DE10034702A1 - Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch macht - Google Patents
Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch machtInfo
- Publication number
- DE10034702A1 DE10034702A1 DE10034702A DE10034702A DE10034702A1 DE 10034702 A1 DE10034702 A1 DE 10034702A1 DE 10034702 A DE10034702 A DE 10034702A DE 10034702 A DE10034702 A DE 10034702A DE 10034702 A1 DE10034702 A1 DE 10034702A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- memory
- repair
- address
- lines
- column address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C2029/5604—Display of error information
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C2029/5606—Error catch memory
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Ein Verfahren zum Analysieren der Reparatur einer fehlerhaften Speicherzelle in einem Speicher wird geschaffen, das in der Lage ist, eine Muß-Reparatur eines Speichers sehr schnell zu suchen und einen Simulationsprozeß zum Ersetzen einer Muß-Reparatur zu dem Zeitpunkt, zu dem sie erfaßt worden ist, sehr schnell auszuführen. DOLLAR A Es ist ein Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Zählen der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen in jeder Zeilenadresse in der Zeilenadressenrichtung und zu deren Speicherung sowie ein Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Zählen der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen in jeder Spaltenadresse in der Spaltenadressenrichtung und deren Speicherung vorgesehen. Der in einem der Zähler/Speicher gespeicherte Wert wird ausgelesen, und die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen an den einzelnen Adressen wird mit der Anzahl an Reserveleitungen verglichen. Der Zustand, daß die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen an den einzelnen Adressen größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, wird als eine Muß-Reparatur bestimmt, und ein Simulationsprozeß zum Ersetzen des Fehlers wird zu dem Zeitpunkt ausgeführt, wenn die Muß-Reparatur erfaßt worden ist.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Speichertestvorrichtung zum Testen verschiedener Arten
von Halbleiterspeichern, die einen Speicher enthalten, der beispielsweise aus einem Halbleiter-IC
(nachstehend als IC bezeichnet) gebildet ist, und ein Verfahren zum Analysieren des Ersatzes
oder der Reparatur einer fehlerhaften Zelle oder fehlerhafter Zellen in einem Speicher, das die
Schritte des Zählens der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen eines von dieser Speichertestvorrich
tung getesteten Halbleiterspeichers und der Ermittlung umfaßt, ob eine Reparatur des getesteten
Halbleiterspeichers möglich ist oder nicht. (Nachstehend wird ein Speicher, der aus einem
Halbleiter-IC aufgebaut ist, als IC-Speicher bezeichnet.) Die vorliegende Erfindung betrifft
insbesondere ein Verfahren zum Analysieren der Reparatur einer fehlerhaften Zelle oder fehlerhaf
ter Zellen in einem Speicher, das die Schritte der Ermittlung enthält, ob die Reparatur eines in
diesem technischen Bereich "Muß-Reparatur" genannten Fehlers in einem Speicher mit Redun
danz-Struktur ausgeführt werden kann oder nicht, und eine Speichertestvorrichtung mit einem
Fehlerersetzungsanalysator, die dieses Analyseverfahren verwendet.
In den letzten Jahren wurde eine Erhöhung der Speicherkapazität und eine Miniaturisierung von
IC-Speichern angestrebt. Mit der erhöhten Speicherkapazität und der Miniaturisierung von IC-
Speichern geht einher, daß Defektraten von IC-Speichern zunahmen. Um die Defektraten zu
vermindern, um in anderen Worten zu verhindern, daß die Ausbeute abnimmt, wurden beispiels
weise IC-Speicher hergestellt, bei denen in jedem einzelnen fehlerhafte Speicherzellen durch
Reservespeicherzellen (in diesem technischen Bereich als Reserveleitungen, Reserveleitungen
oder Redundanzschaltung bezeichnet) elektrisch ersetzt werden können. Die IC-Speicher dieses
Typs, die jeweils Reservespeicherzelfen aufweisen, werden in diesem technischen Bereich als
Speicher mit Redundanzstruktur bezeichnet, und die Ermittlung, ob ein Ersatz fehlerhafter
Speicherzellen eines Speichers mit Redundanzstruktur möglich ist oder nicht, wird von einem
Fehlerersetzungsanalysator ausgeführt. Die Speicherkapazität eines IC-Speichers nimmt in letzter
Zeit mehr und mehr zu, und demzufolge ist eine vergrößerte IC-Chipfläche und die Bildung von
Mustern mit hoher Dichte erforderlich. Als Folge besteht die erhöhte Wahrscheinlichkeit, daß eine
Reduzierung der Ausbeute von IC-Speichern auftritt, die von einem extrem winzigen Defekt
herrührt. Um zu verhindern, daß die Ausbeute von IC-Speichern reduziert wird, werden IC-
Speicher hergestellt, bei denen beispielsweise jeweils eine oder mehrere fehlerhafte Speicherzel-.
len durch eine Substituts- oder Alternativspeicherzelle (auch Reserveleitung, Reserveleitung oder
Redundanzschaltung genannt,) elektrisch ersetzt werden kann bzw. können. Wie später beschrie
ben wird, wird der IC-Speicher dieser Art in diesem technischen Bereich als Speicher mit
Redundanzstruktur bezeichnet, und eine Entscheidung, ob der Speicher mit Redundanzstruktur
repariert werden kann oder nicht, wird von einem Fehlerersetzungsanalysator getroffen.
Fig. 5 ist ein Blockschaltbild, das eine schematische Konfiguration eines Beispiels einer Speicher
testvorrichtung mit einem herkömmlichen Fehlerersetzungsanalysator zeigt. Diese Speichertest
vorrichtung TES umfaßt grob gesagt einen Haupt-Controller 111, einen Mustergenerator 112,
einen Taktgenerator 113, einen Wellenformformatierer 114, einen Logikkomparator 115, einen
Treiber 116, einen Analogpegelkomparator (nachstehend als Komparator bezeichnet) 117, einen
Fehleranalysespeicher 118, einen Fehlerersetzungsanalysator 120, eine Logikamplitudenreferenz
spannungsquelle 121, eine Vergleichsreferenzspannungsquelle 122 und eine Vorrichtungsstrom
quelle 123. Des weiteren wird in der folgenden Beschreibung ein Fall des Testens eines IC-
Speichers beschrieben. Verschiedene Halbleiterspeicher, die keine IC-Speicher sind, werden
jedoch auf ähnliche Weise getestet.
Der Haupt-Controller 111 ist im allgemeinen von einem Computersystem gebildet, in das vorab
ein von einem Benutzer (Programmierer) geschaffenes Prüfprogramm PM geladen wird, und die
Steuerung der gesamten Speichertestvorrichtung wird nach Maßgabe des Prüfprogramms PM
ausgeführt. Dieser Haupt-Controller 111 ist über einen Prüfbus BUS an den Mustergenerator 112,
den Taktgenerator 113, den Fehleranalysespeicher 118, den Fehlerersetzungsanalysator 120 und
ähnliches angeschlossen. Obwohl dies nicht gezeigt ist, sind die Logikamplitudenreferenzspan
nungsquelle 121, die Vergleichsreferenzspannungsquelle 122 und die Vorrichtungsstromquelle
123 ebenfalls an den Haupt-Controller 111 angeschlossen.
Ein zu testender IC-Speicher (im Test befindlicher IC-Speicher, im allgemeinen als MUT bezeich
net) 119 ist auf einem Sockel eines Testkopfs (nicht gezeigt) montiert, der gesondert von der
eigentlichen Speichertestvorrichtung gebildet ist. Gewöhnlich ist ein Element, das als Perfor
mance Board oder Funktionskarte bezeichnet wird, am oberen Teil des Testkopfs montiert, und
eine vorbestimmte Anzahl an IC-Sockeln ist auf der Funktionskarte montiert. Daher wird der im
Test befindliche IC-Speicher 119 auf einem zugeordneten der IC-Sockel montiert. Außerdem ist
eine in diesem technischen Bereich als Anschlußkarte bezeichnete gedruckte Leiterplatte
innerhalb des Testkopfs untergebracht. Gewöhnlich ist eine den Treiber 116 und den Komparator
117 der Speichertestvorrichtung TES enthaltende Schaltung auf dieser Anschlußkarte gebildet.
Im allgemeinen wird der Prüfkopf auf einem Prüfabschnitt einer in diesem technischen Bereich als
Handhabungsvorrichtung bezeichneten IC-Transport- und Verarbeitungsvorrichtung montiert und
ist über Signalübertragungsvorrichtungen wie beispielsweise ein Kabel, eine Lichtleitfaser oder
ähnliches an die eigentliche Speichertestvorrichtung elektrisch angeschlossen.
Zuerst werden vor Beginn des Testens des IC-Speichers verschiedene Arten von Daten vom
Haupt-Controller 111 eingestellt. Nachdem die verschiedenen Arten von Daten eingestellt worden
sind, wird das Testen des IC-Speichers begonnen. Wenn der Haupt-Controller 111 einen
Testbeginnbefehl an den Mustergenerator 112 ausgibt, beginnt der Mustergenerator 112, ein
Muster zu erzeugen. Der Mustergenerator 112 liefert nach Maßgabe des Prüfprogramms PM
Prüfmusterdaten an den Wellenformformatierer 114. Andererseits erzeugt der Taktgenerator 113
ein Taktsignal (Taktimpulse) zum Steuern von Betriebszeitpunkten des Wellenformformatierers
114, des Logikkomparators 115 und dergleichen.
Der Wellenformformatierer 114 setzt die vom Mustergenerator 112 gelieferten Prüfmusterdaten
in ein Prüfmustersignal mit einer realen Wellenform um. Dieses Prüfmustersignal wird über den
Treiber 116, der die Spannung des Prüfmustersignals auf eine Wellenform mit einem Amplitu
denwert verstärkt, der durch die Logikamplitudenreferenzspannungsquelle 121 eingestellt wird,
an den im Test befindlichen IC-Speicher (nachstehend als im Test befindlicher Speicher bezeich
net) 119 angelegt. Das Prüfmustersignal wird in einer Speicherzelle des im Test befindlichen
Speichers 119 gespeichert, die eine durch ein Adressensignal spezifizierte Adresse aufweist, und
der Speicherinhalt wird später während eines Lesezyklus aus ihr ausgelesen.
Ein aus dem im Test befindlichen Speicher 119 ausgelesenes Antwortsignal wird im Komparator
117 mit einer aus der Vergleichsreferenzspannungsquelle 122 gelieferten Referenzspannung
verglichen, und es wird ermittelt, ob das Antwortsignal einen vorbestimmten logischen Pegel
aufweist oder nicht, d. h., ob das Antwortsignal eine vorbestimmte Spannung logisch H (logisch
High) oder eine Spannung logisch L (logisch Low) aufweist oder nicht. Ein Antwortsignal, von
dem festgestellt wird, daß es den vorbestimmten logischen Pegel aufweist, wird an den Logik
komparator 115 geschickt, wo das Antwortsignal mit einem Erwartungswertmustersignal
verglichen wird und ermittelt wird, ob der im Test befindliche Speicher 119 ein normales
Antwortsignal ausgegeben hat oder nicht.
Wenn das Antwortsignal nicht gleich dem Erwartungswertmustersignal ist, wird bestimmt, daß
die Speicherzelle mit der Adresse des im Test befindlichen Speichers 119, aus dem das Antwort
signal ausgelesen wurde, fehlerhaft ist, und vom Logikkomparator 115 wird ein diesen Fehler
anzeigendes Fehlersignal erzeugt. Gewöhnlich wird, wenn ein Fehlersignal erzeugt wird, das
Schreiben eines Fehlerdatenwerts (im allgemeinen ein Signal logisch "1"), der an einen Datenein
gangsanschluß des Fehleranalysespeichers 118 angelegt wird, freigegeben, und der Fehlerdaten
wert wird an einer Adresse des Fehleranalysespeichers 118 gespeichert, die durch ein zu diesem
Zeitpunkt an den Fehleranalysespeicher 11 8 geliefertes Adressensignal spezifiziert wird.
Der Fehleranalysespeicher 118 weist eine Betriebsgeschwindigkeit und eine Speicherkapazität
auf, die jenen des im Test befindlichen Speichers 119 äquivalent sind. Ein Adressensignal, das
gleich wie das an den im Test befindlichen Speicher 119 angelegte Adressensignal ist, wird an
diesen Fehleranalysespeicher 118 angelegt. Außerdem wird der Fehleranalysespeicher 118 vor
dem Beginn des Tests initialisiert. Beispielsweise werden durch die Initialisierung Daten von "0"
an jeder der Adressen des Fehleranalysespeichers 118 geschrieben. Jedesmal, wenn ein eine
Nichtübereinstimmung zwischen dem Antwortsignal und dem Erwartungswertmustersignal
anzeigendes Fehlersignal vom Logikkomparator 115 bei dem Test des im Test befindlichen
Speichers 119 erzeugt wird, wird ein einen Speicherzellenfehler anzeigender Fehlerdatenwert mit
logisch "1" an diejenige Adresse des Fehleranalysespeichers 118 geschrieben, die gleich ist wie
die Speicherzelle des im Test befindlichen Speichers 119, in der die Nichtübereinstimmung
festgestellt wird.
Im Gegensatz dazu wird, wenn das Antwortsignal gleich dem Erwartungswertmustersignal ist,
die Speicherzelle mit der Adresse des im Test befindlichen Speichers 119, aus der das Antwort
signal ausgelesen wurde, als normal bestimmt, und es wird ein eine normale Speicherzelle
anzeigendes Gut-Signal erzeugt. Dieses Gut-Signal wird gewöhnlich nicht im Fehleranalysespei
cher 118 gespeichert.
Zu dem Zeitpunkt, zu dem der Test beendet ist, werden die im Fehleranalysespeicher 118
gespeicherten Fehlerdaten aus ihm in den Fehlerersetzungsanalysator 120 ausgelesen, und es
wird ermittelt, ob ein Ersatz fehlerhafter Speicherzellen des getesteten IC-Speichers 119 möglich
ist oder nicht.
Der Fehlerersetzungsanalysator 120 zählt die Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen und die
im Fehleranalysespeicher 118 gespeicherte Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf jeder der
Zeilenadressenleitungen und Spaltenadressenleitungen gleichzeitig und getrennt voneinander und
analysiert, ob jene fehlerhaften Speicherzellen durch die für jede der Vielzahl von Speicherberei
chen (Speicherzellenfeld) des im Test befindlichen Speichers 119 vorgesehenen Reserveleitungen
ersetzt werden können oder nicht.
