CN208352559U - 一种测试排线 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试排线，包括：基板；第一连接头，设置在所述基板的第一端，用于连接待测试模块；第二连接头，设置在所述基板的第二端，用于连接电子设备；多个测试点，设置在所述基板的第一端，且每个所述测试点的第一端通过信号线与所述第一连接头连接，每个所述测试点的第二端通过信号线与所述第二连接头连接。由于将测试点都集中设置在测试排线的第一端，故而，在对待测试模块进行测试时，信号采集更加方便，且采集到的信号衰减较小，有利于提高测试的准确率，提高除错效果。

Description

一种测试排线

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试排线。

背景技术

通常，在手机主板上设置有多个模块(例如：摄像头模块、显示屏模块、指纹模块、等等)，若某一模块出现了问题，则可能无法正常工作。

测试排线可以很好地对这些模块进行测试，测试排线的一端可以与待测试模块连接，另一端与手机主板连接，且在测试排线上设置有多个测试点，测试人员可以在这些测试点上采集到待测试模块上每个引脚的信号，并以此对待测试模块进行测试。

但是，现有技术中的测试排线，其测试点分布在整个基板上，测试点分布较分散，导致信号采集不方便，且信号衰减较大，影响测试准确率和除错效果。

实用新型内容

本申请实施例通过提供一种测试排线，解决了现有技术中的测试排线，存在信号采集不方便，信号衰减较大，影响测试准确率和除错效果的技术问题。

本申请通过本申请的一实施例提供如下技术方案：

一种测试排线，包括：

基板；

第一连接头，设置在所述基板的第一端，用于连接待测试模块；

第二连接头，设置在所述基板的第二端，用于连接电子设备；

多个测试点，设置在所述基板的第一端，且每个所述测试点的第一端通过信号线与所述第一连接头连接，每个所述测试点的第二端通过信号线与所述第二连接头连接。

优选地，所述基板具体为柔性电路板。

优选地，所述测试点设置在所述基板的第一端的第一面和/或第二面上。

优选地，所述基板的第一端的宽度具体为4mm～5mm。

优选地，所述基板的长度具体为20mm～40mm。

优选地，所述第一连接头具体为BTB连接器的母头，所述第二连接头具体为BTB连接器的公头。

优选地，所述一连接头具体为ZIF连接器的母头，所述第二连接头具体为ZIF连接器的公头。

优选地，所述多个测试点分两排设置在所述基板的第一端。

优选地，所述基板的第二端的宽度小于所述基板的第一端的宽度。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

在本申请实施例中，公开了一种测试排线，包括：基板；第一连接头，设置在所述基板的第一端，用于连接待测试模块；第二连接头，设置在所述基板的第二端，用于连接电子设备；多个测试点，设置在所述基板的第一端，且每个所述测试点的第一端通过信号线与所述第一连接头连接，每个所述测试点的第二端通过信号线与所述第二连接头连接。由于将测试点都集中设置在测试排线的第一端，故而，在对待测试模块进行测试时，信号采集更加方便，且采集到的信号衰减较小，从而有利于提高测试的准确率，提高除错效果。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例中的测试排线的正面结构图；

图2为本申请实施例中的测试排线的反面结构图；

图3为本申请实施例中的测试排线的内部线路图。

具体实施方式

本申请实施例通过提供一种测试排线，解决了现有技术中的测试排线，存在信号采集不方便，信号衰减较大，影响测试准确率和除错效果的技术问题。

为了更好的理解本实用新型的技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对本实用新型技术方案进行详细的说明。

首先说明，本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

本实施例提供了一种测试排线，如图1所示，包括：

基板100，基板100包括两端(即：第一端110和第二端120)；

第一连接头111，设置在基板100的第一端110的第一面(例如：正面)上，用于连接待测试模块200(例如：待测试的摄像头模块、显示屏模块、指纹模块、等等)；

第二连接头121，设置在基板100的第二端120的第二面(例如：背面)上，用于连接电子设备(例如：手机、或平板电脑、或智能电视、或数码相机、等等)的主板，如图2所示；

多个测试点112，设置在基板100的第一端110，且每个测试点112的第一端1121通过信号线113与第一连接头111连接，每个测试点112的第二端1122通过信号线113与第二连接头121连接，如图3所示。

在具体实施过程中，第一连接头111用于连接待测试模块200(例如：待测试的摄像头模块、显示屏模块、指纹模块、等等)，其中，待测试模块200的各个引脚都可以与第一连接头111的对应连接点相连接。

在具体实施过程中，在基板100的第一端110的第一面(例如：正面)和/或第二面(例如：背面)上设置有多个测试点，这些测试点112分两排(或三排)集中设置。每个测试点又包括两个端点(即：第一端1121和第二端1122)，其中，每个测试点112的第一端1121都分别与第一连接头111上的一个连接点相连接，对应的第二端1122与第二连接头121上对应的连接点相连接。将测试点112的第一端1121和第二端1122用导线连接，即可使第一连接头111上对应的一个连接点与第二连接头121上对应的连接点连通。

