CN206399337U - 一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，包括：仪器支架；设置在仪器支架上的第一固定座、第二固定座、第三固定座和支架平台，第一固定座、第二固定座和第三固定座三叉分布于仪器支架上；第一固定座上设置第一测头，第二固定座上设置第二测头，第三固定座上设置比较仪测头，第一测头的轴线、第二测头的轴线和比较仪测头的轴线位于同一平面内，且平面与支架平台的上端面所在平面平行；第一测头可移动连接第一固定座，第二测头可移动连接第二固定座，比较仪测头可移动连接第三固定座；支架平台的下端面设置调节机构，调节机构支撑支架平台，且调节机构固定连接仪器支架。本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，测量方便、稳定和精确。

Description

一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪

技术领域

本实用新型涉及轴承测量技术领域，更为具体地说，涉及一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪。

背景技术

密封轴承，是指一面或两面装有密封圈的滚动轴承。为了设置密封圈，轴承套圈上设置密封槽，密封圈将设置在密封槽内。为了起到良好的密封作用，在使用安装的过程中，密封圈与密封槽过盈配合。密封轴承的密封槽加工质量的好坏,直接影响到轴承的密封性能。

轴承的生产过程中，轴承套圈与密封圈是分开生产制造的，然后将密封圈与轴承套圈进行组装。然而在生产制造的过程中，轴承套圈的密封槽的尺寸易出现较大的误差，当轴承套圈的密封槽尺寸过大的时候，轴承套圈的密封槽与密封圈配合不紧密，出现漏油、密封圈从密封槽内脱落等现象；当轴承套圈的密封槽尺寸过小的时候，密封圈与轴承套圈的密封槽无法配合，即密封圈无法安装，影响轴承的生产。

如此，在轴承套圈生产过程，需要对轴承套圈的密封槽槽底径尺寸进行监控。目前的轴承套圈的密封槽槽底径测量效率较低，测量误差较大，且易出现测量错误，影响轴承套圈的生产质量。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪，以便于轴承套圈密封槽槽底径的测量，提高轴承套圈的生产质量。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：

本实用新型提供的一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪，包括：仪器支架；

设置在所述仪器支架上的第一固定座、第二固定座和第三固定座，所述第一固定座、第二固定座和第三固定座三叉分布于所述仪器支架上；设置在所述仪器支架上的支架平台；其中：

所述第一固定座上设置第一测头，所述第二固定座上设置第二测头，所述第三固定座上设置比较仪测头，所述第一测头的轴线、第二测头的轴线和比较仪测头的轴线位于同一平面内，且所述平面与所述支架平台的上端面所在平面平行；

所述第一测头可移动连接所述第一固定座，所述第二测头可移动连接所述第二固定座，所述比较仪测头可移动连接所述第三固定座；

所述支架平台的下端面设置调节机构，所述调节机构支撑所述支架平台，且所述调节机构固定连接所述仪器支架。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，主体与所述底座连接处设置旋转螺钉，所述旋转螺钉固定连接所述支架主体和底座。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，所述第一固定座包括第一紧固螺栓，所述第一测头通过所述第一紧固螺栓固定连接所述第一固定座；

所述第二固定座包括第二紧固螺栓，所述第二测头通过所述第二紧固螺栓固定连接所述第二固定座；

所述第三固定座包括第三紧固螺栓，所述比较仪测头通过所述第三紧固螺栓固定连接所述第三固定座。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，所述第一测头的轴线与所述第二测头的轴线垂直，且所述第二测头的轴线与所述比较仪测头的轴线共线。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，所述第一测头的头部为第一测点，所述第一测点位于所述第一测头的轴线上，所述第一测头的尾部设置第一调节螺栓52，所述第一调节螺栓连接所述第一测点；

所述第二测头的头部设置第二测点，所述第二测点位于所述第二测头的轴线上，所述第二测头的尾部设置第二调节螺栓，所述第二调节螺栓连接所述第二测点。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，所述比较仪测头远离仪表盘的一端设置第三测点，所述第三测点位于所述比较仪测头的轴线上。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，所述调节机构包括平台调节螺栓101，所述平台调节螺栓的一端固定支撑所述支架平台。

优选的，上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中，所述支架平台上包括3个U型槽，3个所述U型槽的轴线分别对应与所述第一测头的轴线、第二测头的轴线和比较仪测头的轴线平行，所述U型槽的轴线均在同一平面内，且所述平面与所述支架平台的上端面所在平面平行。

本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，包括仪器支架，设置在仪器支架上的第一固定座、第二固定座、第三固定座和支架平台，通过第一固定座、第二固定座和第三固定座固定的第一测头、第二测头和比较仪测头，支架平台的下端设置调节机构，支架平台用于待检测轴承套圈的放置，第一测头、第二测头和比较仪测头用于轴承套圈密封槽标准尺寸的标定，同时比较仪测头带有含刻度的仪表盘。