Des weiteren ist in Fig. 5 das Blockschaltbild so dargestellt, daß das aus dem Treiber 116
ausgegebene Prüfmustersignal nur an einen Eingangsanschluß des im Test befindlichen Speichers
119 angelegt wird und ein Antwortsignal von einem Ausgangsanschluß des im Test befindlichen
Speichers 119 an den Komparator 117 geliefert wird. Die Anzahl der vorgesehenen Treiber 116
ist jedoch tatsächlich gleich der Anzahl an Eingangsanschlüssen des im Test befindlichen
Speichers 119, beispielsweise 512, und die Anzahl der vorgesehenen Komparatoren 117 ist
ebenfalls gleich der Anzahl der Ausgangsanschlüsse des im Test befindlichen Speichers 119 (da
die Anzahl der vorgesehenen Eingangsanschlüsse gewöhnlich gleich der Anzahl der Ausgangsan
schlüsse ist, ist die Anzahl der vorgesehenen Komparatoren 117 gleich der Anzahl der vorgese
henen Treiber 116). Außerdem gibt es, obwohl die Eingangsanschlüsse des im Test befindlichen
Speichers 119 in Fig. 5 als von den Ausgangsanschlüssen des im Test befindlichen Speichers
119 verschieden dargestellt sind, im allgemeinen viele Fälle, bei denen jeder Anschluß des im
Test befindlichen Speichers 119 sowohl als Eingangsanschluß als auch als Ausgangsanschluß
verwendet wird. Darüber hinaus sind, obwohl jedes der Elemente (der Haupt-Controller 111, der
Mustergenerator 112, der Taktgenerator 113, der Wellenformformatierer 114, der Logikkompara
tor 115, der Fehleranalysespeicher 118, der Fehlerersetzungsanalysator 120 und ähnliches) mit
Ausnahme des Treibers 116 und des Komparators 117 durch einen Block dargestellt ist, ist
tatsächlich in jedem Block mit Ausnahme des Haupt-Controllers 111 und des Taktgenerators 113
die gleiche Anzahl an Elementen wie diejenige der Treiber 116 (beispielsweise 512) vorgesehen.
D. h., nur der Haupt-Controller 111 und der Taktgenerator 113 werden gemeinsam für die
Anschlüsse des im Test befindlichen Speichers 119 verwendet.
Fig. 6 zeigt die innere Struktur des im Test befindlichen Speichers 119. Ein durch eine Halbleiter-
IC-Schaltung gebildeter IC-Speicher weist eine Mehrzahl von Speicherbereichen 2 auf, die auf
dem gleichen Halbleiterchip 1 gebildet sind. Jeder Speicherbereich 2 setzt sich aus vielen
Speicherzellen zusammen, die längs Zeilenadressenleitungen und Spaltenadressenleitungen
ausgerichtet sind, und wird in diesem technischen Bereich als Speicherzellenfeld (MCA) bezeich
net. Ein Speicherelement mit einer gewünschten Speicherkapazität setzt sich aus der Vielzahl von
Speicherbereichen 2 zusammen. Außerdem wird auf jeden der Vielzahl von Speicherbereichen 2
selektiv mittels eines Adressensignals für einen Speicherbereich (Block) zugegriffen, das später zu
beschreiben ist.
Wie in Fig. 7 in vergrößerter Form gezeigt, weist jeder Speicherbereich 2 ein Speicherzellenfeld
MCA auf, in dem Speicherzellen matrixartig in Zeilen und Spalten angeordnet sind, und ist
zusätzlich zum Speicherzellenfeld MCA mit einer gewünschten Anzahl an Zeilenreserveleitungen
SR und einer gewünschten Anzahl an Spaltenreserveleitungen SC versehen, die an der Peripherie
des Speicherzellenfelds MCA in der Zeilenadressenrichtung ROW bzw. in der Spaltenadressen
richtung COL gebildet sind. Diese Reserveleitungen SR und SC sind zum Zweck des Ersatzes
fehlerhafter Speicherzellen vorgesehen und dienen dazu, einen im Test befindlichen Speicher, der
als defekter oder fehlerhafter Artikel bestimmt worden ist, zu einem nicht-defekten oder fehler
freien Artikel zu machen, indem die erfaßten fehlerhaften Speicherzellen im Speicherbereich 2
durch jene Reserveleitungen elektrisch ersetzt werden. Des weiteren ist in diesem Beispiel ein Fall
gezeigt, in dem zwei Zeilenreserveleitungen SR an einer Seite des Speicherzellenfelds MCA in der
Zeilenadressenrichtung angeordnet und zwei Spaltenreserveleitungen SC auf einer Seite des
Speicherzellenfelds MCA in der Spaltenadressenrichtung angeordnet sind. Es ist jedoch nicht
erforderlich auszuführen, daß die Anzahl an Reserveleitungen und die Positionen, in denen diese
Reserveleitungen angeordnet sind, nicht auf das dargestellte Beispiel beschränkt sind.
Die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen, die durch die Reserveleitungen ersetzt werden können,
welche senkrecht zu den Richtungen der Adressenleitungen im Speicherbereich 2 sind, ist durch
die Anzahl der in der Zeilenadressenrichtung ROW gebildeten Reserveleitungen SR und die Anzahl
der in der Spaltenadressenrichtung COL gebildeten Reserveleitungen SC beschränkt. Aus diesem
Grund werden, nachdem der Test abgeschlossen ist, zuerst die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen
für jeden Speicherbereich 2 sowie die Zeilenadressenleitungen und die Spaltenadressenleitungen,
auf denen diese fehlerhaften Speicherzellen vorhanden sind, für jeden Speicherbereich 2
lokalisiert, um festzustellen, ob diese fehlerhaften Speicherzellen auf jenen Adressenleitungen
durch die zu ihren jeweiligen Adressenleitungen senkrechten Reserveleitungen ersetzt werden
können oder nicht.
Der Fehlerersetzungsanalysator 120 enthält, wie in Fig. 8 gezeigt, einen Zeilenadressenfehleran
zahlzähler/speicher RFC zum Zählen der auf jeder der Zeilenadressenleitungen in jedem Speicher
bereich 2 vorhandenen fehlerhaften Speicherzellen und deren Speicherung in ihm, einen Spalten
adressenfehleranzahlzählerlspeicher CFC zum Zählen der auf jeder der Spaltenadressenleitungen
in jedem Speicherbereich 2 vorhandenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen und deren Speiche
rung in ihm sowie einen Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC zum Zählen der Gesamtanzahl
fehlerhafter Speicherzellen in jedem Speicherbereich 2 und deren Speicherung in ihm. Des
weiteren sind der Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC und der Spaltenadressenfehler
anzahlzähler/speicher CFC in Wirklichkeit so aufgebaut, daß jene Zähler/speicher RFC und CFC
die Anzahl an Fehlerdaten zählen, die aus dem Fehleranalysespeicher 118 ausgelesen werden,
von denen jeder eine fehlerhafte Speicherzelle in den einzelnen Zeilenadressenleitungen bzw.
Spaltenadressenleitungen repräsentiert, und die gezählten Werte werden in ihren jeweiligen
Fehlerspeichern gespeichert. Der Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC ist so aufgebaut, daß
der Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC jedesmal dann, wenn ein Fehlerdatenwert aus dem
Fehleranalysespeicher 118 ausgelesen wird, die Anzahl an vorkommenden Fehlern akkumuliert,
und der akkumulierte Wert wird in dem Gesamtiehlerspeicher des Gesamtfehleranzahlzäh
lers/speichers TFC gespeichert.
Eine Möglichkeit des Auftretens fehlerhafter Speicherzellen ist der Fall, daß, wie in Fig. 9 gezeigt,
viele fehlerhafte Zellen FC auf einer Zeilenadressenleitung RLN oder auf einer Spaltenadressenlei
tung CRN vorhanden sind. Ein Zustand, in dem die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen FC auf
einer Adressenleitung größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, die in der Richtung senkrecht
zu deren Adressenleitung RLN oder CLN vorgesehen sind, wird in diesem technischen Bereich im
allgemeinen als Muß-Reparatur MS bezeichnet. Diese Muß-Reparatur MS kann nicht durch die
Reserveleitungen repariert werden, die in der Richtung senkrecht zu deren Adressenleitung RLN
oder CLN vorgesehen sind. Daher ist es erforderlich, eine derartige Muß-Reparatur unter Verwen
dung einer Reserveleitung SR oder SC zu ersetzen, die parallel zu der Muß-Reparatur-Adressenlei
tung RLN bzw. CLN vorgesehen ist. Als Fehlerersetzungsanalyseprozedur muß zuerst die Muß-
Reparatur MS erfaßt werden. Dann werden die für die Reparatur der Muß-Reparatur MS verwen
dete Reserveleitung und dis reparierten Speicherzellen von der Berücksichtigung für eine weitere
Fehlerersetzung ausgeschlossen, wonach ermittelt wird, ob die verbleibenden fehlerhaften
Speicherzellen durch die verbleibenden Reserveleitungen ersetzt werden können oder nicht.
Eine Muß-Reparatur MS wird sowohl in der Zeilenadressenrichtung ROW als auch in der Spalten
adressenrichtung COL gesucht. Genauer erläutert kann zuerst, wenn der Speicherinhalt des
Zeilenadressenfehleranzahlzählers/speichers RFC in der Zeilenadressenreihenfolge ausgelesen
wird, die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen ausgelesen werden, die auf den einzelnen Zeilen
adressenleitungen jedes Speicherbereichs 2 vorhanden sind. Die Anzahl X1 fehlerhafter Speicher
zellen, die in den einzelnen Zeilenadressen gespeichert sind, wird mit der Anzahl Y1 an Spalten
reserveleitungen SC verglichen. Wenn das Vergleichsergebnis X1 < Y1 ist, wird bestimmt, daß
sich die Zeilenadressenleitung im Muß-Reparatur-Zustand befindet. Die als im Muß-Reparatur-
Zustand bestimmte Zeilenadresse wird an den Haupt-Controller 111 geschickt und wird im
Haupt-Controller 111 als Zeilen-Muß-Reparatur-Adresse gespeichert.
Als nächstes wird der Speicherinhalt des Spaltenadressenfehleranzahlzählers/speichers CFC in der
Spaltenadressenreihenfolge ausgelesen, um die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auszulesen, die
auf den einzelnen Spaltenadressenleitungen der einzelnen Speicherbereiche 2 vorhanden sind. Die
Anzahl X2 fehlerhafter Speicherzellen, die in den einzelnen Spaltenadressen gespeichert sind,
wird mit der Anzahl Y2 an Zeilenreserveleitungen SR verglichen. Wenn das Vergleichsergebnis
X2 < Y2 ist, wird bestimmt, daß sich die Spaltenadressenleitung in einem Muß-Reparatur-
Zustand befindet. Die als im Muß-Reparatur-Zustand bestimmte Spaltenadresse wird an den
Haupt-Controller 111 geschickt und im Haupt-Controller 111 als Spalten-Muß-Reparatur-Adresse
gespeichert.
Wenn der Suchvorgang nach Muß-Reparatur-Adressen abgeschlossen worden ist, stellt der
Haupt-Controller 111 die gespeicherten Zeilen- und Spaltenadressen im Fehlerersetzungsanalysa
tor 120 ein und veranlaßt, daß der Fehlerersetzungsanalysator 120 einen Datenaktualisierungs
vorgang ausführt. Eine Muß-Reparatur MS kann nur repariert werden, wenn eine Reserveleitung
verwendet wird, die parallel zu der Muß-Reparatur-Adressenleitung ist. Deshalb muß, wenn
beispielsweise eine Muß-Reparatur MS nur auf einer Zeilenadressenleitung RLN vorhanden ist,
eine Zeilenreserveleitung SR verwendet werden. Daher wird, wenn eine Muß-Reparatur MS nur
auf einer Zeilenadressenleitung RLN vorhanden ist, ein Vorgang der Emiedrigung der Anzahl an
Zeilenadressenleitungen RLN um Eins sowie des Subtrahierens der Anzahl fehlerhafter Speicher
zellen auf der Zeilenadressenleitung, auf der sich die Muß-Reparatur MS befindet, vom Zeilen
adressenfehleranzahlzähler/speicher RFC, vom Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC
und vom Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC ausgeführt. Durch diesen Vorgang wird der im
Test befindliche Speicher 119 vom gegenwärtigen Zustand zunächst zu einem nicht-defekten
Artikel repariert.
Selbst wenn nur eine Muß-Reparatur-Adresse auf einer der Zeilenadressen vorhanden ist, wird die
Anzahl an Zeilenreserveleitungen um Eins vermindert. Daher wird die Anzahl an Zeilenreservelei
tungen SR geändert. Als Folge muß hinsichtlich Spaltenadressenleitungen, die senkrecht zur
Zeilenreserveleitung SR sind, erneut ein Suchvorgang nach einer Muß-Reparatur bezüglich der
geänderten Anzahl an Zeilenreserveleitungen SR ausgeführt werden. Die Suchbedingung in
diesem Fall besteht darin, die Anzahl X2 fehlerhafter Speicherzellen der einzelnen Spaltenadres
sen mit Y2 - 1 zu vergleichen, das ist eine Anzahl, die durch Subtraktion von Eins (1) von der
Anzahl Y2 an Zeilenreserveleitungen SR erhalten wurde. Wenn das Vergleichsergebnis X2 < Y2 -
1 erfaßt wird, wird die entsprechende Spaltenadresse an den Haupt-Controller 111 als Spalten-
Muß-Reparatur-Adresse geschickt und in ihm gespeichert.
Wenn der Suchvorgang nach Muß-Reparatur-Adressen in der Spaltenadressenrichtung COL
abgeschlossen ist, stellt der Haupt-Controller 111 erneut die hinsichtlich Spaltenadressen
erfaßten Spalten-Muß-Reparatur-Adressen im Fehlerersetzungsanalysator 120 ein und veranlaßt,
daß der Fehlerersetzungsanalysator 120 einen Datenaktualisierungsvorgang ausführt. Wenn
beispielsweise eine Muß-Reparatur MS nur auf einer Spaltenadressenleitung CLN vorhanden ist,
wird angenommen, daß eine Spaltenreserveleitung SC verwendet worden ist, und 1 wird von der
Anzahl an Spaltenreserveleitungen SC subtrahiert. Außerdem wird die Anzahl fehlerhafter
Speicherzellen auf der Spaltenadressenleitung, auf der die Muß-Reparatur MS vorhanden ist, vom
Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC, vom Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher
CFC und vom Gesamttehleranzahlzählerlspeicher TFC subtrahiert. Durch diesen Vorgang wird der
im Test befindliche Speicher 119 wieder zu einem nicht-defekten Artikel gemacht.
Da die Anzahl an Spaltenreserveleitungen SC durch diesen Aktualisierungsvorgang um Eins
vermindert wird, muß diesmal erneut ein Suchvorgang nach einer Muß-Reparatur bezüglich
Zeilenadressenleitungen ausgeführt werden, die senkrecht zur Spaltenadressenleitung SC sind.
Auf diese Weise werden der Suchvorgang nach einer Muß-Reparatur und der Aktualisierungsvor
gang der Analysedaten wiederholt, bis keine Muß-Reparatur mehr erfaßt wird.
Wie oben erläutert, arbeitet der Fehlerersetzungsanalysator 120 beim System nach dem Stand
der Technik unter der Steuerung des Haupt-Controllers 111. Daher stellt der Haupt-Controller
111 zuerst im Fehlerersetzungsanalysator 120 einen zu bearbeitenden Speicherbereich sowie die
Anzahlen an Zeilenreserveleitungen SR und Spaltenresenreleitungen SC ein und veranlaßt dann
den Fehlerersetzungsanalysator 120, den Muß-Reparatur-Suchvorgang für den eingestellten
Speicherbereich kontinuierlich auszuführen, bis die letzten Adressen in der Zeilenadressenrichtung
ROW und der Spaltenadressenrichtung COL erzeugt sind. Wenn der Fehlerersetzungsanalysator
120 eine Muß-Reparatur erfaßt, speichert der Haupt-Controller 111 deren Adresse in sich. Bei
Beendigung des Muß-Reparatur-Suchvorgangs durch den Fehlerersetzungsanalysator 120
bezüglich der Zeilenadressenrichtung und der Spaltenadressenrichtung aktualisiert der Haupt-
Gontroller 111 die im Fehlerersetzungsanalysator 120 eingestellten Analysedaten. Dann veranlaßt
der Haupt-Controller 111 den Fehlerersetzungsanalysator 120, den Muß-Reparatur-Suchvorgang
auf der Basis der aktualisierten Analysedaten erneut auszuführen. Danach veranlaßt, sobald eine
Muß-Reparatur erfaßt wird, der Haupt-Controller 111 den Fehlerersetzungsanalysator 120, den
Muß-Reparatur-Vorgang bezüglich der anderen Adressenrichtung auszuführen, die sich von der
Adressenrichtung der erfaßten Muß-Reparatur unterscheidet (wenn die Adresse der erfaßten
Muß-Reparatur eine Zeilenadresse ist, ist die andere Adressenrichtung die Spaltenadressenrich
tung). Dieser Muß-Reparatur-Suchvorgang wird ausgeführt, bis keine Muß-Reparatur mehr erfaßt
wird.
