CN2493943Y - 印刷电路板的测试治具的构造 - Google Patents

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Abstract

一种印刷电路板的测试治具的构造,其包括有一针板、多数个探测针、多数条导线及一转接板;针板上设有针孔;每一探测针包括有针筒、弹性元件及针体,弹性元件设置于针筒内,针体插设于针筒内,并与弹性元件接触,针筒插设于针板的针孔内,使针体接触印刷电路板的待测点;多数条导线连接于探测针的针筒;一转接板设置于针板上方,其上设有穿孔,每一针孔设置有针体的一端与针板上相对应的探测针的针体接触,另一端与印刷电路板的待测点接触。转接板上的针体将印刷电路板的待测点讯号传递至针板的探测针上,再通过导线传递至测试机。具有可大幅降低测试成本及提高测试密度的功效。

Description

印刷电路板的测试治具的构造
技术领域
本实用新型是一种印刷电路板的测试治具的构造,特别是指一种可大幅降低测试成本及提高测试密度的创新印刷电路板的测试治具的构造。
背景技术
众所周知,一般印刷电路板在完成线路布台或将电子零件组装后,为确定每条线路皆可正常导通,通常必须予以测试,将电子线路完好的印刷电路板挑出,或将各电子元件固定于印刷电路板后,亦需经过电讯测试。
图1所示,为一种传统的印刷电路板的测试治具的构造,其包括有一针板10、多数个探测针12及夹板14;针板10上预设有对应待测物11(本实施例为印刷电路板)的待测点13位置的针孔16,多数个探针14是由探针套筒18、针筒20、弹簧22及针体24所组成。探针套筒18插置于针板10的预设针孔16内,其一端设有导线19,用以将讯号传递至测试机(图未显示);弹簧22是容置于针筒20内,针体24是插置于针筒20内,通过弹簧22的伸缩力,使针体24在针筒20内具有弹性伸缩的回复力,针筒20是固定于探针套筒18内,将整个探测针12固定于针板10上。夹板14上亦预设有与针板10的针孔16相对应的夹孔26,而针体24是穿过夹板14的夹孔26,而凸出于夹板14,并穿过顶板15预设的穿孔17。
使用时,将待测物11设置于夹板14上方,通过测试机具将待测物11的探测点13与探测针12的针体24接触,而将电讯号依序传递至弹簧22及探针套筒18,而由探针套筒18底部连接的导线19传递至测试机上,由测试机判定待测点13是否导通,以完成待测物11的测试作业。其主要缺陷在于:
1、由于探测针12与待测物11的待测点13接触时,必需具有弹性回复的伸缩力,以防止损坏待测点13的电性,因此针体24必需设于具有弹簧22的针筒20内,使针体24被压缩可自动弹伸回复,因此,整个探测针12的体积无法制成相当细小,或将其制成相当细小时,其相对的成本非常高昂,以致造成测试成本的提高及无法提升测试密度;
2、由于探针套筒18需配合探测针12的尺寸设计,因此其尺寸亦相对地受到限制,以致针板10的针孔16的整体密度无法提高,造成无法测试高密度待测点13的待测物11;
3、待测物11的待测点13的电讯号是通过针体24、弹性元件22、套筒20、探针套筒18等元件彼此组合的电接触传递,在经过多道的接触传递后,造成讯号传递不良的现象,以致影响待测物11的测试品质,尤其在测试高密度的待测点时,其效果更为不佳;
4、探测针12是固定于针板10上,无法拆卸,因此,当整批料号的待测物测试完毕之后,针板10及多数的探测针12将无法再行使用,造成测试成本的提高及资源的浪费。
发明内容
本实用新型的主要目的是提供一种印刷电路板的测试治具的构造,通过设计一种包括有一针板、多数个探测针、多数条导线及一转接板的构造,达到制造便利及有效降低生产成本的目的。
本实用新型的第二目的是提供一种印刷电路板的测试治具的构造,达到可测试更高密度的待测点及测试成本相当低廉的目的。
本实用新型的第三目的是提供一种印刷电路板的测试治具的构造,达到可重覆使用治具及降低生产成本的目的。
本实用新型的目的是这样实现的:一种印刷电路板的测试治具的构造,包括有一针板、多数个探测针、多数条导线及一转接板,其特征是:该针板对应于印刷电路板的多数个待测点位置设有针孔;该多数个探测针的每一探测针包括有针筒、弹性元件及针体,该弹性元件是设置于针筒内,该针体是插设于该针筒内,并与该弹性元件接触,该针筒是插设于该接触该印刷电路板的特测点的针板的针孔内;该多数条导线设有第一端点及第二端点,该第一端点是连接于该探测针的针筒,另一端点用以将讯号传递至测试机;转接板是设置于该针板上方,其上设有多数个对应于该待测点的穿孔;多数个针体是穿设于该转接板的相对应的穿孔内,相对于该待测点位置的针体一端与该针板上相对应的探测针的针体接触,另一端与印刷电路板的待测点接触。
该针板具有网格状纵横交错排列的针孔,该探测针插置入对应于印刷电路板的多数个待测点的针孔内。该多数条导线的第一端点是缠绕于探测针的针筒上。该多数条导线的第二端点是连接于测试机的排线上,将讯号传递至测试机。该转接板密布有网格状纵横交错排列的穿孔,该多数个针体是穿设于该穿孔内,相对于该待测点位置的针体一端与该针板设有探测针的针体接触,另一端与印刷电路板的待测点接触。
下面结合较佳实施例和附图进一步说明如下:
附图说明
图1为传统测试治具的分解示意图。
图2为本实用新型的分解示意图。
图3为图2的探测针的放大剖视示意图。
图4为图2的组合剖视示意图。
图5为本实用新型的实施例2的组合剖视示意图。
图6为本实用新型的实施例3的组合剖视示意图。
具体实施方式
实施例1
参阅图2-图4,本实用新型的印刷电路板的测试治具的构造,包括有一针板30、多数个探测针32、多数条导线34及一转接板36;
针板30对应于印刷电路板38的多数个待测点40位置设有针孔42;
每一探测针32包括有针筒44、弹性元件46及针体48,弹性元件46是设置于针筒44内,针体48是插设于针筒44内,并与弹性元件46接触,而具有弹性回复力,针筒44是插设固定于针板30的针孔42内,而针体48用以接触印刷电路板38的待测点40;
多数条导线34,其设有第一端点52及第二端点54,第一端点52是卷绕连接于探测针32的针筒44,另一端点54用以将讯号传递至测试机的排线(图未显示)上。
转接板36设置于针板30上方,其上设有多数个对应于印刷电路板38的待测点40的穿孔56,本实施例中转接板36为密布有网格状纵横交错排列的穿孔56。
多数个针体58是分别穿设于转接板36对应于待测点40的穿孔56内,其相对于待测点40位置的针体58一端与针板30上相对应的探测针32的针体48接触,另一端与印刷电路板38的待测点38接触,使印刷电路板38的待测点讯号通过针体58传递至探测针32的针体48。
当转接板36密布有网格状纵横交错排列的穿孔56时,针体58是布满转接板36的穿孔56,印刷电路板38的待测点40将与对应的针体58接触,而对应的针体58则接触相对应针板30上的探测针32。
参阅图4,当进行印刷电路板38的测试时,转接板36上对应于待测点40的针体58将接触印刷电路板38上的待测点40,使讯号传递至针体58,而未对应待测点40的针体58则形成未导通状态,如是,经导通的针体58将与探测针32接触,通过导线34将测试印刷电路板38的讯号传递至测试机(图未显示)。
实施例2
参阅图5,当印刷电路板38上的待测点40位置改变时,将针板30上的针孔42位置改变成与待测点40相对应,再将探测针32***针板30的针孔42内,此时,转接板36上与印刷电路板38的待测点40对应的针体58将接触待测点40,而将测试讯号传递至针板30上的探测针32。
实施例3
参阅图6,当印刷电路板30的多数个待测点40的密度过高,使针板30上的针孔42无法相对地提高其密度时,可通过转接板36上的针体58的斜率,将针体58倾斜设置,使印刷电路板38上的待测点40的讯号,通过针体58传导至针板30上的探测针32,如是,可提高测试密度。
通过如上的构造组合,可见本实用新型具有如下的优点:
1、将导线34以绕线方式连接于探测针32上,当其中一探测针32损毁时,可将探测针32直接从针板30上抽换,而连接于探测针32上的导线34将自行脱落,如是,可达到便于更换探测针32的效果。
2、针板30预设纵横交错排列的针孔42,因此,可依据印刷电路板38上的待测点40的位置插置探测针32,如是,针板30可配合不同料号的待测物38重覆使用,以降低测试成本。
3、由于探测针32与针体58导通传导讯号,而可通过由针体58的斜率,以提高测试密度,因此,探测针不需制成相当的细小,亦可提高测试密度,因此,可降低探测针的制造成本。
综观以上说明,本实用新型的印刷电路板的测试治具的构造,确可达到其目的及功效,而具有新颖性及创造性。