本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪在轴承套圈密封槽槽底径测量时，将轴承套圈标准件平放在支架平台，通过调节机构调整支架平台的上端面高度将轴承套圈标准件的承套圈密封槽调整到合适的高度，调整第一固定座、第二固定座和第三固定座进行第一测头、第二测头和比较仪测头的移动，使第一测头、第二测头和比较仪测头相向的一端抵触承套圈密封槽，进行第一测头、第二测头和比较仪测头定位，取下轴承套圈标准件，将待检测的轴承套圈放置在支架平台上，并将其轴承套圈密封槽贴紧第一测头和第二测头，观察比较仪测头的指示刻度，与测量轴承套圈标准件的指示进行对比，确定待检测的轴承套圈密封槽槽底径是否满足生产需求。

与现有的轴承套圈密封槽槽底径测量装置对比，且本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪的第一测头的轴线、第二测头的轴线和比较仪测头的轴线位于同一平面内，且与支架平台的上端面所在平面平行，测量过程中调节方便，且能够保证测量的准确性，提高轴承套圈的生产质量。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪的主视图；

图2是本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪的立体图。

其中：

1-仪器支架，11-底座，12-支架主体，2-第一固定座，21-第一紧固螺栓，3-第二固定座，31-第二紧固螺栓，4-第三固定座，41-第三紧固螺栓，5-第一测头，51-第一测点，52-第一调节螺栓，6-第二测头，61-第二测点，62-第二调节螺栓，7-比较仪测头，71-第三测点，8-支架平台，9-旋转螺钉，10-调节机构，101-平台调节螺栓。

具体实施方式

本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，以便于轴承套圈密封槽槽底径的测量，提高轴承套圈的生产质量。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型实施例中的技术方案，并使本实用新型实施例的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型实施例中的技术方案作进一步详细的说明。

参考附图1和附图2，附图1和附图2示出了本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪基本结构。

本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪用于轴承套圈密封槽槽底径的测量，其主要由仪器支架1，第一测头5，第二测头6，比较仪测头7和支架平台8，其中：

为方便第一测头5，第二测头6，比较仪测头7的使用，在仪器支架1上设置第一固定座2、第二固定座3和第三固定座4，第一测头5设置在第一固定座2上，第二测头6设置在第二固定座3上，比较仪测头7设置在第三固定座4上第一固定座2、第二固定座3和第三固定座4三叉分布于仪器支架1上。第一测头5可移动连接第一固定座2，即在使用的时候，第一测头5即可固定连接第一固定座2，又可以在第一测头5位置需要调整的时候可以进行移动；第二测头6可移动连接第二固定座3，比较仪测头7可移动连接第三固定座4，类似于第一测头5在此不再赘述。

第一测头5、第二测头6和比较仪测头7相对的一端均为顶部的尺寸较小，方便在使用的时候接触轴承套圈密封槽槽底。优选的，第一测头5、第二测头6和比较仪测的顶部设置针尖状结构。且第一测头5的轴线、第二测头6的轴线和比较仪测头7的轴线位于同一平面内，且所述平面平行于支架平台8的上端面所在平面。第一测头5的轴线、第二测头6的轴线和比较仪测头7的轴线在同一平面上，且与支架平台8的上端面平行，便于轴承套圈密封槽槽底径测量仪在测量使用的时候，可以准确的固定轴承套圈密封槽的同一截面，保证测量的准确性。比较仪测头7具有含刻度的仪表盘，触动比较仪测头7尺寸较小的顶部，仪表盘指针将会摆动。比较仪测头7的仪表盘的最小刻度是1微米，测量误差较小，如此本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪测量范围精准。

支架平台8用于放置待检测的轴承套圈，且支架平台8的下端面设置调节机构10，调节机构10支撑支架平台8，且调节机构10固定连接仪器支架1，调节机构10可以用于调整支架平台8的高度。调节机构10由于支架平台8的高度可调，在使用的时候，如果轴承套圈密封槽的高度不合适，可以方便进行轴承套圈密封槽所在高度的调整，更加便于本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪的使用。

本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪在轴承套圈密封槽槽底径测量时，将轴承套圈标准件平放在支架平台8，通过调节机构10调整支架平台8的上端面高度将轴承套圈标准件的承套圈密封槽调整到合适的高度，调整第一固定座2、第二固定座3和第三固定座4进行第一测头5、第二测头6和比较仪测头7的移动，使第一测头5、第二测头6和比较仪测头7相向的一端抵触承套圈密封槽，进行第一测头5、第二测头6和比较仪测头7定位，取下轴承套圈标准件，将待检测的轴承套圈放置在支架平台8上，并将其轴承套圈密封槽贴紧第一测头5和第二测头6，观察比较仪测头7的指示刻度，与测量轴承套圈标准件的指示刻度进行对比，确定待检测的轴承套圈密封槽槽底径是否满足生产需求。