Aus diesem Grund wiederholt der Haupt-Controller 111 die Vorgänge des Einstellens der zu
bearbeitenden Speicherbereiche und der Anzahlen an Zeiten- und Spaltenreserveleitungen SR
bzw. SC, des Ermittelns von Muß-Reparatur-Adressen und des Auslesens der ermittelten Muß-
Reparatur-Adressen, um sie im Fehlerersetzungsanalysator 120 einzustellen und die Anzahl an
Reserveleitungen SR und SC zu aktualisieren. Außerdem wiederholt der Fehlerersetzungsanalysa
tor 120 viele Male den Muß-Reparatur-Suchvorgang und den Vorgang des Subtrahierens der
Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf der Adressenleitung, auf der die Muß-Reparatur vorhanden
ist, von dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC, von dem Spaltenadressenfehleran
zahlzähler/speicher CFC und von dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC. Auf diese Weise
werden die Ermittlungs- und Lesevorgänge der Muß-Reparatur-Adressen, die Einstellungs- und
Aktualisierungsvorgänge der Analysedaten und die Subtraktionsvorgänge der Anzahlen von
Fehlern viele Maie wiederholt, weshalb diese Vorgänge viel Zeit in Anspruch nehmen. Als Folge
besteht bei dem System nach dem Stand der Technik der Nachteil, daß insgesamt viel Zeit für die
Muß-Reparatur-Suchvorgänge erforderlich ist.
Außerdem muß beim System gemäß dem Stand der Technik zumindest ein Muß-Reparatur-
Suchvorgang bezüglich der Zeilenadressenrichtung ROW und der Spaltenadressenrichtung COL
für den Speicherbereich 2 ausgeführt werden, wo keine fehlerhafte Speicherzelle vorhanden ist.
Diese Tatsache zählt ebenfalls zu den Faktoren, die viel Zeit für die Fehlerersetzungsanalyse
erfordern.
In den fetzten Jahren bestand die Tendenz, daß die Speicherkapazität von zu prüfenden Spei
chern immer mehr zunimmt und die Anzahl zu bearbeitender Speicherbereiche und die Fläche
jedes der Speicherbereiche immer mehr zunimmt. Daher hat die Muß-Reparatur-Suchzeit immer
mehr zugenommen. Aus diesem Grund besteht bei dem System gemäß dem Stand der Technik
der Nachteil, daß die Prüfzeit eines IC-Speichers lang ist.
Es ist eine erste Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Analysieren des Ersatzes
fehlerhafter Zellen in einem Speicher zu schaffen, das in der Lage ist, eine Fehlerersetzungsana
lyse selbst dann in kurzer Zeit zu vollenden, wenn ein im Test befindlicher Speicher viele
Speicherbereiche aufweist.
Es ist eine zweite Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Speichertestvorrichtung mit einem
Fehlerersetzungsanalysator zu schaffen, die das obige Verfahren zum Analysieren des Ersatzes
fehlerhafter Zellen verwendet.
Es ist eine dritte Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Analysieren des Ersatzes
fehlerhafter Zellen in einem Speicher zu schaffen, das in der Lage ist, in kurzer Zeit einen Muß-
Reparatur-Adressensuchvorgang und einen Aktualisierungsvorgang von Daten aufgrund der
Reparatur einer Muß-Reparatur zu vollenden.
Es ist eine vierte Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Speichertestvorrichtung mit einem
Fehlerersetzungsanalysator zu schaffen, die das Verfahren zum Analysieren des Ersatzes
fehlerhafter Speicherzellen verwendet, das in der obigen dritten Aufgabe der vorliegenden
Erfindung beschrieben ist.
Um die vorgenannten Aufgaben zu lösen, wird gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung
ein Verfahren zum Analysieren des Ersatzes einer fehlerhaften Zelle in einem Speicher geschaf
fen, umfassend folgende Schritte: Prüfen eines Speichers mit einer Mehrzahl von Speicherberei
chen; Erfassen, ob die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf einer Zeilen- oder Spaltenadressen
leitung jedes der Speicherbereiche größer als die Anzahl an Reserveleitungen zum Ersetzen eines
Fehlers ist oder nicht, wobei die Reserveleitungen in einer zu den Zeilen- oder Spaltenadressenlei
tungen senkrechten Richtung vorgesehen sind; Bestimmen, wenn die Anzahl fehlerhafter
Speicherzellen größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, daß die fehlerhafte Speicherzelle
eine "Muß-Reparatur" ist; und Annehmen, daß die fehlerhafte Speicherzelle auf der als "Muß-
Reparatur" bestimmten Adressenleitung durch Verwendung der Reserveleitung repariert worden
ist, und Aktualisieren von Daten zu einem derartigen Zustand, daß die "Muß-Reparatur" repariert
worden ist, wobei das Verfahren des weiteren folgende Schritte umfaßt: Ausführen, jedesmal
dann, wenn eine "Muß-Reparatur" an einer Zeilenadresse oder einer Spaltenadresse erfaßt
worden ist, eines Aktualisierungsprozesses der Daten an der Position der Zeilenadresse oder der
Spaltenadresse, an der die "Muß-Reparatur" erfaßt worden ist; und Fortsetzen der Suche nach
einer "Muß-Reparatur", nachdem der Aktualisierungsprozeß der Daten abgeschlossen ist.
Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Speichertestvorrichtung zum
Prüfen eines Speichers mit einer Mehrzahl von Speicherbereichen und zumindest einer Reservelei
tung zum Ersetzen eines Fehlers geschaffen, die auf jedem der Speicherbereiche vorgesehen ist,
wobei die Vorrichtung einen Fehlerersetzungsanalysator zum Zählen, bei jedem Speicherbereich,
der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen, der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf jeder
Zeilenadresse und der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen auf jeder Spaltenadresse und
zum Analysieren eines Verfahrens des Reparierens der fehlerhaften Speicherzellen für jeden
Speicherbereich aufweist, und umfassend: einen Detektor für den analysierten Speicherbereich
zum Suchen, ob eine fehlerhafte Speicherzelle in den einzelnen Speicherbereichen existiert oder
nicht, und zum Bestimmen, ob eine Fehlerersetzungsanalyse für den Speicherbereich ausgeführt
werden sollte oder nicht; einen Speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen, wobei
der Speicher jeweils die Anzahl an in einer Zeilenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitun
gen und die Anzahl an in einer Spaltenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen jedes
Speicherbereichs speichert; eine Muß-Reparatur-Suchvorrichtung zum Vergleichen der Anzahl an
Reserveleitungen, die in dem Reserveleitungsanzahlspeicher gespeichert sind, mit der Anzahl
fehlerhafter Speicherzellen auf einer Zeilenadressenleitung oder einer Spaltenadressenleitung der
einzelnen Speicherbereiche, zum Erfassen eines Zustands, in dem die Anzahl fehlerhafter
Speicherzellen größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, die in senkrechter Richtung zu der
Adressenleitung vorhanden sind, und zum Bestimmen, daß der erfaßte Zustand eine Muß-
Reparatur ist; eine Datenaktualisierungsvorrichtung zum Ausführen, jedesmal dann, wenn die
Muß-Reparatur-Suchvorrichtung eine Muß-Reparatur erfaßt, eines Prozesses der Aktualisierung
von Daten zu einem Zustand derart, daß fehlerhafte Speicherzellen auf der Adressenleitung der
erfaßten Muß-Reparatur durch Verwendung der Reserveleitung repariert worden sind; eine
Wiederinbetriebsetzungsvorrichtung zum Erfassen des Endes des von der Datenaktualisierungs
vorrichtung ausgeführten Datenaktualisierungsprozesses und zum Wiederinbetriebsetzen der
Muß-Reparatur-Suchvorrichtung; Muß-Reparatur-Suchwiederaufnahmemittel, welche die
Tatsache erfassen, daß dis Datenaktualisierungsvorrichtung gearbeitet hat, und veranlaßt, daß
die Muß-Reparatursuche wieder aufgenommen wird, unter der Bedingung, daß die Anzahl der
durch den Simulationsprozeß der Datenaktualisierungsvorrichtung aktualisierten Reserveleitungen
bei der Erfassung einer Muß-Reparatur verwendet wird; und Suchbeendigungsmittel, welche die
Tatsache erfassen, daß während der Suche nach einer Muß-Reparatur keine Muß-Reparatur
erfaßt wird, und die Suche nach einer Muß-Reparatur für den in Analyse befindlichen Speicherbe
reich beenden.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform umfaßt der vorgenannte Detektor für den analysier
ten Speicherbereich: einen Speicherbereichsadressengenerator zum Erzeugen von Adressen, die
der Mehrzahl von Speicherbereichen zugeordnet sind; einen Gesamtfehleranzahlzähler/speicher
zum Speichern der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen für die einzelnen Speicherbereiche,
wobei auf den Gesamtfehleranzahlzähler/speicher durch ein von dem Speicherbereichsadressen
generator ausgegebenes Speicherbereichsadressensignal zugegriffen wird und der die Gesamtan
zahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs ausgibt; eine Nullerfas
sungsanordnung, welche die Tatsache erfaßt, daß die aus dem Gesamtfehleranzahlzäh
ler/speicher ausgelesene Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen "0" ist; Mittel, welche die aus
dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebene Adresse jedesmal dann inkrementiert,
wenn die Nullerfassungsanordnung "0" erfaßt; und Mittel, welche die Muß-Reparatur-Suchvor
richtung in dem Fall in Betrieb setzt, daß die aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher
ausgelesene Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen ein von "0" verschiedener numerischer
Wert ist.
Der vorgenannte Reserveleitungsanzahlspeicher umfaßt: einen Speicher zum Speichern der
Anzahl an in der Zeilenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen; und einen Speicher zum
Speichern der Anzahl an in der Spaltenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen, wobei
auf die Speicher durch ein von dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebenes Speicher
bereichsadressensignal zugegriffen wird und die Speicher die Anzahl an Reserveleitungen
ausgeben, die in dem entsprechenden Speicherbereich vorgesehen sind.
Die vorgenannte Muß-Reparatur-Suchvorrichtung umfaßt: einen Zeilenadressenfehleranzahlzäh
ler/speicher zum Speichern der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilenadres
senleitungen für jeden Speicherbereich; einen Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum
Speichern der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Spaltenadressenleitungen für
jeden Speicherbereich; einen Zeilenadressengenerator zum Zugreifen auf den Zeilenadressenfeh
leranzahlzähler/speicher; einen Spaltenadressengenerator zum Zugreifen auf den Spaltenadressen
fehleranzahlzähler/speicher; einen ersten Komparator zum Vergleichen der aus dem Zeilenadres
senfehleranzahlzähler/speicher ausgelesenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen
Zeilenadressenleitungen mit der Anzahl an in der zu den Zeilenadressenleitungen senkrechten
Richtung vorgesehenen Reserveleitungen und zum Erfassen einer Muß-Reparatur auf den
Zeilenadressenleitungen; und einen zweiten Komparator zum Vergleichen der aus dem Spalten
adressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den
einzelnen Spaltenadressenleitungen mit der Anzahl an in der zu den Spaltenadressenleitungen
senkrechten Richtung vorgesehenen Reserveleitungen und zum Erfassen einer Muß-Reparatur auf
den Spaltenadressenleitungen.
Die vorgenannte Datenaktualisierungsvorrichtung umfaßt: einen Controller zum Ausführen einer
Steuerung, die den Zeilenadressengenerator oder den Spaltenadressengenerator beim Inkremen
tierungsvorgang an der Ausführung des Inkrementierungsvorgangs hindert, und einer Steuerung,
die den Spaltenadressengenerator oder den Zeilenadressengenerator, der im Betrieb pausiert hat,
während einer Suche nach einer Muß-Reparatur von der ersten Adresse zur letzten Adresse durch
ein Erfassungssignal inkrementiert, daß die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung entweder eine Muß-
Reparatur auf einer Zeilenadressenleitung oder eine Muß-Reparatur auf einer Spaltenadressenlei
tung erfaßt hat; einen ersten Subtrahierer zum Aktualisieren der Anzahl an Reserveleitungen
durch die Annahme, daß eine Reserveleitung für den Ersatz der erfaßten Muß-Reparatur verwen
det worden ist, und durch Einstellen der aktualisierten Anzahl an Reserveleitungen in dem
Speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen; einen zweiten Subtrahierer zum
Ausführen einer Subtraktion von "1" von der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen des
entsprechenden Speicherbereichs, die jedesmal dann vom Gesamtfehleranzahlzähler/speicher
ausgegeben wird, wenn eine fehlerhafte Speicherzelle aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzäh
ler/speicher oder dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesen wird, die durch den
Inkrementierungsvorgang des Zeilenadressengenerators oder des Spaltenadressengenerators
ausgelesen werden, der seinen Inkrementierungsvorgang begonnen hat, und zum Einstellen des
Ergebnisses der Subtraktion in dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher; und einen dritten und
einen vierten Subtrahierer zum Ausführen einer Subtraktion von "1" von der Anzahl fehlerhafter
Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs, die aus dem Zeilenadressenfehleranzahl
zähler/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher jedesmal dann ausgegeben
wird, wenn eine fehlerhafte Speicherzelle aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher
bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesen wird, und zum Einstellen des
Ergebnisses der Subtraktionen in dem Zeilenadressenfehleranzahlzählerlspeicher bzw. dem
Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher.
Die vorgenannte Wiederinbetriebsetzungsvorrichtung umfaßt: ein Paar Übertragswähler zum
Erfassen der Tatsache, daß das vom Zeilenadressengenerator bzw. vom Spaltenadressengenera
tor ausgegebene Zeilenadressensignal und das Spaltenadressensignal jeweils ihre letzten
Adressen erreicht haben; und einen Controller, der aus diesen Übertragswählern ausgegebene
Übertragssignale empfängt und eine Steuerung ausführt, die den Inkrementierungsvorgang des
Zeilenadressengenerators oder des Spaltenadressengenerators wiederaufnimmt, der im Betrieb
pausiert hat.
Die vorgenannten Muß-Reparatur-Suchwiederaufnahmemittel umfassen: eine Steueranordnung
zum Ausführen einer Steuerung, die eine Koinzidenz zwischen dem Zustand, daß die Muß-
Reparatur-Suchvorrichtung das Vorhandensein einer Muß-Reparatur entweder in der Zeilenadres
senrichtung oder der Spaltenadressenrichtung erfaßt und in dem die Datenaktualisierungsvorrich
tung arbeitet, um die Anzahl an Reserveleitungen zu aktualisieren, die in dem Speicher zur
Speicherung der Anzahl an Reserveleitungen gespeichert sind, und dem Zustand erfaßt, daß der
Suchvorgang für eine Muß-Reparatur abgeschlossen ist, und Veranlassen eines Suchvorgangs
nach einer Muß-Reparatur in der einen Adressenrichtung unter Verwendung der aktualisierten
Anzahl an Reserveleitungen als Erfassungsbedingung einer auszuführenden Muß-Reparatur.
