DE102006023701A1 - Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements - Google Patents

Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements Download PDF

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Abstract

Es wird ein mikromechanisches Bauelement und ein Verfahren zu dessen Herstellung vorgeschlagen, wobei das Bauelement ein Substrat, eine mikromechanische Struktur, eine Substratvorderseite und eine Substratrückseite aufweist, wobei das Bauelement ein mit der Substratvorderseite verbundenes Kappensubstrat aufweist, wobei das Bauelement Kontaktflächen zur elektrischen Kontaktierung wenigstens eines Teils der mikromechanischen Struktur aufweist und wobei die Kontaktflächen auf der Substratrückseite vorgesehen sind.

Description

  • Stand der Technik
  • Die Erfindung geht aus von einem mikromechanischen Bauelement gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.
  • Ein solches Bauelement ist allgemein bekannt. Beispielsweise ist aus der deutschen Offenlegungsschrift DE 195 37 814 A1 der Aufbau eines funktionalen Schichtsystems und ein Verfahren zur hermetischen Verkappung von Sensoren in Oberflächenmikromechanik offenbart. Die besagte hermetische Verkappung erfolgt mit einem separaten Kappenwafer aus Silizium. Hierbei ist es vorgesehen, dass wenigstens ein Anschlußbereich auf der Vorderseite des Bauelementes vorgesehen ist, der zwangsläufig neben der mikromechanischen Struktur des Bauelementes angeordnet ist und somit den Platzbedarf zur Herstellung des Bauelementes vergrößert. Hierdurch kommt es zu einem größeren Flächenverbrauch zur Herstellung des Sensors gemäß dem Stand der Technik, was diesen verteuert.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Das erfindungsgemäße mikromechanische Bauelement und das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelementes gemäß den nebengeordneten Ansprüchen hat dem gegenüber den Vorteil, dass eine Reduzierung des Flächenbedarfs möglich ist und damit das erfindungsgemäß mikromechanische Bauelement besonders kostengünstig hergestellt werden kann. Insbesondere ist es durch ein Vorsehen von Kontaktflächen auf der Substratrückseite möglich, dass in einer Projektion senkrecht zur Haupterstreckungsebene des Substrats der mikromechanischen Struktur die mikromechanische Struktur bzw. Teile davon zusammen mit wenigstens einem Teil der Kontaktflächen entlang einer Projektionsrichtung angeordnet ist. Hierdurch ist es möglich, dass durch die Kontaktflächen kein zusätzlicher Platzbedarf auf der Substratvorderseite und damit insgesamt weniger Platzbedarf besteht. Ferner ist es hierdurch möglich, dass die Kontaktflächen eine geringe Höhe gegenüber in der Umgebung befindlichen Strukturen auf der Substratrückseite aufweisen. Hierdurch ist es möglich, dass beispielsweise eine Flip-Chip-Kontaktierung des mikromechanischen Bauelements möglich ist.
  • Erfindungsgemäß ist es bevorzugt, dass die mikromechanische Struktur eine Sensorstruktur oder eine Aktuatorstruktur ist, wobei die mikromechanische Struktur bevorzugt eine Sensorstruktur zur Beschleunigungsmessung und/oder zur Drehratenmessung umfasst. Hierdurch ist es insbesondere für solche Anwendungsfälle, die eine vergleichsweise kompliziert strukturierte und damit empfindliche und folglich gegenüber ihrer Umgebung möglichst gut zu schützende mikromechanische Struktur aufweisen, mit einfachen Mitteln einen guten Schutz der mikromechanischen Struktur mit einer guten Kontaktierbarkeit sowie einem geringen Flächenbedarf zu verbinden. Erfindungsgemäß ist es besonders bevorzugt, dass das Substrat der mikromechanischen Struktur und/oder das Kappensubstrat ein Halbleitersubstrat ist und besonders bevorzugt ein Siliziumsubstrat. Hierdurch ist es erfindungsgemäß möglich, mittels etablierter Herstellungstechnologien das mikromechanische Bauelement vergleichsweise kostengünstig herzustellen.
  • Ferner ist es erfindungsgemäß bevorzugt, dass die Substratvorderseite mit dem Kappensubstrat über eine Bondverbindung verbunden vorgesehen ist, insbesondere mittels einer durch Glasfritbonden oder durch ein anderes adhäsives Verfahren (z. B. Kunststoffe) hergestellten Bondverbindung. Hierdurch ist es erfindungsgemäß möglich, eine besonders sichere und mit einfachen Mitteln und unter Verwendung von etablierten Technologien herstellbare Verbindung zwischen der Substratvorderseite und dem Kappensubstrat herzustellen.
