CN217058718U - 一种设备弯曲度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开的一种设备弯曲度测量装置，属于测量工具技术领域。包括激光发生装置、基准定位尺和尺寸测量尺；激光发生装置包括装置本体，装置本体内设有激光发射器，装置本体上设有出光口，激光发射器正对出光口设置，装置本体底部设有本体磁吸底座；基准定位尺包括接收板，接收板底部设有定位尺磁吸底座，接收板上设有过光通孔；出光口中心与本体磁吸底座底面的距离等于过光通孔中心与定位尺磁吸底座底面的距离；尺寸测量尺上设有刻度；使用时，激光发生装置和基准定位尺分别位于待测设备的两端，尺寸测量尺位于激光发生装置与基准定位尺之间。本实用新型的结构设计合理、操作简便，能够实现单个操作人员独立、快速、准确地测量设备的弯曲度。

Description

一种设备弯曲度测量装置

技术领域

本实用新型属于测量工具技术领域，具体涉及一种设备弯曲度测量装置。

背景技术

在设备生产过程中由于设备较长，往往会导致设备存在不同程度的弯曲变形，对于不同的设备的弯曲程度或者平整度也会有不同的标准文件。

目前对于大设备弯曲度的测量专用的装置较少，比如对于钢结构的旁弯的测量，常用的方法是：在钢结构两端垫上两个等高度的物体作为基准高度，然后两个人分别在将绳子两端固定在物体基准高度处，另外一人测量不同部位绳子到钢结构距离，测量值与基准高度差值的绝对值的最大值为钢结构的旁弯。此方法操作不方便，而且需要几个人同时操作，比较费工，绳子在测量时容易晃动，测量费时费力，测量准确度较低。

发明内容

为了解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种设备弯曲度测量装置，结构设计合理、操作简便，能够实现单个操作人员独立、快速、准确地测量设备的弯曲度。

本实用新型是通过以下技术方案来实现：

本实用新型公开了一种设备弯曲度测量装置，包括激光发生装置、基准定位尺和尺寸测量尺；激光发生装置包括装置本体，装置本体内设有激光发射器，装置本体上设有出光口，激光发射器正对出光口设置，装置本体底部设有本体磁吸底座；基准定位尺包括接收板，接收板底部设有定位尺磁吸底座，接收板上设有过光通孔；出光口中心与本体磁吸底座底面的距离等于过光通孔中心与定位尺磁吸底座底面的距离；尺寸测量尺上设有刻度；使用时，激光发生装置和基准定位尺分别位于待测设备的两端，尺寸测量尺位于激光发生装置与基准定位尺之间。

优选地，装置本体上设有垂直微调旋钮、水平微调旋钮和开关，垂直微调旋钮通过垂直操动机构与激光发射器连接，水平微调旋钮通过水平操动机构与激光发射器连接，开关与激光发射器连接。

进一步优选地，垂直操动机构和水平操动机构为齿轮齿条机构或丝杠传动机构。

优选地，接收板上设有十字坐标线，过光通孔位于十字坐标线的中心。

优选地，出光口设有光圈过滤器。

优选地，出光口设有保护盖。

优选地，过光通孔的直径与激光发射器发出激光的直径为2～3mm。

优选地，激光发射器所发射的激光为红色，接收板为白色，尺寸测量尺为黑色。

优选地，出光口中心与本体磁吸底座底面的距离和过光通孔中心与定位尺磁吸底座底面的距离均为20～50mm。

优选地，本体磁吸底座和定位尺磁吸底座为钕铁硼磁铁。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益的技术效果：

本实用新型公开的一种设备弯曲度测量装置，激光发生装置和基准定位尺置于待测设备的两端，激光发生装置发出的激光通过基准定位尺上的过光通孔，尺寸测量尺在激光传播路径上就能测得设备的弯曲度。该装置结构简单、操作简便，能够实现单个操作人员独立、快速、准确地测量设备的弯曲度；不需要繁琐的工装和准备工作，并且极大地减小了测量误差；同时该装置不依赖操作人员的经验和技能水平，适用度广。