与现有的轴承套圈密封槽槽底径测量装置对比，且本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪的第一测头5的轴线、第二测头6的轴线和比较仪测头7的轴线位于同一平面内，且与支架平台8的上端面所在平面平行，测量过程中调节方便，且能够保证测量的准确性，提高轴承套圈的生产质量。本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪采用比较测量，可以快速的判定轴承套圈密封槽槽底径是满足生产需要。

本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪在使用的过程中，可能需要进行使用位置的改变，为方便其能够适合更多的使用环境，仪器支架1包括支架主体12和底座11，支架主体12用于设置第一固定座2、第二固定座3和第三固定座4，底座11用于轴承套圈密封槽槽底径测量仪的放置。支架主体12可旋转连接底座11，即支架主体12与底座11的安装角度可以改变，更加方便使用。支架主体12与底座11连接处设置旋转螺钉9，旋转螺钉9固定连接支架主体12和底座11。当支架主体12与底座11的角度选择确定时，用旋转螺钉9将支架主体12与底座11固定，当支架主体12与底座11的角度需要调整的时候，转动旋转螺钉9可以实现支架主体12与底座11的角度的改变。

优选的，第一固定座2包括第一紧固螺栓21，第一测头5通过第一紧固螺栓21固定连接所述第一固定座2；第二固定座3包括第二紧固螺栓31，第二测头6通过第二紧固螺栓31固定连接第二固定座3；第三固定座4包括第三紧固螺栓41，比较仪测头7通过第三紧固螺栓41固定连接第三固定座4。当第一测头5需要进行位置调整时候，松开第一紧固螺栓21，第一测头5相对第一固定座2发生移动；当第一测头5位置需要固定时候，拧紧第一紧固螺栓21，第一测头5被加紧固定。第二紧固螺栓31和第三紧固螺栓41的作用与第一紧固螺栓21的作用相似，在此不再赘述。

进一步优化技术方案，第一测头5的轴线与第二测头6的轴线垂直，且第二测头6的轴线与比较仪测头7的轴线共线。如此，在测量定位的时候，第一测头5和第二测头6接触轴承套圈密封槽，其作用力方向相互垂直，且沿轴承套圈密封槽的半径方向，当第一测头5和第二测头6的位置固定时候，比较仪测头7作用力方向与第二测头6的作用力方向在同一条直线上。在进行轴承套圈密封槽标准件定位时候，可以快速的进行第一测头5、第二测头6和比较仪测头7的定位。

如此，在本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪使用时候，可以快速的根据轴承套圈标准件进行第一测头5和第二测头6定位，并保证轴承套圈标准件定位时时比较仪测头7的仪表盘的指针指在中央刻度处，更加方便判断待检测轴承套圈密封槽槽底径与轴承套圈标准件密封槽槽底径尺寸的比较。如当指针左偏时，说明待检测轴承套圈密封槽槽底径小于轴承套圈标准件密封槽槽底径；如当指针右偏时，说明待检测轴承套圈密封槽槽底径大于轴承套圈标准件密封槽槽底径，根据仪表盘的刻度，可以确定待检测轴承套圈密封槽槽底径相对轴承套圈标准件密封槽槽底径的偏离量，进而判断待检测轴承套圈是否在可接受使用的误差范围内。

为了更加准确的测量，第一测头5的头部设置第一测点51，第一测点51位于第一测头5的轴线上，第二测头6的头部设置第二测点61，第二测点61位于第二测头6的轴线上，比较仪测头7远离仪表盘的一端设置第三测点71，第三测点71位于比较仪测头7的轴线上。第一测点51、第二测点61和第三测点71为圆锥状，且圆锥的顶部用于接触轴承套圈密封槽，提高比较测量的准确性。

且为方便第一测点51和第二测点61的移动，在第一测头5的尾部设置第一调节螺栓52，第一调节螺栓52连接第一测点51，第一调节螺栓52用于第一测点51位置调整的细调节；在第二测头6的尾部设置第二调节螺栓62，第二调节螺栓62连接第二测点61，第二调节螺栓62用于第二测点61位置调整的细调节。第一调节螺栓52和第一测点51的配合使用，第一测头5的定位更加方便与准确；第二调节螺栓62和第二测点61的配合使用，第二测头6的定位更加方便与准确。且在第一测点51和第二测点61位置确定后，运用第一调节螺栓52和第二调节螺栓62进行第一测点51和第二测点61位置的锁定，保证使用的准确性。

