CN203259481U - 一种玻璃基板检测装置 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 148
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 148
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 66
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 75
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 102100026205 1-phosphatidylinositol 4,5-bisphosphate phosphodiesterase gamma-1 Human genes 0.000 description 7
- 101000691599 Homo sapiens 1-phosphatidylinositol 4,5-bisphosphate phosphodiesterase gamma-1 Proteins 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 241001391944 Commicarpus scandens Species 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种玻璃基板检测装置，包括光学判决器件，还包括具有线光源的光传感器；其中，所述光传感器设置在能够照射玻璃基板的位置，用于在发出光线后，接收因玻璃基板的作用而射入光传感器的光线；所述光学判决器件用于根据所述光传感器接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。本实用新型利用光传感器和光学判决器件对玻璃基板进行缺损检测，以便将玻璃基板检测由现有技术的线检测拓展到面检测，实现对玻璃基板的全尺寸检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及机械领域，具体涉及一种玻璃基板检测装置。
背景技术
玻璃基板在生产线上传送的过程中易发生破裂，目前已知的玻璃基板破损检测技术仅支持玻璃基板边缘检测，主要有以下两种：
1、图像分析型：在玻璃基板传送过程中，对玻璃基板进行连续拍照，拍照之后进行图像分析，可以判断玻璃基板边缘是否有缺陷。
2、光纤传感器检测型：在设备两侧各安装一个反射型光纤传感器，在玻璃基板的传送过程中，接收从玻璃基板发射的光，据此检测出玻璃基板中两条直线上是否有缺陷。
上述玻璃基板破损检测技术存在以下问题：
1、当玻璃基板洁净度较低时，图像分析型玻璃基板破损检测技术易发生误检；
2、光纤传感器检测型玻璃基板破损检测技术的检测方式为线检测，检测范围有限，无法对玻璃基板进行全面检测。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型的主要目的在于提供一种玻璃基板检测装置，以实现对玻璃基板的全尺寸检测。
为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：
一种玻璃基板检测装置，该装置包括光学判决器件，还包括具有线光源的光传感器；其中，
所述光传感器设置在能够照射玻璃基板的位置，用于在发出光线后，接收因玻璃基板的作用而射入光传感器的光线；
所述光学判决器件用于根据所述光传感器接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。
所述光传感器的发光域与玻璃基板的长度或宽度相同，或者介于玻璃基板的长度与宽度之间，或者小于玻璃基板的宽度。
当所述光传感器的发光域与玻璃基板的宽度相同时，所述光传感器设置在与玻璃基板的短边相平行的方向上；通过在玻璃基板的长度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，所述光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板。
当所述光传感器的发光域与玻璃基板的长度相同时，所述光传感器设置在与玻璃基板的长边相平行的方向上；通过在玻璃基板的宽度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，所述光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板。
所述光传感器包括发射光的发射端以及接收光的接收端；其中，所述光传感器的发射端和接收端合设或分设；所述光传感器的发射端和接收端分设时，均位于玻璃基板的一侧。
在玻璃基板的另一侧还设置有反光镜，用于反射穿过玻璃基板并照射到反光镜上的光。
所述光传感器包括发射光的发射端以及接收光的接收端；其中，所述光传感器的发射端和接收端分设在玻璃基板的两侧。
所述装置设置于涉及玻璃基板处理的设备的任何位置。
所述光学判决器件为可编程逻辑控制器。
所述光传感器为激光传感器。
本实用新型利用区域型传感器等光传感器和光学判决器件对玻璃基板进行缺损检测，以便将玻璃基板检测由现有技术的线检测拓展到面检测，实现对玻璃基板的全尺寸检测。
附图说明
图1为本实用新型实施例一的玻璃基板检测原理示意图；
图2为本实用新型实施例二的玻璃基板检测原理示意图；
图3为本实用新型实施例三的玻璃基板检测原理示意图；
附图标记说明：
1、可编程逻辑控制器(PLC)；2、光传感器；3、连接线；4、玻璃基板；5、反光镜；6、光传感器发射端；7、光传感器接收端。