进一步地，激光发射器的水平和垂直位置能够利用垂直操动机构和水平操动机构进行微调，提高测量的精确度。

更进一步地，垂直操动机构和水平操动机构采用齿轮齿条机构或丝杠传动机构，操作精度高。

进一步地，接收板上设有十字坐标线，过光通孔位于十字坐标线的中心，能够为激光的调节调节提供参考。

进一步地，出光口设有光圈过滤器，能够将激光的截面为调定直径的圆形，便于读数。

进一步地，出光口设有保护盖，能够保护内部元器件，防止杂物进入。

进一步地，激光发射器所发射的激光为红色，颜色醒目，容易辨识、读数；接收板为白色，反光比较明显，清晰可见；尺寸测量尺为黑色，聚光效果好，在尺寸测量尺表面显示直径较小，测量比较准确。

进一步地，本体磁吸底座和定位尺磁吸底座为钕铁硼磁铁，能够牢固地吸附在任何钢制设备上，便于固定。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为装置本体的结构示意图；

图3为基准定位尺的结构示意图；

图4为尺寸测量尺的结构示意图；

图5为本实用新型的使用状态示意图。

图中：1为装置本体，2为激光发射器，3为出光口，4为垂直微调旋钮，5为水平微调旋钮，6为本体磁吸底座，7为开关，8为基准定位尺，8-1为接收板，8-2为定位尺磁吸底座，8-3为过光通孔，8-4为十字坐标线，9为尺寸测量尺，9-1为刻度。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述，其内容是对本实用新型的解释而不是限定：

如图1，为本实用新型的设备弯曲度测量装置，包括激光发生装置、基准定位尺8和尺寸测量尺9；如图2，激光发生装置包括装置本体1，装置本体1内设有激光发射器2，装置本体1上设有出光口3，激光发射器2正对出光口3设置，装置本体1底部设有本体磁吸底座6；如图3，基准定位尺8包括接收板8-1，接收板8-1底部设有定位尺磁吸底座8-2，接收板8-1上设有过光通孔8-3；出光口3中心与本体磁吸底座6底面的距离等于过光通孔8-3中心与定位尺磁吸底座8-2底面的距离；如图4，尺寸测量尺9上设有刻度9-1；如图5，使用时，激光发生装置和基准定位尺8分别位于待测设备的两端，尺寸测量尺9位于激光发生装置与基准定位尺8之间。

在本实用新型的一个较优的实施例中，装置本体1上设有垂直微调旋钮4、水平微调旋钮5和开关7，垂直微调旋钮4通过垂直操动机构与激光发射器2连接，水平微调旋钮5通过水平操动机构与激光发射器2连接，开关7与激光发射器2连接。优选地，垂直操动机构和水平操动机构为齿轮齿条机构或丝杠传动机构。

在本实用新型的一个较优的实施例中，接收板8-1上设有十字坐标线8-4，过光通孔8-3位于十字坐标线8-4的中心。

在本实用新型的一个较优的实施例中，出光口3设有光圈过滤器。

在本实用新型的一个较优的实施例中，出光口3设有保护盖。

在本实用新型的一个较优的实施例中，过光通孔8-3的直径与激光发射器2发出激光的直径为2～3mm。

在本实用新型的一个较优的实施例中，激光发射器2所发射的激光为红色，接收板8-1为白色，尺寸测量尺9为黑色。

在本实用新型的一个较优的实施例中，出光口3中心与本体磁吸底座6底面的距离和过光通孔8-3中心与定位尺磁吸底座8-2底面的距离均为20～50mm。

在本实用新型的一个较优的实施例中，本体磁吸底座6和定位尺磁吸底座8-2为钕铁硼磁铁。

上述的设备弯曲度测量装置的使用方法，包括：

装置本体1上的开关7可以控制激光发射器2的打开和关闭，当打开开关7时，激光发射器2从出光口3射出一束激光，当关闭开关7时，激光发射器2熄灭。垂直微调旋钮4和水平微调旋钮5可以分别对激光发射器2内部进行上下和左右进行微调，射出的一束激光会上下或者左右偏移，微调时出光口3位置不变。