Claims (5)

1、一种印刷电路板的测试治具的构造,包括有一针板、多数个探测针、多数条导线及一转接板,其特征是:该针板对应于印刷电路板的多数个待测点位置设有针孔;该多数个探测针的每一探测针包括有针筒、弹性元件及针体,该弹性元件是设置于针筒内,该针体是插设于该针筒内,并与该弹性元件接触,该针筒是插设于该接触该印刷电路板的特测点的针板的针孔内;该多数条导线设有第一端点及第二端点,该第一端点是连接于该探测针的针筒,另一端点用以将讯号传递至测试机;转接板是设置于该针板上方,其上设有多数个对应于该待测点的穿孔;多数个针体是穿设于该转接板的相对应的穿孔内,相对于该待测点位置的针体一端与该针板上相对应的探测针的针体接触,另一端与印刷电路板的待测点接触。
2、根据权利要求1所述的印刷电路板的测试治具的构造,其特征是:该针板具有网格状纵横交错排列的针孔,该探测针插置入对应于印刷电路板的多数个待测点的针孔内。
3、根据权利要求1所述的印刷电路板的测试治具的构造,其特征是:该多数条导线的第一端点是缠绕于探测针的针筒上。
4、根据权利要求1所述的印刷电路板的测试治具的构造,其特征是:该多数条导线的第二端点是连接于测试机的排线上,将讯号传递至测试机。
5、根据权利要求1所述的印刷电路板的测试治具的构造,其特征是:该转接板密布有网格状纵横交错排列的穿孔,该多数个针体是穿设于该穿孔内,相对于该待测点位置的针体一端与该针板设有探测针的针体接触,另一端与印刷电路板的待测点接触。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100357903C (zh) * 2004-04-01 2007-12-26 华硕电脑股份有限公司 测试装置及连接测试装置的方法
CN102033193A (zh) * 2009-06-03 2011-04-27 康代有限公司 用于测量电路的电气性能的方法和***
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CN104535914A (zh) * 2014-11-05 2015-04-22 中山市智牛电子有限公司 一种缓冲保护电路板的测试仪
CN111722083A (zh) * 2020-06-29 2020-09-29 中国电子科技集团公司第十四研究所 一种印制板非焊接式快速测试机构

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CN100357903C (zh) * 2004-04-01 2007-12-26 华硕电脑股份有限公司 测试装置及连接测试装置的方法
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