CN214101383U - 一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路 - Google Patents
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Abstract
一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,包括DC‑DC转换器、光模块以及误码仪,其中,所述DC‑DC转换器为两个,分别为第一DC‑DC转换器和第二DC‑DC转换器,所述第一DC‑DC转换器和第二DC‑DC转换器的输入端口均与输入电压Vcc连接,所述第一DC‑DC转换器的输出端口与光模块的供电端口连接,所述第二DC‑DC转换器的输出端口与误码仪的供电端口连接,其中,将误码仪和光模块金手指连接器设计在同一块PCB板,光模块的金手指连接器与误码仪的高速信号通过PCB差分走线连接,这样既可节省同轴电缆的购买成本,又可消除同轴电缆连接器带来的测试误差和不稳定性,还可将误码仪整机放入高低温测试环境中,连接简单,方便操作。
Description
技术领域
本实用新型涉及自动化测试设备领域,具体涉及一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路。
背景技术
随着互联网、大数据、云计算的技术发展,光模块的用量越来越大,光模块也有着高速、多通道的趋势。例如一种400G的光模块,就包含了8个TX通道和8个RX通道,若想测试该种光模块,在常规的测试板上,至少需要32根高速同轴电缆才能搭建一个完成的收发测试台位。这对测试台位的稳定性,成本都提出了不小的挑战。
实用新型内容
鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端,本实用新型实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,具体方案如下:
一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,包括DC-DC转换器、光模块以及误码仪,其中,所述DC-DC转换器为两个,分别为第一DC-DC转换器和第二DC-DC转换器,所述第一DC-DC转换器和第二DC-DC转换器的输入端口均与输入电压Vcc连接,所述第一DC-DC转换器的输出端口与光模块的供电端口连接,所述第二DC-DC转换器的输出端口与误码仪的供电端口连接,所述光模块的金手指连接器与误码仪的高速信号测试端口通过PCB差分走线电连接,其中,其中,所述DC-DC转换器、光模块、金手指连接器与误码仪印制于同一PCB板上。
进一步地,所述误码测试电路还包括隔直电容,所述隔直电容串接于所述PCB差分走线上。
进一步地,所述误码仪的DAC端口还与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接,用以向第一DC-DC转换器输出控制信号。
进一步地,所述误码测试电路还包括电源拉偏控制电路,所述电源拉偏控制电路包括电阻R1、电阻R2和电容C1,所述误码仪的DAC端口通过电阻R2与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接,所述电阻R1和电容C1的一端接地,另一端与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接。
进一步地,所述第一DC-DC转换器由第一ISL8215M单通道DC-DC降压电源芯片及其***电路组成,所述第二DC-DC转换器由第二ISL8215M单通道DC-DC降压电源芯片及其***电路组成。
进一步地,所述误码仪包括DSP数学信号处理单元和MCU微处理器器,所述DSP数学信号处理单元和MCU微处理器电连接,所述MCU微处理器的供电端口与第二DC-DC转换器的输出端口电连接,所述DSP数学信号处理单元的高速信号测试端口通过PCB差分走线与光模块的金手指连接器电连接。
进一步地,所述DSP数学信号处理单元由IN015050-MB02芯片及其***电路组成,所述MCU微处理由ADuCM320芯片及其***电路组成。
进一步地,所述误码测试电路还包括电流测试单元,所述电流测试单元串接于光模块与第一DC-DC转换器之间的连接线路上。
进一步地,所述电流测试单元由MAX9634电流检测芯片及其***电路组成。
本实用新型具有以下有益效果:
本实用新型提供的一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,将误码仪和光模块金手指连接器设计在同一块PCB板,光模块的金手指连接器与误码仪的高速信号通过PCB差分走线连接,这样既可节省同轴电缆的购买成本,又可消除同轴电缆连接器带来的测试误差和不稳定性,还可将误码仪整机放入高低温测试环境中,连接简单,方便操作。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的第一DC-DC转换器的电路原理图;
图3为本实用新型实施例提供的第二DC-DC转换器的电路原理图;
图4为本实用新型实施例提供的误码仪的DAC端口向第一DC-DC转换器的FB反馈端口输出控制信号的电路原理图;
图5为本实用新型实施例提供的误码仪的高速信号测试端口信号原理图;
图6为本实用新型实施例提供的MCU微处理器的电路原理图;
图7为本实用新型实施例提供的金手指连接器信号原理图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示,本实用新型实施例提供的一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,包括DC-DC转换器、光模块以及误码仪,其中,所述DC-DC转换器为两个,分别为第一DC-DC转换器和第二DC-DC转换器,所述第一DC-DC转换器和第二DC-DC转换器的输入端口均与输入电压Vcc连接,所述第一DC-DC转换器的输出端口与光模块的供电端口连接,所述第二DC-DC转换器的输出端口与误码仪的供电端口连接,所述光模块的金手指连接器与误码仪的高速信号测试端口通过PCB差分走线电连接,其中,其中,所述DC-DC转换器、光模块、金手指连接器与误码仪印制于同一PCB板上。
其中,所述误码测试电路还包括隔直电容,所述隔直电容串接于所述PCB差分走线上,为满足协议要求,隔直电容采用0201封装,0.1uF的电容来隔直,使信号线满足差分阻抗100欧姆,所述误码仪的DAC端口还与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接,用以向第一DC-DC转换器输出控制信号,如图4所示。