Die vorgenannten Suchbeendigungsmittel umfassen: Mittel zum Erfassen eines Abschlusses von
zwei Zuständen, daß die von dem Speicheradressenbereichsgenerator erzeugte Adresse die letzte
Adresse erreicht hat und daß die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung den Suchvorgang für eine Muß-
Reparatur in der Zeilenadressenrichtung oder der Spaltenadressenrichtung ohne Erfassung einer
Muß-Reparatur beendet hat.
Das Verfahren zum Analysieren des Ersatzes einer fehlerhaften Zelle oder fehlerhafter Zellen in
einem Speicher und der dieses Analyseverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung verwendende
Fehlerersetzungsanalysator sind gekennzeichnet durch einen Aufbau, der umfaßt: einen Gesamt
fehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen in den
einzelnen Speicherbereichen eines im Test befindlichen Speichers, einen Reserveleitungsanzahl
speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen, die in der Zeilenadressenrichtung und in
der Spaltenadressenrichtung vorgesehen sind, einen Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher
und einen Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Zählen der Anzahl fehlerhafter
Speicherzellen, die an den einzelnen Zeilenadressen bzw. den einzelnen Spaltenadressen in den
einzelnen Speicherbereichen auftreten, und zu deren Speicherung in ihnen, und eine Muß-
Reparatur-Suchvorrichtung zum Auslesen der Anzahl an Fehlern an den einzelnen Adressen des
Zeilenadressenfehleranzahlzählers/speichers und des Spaltenadressenfehleranzahlzäh
lers/speichers, um eine Muß-Reparatur zu suchen. Durch diesen kennzeichnenden Aufbau kann,
wenn die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung eine Muß-Reparatur erfaßt, ein Aktualisierungsvorgang
zum Analysieren von Daten unmittelbar an jener Adressenposition ausgeführt werden, so daß die
gespeicherten Werte in jedem Zähler/speicher aktualisiert werden können.
Demzufolge wird gemäß der vorliegenden Erfindung ohne Intervention des Haupt-Controllers 111,
wenn eine Muß-Reparatur während des Suchvorgangs nach einer Muß-Reparatur erfaßt wird, ein
Aktualisierungsvorgang von Analysedaten automatisch ausgeführt. Als Folge besteht kein Bedarf,
einen Vorgang zum aufeinanderfolgenden Einstellen einer Adresse der erfaßten Muß-Reparatur
und der Anzahl an Reserveleitungen in dem Fehlerersetzungsanalysator auszuführen, weshalb die
Fehlerersetzungsanalyse in kurzer Zeit ausgeführt werden kann.
Fig. 1 ist ein Blockschaltbild, das hauptsächlich die Konfigurationen eines Detektors für den
analysierten Speicherbereich, eines Speichers zum Speichern der Anzahl an Reservelei
tungen und eines Controllers bei einer Ausführungsform des Fehlerersetzungsanalysa
tors zeigt, der in einer Speichertestvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung ver
wendet wird;
Fig. 2 ist ein Blockschaltbild, das hauptsächlich die Konfiguration einer Muß-Reparatur-
Suchvorrichtung bei einer Ausführungsform des Fehlerersetzungsanalysators zeigt, der
bei der Speichertestvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird;
Fig. 3 ist ein Diagramm zum Erläutern eines Beispiels, bei dem eine Muß-Reparatur durch
Verwendung eines Verfahrens zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in
einem Speicher gemäß der vorliegenden Erfindung repariert wird;
Fig. 4 ist ein Diagramm zur Erläuterung eines anderen Beispiels, bei dem eine Muß-Reparatur
durch Verwendung des Verfahrens zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in
einem Speicher gemäß der vorliegenden Erfindung repariert wird;
Fig. 5 ist ein Blockschaltbild, das die allgemeine Konfiguration einer herkömmlichen Speicher
testvorrichtung zeigt;
Fig. 6 ist eine vergrößerte Draufsicht zur Erläuterung eines Beispiels der inneren Struktur
eines im Test befindlichen Speichers mit Redundanzstruktur;
Fig. 7 ist eine vergrößerte Draufsicht, die einen der Speicherbereiche des in Fig. 6 gezeigten,
im Test befindlichen Speichers mit Redundanzstruktur zeigt;
Fig. 8 ist ein Diagramm zur Erläuterung des Zählvorgangs fehlerhafter Speicherzellen, der bei
dem in Fig. 5 gezeigten Fehlerersetzungsanalysator ausgeführt wird; und
Fig. 9 ist eine vergrößerte Draufsicht zur Erläuterung eines Muß-Reparatur-Ersetzungsverfah
rens, das bei dem in Fig. 5 gezeigten Fehlerersetzungsanalysator ausgeführt wird.
Zunächst wird eine Ausführungsform des Fehlerersatzanalysators, der bei einer Speichertestvor
richtung gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird, ausführlich unter Bezug auf die Fig.
1 und 2 beschrieben. Die Fig. 1 und 2 zeigen insgesamt die Konfiguration des Fehlerersatzanaly
sators durch Verbinden der in Fig. 1 gezeigten Anschlüsse "A" bis "0" mit den jeweiligen der in
Fig. 2 gezeigten Anschlüsse "A" bis "0".
Fig. 1 zeigt hauptsächlich die Konfigurationen eines Detektors BLS für einen analysierten
Speicherbereich, eines Speichers zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen (auch als
Reserveleitungsanzahlspeicher bezeichnet) SPM, und eines Controllers CON, und Fig. 2 zeigt
hauptsächlich die Konfiguration einer Muß-Reparatur-Suchvorrichtung SER.
Der Detektor BLS für den analysierten Speicherbereich ist eine Vorrichtung zum Erfassen eines
Speicherbereichs 2, der in dem im Test befindlichen Speicher 119 (vgl. Fig. 5 und 6) zu analysie
ren ist, und umfaßt den in Fig. 8 gezeigten Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC, einen
Speicherbereichsadressengenerator TAP und einen Nulldetektor ZO. Wie oben ausgeführt, wird
die Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen in den einzelnen Speicherbereichen 2 des im Test
befindlichen Speichers 119 im Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC gespeichert. Des weiteren
ist ein erster Subtrahierer DS1, der in einer unterbrochenen Linie gezeigt ist, welche den Detektor
BLS für den analysierten Speicherbereich darstellt, ein Element, das zu einer später zu beschrei
benden Datenaktualisierungsvorrichtung gehört, und ist nur der Einfachheit halber im Detektor
BLS für den analysierten Speicherbereich gezeigt.
Der Speicher SPM zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen umfaßt einen Zeilenreservelei
tungsspeicher SRM zur Speicherung der Anzahl an Zeilenreserveleitungen SR (vgl. Fig. 7), die in
jedem Speicherbereich 2 des im Test befindlichen Speichers 119 vorgesehen sind, und einen
Spaltenreserveleitungsspeicher SCM zum Speichern der Anzahl an Spaltenreserveleitungen SC
(vgl. Fig. 7) in ihm, die in jedem Speicherbereich 2 vorgesehen sind. Des weiteren sind ein
zweiter und ein dritter Subtrahierer DS2 bzw. DS3, die in einer unterbrochenen Linie gezeigt sind,
die den Resenreleitungsanzahlspeicher SPM bezeichnet, ebenfalls Elemente, die zu der später zu
beschreibenden Datenaktualisierungsvorrichtung gehören, und sie sind nur der Einfachheit halber
im Reserveleitungsanzahfspeicher SPM gezeigt.
Die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung SER ist eine Vorrichtung zum Suchen einer Muß-Reparatur
MS (vgl. Fig. 9), die bei dem im Test befindlichen Speicher 119 vorhanden ist, und enthält einen
Zeilenadressengenerator RAP, einen Spaltenadressengenerator CAP, einen RFC-Adressenforma
tierer ANF1, einen CFC-Adressenformatierer ANF2, den in Fig. 8 gezeigten Zeilenadressenfehler
anzahlzähler/speicher RFC, den in Fig. 8 gezeigten Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher
CFC, einen ersten Komparator CP1 zum Suchen einer Muß-Reparatur bei Zeilenadressen und
einen zweiten Komparator CP2 zum Suchen einer Muß-Reparatur bei Spaltenadressen. Wie oben
ausgeführt, werden die Anzahlen an fehlerhaften Speicherzellen auf Zeilenadressenleitungen der
einzelnen Speicherbereiche 2 des im Test befindlichen Speichers 119 in dem Zeilenadressenfeh
leranzahlzähler/speicher RFC gespeichert, und die Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen auf
Spaltenadressenleitungen der einzelnen Speicherbereiche 2 des im Test befindlichen Speichers
119 werden in dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC gespeichert. Des weiteren
sind ein vierter und ein fünfter Subtrahierer DS4 bzw. DS5, die in einer unterbrochenen Linie
gezeigt sind, die eine Muß-Reparatur-Suchvorrichtung SER bezeichnet, ebenfalls Elemente, die zu
der später zu beschreibenden Datenaktualisierungsvorrichtung gehören, und sie sind nur der
Einfachheit halber in der Muß-Reparatur-Suchvorrichtung SER gezeigt.
Wie zuvor unter Bezug auf die Fig. 6 und 7 erwähnt, werden in dem Gesamtfehleranzahlzäh
ler/speicher TFC die Gesamtanzahlen fehlerhafter Speicherzellen, die in jeweiligen Speicherberei
chen des im Test befindlichen Speichers 119 erfaßt werden, an Adressen gespeichert, die diesen
Speicherbereichen entsprechen. Der Speicherbereichsadressengenerator TAP erzeugt ein
Adressensignal zum Spezifizieren der einzelnen Speicherbereiche 2. Ein von dem Speicherbe
reichsadressengenerator TAP erzeugtes Adressensignal wird an einem Adresseneingabeanschluß.
An des Gesamtfehleranzahlzählers/speichers TFC eingegeben, und die Gesamtanzahl fehlerhafter
Speicherzellen in dem entsprechenden Speicherbereich wird von der Adresse des Gesamtfehler
anzahlzählers/speichers TFC ausgelesen, die durch das Adressensignal spezifiziert ist.
Die Gesamtanzahl aus dem Fehleranzahlzähler/speicher TFC ausgelesener fehlerhafter Speicher
zellen wird in den Nulldetektor ZO eingegeben. Dieser Nulldetektor ZO ermittelt, ob die Anzahl
fehlerhafter Speicherzellen "0" ist oder eine von "0" verschiedene Zahl.
Wenn die Gesamtanzahl aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC ausgelesener fehlerhaf
ter Speicherzellen "0" ist, ist es nicht erforderlich, die Ersetzungsanalyse für den Speicherbereich
2 entsprechend dem eingegebenen Adressensignal auszuführen. Daher wird ein Signal, das dies
anzeigt, vom Nulldetektor ZO zum Speicherbereichsadressengenerator TAP geschickt. Dann
inkrementiert der Speicherbereichsadressengenerator TAP die Adresse um Eins, um das nächste
Adressensignal zu erzeugen, und liefert das erzeugte Adressensignal an den Adresseneingangs
anschluß An des Gesamtfehleranzahlzählers/speichers TFC. Dieser Vorgang wird während der
Zeit wiederholt, während der ständig "Nullen" aus dem Fehleranzahlzähler/speicher TFC ausgele
sen werden.
Wenn die Gesamtanzahl aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC ausgelesener fehlerhaf
ter Speicherzellen eine von "0" verschiedene Zahl ist, besteht die Möglichkeit, daß eine Muß-
Reparatur vorhanden ist. Daher ist es erforderlich, den Speicherbereichsadressengenerator TAP
vorübergehend zu stoppen. Der Adresseninkrementiervorgang ist hier so definiert, daß er ein
Vorgang zum Inkrementieren der Adresse des Speicherbereichs um Eins in der Reihenfolge von
der Startadresse zur letzten Adresse ist, um ein Adressensignal zu erzeugen. Aus diesem Grund
wird, wenn die Gesamtanzahl aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC ausgelesener
fehlerhafter Speicherzellen ein von "0" verschiedener numerischer Wert ist, ein Erfassungssignal
TFC ≠ 0 von dem Nulldetektor ZO zum Controller CON geschickt. Auf der Basis dieses Erfas
sungssignals liefert der Controller CON ein Steuersignal an den Speicherbereichsadressengenera
tor TAP. Daher stoppt der Speicherbereichsadressengenerator TAP seinen Adresseninkrementie
rungsvorgang und wird in dem Zustand gehalten, daß der Speicherbereichsadressengenerator
TAP ein Adressensignal entsprechend dem aktuellen Speicherbereich ausgibt.
Ein Speicherbereichsadressensignal wird auch an die Speicher geliefert, die nicht der Gesamtfeh
leranzahlzähler/speicher TFC sind. Genauer erläutert wird ein Speicherbereichsadressensignal
direkt an die jeweiligen Adresseneingangsanschlüsse An des Zeilenreserveleitungsspeichers SRM
und des Spaltenreserveleitungsspeichers SCM des Reserveleitungsanzahlspeichers SPM geliefert,
und es wird über den RFC-Adressenformatierer ANF1 und den CFC-Adressenformatierer ANF2 an
die jeweiligen Adresseneingangsanschlüsse An des Zeilenadressenfehleranzahlzählers/speichers
RFC bzw. des Spaltenadressenfehleranzahlzählers/speichers CFC in der Muß-Reparatur-Suchvor
richtung SER geliefert. Daher werden die Anzahlen der Zeilen- und Spaltenreserveleitungen des
entsprechenden Speicherbereichs aus den jeweiligen Adressen des Zeilenreserveleitungsspeichers
SRM und des Spaltenreserveleitungsspeichers SCM ausgelesen, die durch die jeweiligen
Adressensignale spezifiziert wurden.
Der RFC-Adressenformatierer ANF1 formatiert (kombiniert) ein aus dem Zeilenadressengenerator
RAP ausgegebenes Zeilenadressensignal und ein aus dem Speicherbereichsadressengenerator
TAP ausgegebenes Speicherbereichsadressensignal, um ein RFC-Adressensignal auszugeben, und
er greift unter Verwendung des RFC-Adressensignals auf den Zeilenadressenfehleranzahlzäh
ler/speicher RFC zu. Ein RFC-Adressensignal ist ein Adressensignal zum Spezifizieren einer der
Zeilen in einem der Speicherbereiche und umfaßt ein Speicherbereichsadressensignal und ein
Zeilenadressensignal des spezifizierten Speicherbereichs.
Der CFC-Adressenformatierer ANF2 formatiert ein aus dem Spaltenadressengenerator CAP
ausgegebenes Spaltenadressensignal und ein aus dem Speicherbereichsadressengenerator TAP
ausgegebenes Speicherbereichsadressensignal, um ein CFC-Adressensignal auszugeben, und
greift unter Verwendung des CFC-Adressensignals auf den Spaltenadressenfehleranzahlzäh
ler/speicher CFC zu. Ein CFC-Adressensignal ist ein Adressensignal zum Spezifizieren einer der
Spalten in einem der Speicherbereiche und umfaßt ein Speicherbereichsadressensignal und ein
Spaltenadressensignal des spezifizierten Speicherbereichs. Daher werden die Anzahlen fehlerhaf
ter Speicherzellen auf den Zeilenadressenleitungen und die Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen
auf den Spaltenadressenleitungen des entsprechenden Speicherbereichs von den jeweiligen
Adressen des Zeilenadressenfehleranzahlzählers/speichers RFC und des Spaltenadressenfehleran
zahlzählers/speichers CFC ausgelesen, die durch das Adressensignal spezifiziert wurden.
