CN1317696C

CN1317696C - 光盘装置

Info

Publication number: CN1317696C
Application number: CNB2005100629226A
Authority: CN
Inventors: 中尾贤治; 间宫升; 广濑研; 鹫见聪
Original assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Current assignee: Sanyo Electric Co Ltd
Priority date: 2004-03-30
Filing date: 2005-03-30
Publication date: 2007-05-23
Anticipated expiration: 2025-03-30
Also published as: JP2005285273A; US7327651B2; JP3970257B2; US20050232122A1; CN1677515A

Abstract

本发明的目的，避免记录动作时的处理程序复杂化，提高记录激光功率的调整精度。依据记录开始指令，使用内盘片驱动区执行OPC，并对记录激光功率Pws进行初始设定。然后，若有记录指令REC(1)，则以激光功率Pws从数据区域的前端起依次进行记录。之后，设定间隔待机期间T后，以与间隔待机期间T相应的次数，在下个记录位置上记录采样数据并执行R-OPC。从而，对记录激光功率Pws进行重新设定。接着，若有记录指令REC(2)，则从下个记录位置、即接着REC(1)的末端部的位置起，以重新设定后的激光功率Pws进行记录。这时，该记录位置前端的采样数据被REC(2)的前端部分的数据覆盖。

Description

光盘装置

技术领域

本发明涉及一种在可擦写盘片上记录及再生信息的光盘装置，尤其适用于调整记录激光功率的设定值。

背景技术

现在，CD(Compact Disc)或DVD(Digital Versatile Disc)等，各种光记录媒体随着商品化逐渐普及。由于这些光记录媒体，不同媒体其最佳激光功率都不同，因此通常，在记录/再生动作之前，先在***一侧进行激光功率的最优化处理。

这些光记录媒体之中，CD-RW和DVD-RW采用根据γ值进行的记录激光功率的调整法(γ法)，在各自的规格书中有记录。该调整法，根据在试写入时检测到的反射光强度的调制度、和该媒体上预先设定的目标γ值，将记录激光功率设定为最佳值。

另外，在DVD+RW中，规格书特别推荐采用γ法中的线性拟合法(linerfit)。该线性拟合法，根据在试写时设定的多种记录激光功率Pwn、和分别以各种激光功率Pwn试写时的反射光强度的调制度m(Pwn)，求出Sn＝m(Pwn)×Pwn，在对求出的Sn和Pwn的关系特性进直线行拟合时，求出拟合直线为零的激光功率Pwth。再根据求出的Pwth和该媒体的目标γ值，计算Pw＝Pwth×(1+1/γ)，从而求出最佳激光功率Pw。

另外，对于γ法乃至线性拟合法下的激光功率的设定方法，例如在2002年1月22日、株式会社托利凯普斯(トリケツプス)发行、“WHITE SERIESNo.218 DVD+RW/R”、P111～P113(4.2OPC(Optimum Write Power Control(最佳记录功率控制))方法)中有记载。

然而，在如上述设定记录激光功率之后，若***的状态(媒体温度或半导体激光器的温度等)有所变化，则会产生如下问题，即媒体对应的记录特性开始变化偏离其初始状态，随之，初始设定的记录激光功率也会逐渐偏离最佳值。另外，由于记录媒体的内周和外周其记录特性不同，随着记录动作的进行，记录激光功率值会逐渐偏离其最佳值。因此，为了避免这种问题，通常在***一侧，依据各个时候的***状态，适当地对初始设定的记录激光功率进行调整处理。

例如，作为该调整方法，可根据来自光检测器(光拾取器)的信号电平，对记录动作中的反射光强度(记录标记形成后的光强)进行监视，并调整记录激光功率，使该反射光强度接近初始设定时的反射光强度。但是，由于此时必须与记录动作并行着、另外进行功率调整处理，因此产生的问题是，记录动作时的处理程序(sequence)变得更加复杂。另外，该调整处理，并不是对盘片反射光的调制度进行监视，不能正确检测记录标记的形成状态，因此有不能高精度地进行记录激光功率的调整的缺点。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种避免记录动作时的处理程序复杂化，另外能够提高记录激光功率的调整精度的光盘装置。