本实用新型提供的一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,将误码仪和光模块金手指连接器设计在同一块PCB板,光模块的金手指连接器与误码仪的高速信号通过PCB差分走线连接,这样既可节省同轴电缆的购买成本,又可消除同轴电缆连接器带来的测试误差和不稳定性,还可将误码仪整机放入高低温测试环境中,连接简单,方便操作。
如图2-3所示,其中,所述第一DC-DC转换器由第一ISL8215M单通道DC-DC降压电源芯片及其***电路组成,所述第二DC-DC转换器由第二ISL8215M单通道DC-DC降压电源芯片及其***电路组成。
本本实用新型采用12V-DC供电,在板上利用两个DC-DC转换器将电压转成两个互不干扰的3.3V,从而将误码仪的供电和光模块的供电分开。同时,利用戴维南电压定理,通过误码仪MCU的DAC输出一个电压V_M_CTRL,从而控制第一DC-DC转换器加到光模块上的电压VOUT,从而进行电压拉偏测试,具体电路如图4所示。电压的计算公式如下:
一般选择R1=9.53K,R2=100K,则电源拉偏与V_M_CTRL的关系见下表:
VOUT(V) | V_CTRL(V) |
3.135 | 1.027 |
3.3 | 0.645 |
3.465 | 0.263 |
其中,所述误码仪包括DSP数学信号处理单元和MCU微处理器器,所述DSP数学信号处理单元和MCU微处理器电连接,所述MCU微处理器的供电端口与第二DC-DC转换器的输出端口电连接,所述DSP数学信号处理单元的高速信号测试端口通过PCB差分走线与光模块的金手指连接器电连接,其中,所述DSP数学信号处理单元由IN015050-MB02芯片及其***电路组成,所述MCU微处理由ADuCM320芯片及其***电路组成;其中,MCU微处理器的电路原理图如图6所示,高速信号测试端口信号原理图如图5所示,金手指连接器的信号原理图如图7所示。
其中,所述误码测试电路还包括电流测试单元,所述电流测试单元串接于光模块与第一DC-DC转换器之间的连接线路上,所述电流测试单元由MAX9634电流检测芯片及其***电路组成,利用电流检测芯片MAX9634检测流经光模块的电流,从而就可以得知光模块工作时的功耗。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,包括DC-DC转换器、光模块以及误码仪,其中,所述DC-DC转换器为两个,分别为第一DC-DC转换器和第二DC-DC转换器,所述第一DC-DC转换器和第二DC-DC转换器的输入端口均与输入电压Vcc连接,所述第一DC-DC转换器的输出端口与光模块的供电端口连接,所述第二DC-DC转换器的输出端口与误码仪的供电端口连接,所述光模块的金手指连接器与误码仪的高速信号测试端口通过PCB差分走线电连接,其中,所述DC-DC转换器、光模块、金手指连接器与误码仪印制于同一PCB板上。
2.根据权利要求1所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述误码测试电路还包括隔直电容,所述隔直电容串接于所述PCB差分走线上。
3.根据权利要求1所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述误码仪的DAC端口还与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接,用以向第一DC-DC转换器输出控制信号。
4.根据权利要求3所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述误码测试电路还包括电源拉偏控制电路,所述电源拉偏控制电路包括电阻R1、电阻R2和电容C1,所述误码仪的DAC端口通过电阻R2与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接,所述电阻R1和电容C1的一端接地,另一端与第一DC-DC转换器的FB反馈端口电连接。
5.根据权利要求3所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述第一DC-DC转换器由第一ISL8215M单通道DC-DC降压电源芯片及其***电路组成,所述第二DC-DC转换器由第二ISL8215M单通道DC-DC降压电源芯片及其***电路组成。
6.根据权利要求1所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述误码仪包括DSP数学信号处理单元和MCU微处理器器,所述DSP数学信号处理单元和MCU微处理器电连接,所述MCU微处理器的供电端口与第二DC-DC转换器的输出端口电连接,所述DSP数学信号处理单元的高速信号测试端口通过PCB差分走线与光模块的金手指连接器电连接。
7.根据权利要求6所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述DSP数学信号处理单元由IN015050-MB02芯片及其***电路组成,所述MCU微处理由ADuCM320芯片及其***电路组成。
8.根据权利要求6所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述误码测试电路还包括电流测试单元,所述电流测试单元串接于光模块与第一DC-DC转换器之间的连接线路上。
9.根据权利要求8所述的用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路,其特征在于,所述电流测试单元由MAX9634电流检测芯片及其***电路组成。
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Family Applications (1)
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CN202023215132.6U Active CN214101383U (zh) | 2020-12-28 | 2020-12-28 | 一种用于光模块自动化测试的低成本误码测试电路 |
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- 2020-12-28 CN CN202023215132.6U patent/CN214101383U/zh active Active
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