为方便支架平台8高度的调整，调节机构10包括平台调节螺栓101，平台调节螺栓101的一端固定支撑支架平台8，平台调节螺栓101连接支架平台8的底部，旋转平台调节螺栓101可实现支架平台8的推进或后退。

为保证本实用新型实施例提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪使用安全，在支架平台8上设置U型槽，至少设置3个，分别与第一测头5、第二测头6和比较仪测头7的顶端对应，U型槽的轴线分别对应与第一测头5的轴线、第二测头6的轴线和比较仪测头7的轴线平行，U型槽的轴线均在同一平面内，且平面与支架平台8的上端面所在平面平行。U型槽的设置可避免第一测头5、第二测头6和比较仪测头7的顶端碰触支架平台8，且U型槽可用于第一测头5、第二测头6和比较仪测头7的顶端收藏，保护第一测头5、第二测头6和比较仪测头7的顶端。

本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，不仅可用于轴承套圈密封槽槽底径的比较测量，还可用于其他圆柱、圆环等形状结构产品的比较测量，测量效率高，且测量准确性高。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处。

以上所述的本实用新型实施方式，并不构成对本实用新型保护范围的限定。任何在本实用新型的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，包括：仪器支架(1)；

设置在所述仪器支架(1)上的第一固定座(2)、第二固定座(3)和第三固定座(4)，所述第一固定座(2)、第二固定座(3)和第三固定座(4)三叉分布于所述仪器支架(1)上；设置在所述仪器支架(1)上的支架平台(8)；其中：

所述第一固定座(2)上设置第一测头(5)，所述第二固定座(3)上设置第二测头(6)，所述第三固定座(4)上设置比较仪测头(7)，所述第一测头(5)的轴线、第二测头(6)的轴线和比较仪测头(7)的轴线位于同一平面内，且所述平面与所述支架平台(8)的上端面所在平面平行；

所述第一测头(5)可移动连接所述第一固定座(2)，所述第二测头(6)可移动连接所述第二固定座(3)，所述比较仪测头(7)可移动连接所述第三固定座(4)；

所述支架平台(8)的下端面设置调节机构(10)，所述调节机构(10)支撑所述支架平台(8)，且所述调节机构(10)固定连接所述仪器支架(1)。

2.根据权利要求1所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述仪器支架(1)包括支架主体(12)和底座(11)，所述支架主体(12)可旋转连接所述底座(11)，且所述支架主体(12)与所述底座(11)连接处设置旋转螺钉(9)，所述旋转螺钉(9)固定连接所述支架主体(12)和底座(11)。

3.根据权利要求1所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述第一固定座(2)包括第一紧固螺栓(21)，所述第一测头(5)通过所述第一紧固螺栓(21)固定连接所述第一固定座(2)；

所述第二固定座(3)包括第二紧固螺栓(31)，所述第二测头(6)通过所述第二紧固螺栓(31)固定连接所述第二固定座(3)；

所述第三固定座(4)包括第三紧固螺栓(41)，所述比较仪测头(7)通过所述第三紧固螺栓(41)固定连接所述第三固定座(4)。

4.根据权利要求1所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述第一测头(5)的轴线与所述第二测头(6)的轴线垂直，且所述第二测头(6)的轴线与所述比较仪测头(7)的轴线共线。

5.根据权利要求1所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述第一测头(5)的头部设置第一测点(51)，所述第一测点(51)位于所述第一测头(5)的轴线上，所述第一测头(5)的尾部设置第一调节螺栓(52)，所述第一调节螺栓(52)连接所述第一测点(51)；

所述第二测头(6)的头部设置第二测点(61)，所述第二测点(61)位于所述第二测头(6)的轴线上，所述第二测头(6)的尾部设置第二调节螺栓(62)，所述第二调节螺栓(62)连接所述第二测点(61)。

6.根据权利要求5所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述比较仪测头(7)远离仪表盘的一端设置第三测点(71)，所述第三测点(71)位于所述比较仪测头(7)的轴线上。

7.根据权利要求1-6中任意一项所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述调节机构(10)包括平台调节螺栓(101)，所述平台调节螺栓(101)的一端固定支撑所述支架平台(8)。

8.根据权利要求6所述的轴承套圈密封槽槽底径测量仪，其特征在于，所述支架平台(8)上包括3个U型槽，3个所述U型槽的轴线分别对应与所述第一测头(5)的轴线、第二测头(6)的轴线和比较仪测头(7)的轴线平行，所述U型槽的轴线均在同一平面内，且所述平面与所述支架平台(8)的上端面所在平面平行。