将装置本体1沿被测设备的边沿通过本体磁吸底座6吸附在被测设备的一端，将基准定位尺8通过定位尺磁吸底座8-2吸附在被测设备的另一端，使接收板8-1表面垂直于被测设备边沿，打开开关7，移动装置本体1，使出光口3射出的激光落在接收板8-1表面，再根据光点落在十字坐标线8-4的位置，通过微调垂直微调旋钮4和水平微调旋钮5，使激光通过过光通孔8-3，此时激光通过设备两端的基准高度一致。最后，使用尺寸测量值9在装置本体1和基准定位尺8之间移动，使出光口3射出的激光落在尺寸测量值9上，并记录测量数据，多次测量的数据分别与基准高度差值的绝对值的最大值为被测设备的旁弯。

下面以具体测量实例来对本实用新型的使用方法进行进一步解释：

如图5，测量某钢结构钢梁的旁弯：将装置本体1沿钢梁翼板边沿通过本体磁吸底座6吸附在钢梁的一端，将基准定位尺8通过定位尺磁吸底座8-2吸附在钢梁的另一端，使接收板8-1表面垂直于被钢梁边沿，打开开关7，移动装置本体1，使出光口3射出的激光线落在接收板8-1表面，再根据光点落在十字坐标线8-4的位置，通过微调垂直微调旋钮4和水平微调旋钮5，使激光通过过光通孔8-3，此时激光通过设备两端的基准高度为出光口3中心到装置本体1底部的高度30mm，最后，使用尺寸测量值9在装置本体1和基准定位尺8之间移动，使出光口3射出的激光落在尺寸测量值9上，并记录多个测量数据分别为26mm\33mm\36\25mm\29mm，多次测量的数据分别与基准高度30mm差值的绝对值分别为4mm\3mm\6mm\5mm\1mm，则绝对值最大值为6mm，被测钢梁的旁弯为6mm。

以上所述，仅为本实用新型实施方式中的部分，本实用新型中虽然使用了部分术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了方便的描述和解释本实用新型的本质，把它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。以上所述仅以实施例来进一步说明本实用新型的内容，以便于更容易理解，但不代表本实用新型的实施方式仅限于此，任何依本实用新型所做的技术延伸或再创造，均受本实用新型的保护。

Claims (10)

1.一种设备弯曲度测量装置，其特征在于，包括激光发生装置、基准定位尺(8)和尺寸测量尺(9)；激光发生装置包括装置本体(1)，装置本体(1)内设有激光发射器(2)，装置本体(1)上设有出光口(3)，激光发射器(2)正对出光口(3)设置，装置本体(1)底部设有本体磁吸底座(6)；基准定位尺(8)包括接收板(8-1)，接收板(8-1)底部设有定位尺磁吸底座(8-2)，接收板(8-1)上设有过光通孔(8-3)；出光口(3)中心与本体磁吸底座(6)底面的距离等于过光通孔(8-3)中心与定位尺磁吸底座(8-2)底面的距离；尺寸测量尺(9)上设有刻度(9-1)；使用时，激光发生装置和基准定位尺(8)分别位于待测设备的两端，尺寸测量尺(9)位于激光发生装置与基准定位尺(8)之间。

2.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，装置本体(1)上设有垂直微调旋钮(4)、水平微调旋钮(5)和开关(7)，垂直微调旋钮(4)通过垂直操动机构与激光发射器(2)连接，水平微调旋钮(5)通过水平操动机构与激光发射器(2)连接，开关(7)与激光发射器(2)连接。

3.根据权利要求2所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，垂直操动机构和水平操动机构为齿轮齿条机构或丝杠传动机构。

4.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，接收板(8-1)上设有十字坐标线(8-4)，过光通孔(8-3)位于十字坐标线(8-4)的中心。

5.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，出光口(3)设有光圈过滤器。

6.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，出光口(3)设有保护盖。

7.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，过光通孔(8-3)的直径与激光发射器(2)发出激光的直径为2～3mm。

8.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，激光发射器(2)所发射的激光为红色，接收板(8-1)为白色，尺寸测量尺(9)为黑色。

9.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，出光口(3)中心与本体磁吸底座(6)底面的距离和过光通孔(8-3)中心与定位尺磁吸底座(8-2)底面的距离均为20～50mm。

10.根据权利要求1所述的设备弯曲度测量装置，其特征在于，本体磁吸底座(6)和定位尺磁吸底座(8-2)为钕铁硼磁铁。

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