Arnold Müller GmbH & Co. KG | Messverfahren sowie Messvorrichtung zum Durchführen des Messverfahrens |
DE102004038622B3 (de) * | 2004-08-09 | 2006-05-18 | Siemens Ag | Ermittlungsverfahren für eine tatsächliche Absolutlage eines relativ zu einem Grundelement bewegbaren Zusatzelements, korrespondierendes Erstellverfahren für eine Korrekturwerttabelle, korrespondierende Ermittlungseinrichtung und Speichereinrichtung, in der eine Korrekturwerttabelle hinterlegt ist |
EP2821754A3 (de) * | 2013-07-02 | 2015-04-15 | Gill Corporate Limited | Positionsanzeigevorrichtung |
CN108444506A (zh) * | 2018-05-31 | 2018-08-24 | 苏州汇川技术有限公司 | 编码器码盘、绝对值编码器、位置获取方法及*** |
CN108444506B (zh) * | 2018-05-31 | 2024-03-22 | 苏州汇川技术有限公司 | 编码器码盘、绝对值编码器、位置获取方法及*** |
DE102021208762A1 (de) | 2021-08-11 | 2023-02-16 | Zf Friedrichshafen Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Bestimmen einer Winkellage eines drehbar gelagerten Objekts |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2221587B1 (de) | Absoluter magnetischer Positionsgeber | |
DE69112011T2 (de) | Magnetoresistiver Positionssensor. | |
DE3141015C2 (de) | ||
DE19818799C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Winkeln | |
DE69833668T2 (de) | Digitaler geber zur messung einer relativen position | |
DE102008015837A1 (de) | Positionsmessgerät und Verfahren zu dessen Betrieb | |
EP2899510A1 (de) | Schaltung und Messsystem | |
EP1503182A1 (de) | Magnetischer Drehwinkelsensor | |
DE4440214A1 (de) | Drehgeber mit Hallsensoren | |
EP1662232A1 (de) | Linearer Positionssensor | |
EP0913668A1 (de) | Verfahren zum Ermitteln des Phasenwinkels bei Positionsgebern mit sinusförmigen Ausgangssignalen | |
DE3838291C1 (de) | ||
DE4229610A1 (de) | Drehgeber mit absolutwert-positionserfassung | |
DE9302758U1 (de) | Magnetischer Winkellage- und Drehgeschwindigkeitsgeber | |
DE19632656A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Erfassen der Lage oder der Drehstellung eines Gegenstandes | |
WO1989011080A1 (en) | Position-coded sensor | |
EP2159549B1 (de) | Vorrichtung zur Messung der Relativposition zwischen einer Massverkörperung und einem Lesekopf | |
EP0550794B1 (de) | Drehgeber mit Absolutwert-Positionserfassung | |
DE4021105A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur lagemessung | |
DE3218101C2 (de) | Auswerteeinrichtung für einen digitalen Inkrementalgeber | |
DE3804786C2 (de) | ||
DE102004001570B4 (de) | Messverfahren sowie Messvorrichtung zum Durchführen des Messverfahrens | |
DE102005061347A1 (de) | Anordnung zur Messung des absoluten Drehwinkels einer Welle | |
DE2237032A1 (de) | Winkelmesser | |
DE10123539B4 (de) | Magnetische Längenmessvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8130 | Withdrawal | ||
8165 | Unexamined publication of following application revoked |