本发明的形式之一，是一种光盘装置，在可擦写盘片上记录及再生信息，其特征在于，具有：时间长检测模块，对记录动作的间隔待机期间的时间长T进行检测；试写次数设定模块，根据由所述时间长检测模块检测出的时间长T，对试写次数N进行设定；采样数据记录模块，在该间隔待机期间内，以各不相同的激光功率进行所述N次采样数据记录；采样数据再生模块，在该间隔待机期间内，对由所述采样数据记录模块记录的采样数据进行再生；以及，功率校正模块，根据由所述采样数据再生模块再生的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性，对记录激光功率进行校正。

该形式中，可令所述功率校正模块，根据由所述采样数据再生模块再生的、记录激光功率不同的多种再生信号，求出决定记录特性相关的参数a、与记录激光功率的关系的近似特性，并依据求出的近似特性，对记录激光功率进行重新设定。

这里，可令所述参数a，为将再生信号的调制度、和记录激光功率相乘得到的乘积值；此时，所述功率校正模块，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

另外，可令所述参数a，为将再生信号的调制度、和记录激光功率的平方相乘得到的乘积值；此时，所述功率校正模块，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

另外，当由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，所述采样数据记录模块，以与当前时刻的激光功率不同的激光功率记录采样数据；所述采样数据再生模块，除了对由所述采样数据记录模块记录的采样数据进行再生，还对通过到目前为止的记录动作所记录的记录完成数据进行再生；所述功率校正模块，依据所述采样数据的再生信号、和所述记录完成数据的再生信号，求出的当前时刻的记录特性，并根据求出的记录特性，校正记录激光功率。

这时，可令所述采样数据记录模块，以比当前时刻的激光功率低给定比例的激光功率来记录采样数据。

另外，当这样由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，所述采样数据再生模块，可对在该间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的记录完成数据进行再生。

再有，当由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，所述采样数据记录模块，以当前时刻的激光功率记录采样数据；所述功率校正模块，根据所述采样数据的再生信号求出与记录再生特性相关的给定参数b的值，并对该参数b的值b1、和激光功率处于最佳状态时的参数b的值b0进行大小比较，并依据该比较结果，对所述当前时刻的激光功率进行校正。

这时，可令所述功率校正模块，依据所述值b0与值b1之比，设定校正系数α，并将该校正系数α乘以当前时刻的激光功率来设定新的激光功率。

再有，可令所述功率校正模块，依据所述值b0与值b1的大小关系，通过在当前时刻的激光功率上加上或者减去校正值ΔPw，来设定新的激光功率。

另外，还可令所述采样数据记录模块，在下个记录位置上记录所述采样数据，所述下个记录位置接在刚刚记录的数据的末端。

再者，本发明中，所谓“间隔待机期间”，是指***从1组程序的记录动作向下一组程序的记录动作转移期间、处于记录待机状态的期间。

根据本发明，由于可以利用记录动作的间隔待机期间，进行记录激光功率的调整处理，因此不需要在记录动作时，特别进行用于激光功率调整的处理，因此能够避免记录动作中的处理程序的复杂化。另外，由于依据间隔待机期间的时间长T改变试写次数N，因此能够适当并且高效地进行激光功率的调整。

再有，若如上述，求出决定参数a、和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性，对记录激光功率进行重新设定，就能够使记录激光功率与当前时刻的***状态相一致。特别是，若令参数a为，将再生信号的调制度、与记录激光功率的平方相乘得到的乘积值，则如以下实施方式所示，能够提高拟合特性的拟合精度。这样，能够提高记录激光功率的调整精度。

再有，若如上述，当试写次数N为1次时，利用由先前的记录动作记录的记录完成数据，就能够通过1次试写顺利地进行激光功率的调整。

再者，若将试写次数N为1次时的激光功率，设定得比当前时刻的激光功率低给定比例，就能够控制因功率过大而对记录层造成的损伤、以及对相邻磁道产生的不良影响(覆盖)，实现对媒体和已经记录的数据的保护。

再有，若如上述，利用在间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的记录完成数据，就能够根据来自时间上接近记录位置的再生信号，推导出记录特性。这样，就能够调整为与当前时刻的***状态对应的记录激光功率。

再有，若如上述，采用值b0和值b1对当前时刻的激光功率进行校正，就可以只通过对采样数据进行再生来实施激光功率的校正。因此，能够实现激光功率校正处理的迅速化，从而即使在间隔待机期间的时间长T非常短的情况下，也能够顺利进行激光功率的校正。