Der Zeilenadressengenerator RAP inkrementiert, von der Startadresse bis zu letzten Adresse, die
Zeilenadresse um Eins und erzeugt Zeilenadressensignale entsprechend jeweiligen Zeilenadressen,
um diese Zeilenadressensignale an den RFC-Adressenformatierer ANF1 zu liefern. Durch diese
Zeilenadressensignale werden die Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen entsprechender Zeilen
adressenleitungen der einzelnen Speicherbereiche 2 von dem Zeilenadressenfehleranzahlzäh
ler/speicher RFC ausgelesen.
Der Spaltenadressengenerator CAP inkrementiert, von der Startadresse bis zur letzten Adresse,
die Spaltenadresse um Eins und erzeugt Spaltenadressensignale entsprechend jeweiligen
Spaltenadressen, um diese Spaltenadressensignale an den CFC-Adressenformatierer ANF2 zu
liefern. Durch diese Spaltenadressensignale werden die Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen
entsprechender Spaltenadressenleitungen der einzelnen Speicherbereiche 2 von dem Spalten
adressenfehleranzahlzähler/speicher CFC ausgelesen.
Ein Speicheradressenübertragswähler (Übertragsdetektor) CY1 ist an den Speicherbereichsadres
sengenerator TAP angeschlossen. Ein Speicherbereichsadressensignal wird auch an den Spei
cherbereichsadressenübertragswähler CY1 geliefert. Der Speicherbereichsadressenübertrags
wähler CY1 erfaßt die Tatsache, daß der Speicherbereichsadressengenerator TAP die Anzahl der
Adressensignale entsprechend dem numerischen Wert erzeugt hat, der um Eins gegenüber der
Gesamtanzahl an Speicherbereichen reduziert ist, die bei dem im Test befindlichen Speicher zu
ersetzen sind, d. h., daß er das Speicherbereichsadressensignal unmittelbar vor dem letzten
Speicherbereichsadressensignal erzeugt hat (beispielsweise ein Signal, bei dem alle der vorbe
stimmten Anzahl an Bits, die ein Adressensignal bilden, "Einsen" sind), und schickt ein Über
tragssignal TAP MAX an den Controller CON. Alternativ kann der Speicherbereichsadressenüber
tragswähler CY1 die Tatsache erfassen, daß der Speicherbereichsadressengenerator TAP alle der
Speicherbereichsadressensignale entsprechend der Gesamtanzahl der zu ersetzenden Speicherbe
reiche des im Test befindlichen Speichers erzeugt hat, d. h., daß er das letzte Speicherbereichs
adressensignal erzeugt hat, und ein Übertragssignal TAP MAX an den Controller CON schicken.
Ein Zeilenadressenübertragswähler CY2 und ein Spaltenadressenübertragswähler CY3 sind
ebenfalls an den Zeilenadressengenerator RAP bzw. den Spaltenadressengenerator CAP ange
schlossen. Ein Zeilenadressensignal wird an den Zeilenadressenübertragswähler CY2 geliefert,
und ein Spaltenadressensignal wird an den Spaltenadressenübertragswähler CY3 geliefert. Diese
Übertragswähler CY2 und CY3 erfassen die Tatsache, daß die entsprechenden Adressengenera
toren RAP und CAP alle der Zeilenadressensignale bzw. alle der Spaltenadressensignale erzeugt
haben, d. h., daß sie das letzte Zeilenadressensignal bzw. das letzte Spaltenadressensignal
(beispielsweise ein Signal, bei dem alle der vorbestimmten Anzahl an Bits, welche ein Adressen
signal bilden, "Einsen" sind) erzeugt haben und Übertragssignale RAP MAX bzw. CAP MAX an
den Controller CON schicken.
Des weiteren ist bei dieser Ausführungsform ein Fall gezeigt, bei dem der Fehlerersetzungsanaly
sator so aufgebaut ist, daß Adressensignale, die jeweils aus dem Speicherbereichsadressengene
rator TAP, dem Zeilenadressengenerator RAP und dem Spaltenadressengenerator CAP ausgege
ben werden, auch an einen AFM-Adressenformatierer ANF3 geliefert werden, und wenn eine
Fehlerersetzungsanalyse ausgeführt wird, wird auf den Fehleranalysespeicher 118 durch ein
AFM-Adressensignal zugegriffen, das durch Formatierung dieser Adressensignale gewonnen wird,
um im Fehleranalysespeicher 118 gespeicherte Fehlerdaten gleichzeitig mit Lesevorgängen des
vorgenannten Zeilenadressenfehleranzahlzählers/speichers RFC und Spaltenadressenfehleranzahl
zählers/speichers CFC auszulesen, und dann wird ein Muß-Reparatur-Suchvorgang ausgeführt,
indem die im Fehleranalysespeicher 118 gespeicherten fehlerhaften Speicherzellenadressen mit
den in dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC und dem Spaltenadressenfehleranzahl
zähler/speicher CFC gespeicherten fehlerhaften Speicherzellenadressen korreliert werden.
Selbstverständlich ist die vorliegende Erfindung nicht auf eine derartige Konfiguration beschränkt.
Als nächstes werden der Muß-Reparatur-Suchvorgang, der von dem oben beschriebenen
Fehlerersetzungsanalysator ausgeführt wird, und der Analysedatenaktualisierungsvorgang, der bei
Erfassung einer Muß-Reparatur ausgeführt wird, beschrieben.
Wenn die Anzahl aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC ausgelesener fehlerhafter
Speicherzellen nicht "0" ist, gibt der Nulldetektor ZO ein Erfassungssignal TFC ≠ 0 aus und gibt
das Erfassungssignal in den Controller CON ein. Auf der Basis der Eingabe des Erfassungssignals
TFC ≠ 0 stoppt der Controller CON den Adresseninkrementierungsvorgang des Speicherbereichs
adressengenerators TAP und gibt gleichzeitig ein Steuersignal R-SEARCH oder C-SEARCH aus.
Das Steuersignal R-SEARCH wird an den Zeilenadressengenerator RAP der Muß-Reparatur-
Suchvorrichtung SER und ein erstes UND-Glied G1 geliefert, um den Muß-Reparatur-Suchvorgang
bezüglich Zeilenadressen zu beginnen. Das Steuersignal C-SEARCH wird an den Spaltenadres
sengenerator CAP der Muß-Reparatur-Suchvorrichtung SER und ein zweites UND-Glied G2
geliefert, um den Muß-Reparatur-Suchvorgang bezüglich Spaltenadressen zu beginnen. Wenn der
Muß-Reparatur-Suchvorgang aller Zeilenadressen abgeschlossen ist, wird der Muß-Reparatur-
Suchvorgang der Spaltenadressen ohne Ausnahme ausgeführt. Die Reihenfolge, mit der die
Adressen der Zeilenadressen oder der Spaltenadressen zuerst gesucht werden sollten, kann zuvor
im Controller CON eingestellt werden.
Unabhängig von der Reihenfolge, mit der Adressen der Zeilenadressen oder der Spaltenadressen
zuerst gesucht werden, werden die Muß-Reparatur-Suchvorgänge der Zeilenadressen und der
Spaltenadressen in einem Paar ohne Ausnahme ausgeführt. Außerdem werden, wie bereits oben
erläutert, wenn eine Muß-Reparatur erfaßt wird, die im Fehlerersetzungsanalysator eingestellten
Analysedaten zu einem Zustand aktualisiert, in dem die Muß-Reparatur repariert worden ist, d. h.,
einen Zustand, daß keine ausstehende Muß-Reparatur vorhanden ist. Da bei diesem Aktualisie
rungsvorgang die Anzahl an Reserveleitungen, die für die Ersetzung der Muß-Reparatur zu
verwenden ist, von der Originalanzahl an Reserveleitungen subtrahiert wird, muß, wenn eine
Muß-Reparatur während des Muß-Reparatur-Suchvorgangs erfaßt wird, der bezüglich der anderen
Adressenrichtung ausgeführt wird, welcher der einen Adressenrichtung folgt, die unmittelbar vor
der anderen Adressenrichtung ausgeführt wurde, der Muß-Reparatur-Suchvorgang erneut
bezüglich der Adressenrichtung (der einen Adressenrichtung, die unmittelbar vor der anderen
Adressenrichtung ausgeführt wurde) ausgeführt werden, wobei die subtrahierte Anzahl an
Reserveleitungen als ein Bestimmungswert der Muß-Reparatur verwendet wird.
Hier wird ein Fall beschrieben, bei dem der Controller CON zuerst ein Steuersignal R-SEARCH
ausgibt.
Wenn das Steuersignal R-SEARCH ausgegeben wird (das R-SEARCH wird beispielsweise durch
einen Wechsel von logisch L auf logisch H ausgegeben), beginnt der Zeilenadressengenerator
RAP seinen Betrieb und liest aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC die
jeweiligen Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen auf allen der Zeilenadressenleitungen aus,
beginnend mit der ersten Zeilenadresse bis zur letzten Zeilenadresse in dem durch den Speicher
bereichsadressengenerator TAP spezifizierten Speicherbereich.
Die Anzahl X1 fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilenadressenleitungen, die aus dem
Adressenfehleranzahlzähler/speicher RFC ausgelesen werden, wird mit der Anzahl an Reservelei
tungen verglichen, die in der Richtung senkrecht zur Zeilenadressenleitungsrichtung vorhanden
sind. Demzufolge wird in diesem Fall die Anzahl Y1 der Spaltenreserveleitungen SC, die orthogo
nal zur Zeilenadressenleitungsrichtung sind, aus dem Spaltenreserveleitungsspeicher SCM des
Reserveleitungsanzahlspeichers SPM ausgelesen. Diese Anzahl Y1 der Spaltenresenreleitungen
SC und die Anzahl X1 fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilenadressenleitungen
werden an Eingangsanschlüssen A bzw. B des ersten Komparators CP1 eingegeben, und die
Anzahl Y1 wird mit der Anzahl X1 im ersten Komparator CP1 verglichen. Wenn das Vergleichser
gebnis X1 ≦ Y1 ist, gibt der erste Komparator CP1 ein Signal logisch L aus, und daher gibt auch
das UND-Glied G1 ein Signallogisch L aus. Als Folge bestimmt der Controller CON, daß es keine
Muß-Reparatur ist, und fährt damit fort, das Steuersignal R-SEARCH zu erzeugen. Daher erzeugt
der Zeilenadressengenerator RAP die nächste Zeilenadresse. Wenn ein Vergleichsergebnis des
Inhalts X1 < Y1 nicht auftritt, bis die letzte Zeilenadresse erzeugt ist, wird kein Zeilen-Muß-
Reparatur-Erfassungssignal R-Muß-Reparatur vom ersten Komparator CP1 an den Controller CPN
geliefert, und det Controller CON nimmt an, daß keine Muß-Reparatur auf all den Zeilenadressen
leitungen vorhanden ist, wenn er ein Ubertragssignal RAP MAX von dem Zeilenadressenüber
tragswähler CY2 erhalten hat, wodurch die Erzeugung des Steuersignals R-SEARCH gestoppt
(beispielsweise das Steuersignal R-SEARCH von logisch H auf logisch L geändert) und statt
dessen ein Steuersignal C-SEARCH ausgegeben wird.
Wenn das Steuersignal C-SEARCH ausgegeben wird (wenn das Steuersignal C-SEARCH von
logisch L auf logisch H geändert wird), beginnt der Spaltenadressengenerator CAP zu diesem
Zeitpunkt seinen Betrieb und liest aus dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC die
jeweiligen Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen auf all den Speicheradressenleitungen beginnend
mit der ersten Spaltenadresse bis zur letzten Spaltenadresse in dem Speicherbereich aus, der
durch den Speicherbereichsadressengenerator TAP spezifiziert wurde. Die Anzahl aus dem
Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC ausgelesener fehlerhafter Speicherzellen X2 auf
den einzelnen Spaltenadressenleitungen wird mit der Anzahl an Reserveleitungen verglichen, die
in der Richtung senkrecht zur Spaltenadressenleitungsrichtung vorgesehen sind. Daher wird in
diesem Fall die Anzahl Y2 der Zeilenreserveleitungen SR; die senkrecht zur Spaltenadressenlei
tungsrichtung sind, aus dem Zeilenreserveleitungsspeicher SRM des Reserveleitungsanzahlspei
chers SPM ausgelesen. Diese Anzahl Y2 der Zeilenreserveleitungen SR und die Anzahl X2 der
fehlerhaften Speicherzellen auf den einzelnen Spaltenadressenleitungen werden an Eingangsan
schlüssen A bzw. B eines zweiten Komparators CP2 eingegeben, und die Anzahl X2 wird im
Komparator CP2 mit der Anzahl Y2 verglichen. Wenn das Vergleichsergebnis X2 ≦ Y2 ist, gibt
der Komparator CP2 ein Signal logisch L aus, und daher gibt auch das UND-Glied G2 ein Signal
logisch L aus. Als Folge bestimmt der Controller CON, daß der Fehlerzustand keine Muß-
Reparatur ist und fährt fort, das Steuersignal C-SEARCH auszugeben. Demzufolge erzeugt der
Spaltenadressengenerator CAP die nächste Spaltenadresse. Wenn ein Vergleichsergebnis des
Inhalts X2 < Y2 bis zur letzten Spaltenadresse nicht auftritt, wird kein Spalten-Muß-Reparatur-
Erfassungssignal C-Muß-Reparatur vom zweiten Komparator CP2 an den Controller CON geliefert.
Daher folgert der Controller CON bei Empfang eines Übertragssignals CAP MAX vom Spalten
adressenübertragswähler CY3, daß auf allen Spaltenadressenleitungen keine Muß-Reparatur
vorhanden ist, und der Controller CON stoppt die Erzeugung des Steuersignals C-SEARCH.
Da jedoch das Muß-Reparatur-Erfassungssignal sowohl vom ersten als auch vom zweiten
Komparator CP1 und CP2 nicht geliefert wird, liefert der Controller CON ein Steuersignal TAP
INC an den Speicherbereichsadressengenerator TAP, um den Speicherbereichsadressengenerator
TAP zu veranlassen, die gerade aus ihm ausgegebene Adresse um Eins zu inkrementieren und ein
Speicherbereichsadressensignal zum Spezifizieren des nächsten Speicherbereichs so auszugeben,
daß die Steuerung zum nächsten Fehlerersetzungsanalysevorgang (in diesem Fall der Muß-
Reparatur-Suchvorgang) des nächsten Speicherbereichs bewegt wird.
Wenn irgendein Muß-Reparatur-Erfassungssignal vom ersten und vom zweiten Komparator CP1
und CP2 im Muß-Reparatur-Suchvorgang für die einzelnen Speicherbereiche erzeugt wird, wird
der obige Vorgang wiederholt. Wenn jedoch der Controller CON ein Übertragssignal TAP MAX
vom Speicherbereichsübertragswähler CY1 empfangen hat, liefert der Controller CON ein
Steuersignal TAP INC an den Speicherbereichsadressengenerator TAP, um den Speicherbereichs
adressengenerator TAP zu veranlassen, die von ihm ausgegebene Adresse um Eins zu inkremen
tieren und ein Speicherbereichsadressensignal zum Spezifizieren des letzten Speicherbereichs
auszugeben, so daß der Fehlerersetzungsanalysevorgang des letzten Speicherbereichs ausgeführt
wird. Danach gibt jedoch, selbst wenn irgendein Muß-Reparatur-Erfassungssignal von dem ersten
und dem zweiten Komparator CP1 und CP2 erzeugt wird, der Controller CON das Steuersignal
TAP INC nicht aus.