  • Ferner ist es bevorzugt, dass zwischen der mikromechanischen Struktur und dem Kappensubstrat eine vorgegebene Gasatmosphäre, insbesondere ein vorgegebener Innendruck, vorgesehen ist. Hierdurch kann die im Inneren des mikromechanischen Bauelementes vorliegende Atmosphäre zur Optimierung der Funktion der mikromechanischen Struktur eingestellt und über die gesamte Lebensdauer des Bauelementes aufrecht erhalten werden.
  • Besonders bevorzugt ist es erfindungsgemäß ferner, dass die vorgegebene Gasatmosphäre mittels einer Ventilierstruktur von der Substratrückseite her versehen ist. Hierdurch ist es möglich, die Gasatmosphäre prozeßtechnisch besonders einfach und in einem vergleichsweise späten Herstellungsschrift zu definieren, so dass daran anschließende Verfahrensschritte zur Herstellung mikromechanischen Bauelements einen möglichst geringen Einfluß auf die im Inneren des Bauelements eingestellte Gasatmosphäre bzw. auf im Inneren des Bauelementes vorliegende erfinderische Materialien wie etwa eine Antihaftschicht (Antistiction coating) haben.
  • Erfindungsgemäß ist es weiterhin bevorzugt, dass die Kontaktflächen von dem Substrat elektrisch isolierte Kontaktstempel aufweisen. Diese sind insbesondere aus dem Material des Substrats hergestellt und vom Substrat durch so genannte Trenchgräben isoliert. Der von dem Substrat isolierte Bereich des Substratmaterials dient anschließend als Kontaktstempel und wird über die Substratrückseite als Teil der Kontaktfläche elektrisch kontaktiert.
  • Ein weiterer Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung eines erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements, wobei in einem ersten Schritt zum einen die mikromechanische Struktur von der Substratvorderseite her hergestellt wird und zum anderen das Kappensubstrat hergestellt wird, wobei in einem zweiten Schritt die Substratvorderseite mit dem Kappensubstrat verbunden wird und wobei in einem dritten Schritt die Kontaktflächen fertig gestellt werden. Hierdurch ist es besonders vorteilhaft möglich, eine vergleichsweise einfache Prozeßabfolge zur Herstellung des mikromechanischen Bauelements mit einem geringen Platzbedarf bzw. einem geringen Flächenbedarf zu verbinden.
  • Besonders bevorzugt, ist erfindungsgemäß vorgesehen, dass zur Herstellung der Kontaktflächen ein Trench-Ätzschritt von der Substratrückseite her durchgeführt wird. Hierdurch ist es erfindungsgemäß möglich, mit einem vergleichsweise geringen Prozeßaufwand die Kontaktflächen von der Substratrückseite her zu prozessieren und somit erheblichen Flächenbedarf einzusparen.
  • Ferner ist es erfindungsgemäß bevorzugt, dass der Trench-Ätzschritt als eine Volltrench-Ätzung durchgeführt wird. Hierdurch kann der Übergangswiderstand der Kontaktflächen erfindungsgemäß herabgesetzt werden, so dass eine direktere Kontaktierung der mikromechanischen Struktur bzw. der elektrisch zu kontaktierenden Teile der mikromechanischen Struktur möglich ist.
  • Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Es zeigen
  • 1 eine schematische Querschnittdarstellung eines Kappensubstrats,
  • 2 eine schematische Querschnittdarstellung einer ersten Ausführungsform des mikromechanischen Bauelements,
  • 3 eine schematische Querschnittdarstellung einer zweiten Ausführungsform des mikromechanischen Bauelements,
  • 4 eine schematische, perspektivische Darstellung des mikromechanischen Bauelements.
  • Ausführungsform(en) der Erfindung
  • In 4 ist in perspektivischer Darstellung schematisch das mikromechanische Bauelement 30 bzw. dessen Hauptbestandteile dargestellt. Das Bauelement 30 weist ein Substrat 10 und ein Kappensubtrat 10' auf. Das Substrat 10 weist eine Substratvorderseite 15 und eine Substratrückseite 16 auf. Im Bereich des Substrats 10 ist eine mikromechanische Struktur 50 strukturiert, insbesondere in Oberflächenmikromechanik. Das Kappensubstrat 10' wird während des Herstellungsprozesses des mikromechanischen Bauelementes 30 mit der Vorderseite 15 bzw. der Substratvorderseite 15 verbunden. Dies ist jedoch in 4 nicht dargestellt.
