CN216351051U - 一种串口芯片测试***的验证电路 - Google Patents
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Abstract
一种串口芯片测试***的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态；所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路，通过所述第一滤波电路及所述第二滤波电路分别对所述测试芯片及所述标准芯片进行滤波提高测试参数的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及串口芯片测试技术领域，尤其是一种串口芯片测试***的验证电路。
背景技术
串口芯片是一种可以将接收来自CPU的并行数据字符转换为连续的串行数据流发送出去，同时可将接收的串行数据流转换为并行的数据字符供给CPU的器件；随着电子业的发展，对串口芯片的性能要求也越来越高，需要对串口芯片的直流参数及时间参数等参数进行测试；但在测试时测试芯片没有标准芯片对照，测试的参数不精确，且测试芯片及标准芯片在收发时没有滤波电路会影响测试参数。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种串口芯片测试***的验证电路。
本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：
一种串口芯片测试***的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
优选的，所述开关电路包括开关继电器PRLY21B及开关继电器PRLY22B。
优选的，还包括与所述测试电路连接的控制电路，用于控制所述测试电路。
优选的，所述控制电路的芯片型号为PXIe_6571。
优选的，所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路。
优选的，还包括示波器及源测试仪器，所述示波器及所述源测试仪器与所述测试电路连接。
优选的，还包括负载电路，用于控制调整负载，所述负载电路包括若干结构相同的跳线电路。
优选的，所述标准芯片型号为MAX3232；所述测试芯片型号为CJ3232。
优选的，所述测试电路还包括电源控制电路；所述电源控制电路与所述标准芯片连接。
优选的，还包括与所述测试电路连接的切换电路，用于切换数据通道。
本实用新型的优点和积极效果是：
1.本实用新型一种串口芯片测试***的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
2.本实用新型中所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路，通过所述第一滤波电路及所述第二滤波电路分别对所述测试芯片及所述标准芯片进行滤波提高测试参数的准确性。
附图说明
图1是本实用新型的电路连接框图；
图2是本实用新型的测试电路连接图；
图3是本实用新型的控制电路连接图；
图4是本实用新型的负载电路连接图；
图5是本实用新型的切换电路连接图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1所示，本实用新型所述一种串口芯片测试***的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
具体的，所述标准芯片型号为MAX3232；所述测试芯片型号为CJ3232；所述开关电路包括开关继电器PRLY21B及开关继电器PRLY22B；所述测试芯片通过所述开关电路连接所述标准芯片，可将所述测试芯片设置成发送数据模式且将所述标准芯片设置成接收数据模式，通过将所述测试芯片发送数据与所述标准芯片接收数据进行比对判断所述测试芯片性能是否良好；可将所述测试芯片设置成接收数据模式且将所述标准芯片设置成发送数据模式，通过将所述测试芯片接收数据与所述标准芯片发送数据进行比对判断所述测试芯片性能是否良好，且所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
进一步地，如图2所示，所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路；具体的，第一滤波电路包括电容C1及电容C2；所述第二滤波电路包括电容C9及电容C10。
进一步地，所述测试电路还包括电源控制电路；所述电源控制电路与所述标准芯片连接。
具体的，所述电源控制电路包括开关继电器PRLY23B、跳线开关J3；所述开关继电器PRLY23B及所述跳线开关J3与所述标准芯片的VCC引脚连接。
进一步地，如图3所示，还包括与所述测试电路连接的控制电路，用于控制所述测试电路；具体的，所述控制电路的芯片型号为PXIe_6571；所述控制电路的S0_DIO引脚分别对应连接所述测试电路的S0_DIO引脚。
进一步地，还包括示波器及源测试仪器，所述示波器及所述源测试仪器与所述测试电路连接；具体的，所述测试芯片的S0_DIO1引脚、S0_DIO3引脚、S0_DIO5引脚及S0_DIO7引脚连接所述示波器；所述测试芯片的S0_DIO23引脚、S0_DIO25引脚、S0_DIO27引脚及S0_DIO29引脚连接所述源测试仪器。
进一步地，如图4所示，还包括负载电路，用于控制调整负载，所述负载电路包括若干结构相同的跳线电路；具体的，所述跳线电路包括跳线开关J1、电容C1及电阻R1；所述负载电路的S0_TOU1引脚及S0_TOU2引脚分别对应连接所述测试电路的S0_TOU1引脚及S0_TOU2引脚。
进一步地，如图5所示，还包括与所述测试电路连接的切换电路，用于切换数据通道；具体的，所述切换电路的S0_DIO引脚、S0_TOU引脚及PMV引脚分别对应连接所述测试电路的S0_DIO引脚、S0_TOU引脚及PMV引脚。
工作原理：
1.所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能；
2.通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态；
3.通过所述第一滤波电路及所述第二滤波电路分别对所述测试芯片及所述标准芯片进行滤波提高测试参数的准确性。
本实用新型一种串口芯片测试***的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态；所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路，通过所述第一滤波电路及所述第二滤波电路分别对所述测试芯片及所述标准芯片进行滤波提高测试参数的准确性。
上述说明是针对本实用新型较佳可行实施例的详细说明，但实施例并非用以限定本实用新型的专利申请范围，凡本实用新型所提示的技术精神下所完成的同等变化或修饰变更，均应属于本实用新型所涵盖专利范围。
Claims (10)
1.一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进行比对判断所述测试芯片性能，通过所述开关电路控制所述测试电路的工作状态。
2.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：所述开关电路包括开关继电器PRLY21B及开关继电器PRLY22B。
3.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：还包括与所述测试电路连接的控制电路，用于控制所述测试电路。
4.根据权利要求3所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：所述控制电路的芯片型号为PXIe_6571。
5.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：所述测试电路包括第一滤波电路及第二滤波电路；所述测试芯片连接所述第一滤波电路，所述标准芯片连接所述第二滤波电路。
6.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：还包括示波器及源测试仪器，所述示波器及所述源测试仪器与所述测试电路连接。
7.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：还包括负载电路，用于控制调整负载，所述负载电路包括若干结构相同的跳线电路。
8.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：所述标准芯片型号为MAX3232；所述测试芯片型号为CJ3232。
9.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：所述测试电路还包括电源控制电路；所述电源控制电路与所述标准芯片连接。
10.根据权利要求1所述一种串口芯片测试***的验证电路，其特征在于：还包括与所述测试电路连接的切换电路，用于切换数据通道。
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| CN216351051U true CN216351051U (zh) | 2022-04-19 |
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2021
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