具体实施方式
总体而言，可以利用区域型传感器等光传感器和光学判决器件对玻璃基板进行缺损检测，以便将玻璃基板检测由现有技术的线检测拓展到面检测，实现对玻璃基板的全尺寸检测。
所述区域型传感器可以是数字光电传感器等具有线光源的传感器。所述线光源可以发出激光或普通光线等，具体可以是红外线、紫外线等。由于紫外线对玻璃基板的透过率较低，因此应用紫外线对玻璃基板进行缺损检测的准确度相对高一些。
本实用新型的实施例提供一种玻璃基板检测装置，该装置包括光学判决器件，还包括具有线光源的光传感器。
在实际应用中，将光学判决器件与具有线光源的光传感器相连，并将光传感器设置在能够照射玻璃基板的位置。光传感器发出光线后，接收因玻璃基板的作用而射入光传感器的光线，光学判决器件则根据光传感器接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测，如：根据接收到的所述光线的光量值大小完成玻璃基板的缺损检测。
具体的，所述光学判决器件为可编程逻辑控制器(PLC)，PLC可以通过光纤等连接线与光传感器相连，并且可以在PLC中结合玻璃基板的传送速度以及传送时间进行相应的设置，以保证实现对玻璃基板的全尺寸检测。
需要说明的是，光传感器的发光域(即：具有的线光源的线段长度)可以与玻璃基板的长度或宽度相同，或者介于玻璃基板的长度与宽度之间，甚至小于玻璃基板的宽度。在不同情况下，可以应用下列相应方式进行检测：
方式一、当光传感器具有的线光源的线段长度与玻璃基板的宽度相同时，可以将光传感器设置在与玻璃基板的短边相平行的方向上，通过在玻璃基板的长度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，就可以使光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板，以实现对玻璃基板的全尺寸检测。
方式二、当光传感器具有的线光源的线段长度与玻璃基板的长度相同时，可以将光传感器设置在与玻璃基板的长边相平行的方向上，通过在玻璃基板的宽度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，就可以使光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板，以实现对玻璃基板的全尺寸检测。
方式三、当光传感器具有的线光源的线段长度介于玻璃基板的长度与宽度之间时，可以应用上述的方式一进行检测；或者，应用上述的方式二进行检测，只是在检测时需要通过移动玻璃基板和/或光传感器，使光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板，以实现对玻璃基板的全尺寸检测。
方式四、当光传感器具有的线光源的线段长度小于玻璃基板的宽度时，可以应用上述的方式一或方式二进行检测，只是在检测时需要通过移动玻璃基板和/或光传感器，使光传感器发出的线光源照射到整个玻璃基板，以实现对玻璃基板的全尺寸检测。
进一步的，光传感器为激光传感器。具体的，可以为红外线反射型激光传感器、红外线透射型激光传感器和紫外线透射型激光传感器等。
下面，结合图1至图3以及实施例对本实用新型进行详细描述，图中的虚线表示光的走向。下面的实施例中，假设光传感器具有的线光源的线段长度与玻璃基板的宽度相同，因此将光传感器设置在与玻璃基板的短边相平行的方向上。
参见图1，图1中，PLC1与具有线光源的光传感器2通过连接线3相连，并将光传感器2设置在玻璃基板4的一侧(如：上方)。光传感器2包括发射光的发射端以及接收光的接收端，光传感器2的发射端和接收端合设或分设；光传感器2的发射端和接收端分设时，均位于玻璃基板4的一侧。图1中的光传感器2可以为红外线反射型激光传感器。
光传感器2的发射端发出的光线被玻璃基板4反射后被光传感器2的接收端接收；结合玻璃基板4的移动，PLC1则根据光传感器2的接收端接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。
参见图2，图2中，PLC1与具有线光源的光传感器2通过连接线3相连，并将光传感器2设置在玻璃基板4的一侧(如：上方)。光传感器2的发射端和接收端合设或分设；光传感器2的发射端和接收端分设时，均位于玻璃基板4的一侧。另外，在玻璃基板4的另一侧设置有反光镜5，能够反射穿过玻璃基板4并照射到反光镜5上的光。图2中的光传感器2可以为红外线透射型激光传感器。
光传感器2的发射端发出的光线穿过玻璃基板4后被反光镜5反射，被反光镜5反射的光会穿过玻璃基板4并被光传感器2的接收端接收；结合玻璃基板4的移动，PLC1则根据光传感器2的接收端接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。由于光二次穿过玻璃基板4，因此光的损失量增加，进而可以提高检测的准确度。
需要说明的是，在图2所示的检测过程中，光传感器2的接收端也可能收到图1中所示情况下被玻璃基板4直接反射的光，这部分光也可能被PLC1用于玻璃基板的缺损检测。
参见图3，图3中，PLC1与具有线光源的光传感器2的发射端和接收端通过连接线3相连，光传感器2的发射端和接收端分设在玻璃基板4的两侧，如：按照图中所示，将光传感器发射端6设置在玻璃基板4的上面，将光传感器接收端7设置在玻璃基板4的下面。图3中的光传感器2可以为紫外线透射型激光传感器。
光传感器发射端6发出的光线穿过玻璃基板4后被光传感器接收端7接收；结合玻璃基板4的移动，PLC1则根据光传感器接收端7接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。