  • 1 zeigt in einer Querschnittdarstellung das Kappensubstrat 10' mit einer Verbindungsschicht 20 zur nachfolgenden Herstellung der Verbindung zwischen dem Kappensubstrat 10' und der Substratvorderseite 15. Es kann erfindungsgemäß bevorzugt sein, dass das Kappensubstrat 10' eine Kaverne 60 aufweist, die im Bereich der mikromechanischen Struktur 50 angeordnet ist und damit der mikromechanischen Struktur 50 einen größeren Bewegungsspielraum nach oben hin, d. h. in Richtung zum Kappensubstrat 10' hin ermöglicht. Ferner kann es erfindungsgemäß auch vorgesehen sein, dass das Kappensubstrat 10' zur Begrenzung der Bewegung der mikromechanischen Struktur 50 ein Anschlagselement 11 aufweist, welches als s. g. Z-Anschlag fungiert.
  • In 2 ist eine erste Ausführungsform des mikromechanischen Bauelements 30 in einer Querschnittdarstellung schematisch dargestellt. Erkennbar ist, dass das Substrat 10 mit dem Kappensubstrat 10' über die Verbindung 20 verbunden ist. Bei dieser Verbindung 20 handelt es sich insbesondere um eine Bondverbindung 20, welche besonders bevorzugt durch einen so genannten Glasfritbond-Prozeß oder durch ein anderes adhäsives Verfahren (z. B. Kunststoffe) hergestellt ist. Die Tiefe bzw. Höhe der im Kappensubstrat 10' eingebrachten Kaverne 60 muss in Abhängigkeit der Höhe der Verbindung 20 bzw. der Höhe der Bondverbindung 20 den Erfordernissen des Funktionselementes bzw. der mikromechanischen Struktur 50 beispielsweise hinsichtlich des Innenvolumens oder hinsichtlich der Bewegungsfreiheit angepaßt werden. Beispielsweise ist es erfindungsgemäß vorgesehen, dass für mikromechanische Bauelemente 30 mit einem Innendruck im Atmosphärenbereich (beispielsweise herkömmliche Beschleunigungssensoren), einige Mikrometer als Ausnehmung der Kaverne 60 in der Regel ausreichen. Bei evakuierten mechanischen Bauelementen 30, beispielsweise so genannte Vakuumsensoren, wie Drehratensensoren oder dergleichen, können erhöhte Innenvolumina erforderlich sein, was zu einer größeren Höhe der Kaverne 60 im Kappensubstrat 10' führt. Die Schicht der Bondverbindung 20 kann in herkömmlicher Weise beispielsweise durch Siebdruck mit entsprechenden Folgeprozessen aufgebracht werden. Die Sensorzwischenbereiche können entsprechend entweder mit Glasfrit- und/oder Sealglas ausgefüllt sein oder alternativ dazu ausgespart sein. Auf der der Kaverne 60 gegenüberliegenden Seite des Kappensubstrats 10' kann es erfindungsgemäß vorgesehen sein, die Justage-Strukturen anzuordnen.
  • Zu Herstellung der mikromechanischen Struktur 50 des Bauelementes 30 ist es erfindungsgemäß möglich, eine Vielzahl von bekannten Prozessen einzusetzen. Beispielsweise ist es möglich, dass die mikromechanische Struktur 50 zu wesentlichen Teilen innerhalb einer ebenfalls mit dem Bezugszeichen 50 bezeichneten Schicht angeordnet ist, welche auf dem Substrat 10 aufgebracht ist. Bei dieser Schicht 50 kann es sich beispielsweise um eine Funktionsschicht aus einem Polysiliziummaterial, insbesondere ein zumindest in Teilbereichen epitaktisches Polysiliziummaterial vorgesehen sein. Diese Funktionsschicht 50 kann ferner durch eine erste Passivierungszwischenschicht 100 von einer Polysiliziumschicht 51 elektrisch isoliert vorgesehen sein, welche von einer zweiten Passivierungszwischenschicht 101 vom eigentlichen Substratmaterial des Substrats 10 elektrisch isoliert vorgesehen ist. Im Sinne der vorliegenden Erfindung wird jedoch unter dem Begriff Substrat 10 die gesamte Anordnung bzw. der gesamte Schichtaufbau des mikromechanischen Bauelementes 30 außer dem Kappensubstrat 10' bzw. der Verbindungsschicht 20 verstanden, d. h. einschließlich etwaiger auf dem eigentlichen Substratmaterial abgeschiedener Schichten. Das Substrat 10 weist erfindungsgemäß die Substratvorderseite 15 und die Substratrückseite 16 auf. Nach erfolgter Prozessierung der mikromechanischen Struktur 50 wird das Kappensubstrat 10' auf die Substratvorderseite 15 aufgebracht und mittels der Verbindung 