Im Gegenteil, wenn ein Vergleichsergebnis X1 < Y1 oder X2 < Y2 (ein Zustand, in dem die
Anzahl fehlerhafter Speicherzellen X1 oder X2 größer als die Anzahl an Reserveleitungen Y1 oder
Y2 ist) entweder im Komparator CP1 oder CP2 erfaßt wird, wird ein Erfassungssignal R-Muß-
Reparatur oder C-Muß-Reparatur an den Controller CON geschickt. Als Folge legt der Controller
CON fest, daß eine Muß-Reparatur vorhanden ist und gelangt in den Aktualisierungsvorgang des
Datensatzes im Fehlerersetzungsanalysator.
Wenn beispielsweise der erste Komparator CP1 erfaßt, daß eine Muß-Reparatur auf einer
bestimmten Zeilenadressenleitung vorhanden ist (X1 < Y1), wird ein Signal logisch H an einem
Eingangsanschluß des UND-Glieds G1 vom Komparator CP1 eingegeben. Das Steuersignal R-
SEARCH wird am anderen Eingangsanschluß des UND-Glieds G1 eingegeben. Zu diesem
Zeitpunkt wird nach einer Muß-Reparatur bezüglich Zeilenadressen gesucht, und daher ist das
Steuersignal R-SEARCH logisch H. Daher gibt das UND-Glied G1 ein Signal logisch H aus.
Dieses Signal logisch H wird an einem Freigabeanschluß EN eines zweiten Subtrahierers DS2
eingegeben, der im Reserveleitungsanzahlspeicher SPM vorgesehen ist, und der zweite Subtrahie
rer DS2 subtrahiert 1 von der Anzahl Y1 der im Zeilenreserveleitungsspeicher SRM gespeicherten
Zeilenreserveleitungen 5R. Als Folge wird der im Zeilenreserveleitungsspeicher SRM eingestellte
Wert Y1-1 und daher wird die Anzahl an Zeilenreserveleitungen SR, die in der Spaltenadressen
richtung COL für den durch den Speicherbereichsadressengenerator TAP spezifizierten Speicher
bereich vorgesehen ist, auf den Wert (Y1-1) aktualisiert, der durch Subtrahieren von Eins vom
anfänglichen Wert gewonnen wird. Parallel zu diesem Vorgang wird das Signal logisch H,
welches das UND-Glied ausgegeben hat, auch in den Controller CON als Steuersignal R-Muß-
Reparatur eingegeben, das eine Zeilenadressen-Muß-Reparatur repräsentiert. Bei Empfang des
Steuersignals R-Muß-Reparatur gibt der Controller CON ein Steuersignal C-DSCAN aus.
Da dieses Steuersignal C-DSCAN über einen invertierenden Eingangsanschluß eines UND-Glieds
an den Zeilenadressengenerator RAP geliefert wird und über ein ODER-Glied in den Spaltenadres
sengenerator CAP eingegeben wird, gibt das UND-Glied des Zeilenadressengenerators ein Signal
logisch L aus. Daher beginnt, wenn das Steuersignal C-DSCAN ausgegeben wird, nur der
Spaltenadressengenerator CAP seinen Betrieb, und die im Spaltenadressenfehleranzahlzäh
ler/speicher CFC gespeicherten Anzahlen fehlerhafter Speicherzellen aller Spaltenadressenleitun
gen werden ausgelesen. Außerdem wird das Steuersignal C-DSCAN auch an einem Eingangsan
schluß eines UND-Glieds G4 der Muß-Reparatur-Suchvorrichtung SER und jeweiligen invertieren
den Eingangsanschlüssen von UND-Gliedern G5 und G6 des Reserveleitungsanzahlspeichers SPM
eingegeben. Daher gibt jedes der UND-Glieder Gb und G6 ein Signal logisch L aus, das einen
numerischen Wert "0" repräsentiert. Ein numerischer Wert, der die Anzahl von im Zeilenreserve-
leitungsspeicher SRM gespeicherten Zeilenreserveleitungen SR repräsentiert, wird an den nicht
invertierenden. Anschluß des UND-Glieds G5 angelegt. Daher gibt, wenn das Steuersignal C-
DSCAN nicht in das UND-Glied G5 eingegeben wird, das UND-Glied G5 diesen numerischen Wert
aus. Außerdem wird ein numerischer Wert, der die Anzahl an im Spaltenreserveleitungsspeicher
SCM gespeicherten Spaltenreserveleitungen SC repräsentiert, an den nichtinvertierenden
Anschluß des UND-Glieds G6 angelegt. Daher gibt, wenn das Steuersignal C-DSCAN nicht in das
UND-Glied G6 eingegeben wird, das UND-Glied G6 diesen numerischen Wert aus.
Wenn das UND-Glied G5 einen numerischen Wert "0" ausgibt, wird dieser numerische Wert "0"
an einem Eingangsanschluß A des zweiten Komparators CP2 eingegeben. Als Folge gibt der
zweite Komparator CP2 ein Signal logisch H aus, wenn die vom Spaltenadressenfehleranzahlzäh-
ler/speicher CFC ausgelesene Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Spaltenadres
sen ein von "0" verschiedener numerischer Wert ist.
Das vom zweiten Komparator CP2 ausgegebene Signal logisch H wird an einen anderen Ein
gangsanschluß eines UND-Glieds G4 mit drei Eingängen angelegt. Da ein aus dem Fehleranalyse
speicher 118 ausgelesener Datenwert an den verbleibenden Eingangsanschluß des UND-Glieds
G4 geliefert wird, gibt das UND-Glied G4 immer dann ein Signal logisch H aus, wenn die Anzahl
an Fehlern auf einer Spaltenadressenleitung, auf der zumindest eine fehlerhafte Speicherzelle
vorhanden ist, ausgelesen wird, und ein aus dem Fehleranalysespeicher 118 ausgelesener
Datenwert eine logische "1" ist, was eine fehlerhafte Speicherzelle repräsentiert. Dieses Signal
logisch "H" wird über ein ODER-Glied OR an die jeweiligen Freigabeeingangsanschlüsse EN des
ersten Subtrahierers DS1, des vierten Subtrahierers DS4 und des fünften Subtrahierers DS5
eingegeben. Daher subtrahieren diese Subtrahierer DS1, DS4 und DS5 Einsen von dem Gesamt
fehleranzahlzähler/speicher TFC, dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC bzw. dem
Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC. Als Folge wird die in diesen Zählern/speichern
TFC, RFC und CFC gespeicherte Anzahl an Fehlern auf Werte aktualisiert, die durch Subtrahieren
von Einsen von den Werten gewonnen wurden, die zuvor in dem jeweiligen von ihnen gespeichert
waren.
Dieser Zustand ist in Fig. 3 gezeigt. Wie dargestellt, wird unter der Annahme, daß fünf fehler
hafte Speicherzellen FC auf einer Zeilenadressenleitung RLN mit einer Zeilenadresse RN in einem
Speicherbereich 2 vorhanden sind, ein numerischer Wert "5" als Anzahl fehlerhafter Speicherzel
len an der Zeilenadresse RN des Zeilenadressenfehleranzahlzählers/speichers RFC gespeichert.
Andererseits wird im Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC ein numerischer Wert "1"
als Anzahl fehlerhafter Speicherzellen in jedem der fünf Spaltenadressen gespeichert, in denen
eine der fünf fehlerhaften Speicherzellen FC vorhanden ist.
Wenn ein im Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC gespeicherter Wert ausgelesen
wird, gibt das UND-Glied G4 ein Signal logisch H für jede der fünf Spaltenadressen aus, in denen
eine fehlerhafte Speicherzelle FC auf der Zeilenadressenleitung RLN vorhanden ist. Daher führen
immer dann, wenn das Signal logisch H ausgegeben wird, der erste, der vierte und der fünfte
Subtrahierer DS1, DS4 und DS5 die Subtrahiervorgänge aus, um die gespeicherten Werte in den
entsprechenden Zählem/speichern DFC, RFC bzw. CFC zu aktualisieren. In diesem Fall wird, da
das UND-Glied G4 das Signal logisch H fünfmal ausgibt, wie in Fig. 3 gezeigt, der gespeicherte
Wert im Gesamtfehleranzahtzähler/speicher TFC von "5" auf "0" vermindert, der gespeicherte
Wert im Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC wird ebenfalls von "5" auf "0" vermin
dert, und der in jedem der entsprechenden Spaltenadressen im Spaltenadressenfehleranzahfzäh
ler/speicher CFC wird von "1" auf "0" vermindert.
Wenn der Spaltenadressengenerator CAP in dem Zustand, in dem das Steuersignal C-DSCAN
logisch H ist, ein Spaltenadressensignal erzeugt, das die letzte Spaltenadresse angibt, schickt der
Spaltenadressenübertragswähler CY3 ein Übertragssignal CAP MAX an den Controller CON. Auf
der Basis dieses Übertragssignals CAP MAX schaltet der Controller CON das Steuersignal C-
DSCAN auf logisch L um, und der Controller CON schaltet statt dessen das Steuersignal R-
SEARCH wieder auf logisch H um, so daß der Zeilenadressengenerator RAP die Zeilenadresse um
Eins inkrementiert und der Muß-Reparatur-Suchvorgang für die nächste Zeilenadresse und die
folgenden Zeilenadressen fortgesetzt wird. Wenn der Zeilenadressengenerator RAP ein Zeilen
adressensignal erzeugt, das die letzte Zeilenadresse angibt, schickt der Zeilenadressenübertrags
wähler CY2 ein Übertragssignal RAP MAX an den Controller CON. Bei Empfang des Übertrags
signals RAP MAX beendet der Controller CON den Muß-Reparatur-Suchvorgang in der Zeilen
adressenrichtung ROW.
Der Controller CON schaltet, um den Muß-Reparatur-Vorgang in der Zeilenadressenrichtung ROW
zu beenden, das Steuersignal R-SEARCH auf logisch L um, und schaltet gleichzeitig das Steuer
signal C-SEARCH auf logisch H um, so daß der Muß-Reparatur-Suchvorgang in der Spaltenadres
senrichtung COL ausgeführt wird. Dieser Muß-Reparatur-Suchvorgang in der Spaltenadressenrich
tung COL wird durch Vergleich der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen, die aus dem Spaltenadres
senfehleranzahlzähler/speicher CFC ausgelesen wurde, mit der im Zeilenreserveleitungsspeicher
SRM gespeicherten Anzahl an Zeilenreserveleitungen SR ausgeführt. In diesem Fall ist die im
Zeilenreserveleitungsspeicher SRM gespeicherte Anzahl an Zeilenreserveleitungen SR um Eins
vermindert worden, wie zuvor erläutert, da festgestellt wurde, daß eine Zeilenreserveleitung für
den Ersatz der Muß-Reparatur in der Zeilenrichtung ROW verwendet worden ist. Daher ist, wenn
der Anfangswert "2" ist, die im Zeilenreserveleitungsspeicher SRM gespeicherte Anzahl an
Zeilenreserveleitungen SR "1". Als Folge wird in dem in Fig. 3 gezeigten Beispiel, wenn ein aus
dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC ausgelesener Wert größer als "1" im Muß-
Reparatur-Suchvorgang in der Spaltenadressenrichtung COL ist, die entsprechende Spalte als im
Zustand der Muß-Reparatur befindlich bestimmt.
Außerdem wurde bei dem in Fig. 3 gezeigten Beispiel, wenn die Muß-Reparatur in der Zeilen
adressenrichtung ROW erfaßt wurde, der in jedem der Zähler/speicher TFC, RFC und CFC
gespeicherte Wert auf "0" aktualisiert, weil die fehlerhaften Speicherzellen der Muß-Reparatur
ersetzt wurden. Daher befindet sich der Speicherbereich nun in dem Zustand, daß zum Zeitpunkt
des Muß-Reparatur-Suchvorgangs in der Spaltenadressenrichtung COL keine fehlerhafte Spei
cherzelle in ihm vorhanden ist. Als Folge wird der Muß-Reparatur-Suchvorgang in der Spalten
adressenrichtung COL ohne Erfassung einer Muß-Reparatur abgeschlossen.
Wenn die letzte Spaltenadresse von dem Spaltenadressengenerator CAP erzeugt ist, schickt der
Spaltenadressenübertragswähler CY3 ein Übertragssignal CAP MAX an den Controller CON.
Daher schaltet der Controller CON das Steuersignal C-SEARCH auf logisch L um, um den Muß-
Reparatur-Suchvorgang in der Spaltenadressenrichtung COL zu beenden. Gleichzeitig liefert, da
das Muß-Reparatur-Erfassungssignal sowohl vom ersten als auch vom zweiten Komparator CP1
und CP2 nicht geliefert wird, der Controller CON ein Steuersignal TAP INC an den Speicherbe
reichsadressengenerator TAP, um die vom Speicherbereichsadressengenerator TAP erzeugte
Adresse um Eins zu inkrementieren, so daß ein Speicherbereichsadressensignal zum Spezifizieren
eines nächsten Speicherbereichs erzeugt wird und die Steuerung zum Fehlerersetzungsanalyse
vorgang (in diesem Fall ein Muß-Reparatur-Suchvorgang) des nächsten Speicherbereichs
weitergeht.
Bei dem dem obigen Vorgang folgenden Muß-Reparatur-Suchvorgang eines bestimmten Spei
cherbereichs werden, wenn angenommen wird, daß eine Muß-Reparatur, beispielsweise wie in
Fig. 4 gezeigt, sowohl in der Zeilenadressenrichtung ROW als auch der Spaltenadressenrichtung
COL erfaßt wurde, wie bereits unter Bezug auf Fig. 3 für den Muß-Reparatur-Suchvorgang und
die Zeilenadressenrichtung ROW erläutert, fehlerhafte Speicherzellen auf der Zeilenadressenlei
tung RLN unter Verwendung einer der Zeilenreserveleitungen SR für den Ersatz berücksichtigt,
und die in den drei Zählern/speichern TFC, RFC und CFC gespeicherten Analysedaten werden
aktualisiert.
Als nächstes werden bei dem Muß-Reparatur-Suchsystem in der Spaltenadressenrichtung COL
fehlerhafte Speicherzelten auf der Spaltenadressenleitung CLN unter Verwendung der Spaltenre
serveleitungen SC für den Ersatz berücksichtigt, und die in den drei Zählern/speichern TFC, RFC
und CFC gespeicherten Analysedaten werden aktualisiert (wenn ein Steuersignal R-DSCAN aus
dem Controller CON ausgegeben wird). In diesem Fall ist es, da die Anzahl an Spaltenreservelei
tungen SC um Eins vermindert wird, erforderlich, den Muß-Reparatur-Suchvorgang bezüglich
Zeilenadressen erneut auszuführen, bei dem Spaltenreserveleitungen SC die Bestimmungskriterien
für die Muß-Reparatur-Suche sind.
Aus diesem Grund merkt sich, wenn das Steuersignal R-DSCAN während des Muß-Reparatur-
Suchvorgangs bezüglich Spaltenadressen mindestens einmal auf logisch H umgeschaltet wird,
der Controller CON diesen Zustand und schaltet das Steuersignal R-SEARCH zu dem Zeitpunkt
auf logisch H um, wenn der Muß-Reparatur-Suchvorgang bezüglich Spaltenadressen abgeschlos
sen ist, so daß der Muß-Reparatur-Suchvorgang bezüglich Zeilenadressen erneut ausgeführt wird.