此处，每个测试点112都设置两个端点(即：第一端1121和第二端1122)，可以方便地连接电流表、或电压表、或示波器等测量仪器，从而采集每条信号线上的信号(同：待测试模块的每个引脚上的信号)，并基于采集到的信号对待测试模块200进行测试。

此处，将待测试点112集中布置在基板100的第一端110上，这样，信号采集更加方便，且采集到的信号衰减较小，从而保证在测试点112上可以采集到更为准确的信号，从而有利于提高测试的准确率，提高除错(Debug)效果。

在具体实施过程中，可以在基板100的第一端110的第一面(例如：正面)和第二面(例如：背面)上都设置测试点112，这样，测试人员可以根据实际情况，选择从第一端110的第一面或第二面上采集信号，从而使测试过程更加方便。

作为一种可选的实施例，基板100具体为FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)，这样，便于测试人员可以根据实际情况，对基板100进行弯曲(或弯折)。并且，由于在基板100的第二端120上不设置任何测试点112，因此，可以对基板100的第二端120进行更好地弯曲(或弯折)，从而使得基板100可以完全放置于电子设备的外壳内，不会影响的电子设备的外壳扣合。

作为一种可选的实施例，基板100的第一端110的宽度具体为4mm～5mm(例如：4mm、或4.5mm、或5mm、等等)，将测试点112分两排或者三排设置在基板100的第一端110，相比于现有技术中的测试排线，本实施例提供的测试排线的第一端110的宽度更短，并且，由于在基板100的第二端120上不设置任何测试点112，可以将，基板100的第二端120的宽度进一步缩小，从而有利于排线适用更多不同的电子设备。本实施例中，基板100的第二端120的宽度小于基板100的第一端110宽度。

作为一种可选的实施例，基板100的长度(即：基板100的第一端110和第二端120的总长度)具体为20mm～40mm(例如：20mm、或25mm、或30mm、或35mm、或40mm、等等)，相比于现有技术中的测试排线，本实施例提供的测试排线的基板100的长度更短，从而使得测试点112上的信号衰减更小，从而保证在测试点112上可以采集到更为准确的信号，从而有利于提高测试的准确率，提高除错效果。

作为一种可选的实施例，第一连接头111具体为端子连接器的母头(或公头)，第二连接头121具体为端子连接器的公头(或母头)。

举例来讲，第一连接头111具体为BTB(Branch Target Buffer，板对板连接器)连接器的母头，第二连接头121具体为BTB连接器的公头。

举例来讲，第一连接头111具体为ZIF(Zero Insertion Force，零插拔力插座)连接器的母头(或公头)，第二连接头121具体为ZIF连接器的公头(或母头)。

上述本申请实施例中的技术方案，至少具有如下的技术效果或优点：

在本申请实施例中，公开了一种测试排线，包括：基板；第一连接头，设置在基板的第一端，用于连接待测试模块；第二连接头，设置在基板的第二端，用于连接电子设备；多个测试点，设置在基板的第一端，且每个测试点的第一端通过信号线与第一连接头连接，每个测试点的第二端通过信号线与第二连接头连接。由于将测试点都集中设置在测试排线的第一端，故而，在对待测试模块进行测试时，信号采集更加方便，且采集到的信号衰减较小，从而有利于提高测试的准确率，提高除错效果。

尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种测试排线，其特征在于，包括：

基板；

第一连接头，设置在所述基板的第一端，用于连接待测试模块；

第二连接头，设置在所述基板的第二端，用于连接电子设备；

多个测试点，设置在所述基板的第一端，且每个所述测试点的第一端通过信号线与所述第一连接头连接，每个所述测试点的第二端通过信号线与所述第二连接头连接。

2.如权利要求1所述的测试排线，其特征在于，所述基板具体为柔性电路板。

3.如权利要求1所述的测试排线，其特征在于，所述测试点设置在所述基板的第一端的第一面和/或第二面上。

4.如权利要求1所述的测试排线，其特征在于，所述基板的第一端的宽度具体为4mm～5mm。

5.如权利要求1所述的测试排线，其特征在于，所述基板的长度具体为20mm～40mm。

6.如权利要求1～5任一所述的测试排线，其特征在于，所述第一连接头具体为BTB连接器的母头，所述第二连接头具体为BTB连接器的公头。

7.如权利要求1～5任一所述的测试排线，其特征在于，所述一连接头具体为ZIF连接器的母头，所述第二连接头具体为ZIF连接器的公头。

8.如权利要求1所述的测试排线，其特征在于，所述多个测试点分两排设置在所述基板的第一端。

9.如权利要求1所述的测试排线，其特征在于，所述基板的第二端的宽度小于所述基板的第一端的宽度。