20 verbunden. Erfindungsgemäß sind Teile der Polysiliziumschicht 51 als Leiterbahnen (mit dem Bezugszeichen 3 in der 2 bezeichnet) bzw. als Elektrode (mit dem Bezugszeichen 4 in der 2 bezeichnet) ausgebildet und müssen erfindungsgemäß zur Substratrückseite 16 hin kontaktiert werden, so dass die Kontaktflächen 40 gebildet werden. Hierzu ist es erfindungsgemäß vorgesehen, dass entweder Trenchgräben 2' in die Substratrückseite 16 eingebracht werden, wobei zwischen den Trenchgräben 2' ein Bereich des vormaligen Substratmaterials stehen bleibt und einen so genannten Kontaktstempel 2 ausbildet. Bei einer entsprechenden Wahl des Materials des Substrats 10 ist es damit erfindungsgemäß möglich, eine vergleichsweise niederohmige Verbindung zwischen den als Leiterbahn 3 oder Elektrode 4 genutzten Bereichen der Polysiliziumschicht 51 mit der Substratrückseite 16 herzustellen. Erfindungsgemäß ist für das Substrat 10 insbesondere ein Halbleitermaterial und besonders bevorzugt ein Siliziummaterial vorgesehen, wobei zur Realisierung einer vergleichsweise hohen elektrischen Leitfähigkeit (durch die Kontaktstempel 2 hindurch) bevorzugt ein dotiertes Siliziummaterial bzw. ein dotiertes Halbleitermaterial vorgesehen ist. Für die Trenchgräben 2' dient die zweite Passivierungszwischenschicht 101 als Stoppschicht bzw. Ätzstopp-Schicht. Die Trenchgräben 2' werden zur besseren Isolierung von dem restlichen Material des Substrats 10 mit einer dritten Passivierungszwischenschicht 102 aufgefüllt, bei der es sich beispielsweise um ein s. g. Niedertemperatur-Refill, beispielsweise aus Oxidmaterial oder aus Nitridmaterial, handelt oder aber auch um einen so genannten Polymerrefill handeln kann. Nach einer Strukturierung dieser dritten Passivierungszwischenschicht 102 können die Kontaktflächen 40 durch das Aufbringen von Kontaktmaterial 200, beispielsweise Aluminium, fertiggestellt werden. Die solchermaßen hergestellten Kontaktflächen 40 sind direkt bondbar, insbesondere mittels eines Flip-Chip-Bondprozesses.
  • In 3 ist eine zweite Ausführungsform des erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelementes 30 dargestellt. Die mit gleichen Bezugszeichen bezeichneten Teile bzw. Komponenten des Bauelementes 30 weisen dieselbe Struktur bzw. Funktion wie gemäß der ersten Ausführungsform des Bauelementes 30 auf. Im Unterschied zu der ersten Ausführungsform ist es jedoch gemäß der zweiten Ausführungsform vorgesehen, dass ein Trenchgraben 71 von der Substratrückseite 16 her vorgesehen ist, welcher eine Perforationsstruktur 70 in der zweiten Passivierungszwischenschicht 101 freilegt, so dass das Innenvolumen 60 des mikromechanischen Bauelements 30 von der Substratrückseite 16 her zugänglich wird und somit die vorgegebene Gasatmosphäre eingestellt werden kann. Insgesamt wird der Trenchgraben 71 und die Perforationsstruktur 70 als so genannte Ventilationsstruktur der Kavität bezeichnet, welche eine besonders leichte und zu einem besonders späten Zeitpunkt des Herstellungsverfahrens des Bauelements 30 mögliche Einstellung der Gasatmosphäre ermöglicht. Die Einstellung der Gasatmosphäre erfolgt hierbei mittels der Abscheidung und damit Verschließung der Perforationsstruktur 70 durch die dritte Passivierungsschicht 102.
  • In einer nicht dargestellten Variante des mikromechanischen Bauelementes 30 ist es ferner auch möglich, dass der Trenchgraben 2' bzw. die Trenchgräben 2' als so genannte Volltrenches durchgeführt werden. Dies bedeutet, dass kein Kontaktstempel 2 stehen gelassen wird, sondern dass ein vollständiges Freilegen des Kontaktbereiches der Schicht 51 erfolgt. Durch Aufbringen einer Metallschicht oder dergleichen mit einer Strukturierung welche das Metall lediglich im Lochbereich beläßt, und einer nachfolgenden, strukturierten Passivierung, kann eine Galvanikstartschicht hergestellt werden, die es nachfolgend erlaubt, das Volumen, der gemäß der anderen Ausführungsformen des Bauelementes vorgesehenen Kontaktstempel 2 vollständig durch eine Lotmetallisierung aufzufüllen. Ferner können die erste Ausführungsform (2) und die zweite Ausführungsform (3) auch miteinander kombiniert werden.