Wenn während des Muß-Reparatur-Suchvorgangs bezüglich Zeilenadressen das Steuersignal C-
DSCAN wieder auf logisch H umgeschaltet wird und der Aktualisierungsvorgang der Analyseda
ten ausgeführt wird, wird das Steuersignal C-SEARCH wieder auf logisch H umgeschaltet, so daß
der Muß-Reparatur-Suchvorgang bezüglich Spaltenadressen wieder ausgeführt wird. Diese Muß-
Reparatur-Suchvorgänge werden nicht erneut ausgeführt, nachdem jede der Anzahl an Zeilenre
serveleitungen und der Anzahl an Spaltenreserveleitungen "0" wird, sondern sie werden
fortgesetzt, bis der Muß-Reparatur-Suchvorgang abgeschlossen ist, wenn irgendeine Muß-
Reparatur während einer Zeitspanne erfaßt wird, während der der Muß-Reparatur-Suchvorgang
ausgeführt wird.
Wie sich aus der obigen Beschreibung ergibt, ist bei der vorgenannten Ausführungsform der
Fehlerersetzungsanalysator so aufgebaut, daß der Gesamtfehleranzahlzähler/speicher TFC nach
Maßgabe der vom Speicherbereichsadressengenerator TAP erzeugten Adressensignale betrieben
wird, und der Muß-Reparatur-Suchvorgang wird nur für einen Speicherbereich mit einer von "0"
verschiedenen Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen ausgeführt, die im Gesamtfehleranzahl
zähler/speicher TFC gespeichert ist, d. h. der Muß-Reparatur-Suchvorgang wird nicht für einen
Speicherbereich ausgeführt, in dem überhaupt keine fehlerhafte Speicherzelle vorhanden ist.
Daher kann der Muß-Reparatur-Suchvorgang eines im Test befindlichen Speichers mit redundan
tem Aufbau mit hoher Geschwindigkeit ausgeführt werden.
Außerdem arbeiten, selbst in dem Fall, in dem der Fehlerersetzungsanalysevorgang für einen
Speicherbereich ausgeführt wird, in dem fehlerhafte Speicherzellen vorhanden sind, der Gesamt
fehleranzahlzähler/speicher TFC, der Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher RFC und der
Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher CFC nach Maßgabe der Adressensignale, die vom
Speicherbereichsadressengenerator TAP, dem Zeilenadressengenerator RAP bzw. dem Spalten
adressengenerator CAP erzeugt wurden. Daher kann, wenn eine Muß-Reparatur während des
Muß-Reparatur-Suchvorgangs in der Zeilenadressenrichtung oder der Spaltenadressenrichtung
erfaßt wird, ein Steuersignal C-DSCAN oder R-DSCAN an der Adressenposition ausgegeben
werden, wo die Muß-Reparatur erfaßt wird, um einen Aktualisierungsvorgang der Analysedaten
auszuführen. D. h., es besteht keine Notwendigkeit wie beim System nach dem Stand der
Technik, sobald eine Muß-Reparatur erfaßt wird, die Vorgänge des Speichern der Muß-Reparatur
adresse im Haupt-Controller 111, des Auslesens der gespeicherten Muß-Reparatur-Adresse aus
dem Haupt-Controller 111 nach der Beendigung des Muß-Reparatur-Suchvorgangs und des
Aktualisierens der Analysedaten nach dem Einstellen der ausgelesenen Muß-Reparatur-Adresse
im Fehlerersetzungsanalysator auszuführen. Daher können der Muß-Reparatur-Suchvorgang und
der Aktualisierungsvorgang der Analysedaten mit hoher Geschwindigkeit ausgeführt werden. Als
Folge kann der Ersetzungsanalysevorgang von diesem Standpunkt aus mit hoher Geschwindigkeit
ausgeführt werden.
Des weiteren ist bei der vorgenannten Ausführungsform ein Fall erläutert, bei dem der Controller
CON zuerst ein Steuersignal R-SEARCH ausgibt. Da es jedoch offensichtlich ist, daß der
Fehlerersetzungs- und Analysevorgang auch ähnlich dem oben genannten Verfahren in dem Fall
ausgeführt werden kann, in dem zuerst ein Steuersignal C-SEARCH ausgegeben wird, unterbleibt
die diesbezügliche Erläuterung.
Demzufolge kann gemäß der vorliegenden Erfindung ein Verfahren des Analysierens des Ersatzes
fehlerhafter Zellen und ein Fehlerersetzungsanalysator geschaffen werden, welche die Fehlerer
setzungsanalyse selbst bei einem Speicher mit vielen Speicherbereichen in kurzer Zeit ab
schließen können. Außerdem kann, wenn der Fehlerersetzungsanalysator, der wie oben erläutert
aufgebaut ist, in eine Speichertestvorrichtung integriert ist, die Prüfzeit des gesamten Speichers
vermindert werden.
Während die vorliegende Erfindung unter Bezug auf die in beispielhafter Weise gezeigten
bevorzugten Ausführungsformen beschrieben wurde, ist Fachleuten klar, 00667 00070 552 001000280000000200012000285910055600040 0002010034702 00004 00548daß verschiedene
Modifikationen, Abweichungen, Änderungen und/oder kleinere Verbesserungen der oben
beschriebenen Ausführungsformen vorgenommen werden können, ohne vom Sinn und Zweck der
vorliegenden Erfindung abzuweichen. Demzufolge ist klar, daß die vorliegende Erfindung nicht auf
die dargestellten Ausführungsformen beschränkt ist, sondern alle derartigen Modifikationen,
Abweichungen, Änderungen und/oder kleineren Verbesserungen, die in den Bereich der durch die
beigefügten Ansprüche definierten Erfindung fallen, umfassen soll.
Claims (9)
1. Verfahren zum Analysieren der Reparatur einer fehlerhaften Zelle in einem Speicher,
umfassend folgende Schritte: Testen eines Speichers mit einer Mehrzahl von Speicherbereichen;
Erfassen, ob die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf einer Zeilen- oder Spaltenadressenleitung
jedes der Speicherbereiche größer als die Anzahl an Reserveleitungen zum Ersetzen eines Fehlers
ist oder nicht, wobei die Reserveleitungen in einer zu den Zeilen- oder Spaltenadressenleitungen
senkrechten Richtung vorgesehen sind; Bestimmen, wenn die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen
größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, daß die fehlerhafte Speicherzelle eine "Muß-
Reparatur" ist; und Annehmen, daß die fehlerhafte Speicherzelle auf der als "Muß-Reparatur"
bestimmten Adressenleitung durch Verwendung der Reserveleitung repariert worden ist, und
Aktualisieren von Daten zu einem derartigen Zustand, daß die "Muß-Reparatur" repariert worden
ist, wobei das Verfahren des weiteren folgende Schritte umfaßt:
Ausführen, jedesmal dann, wenn eine "Muß-Reparatur" an einer Zeilenadresse oder einer Spaltenadresse erfaßt worden ist, eines Aktuaüsierungsprozesses der Daten an der Position der Zeilenadresse oder der Spaltenadresse, an der dis "Muß-Reparatur" erfaßt worden ist; und
Fortsetzen der Suche nach einer "Muß-Reparatur", nachdem der Aktualisierungsprozeß der Daten abgeschlossen ist.
Ausführen, jedesmal dann, wenn eine "Muß-Reparatur" an einer Zeilenadresse oder einer Spaltenadresse erfaßt worden ist, eines Aktuaüsierungsprozesses der Daten an der Position der Zeilenadresse oder der Spaltenadresse, an der dis "Muß-Reparatur" erfaßt worden ist; und
Fortsetzen der Suche nach einer "Muß-Reparatur", nachdem der Aktualisierungsprozeß der Daten abgeschlossen ist.
2. Speichertestvorrichtung zum Testen eines Speichers mit einer Mehrzahl von
Speicherbereichen und zumindest einer Reserveleitung zum Ersetzen eines Fehlers, die auf jedem
der Speicherbereiche vorgesehen ist, wobei die Vorrichtung einen Fehlerersetzungsanalysator
zum Zählen, bei jedem Speicherbereich, der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen, der Anzahl
fehlerhafter Speicherzellen auf jeder Zeilenadresse und der Gesamtanzahl fehlerhafter
Speicherzellen auf jeder Spaltenadresse und zum Analysieren eines Verfahrens des Reparierens
der fehlerhaften Speicherzellen für jeden Speicherbereich aufweist, und umfassend:
einen Detektor für den analysierten Speicherbereich zum Suchen, ob eine fehlerhafte Speicherzelle in den einzelnen Speicherbereichen existiert oder nicht, und zum Bestimmen, ob eine Fehlerersetzungsanalyse für den Speicherbereich ausgeführt werden sollte oder nicht;
einen Speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen, wobei der Speicher jeweils die Anzahl an in einer Zeilenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen und die Anzahl an in einer Spaltenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen jedes Speicherbereichs speichert;
eine Muß-Reparatur-Suchvorrichtung zum Vergleichen der Anzahl an Reserveleitungen, die in dem Reserveleitungsanzahlspeicher gespeichert sind, mit der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf einer Zeilenadressenleitung oder einer Spaltenadressenleitung der einzelnen Speicherbereiche, zum Erfassen eines Zustands, in dem die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, die in senkrechter Richtung zu der Adressenleitung vorhanden sind, und zum Bestimmen, daß der erfaßte Zustand eine Muß-Reparatur ist;
eine Datenaktualisierungsvorrichtung zum Ausführen, jedesmal dann, wenn die Muß- Reparatur-Suchvorrichtung eine Muß-Reparatur erfaßt, eines Prozesses der Aktualisierung von Daten zu einem Zustand derart, daß fehlerhafte Speicherzellen auf der Adressenleitung der erfaßten Muß-Reparatur durch Verwendung der Reserveleitung repariert worden sind;
eine Wiederinbetriebsetzungsvorrichtung zum Erfassen des Endes des von der Daten aktualisierungsvorrichtung ausgeführten Datenaktualisierungsprozesses und zum Wiederinbetrieb setzen der Muß-Reparatur-Suchvorrichtung;
Muß-Reparatur-Suchwiederaufnahmemittel, welche die Tatsache erfassen, daß die Datenaktualisierungsvorrichtung gearbeitet hat, und veranlaßt, daß die Muß-Reparatursuche wieder aufgenommen wird, unter der Bedingung, daß die Anzahl der durch den Simulationspro zeß der Datenaktualisierungsvorrichtung aktualisierten Reserveleitungen bei der Erfassung einer Muß-Reparatur verwendet wird; und
Suchbeendigungsmittel, welche die Tatsache erfassen, daß während der Suche nach einer Muß-Reparatur keine Muß-Reparatur erfaßt wird, und die Suche nach einer Muß-Reparatur für den in Analyse befindlichen Speicherbereich beenden.
einen Detektor für den analysierten Speicherbereich zum Suchen, ob eine fehlerhafte Speicherzelle in den einzelnen Speicherbereichen existiert oder nicht, und zum Bestimmen, ob eine Fehlerersetzungsanalyse für den Speicherbereich ausgeführt werden sollte oder nicht;
einen Speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen, wobei der Speicher jeweils die Anzahl an in einer Zeilenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen und die Anzahl an in einer Spaltenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen jedes Speicherbereichs speichert;
eine Muß-Reparatur-Suchvorrichtung zum Vergleichen der Anzahl an Reserveleitungen, die in dem Reserveleitungsanzahlspeicher gespeichert sind, mit der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf einer Zeilenadressenleitung oder einer Spaltenadressenleitung der einzelnen Speicherbereiche, zum Erfassen eines Zustands, in dem die Anzahl fehlerhafter Speicherzellen größer als die Anzahl an Reserveleitungen ist, die in senkrechter Richtung zu der Adressenleitung vorhanden sind, und zum Bestimmen, daß der erfaßte Zustand eine Muß-Reparatur ist;
eine Datenaktualisierungsvorrichtung zum Ausführen, jedesmal dann, wenn die Muß- Reparatur-Suchvorrichtung eine Muß-Reparatur erfaßt, eines Prozesses der Aktualisierung von Daten zu einem Zustand derart, daß fehlerhafte Speicherzellen auf der Adressenleitung der erfaßten Muß-Reparatur durch Verwendung der Reserveleitung repariert worden sind;
eine Wiederinbetriebsetzungsvorrichtung zum Erfassen des Endes des von der Daten aktualisierungsvorrichtung ausgeführten Datenaktualisierungsprozesses und zum Wiederinbetrieb setzen der Muß-Reparatur-Suchvorrichtung;
Muß-Reparatur-Suchwiederaufnahmemittel, welche die Tatsache erfassen, daß die Datenaktualisierungsvorrichtung gearbeitet hat, und veranlaßt, daß die Muß-Reparatursuche wieder aufgenommen wird, unter der Bedingung, daß die Anzahl der durch den Simulationspro zeß der Datenaktualisierungsvorrichtung aktualisierten Reserveleitungen bei der Erfassung einer Muß-Reparatur verwendet wird; und
Suchbeendigungsmittel, welche die Tatsache erfassen, daß während der Suche nach einer Muß-Reparatur keine Muß-Reparatur erfaßt wird, und die Suche nach einer Muß-Reparatur für den in Analyse befindlichen Speicherbereich beenden.
3. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der der Detektor für den analysierten
Speicherbereich umfaßt:
einen Speicherbereichsadressengenerator zum Erzeugen von Adressen, die der Mehrzahl von Speicherbereichen zugeordnet sind;
einen Gesamtfehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen für die einzelnen Speicherbereiche, wobei auf den Gesamtfehleran zahlzähler/speicher durch ein von dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebenes Speicherbereichsadressensignal zugegriffen wird und der die Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs ausgibt;
eine Nullerfassungsanordnung, welche die Tatsache erfaßt, daß die aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher ausgelesene Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen "0" ist;
Mittel; welche die aus dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebene Adresse jedesmal dann inkrementiert, wenn die Nullerfassungsanordnung "0" erfaßt; und
Mittel, welche die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung in dem Fall in Betrieb setzt, daß die aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher ausgelesene Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen ein von "0" verschiedener numerischer Wert ist.
einen Speicherbereichsadressengenerator zum Erzeugen von Adressen, die der Mehrzahl von Speicherbereichen zugeordnet sind;
einen Gesamtfehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen für die einzelnen Speicherbereiche, wobei auf den Gesamtfehleran zahlzähler/speicher durch ein von dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebenes Speicherbereichsadressensignal zugegriffen wird und der die Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs ausgibt;
eine Nullerfassungsanordnung, welche die Tatsache erfaßt, daß die aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher ausgelesene Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen "0" ist;
Mittel; welche die aus dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebene Adresse jedesmal dann inkrementiert, wenn die Nullerfassungsanordnung "0" erfaßt; und
Mittel, welche die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung in dem Fall in Betrieb setzt, daß die aus dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher ausgelesene Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen ein von "0" verschiedener numerischer Wert ist.
4. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der der Reserveleitungsanzahlspeicher
umfaßt: einen Speicher zum Speichern der Anzahl an in der Zeilenadressenrichtung vorgesehenen
Reserveleitungen; und einen Speicher zum Speichern der Anzahl an in der
Spaltenadressenrichtung vorgesehenen Reserveleitungen, wobei auf die Speicher durch ein von
dem Speicherbereichsadressengenerator ausgegebenes Speicherbereichsadressensignal
zugegriffen wird und die Speicher die Anzahl an Reserveleitungen ausgeben, die in dem
entsprechenden Speicherbereich vorgesehen sind.
5. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung
umfaßt:
einen Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilenadressenleitungen für jeden Speicherbereich;
einen Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Spaltenadressenleitungen für jeden Speicherbereich;
einen Zeilenadressengenerator zum Zugreifen auf den Zeilenadressenfehleranzahl zähler/speicher;
einen Spaltenadressengenerator zum Zugreifen auf den Spaltenadressenfehleran zahlzähler/speicher;
einen ersten Komparator zum Vergleichen der aus dem Zeilenadressenfehleran zahlzähler/speicher ausgelesenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilen adressenleitungen mit der Anzahl an in der zu den Zeilenadressenleitungen senkrechten Richtung vorgesehenen Reserveleitungen und zum Erfassen einer Muß-Reparatur auf den Zeilenadres senleitungen; und
einen zweiten Komparator zum Vergleichen der aus dem Spaltenadressenfehleran zahlzähler/speicher ausgelesenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Spalten adressenleitungen mit der Anzahl an in der zu den Spaltenadressenleitungen senkrechten Richtung vorgesehenen Reserveleitungen und zum Erfassen einer Muß-Reparatur auf den Spaltenadressenleitungen.
einen Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilenadressenleitungen für jeden Speicherbereich;
einen Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher zum Speichern der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Spaltenadressenleitungen für jeden Speicherbereich;
einen Zeilenadressengenerator zum Zugreifen auf den Zeilenadressenfehleranzahl zähler/speicher;
einen Spaltenadressengenerator zum Zugreifen auf den Spaltenadressenfehleran zahlzähler/speicher;
einen ersten Komparator zum Vergleichen der aus dem Zeilenadressenfehleran zahlzähler/speicher ausgelesenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Zeilen adressenleitungen mit der Anzahl an in der zu den Zeilenadressenleitungen senkrechten Richtung vorgesehenen Reserveleitungen und zum Erfassen einer Muß-Reparatur auf den Zeilenadres senleitungen; und
einen zweiten Komparator zum Vergleichen der aus dem Spaltenadressenfehleran zahlzähler/speicher ausgelesenen Anzahl fehlerhafter Speicherzellen auf den einzelnen Spalten adressenleitungen mit der Anzahl an in der zu den Spaltenadressenleitungen senkrechten Richtung vorgesehenen Reserveleitungen und zum Erfassen einer Muß-Reparatur auf den Spaltenadressenleitungen.
6. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Datenaktualisierungsvorrich
tung umfaßt:
einen Controller zum Ausführen einer Steuerung, die den Zeilenadressengenerator oder den Spaltenadressengenerator beim Inkrementierungsvorgang an der Ausführung des Inkrementierungsvorgangs hindert, und einer Steuerung, die den Spaltenadressengenerator oder den Zeilenadressengenerator, der im Betrieb pausiert hat, während einer Suche nach einer Muß- Reparatur von der ersten Adresse zur letzten Adresse durch ein Erfassungssignal inkrementiert, daß die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung entweder eine Muß-Reparatur auf einer Zeilenadressenleitung oder eine Muß-Reparatur auf einer Spaltenadressenleitung erfaßt hat;
einen ersten Subtrahierer zum Aktualisieren der Anzahl an Reserveleitungen durch die Annahme, daß eine Reserveleitung für den Ersatz der erfaßten Muß-Reparatur verwendet worden ist, und durch Einstellen der aktualisierten Anzahl an Reserveleitungen in dem Speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen;
einen zweiten Subtrahierer zum Ausführen einer Subtraktion von "1" von der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs, die jedesmal dann vom Gesamtfehleranzahlzähler/speicher ausgegeben wird, wenn eine fehlerhafte Speicherzelle aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher oder dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesen wird, die durch den Inkrementie rungsvorgang des Zeilenadressengenerators oder des Spaltenadressengenerators ausgelesen werden, der seinen Inkrementierungsvorgang begonnen hat, und zum Einstellen des Ergebnisses der Subtraktion in dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher; und
einen dritten und einen vierten Subtrahierer zum Ausführen einer Subtraktion von "1" von der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs, die aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher jedesmal dann ausgegeben wird, wenn eine fehlerhafte Speicherzelle aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesen wird, und zum Einstellen des Ergebnisses der Subtraktionen in dem Zeilenadressen fehleranzahtzähier/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher.
einen Controller zum Ausführen einer Steuerung, die den Zeilenadressengenerator oder den Spaltenadressengenerator beim Inkrementierungsvorgang an der Ausführung des Inkrementierungsvorgangs hindert, und einer Steuerung, die den Spaltenadressengenerator oder den Zeilenadressengenerator, der im Betrieb pausiert hat, während einer Suche nach einer Muß- Reparatur von der ersten Adresse zur letzten Adresse durch ein Erfassungssignal inkrementiert, daß die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung entweder eine Muß-Reparatur auf einer Zeilenadressenleitung oder eine Muß-Reparatur auf einer Spaltenadressenleitung erfaßt hat;
einen ersten Subtrahierer zum Aktualisieren der Anzahl an Reserveleitungen durch die Annahme, daß eine Reserveleitung für den Ersatz der erfaßten Muß-Reparatur verwendet worden ist, und durch Einstellen der aktualisierten Anzahl an Reserveleitungen in dem Speicher zum Speichern der Anzahl an Reserveleitungen;
einen zweiten Subtrahierer zum Ausführen einer Subtraktion von "1" von der Gesamtanzahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs, die jedesmal dann vom Gesamtfehleranzahlzähler/speicher ausgegeben wird, wenn eine fehlerhafte Speicherzelle aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher oder dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesen wird, die durch den Inkrementie rungsvorgang des Zeilenadressengenerators oder des Spaltenadressengenerators ausgelesen werden, der seinen Inkrementierungsvorgang begonnen hat, und zum Einstellen des Ergebnisses der Subtraktion in dem Gesamtfehleranzahlzähler/speicher; und
einen dritten und einen vierten Subtrahierer zum Ausführen einer Subtraktion von "1" von der Anzahl fehlerhafter Speicherzellen des entsprechenden Speicherbereichs, die aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher jedesmal dann ausgegeben wird, wenn eine fehlerhafte Speicherzelle aus dem Zeilenadressenfehleranzahlzähler/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher ausgelesen wird, und zum Einstellen des Ergebnisses der Subtraktionen in dem Zeilenadressen fehleranzahtzähier/speicher bzw. dem Spaltenadressenfehleranzahlzähler/speicher.
7. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Wiederinbetriebsetzungsvor
richtung umfaßt:
ein Paar Übertragswähler zum Erfassen der Tatsache, daß das vom Zeilen adressengenerator bzw. vom Spaltenadressengenerator ausgegebene Zeilenadressensignal und das Spaltenadressensignal jeweils ihre letzten Adressen erreicht haben; und
einen Controller, der aus diesen Übertragswählern ausgegebene Übertragssignale empfängt und eine Steuerung ausführt, die den Inkrementierungsvorgang des Zeilenadressenge nerators oder des Spaltenadressengenerators wiederaufnimmt, der im Betrieb pausiert hat.
ein Paar Übertragswähler zum Erfassen der Tatsache, daß das vom Zeilen adressengenerator bzw. vom Spaltenadressengenerator ausgegebene Zeilenadressensignal und das Spaltenadressensignal jeweils ihre letzten Adressen erreicht haben; und
einen Controller, der aus diesen Übertragswählern ausgegebene Übertragssignale empfängt und eine Steuerung ausführt, die den Inkrementierungsvorgang des Zeilenadressenge nerators oder des Spaltenadressengenerators wiederaufnimmt, der im Betrieb pausiert hat.
8. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Muß-Reparatur-Suchwiederauf
nahmemittel umfassen: eine Steueranordnung zum Ausführen einer Steuerung, die eine Koinzi
denz zwischen dem Zustand, daß die Muß-Reparatur-Suchvorrichtung das Vorhandensein einer
Muß-Reparatur entweder in der Zeilenadressenrichtung oder der Spaltenadressenrichtung erfaßt
und in dem die Datenaktualisierungsvorrichtung arbeitet, um dis Anzahl an Reserveleitungen zu
aktualisieren, die in dem Speicher zur Speicherung der Anzahl an Reserveleitungen gespeichert
sind, und dem Zustand erfaßt, daß der Suchvorgang für eine Muß-Reparatur abgeschlossen ist,
und Veranlassen eines Suchvorgangs nach einer Muß-Reparatur in der einen Adressenrichtung
unter Verwendung der aktualisierten Anzahl an Reserveleitungen als Erfassungsbedingung einer
auszuführenden Muß-Reparatur.
9. Speichertestvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Suchbeendigungsmittel umfas
sen: Mittel zum Erfassen eines Abschlusses von zwei Zuständen, daß die von dem Speicher
adressenbereichsgenerator erzeugte Adresse die letzte Adresse erreicht hat und daß die Muß-
Reparatur-Suchvorrichtung den Suchvorgang für eine Muß-Reparatur in der Zeilenadressen
richtung oder der Spaltenadressenrichtung ohne Erfassung einer Muß-Reparatur beendet hat.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11203578A JP2001035189A (ja) | 1999-07-16 | 1999-07-16 | メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10034702A1 true DE10034702A1 (de) | 2001-02-22 |
Family
ID=16476437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10034702A Withdrawn DE10034702A1 (de) | 1999-07-16 | 2000-07-17 | Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch macht |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6594788B1 (de) |
JP (1) | JP2001035189A (de) |
DE (1) | DE10034702A1 (de) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002216495A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-08-02 | Mitsubishi Electric Corp | メモリデバイス冗長救済解析方法、記録媒体および装置 |
DE10119144C1 (de) * | 2001-04-19 | 2002-10-10 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Testen von Halbleiter-Speicherbausteinen |
US7076706B2 (en) * | 2001-04-24 | 2006-07-11 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for ABIST diagnostics |
US20050066226A1 (en) * | 2003-09-23 | 2005-03-24 | Adams R. Dean | Redundant memory self-test |
US7203873B1 (en) | 2004-06-04 | 2007-04-10 | Magma Design Automation, Inc. | Asynchronous control of memory self test |
US7219275B2 (en) * | 2005-02-08 | 2007-05-15 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for providing flexible modular redundancy allocation for memory built in self test of SRAM with redundancy |
US7380191B2 (en) * | 2005-02-09 | 2008-05-27 | International Business Machines Corporation | ABIST data compression and serialization for memory built-in self test of SRAM with redundancy |
KR100694406B1 (ko) | 2005-04-21 | 2007-03-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불량 셀 처리 회로를 포함하는 불휘발성 강유전체 메모리장치 및 제어 방법 |
US20080270854A1 (en) * | 2007-04-24 | 2008-10-30 | Micron Technology, Inc. | System and method for running test and redundancy analysis in parallel |
US8977912B2 (en) * | 2007-05-07 | 2015-03-10 | Macronix International Co., Ltd. | Method and apparatus for repairing memory |
JP5087704B2 (ja) * | 2009-07-13 | 2012-12-05 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および救済解析方法 |
US8381052B2 (en) * | 2009-11-10 | 2013-02-19 | International Business Machines Corporation | Circuit and method for efficient memory repair |
TWI452879B (zh) * | 2010-04-27 | 2014-09-11 | Univ Nat Sun Yat Sen | 特殊應用網路晶片之全晶片拓樸產生合成方法 |
JP5642567B2 (ja) * | 2011-01-18 | 2014-12-17 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | 半導体装置及びその製造方法 |
US9690640B2 (en) * | 2013-09-26 | 2017-06-27 | Intel Corporation | Recovery from multiple data errors |
US10658067B2 (en) | 2018-05-14 | 2020-05-19 | Micron Technology, Inc. | Managing data disturbance in a memory with asymmetric disturbance effects |
CN116092564B (zh) * | 2023-03-14 | 2023-06-23 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种存储器以及测试方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6032264A (en) * | 1997-04-22 | 2000-02-29 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method implementing repairs on a memory device |
JP3581249B2 (ja) * | 1997-06-10 | 2004-10-27 | 株式会社東芝 | 半導体不良ビット救済処理方法及び半導体不良ビット救済処理装置 |
US6085334A (en) * | 1998-04-17 | 2000-07-04 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for testing an integrated memory device |
-
1999
- 1999-07-16 JP JP11203578A patent/JP2001035189A/ja active Pending
-
2000
- 2000-07-17 US US09/617,456 patent/US6594788B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-07-17 DE DE10034702A patent/DE10034702A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001035189A (ja) | 2001-02-09 |
US6594788B1 (en) | 2003-07-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102004021267B4 (de) | Verfahren zum Testen eines Speicherbausteins und Prüfanordnung | |
DE10034702A1 (de) | Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch macht | |
DE60001291T2 (de) | Halbleiterspeicherschaltung mit eingebauter Selbstprüfung und Selbstreparatur | |
DE19851861B4 (de) | Fehleranalysespeicher für Halbleiterspeicher-Testvorrichtungen und Speicherverfahren unter Verwendung des Fehleranalysespeichers | |
DE10121298A1 (de) | Verfahren und Gerät zum Testen von Speichern | |
DE19741174A1 (de) | Speichertestgerät | |
DE4328605A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE10225381A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Speichern von Speichertestinformantion | |
EP0046976A2 (de) | Halbleiterspeicher aus Speicherbausteinen mit redundanten Speicherbereichen | |
EP1046993B1 (de) | Halbleiterspeicheranordnung mit BIST | |
EP1008993B1 (de) | Schreib/Lesespeicher mit Selbsttestvorrichtung und zugehöriges Testverfahren | |
DE10035705B4 (de) | Verfahren zum Analysieren des Ersatzes fehlerhafter Zellen in einem Speicher und Speichertestvorrichtung mit einem Fehleranalysator, der von dem Verfahren Gebrauch macht | |
EP1113362A2 (de) | Integrierter Halbleiterspeicher mit einer Speichereinheit zum Speichern von Adressen fehlerhafter Speicherzellen | |
DE112008000429T5 (de) | Prüfvorrichtung und Prüfverfahren | |
DE4335061C2 (de) | Mehrspeichervorrichtung | |
DE10019790C2 (de) | Testsystem für Halbleitervorrichtungen | |
DE19841005B4 (de) | Halbleiterplattenlaufwerk und Verfahren zum Erzeugen einer physikalisch/logischen Adressenumsetzungstabelle | |
DE19922786B4 (de) | Halbleiterspeicher mit Testeinrichtung | |
DE69323076T2 (de) | Verfahren zur Erkennung fehlerhafter Elemente eines redundanten Halbleiterspeichers | |
WO2009062655A1 (de) | Verfahren zum prüfen eines arbeitsspeichers | |
DE102007053464A1 (de) | Vorrichtung zum Reparieren und/oder Testen eines Speichergerätes | |
DE69300165T2 (de) | Verfahren zur Reparatur defekter Elemente in einem Redundanzspeicher. | |
DE19959779A1 (de) | Vorrichtung zum Erhalten von Fehlverhaltensinformationen sowie diese verwendende Halbleiterspeicher-Prüfvorrichtung | |
DE10134654A1 (de) | Verfahren zur Fehleranalyse von Speichermodulen | |
DE10016719A1 (de) | Integrierter Speicher und Verfahren zur Funktionsprüfung von Speicherzellen eines integrierten Speichers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20110201 |