在进行上述各实施例的检测时，检测起止点可以多种多样，只要能够实现对玻璃基板的全尺寸检测即可，如：
检测起点：当玻璃基板传送到检测区域时，以玻璃基板最后接触到检测区域的时间点作为检测起点；
检测终点：当玻璃基板即将离开检测区域时，以玻璃基板最先离开检测区域的时间点作为检测终点。
本实用新型的装置可以设置于涉及玻璃基板处理的设备的任何位置，比如：在机械手将玻璃基板传递到下游设备前的任何位置；并且，PLC也可以由其它能够进行光学运算等逻辑处理的光学判决器件代替。
结合以上描述可见，本实用新型利用区域型传感器等光传感器和光学判决器件对玻璃基板进行缺损检测，以便将玻璃基板检测由现有技术的线检测拓展到面检测，实现对玻璃基板的全尺寸检测。
以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用于限定本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种玻璃基板检测装置，其特征在于，该装置包括光学判决器件，还包括具有线光源的光传感器；其中，
所述光传感器设置在能够照射玻璃基板的位置，用于在发出光线后，接收因玻璃基板的作用而射入光传感器的光线；
所述光学判决器件用于根据所述光传感器接收到的光线完成玻璃基板的缺损检测。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光传感器的发光域与玻璃基板的长度或宽度相同，或者介于玻璃基板的长度与宽度之间，或者小于玻璃基板的宽度。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，
当所述光传感器的发光域与玻璃基板的宽度相同时，所述光传感器设置在与玻璃基板的短边相平行的方向上；通过在玻璃基板的长度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，所述光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板。
4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，
当所述光传感器的发光域与玻璃基板的长度相同时，所述光传感器设置在与玻璃基板的长边相平行的方向上；通过在玻璃基板的宽度方向上移动玻璃基板和/或光传感器，所述光传感器的线光源发出的光线照射到整个玻璃基板。
5.根据权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，所述光传感器包括发射光的发射端以及接收光的接收端；其中，所述光传感器的发射端和接收端合设或分设；所述光传感器的发射端和接收端分设时，均位于玻璃基板的一侧。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，在玻璃基板的另一侧还设置有反光镜，用于反射穿过玻璃基板并照射到反光镜上的光。
7.根据权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，所述光传感器包括发射光的发射端以及接收光的接收端；其中，所述光传感器的发射端和接收端分设在玻璃基板的两侧。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置设置于涉及玻璃基板处理的设备的任何位置。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光学判决器件为可编程逻辑控制器。
10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光传感器为激光传感器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 201320214123 CN203259481U (zh) | 2013-04-24 | 2013-04-24 | 一种玻璃基板检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 201320214123 CN203259481U (zh) | 2013-04-24 | 2013-04-24 | 一种玻璃基板检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN203259481U true CN203259481U (zh) | 2013-10-30 |
Family
ID=49472033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN 201320214123 Expired - Fee Related CN203259481U (zh) | 2013-04-24 | 2013-04-24 | 一种玻璃基板检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN203259481U (zh) |
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-
2013
- 2013-04-24 CN CN 201320214123 patent/CN203259481U/zh not_active Expired - Fee Related
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| GR01 | Patent grant | ||
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