Claims (10)

  1. Mikromechanisches Bauelement (30) mit einem Substrat (10), mit einer mikromechanischen Struktur (50), mit einer Substratvorderseite (15) und mit einer Substratrückseite (16), wobei das Bauelement (30) ein mit der Substratvorderseite (15) verbundenes Kappensubstrat (10') aufweist und wobei das Bauelement (30) Kontaktflächen (40) zur elektrischen Kontaktierung wenigstens eines Teils der mikromechanischen Struktur (50) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (40) auf der Substratrückseite (16) vorgesehen sind.
  2. Bauelement (30) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mikromechanische Struktur (50) eine Sensorstruktur oder eine Aktuatorstruktur ist, wobei die mikromechanische Struktur (50) bevorzugt eine Sensorstruktur zur Beschleunigungsmessung und/oder Drehratenmessung umfasst.
  3. Bauelement (30) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Substratvorderseite (15) mit dem Kappensubstrat (10') über eine Bondverbindung (20) verbunden vorgesehen ist, insbesondere mittels einer durch Glasfritbonden hergestellten Bondverbindung (20).
  4. Bauelement (30) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen der mikromechanischen Struktur (50) und dem Kappensubstrat (10') eine vorgegebene Gasatmosphäre, insbesondere ein vorgegebener Innendruck, vorgesehen ist.
  5. Bauelement (30) nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die vorgegebene Gasatmosphäre mittels einer Ventilierstruktur (70, 71) von der Substratrückseite (16) her vorgesehen ist.
  6. Bauelement (30) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (40) von dem Substrat (10) elektrisch isolierte Kontaktstempel (2) aufweisen.
  7. Bauelement (30) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (40) mittels Flip-Chip-Kontaktierung elektrisch verbindbar vorgesehen sind.
  8. Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements (30) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in einem ersten Schritt zum einen die mikromechanische Struktur (50) von der Substratvorderseite (15) her und zum anderen das Kappensubstrat (10') hergestellt wird, dass in einem zweiten Schritt die Substratvorderseite (15) mit dem Kappensubstrat (10') verbunden wird und dass in einem dritten Schritt die Kontaktflächen (40) fertiggestellt werden.
  9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass zur Herstellung der Kontaktflächen (40) ein Trench-Ätzschritt von der Substratrückseite (16) her durchgeführt wird.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Trench-Ätzschritt als eine Volltrench-Ätzung durchgeführt wird.
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JP2007131807A JP2007307705A (ja) 2006-05-19 2007-05-17 マイクロメカニカル素子およびマイクロメカニカル素子の製造方法
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008003242B4 (de) 2008-01-04 2017-03-30 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102556956B (zh) * 2012-03-08 2014-06-25 中国科学院上海微***与信息技术研究所 Mems器件的真空封装结构及其制作方法
CN107265397B (zh) * 2017-06-08 2020-01-03 广东合微集成电路技术有限公司 一种适合表面贴装工艺的压阻式加速度传感器及其制造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6074891A (en) * 1998-06-16 2000-06-13 Delphi Technologies, Inc. Process for verifying a hermetic seal and semiconductor device therefor
JP4168497B2 (ja) * 1998-10-13 2008-10-22 株式会社デンソー 半導体力学量センサの製造方法
JP2000180181A (ja) * 1998-12-17 2000-06-30 Ngk Spark Plug Co Ltd マイクロ振動体構造物及びその製造方法
DE10055081A1 (de) * 2000-11-07 2002-05-16 Bosch Gmbh Robert Mikrostrukturbauelement
DE10104868A1 (de) * 2001-02-03 2002-08-22 Bosch Gmbh Robert Mikromechanisches Bauelement sowie ein Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements
DE10226033A1 (de) * 2002-06-12 2003-12-24 Bosch Gmbh Robert Mikromechanisches Bauelement und entsprechendes Herstellungsverfahren
US6929974B2 (en) * 2002-10-18 2005-08-16 Motorola, Inc. Feedthrough design and method for a hermetically sealed microdevice
US6835589B2 (en) * 2002-11-14 2004-12-28 International Business Machines Corporation Three-dimensional integrated CMOS-MEMS device and process for making the same

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008003242B4 (de) 2008-01-04 2017-03-30 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements

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Publication number Publication date
JP2007307705A (ja) 2007-11-29
JP2014122906A (ja) 2014-07-03
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