再有，若如上述，在间隔待机期间经过后的下个数据记录位置上记录采样数据，则能够将记录激光功率调整为对应下个记录位置的状态的功率。从而，能够顺利进行记录动作。

若参照以下的附图阅读实施方式的说明，有助于更好地理解对本发明的上述以及其它目的和新颖特征。

附图说明

图1表示实施方式中的光盘结构。

图2表示实施方式中的光盘装置的结构。

图3为对实施例1中的记录激光功率的设定方法进行说明的图。

图4为实施例1中的记录激光功率设定时的处理流程图。

图5为实施例1中的R-OPC时的处理流程图。

图6为实施例1中的记录动作时的时序图。

图7为实施例2中的记录激光功率设定时的处理流程图。

图8为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图9为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图10为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图11为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果1)。

图12为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图13为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图14为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图15为对实施例2中的技术效果进行说明的图(验证结果2)。

图16为对实施例3中的记录激光功率的校正方法进行说明的图。

图17为实施例3中的R-OPC时的处理流程图。

图18为实施例3中的R-OPC时的处理流程图的变形例。

具有实施方式

以下，参照附图来说明本发明的实施方式。但是，以下的实施方式不过是本发明的一例，并非对本发明的范围特别限定。

图1，表示本实施方式中的盘片(DVD+RW)的结构。如图所示，盘片100，沿其直径方向，区域划分为：读进区域(read in area)、数据区域(data area)、读出区域(read out area)。再有，读进区域(read in area)、和读出区域(read out area)还划分为各种区(zone)，其中，使用内盘片驱动区(inner disk drive zone)以及外盘片驱动区(outer disk drive zone)，进行激光功率的初始设定(OPC：Optimum Write Power Control，最佳记录功率控制)。

另外，在盘片100上，从内周向外周形成有螺旋状的凹槽，对该凹槽记录数据。这里，凹槽沿着直径方向蛇行(摆动)，通过该摆动保持地址信息。即，被称作ADIP(Address in pre-groove，地址预制凹槽)的相位调制区间，被以一定周期***到单调蛇行区间中，当光束扫描该相位调制区间时，根据该反射光的强度变化读取凹槽上的地址信息并再生。另外，读进区域的ADIP中，通过相位调制记录有与该盘片对应的各种控制数据，其中，包含该盘片的目标γ值(γtarget)。

图2，表示实施方式中的光盘装置的结构。

如图所示，光盘装置由：ECC编码器101、调制电路102、激光驱动电路103、激光功率调整电路104、光拾取器105、信号放大电路106、解调电路107、ECC解码器108、伺服电路109、ADIP再生电路110以及控制器111构成。

ECC编码器101，向输入的记录数据中添加纠错符号，并输出给调制电路102。调制电路102，对输入的记录数据实施给定的调制，进而生成记录信号后输出给激光驱动电路103。激光驱动电路103，在记录时、将与来自调制电路102的记录信号对应的驱动信号输出给半导体激光器105a，在再生时、将用于发射一定强度激光的驱动信号输出给半导体激光器105a。这里，设定激光功率为，由激光功率调整电路104调整设定的激光功率。

激光功率调整电路104，根据试写时检测出的再生RF信号的强度算出调制度m(Pwn)，同时，依据算出的调制度m(Pwn)和该盘片的目标γ值(γtarget)，对记录激光功率Pws进行初始设定。另外，根据反射光强度的状态对初始设定的记录激光功率Pws作适当地调整，并将调整后的功率设定值提供给激光驱动电路103。另外，对于记录激光功率的设定以及调整处理在后文详细说明。

光拾取器105，具备半导体激光器105a以及光检测器105b，通过将激光汇聚于沟槽上，对盘片进行数据的写入/读取。除此之外，该光拾取器105还具有：用于对照射到沟槽上的激光的汇聚位置进行调整的物镜执行机构；和，用于将半导体激光器105a发射的激光导入物镜、并且将来自盘片100的反射光导入光检测器105b的光学***。

信号放大电路106，对从光检测器105b接收的信号进行放大及运算处理，生成各种信号，并将其输出给相应的电路。解调电路107，将从信号放大电路106输入进来的再生RF信号解调后生成再生数据，并输出给ECC解码器108。ECC解码器108，对从解调电路107输入的再生数据实施纠错后，输出给后段电路。

伺服电路109，根据从信号放大电路106输入的聚焦误差信号、及追踪误差信号，生成聚焦伺服信号、及追踪伺服信号，并输出给光拾取器105的物镜执行机构。另外，根据由信号放大电路106输入的摆动信号生成电机伺服信号，并输出给盘片驱动电机。

ADIP再生电路110，根据从信号放大电路106输入的摆动信号，对地址数据以及各种控制数据进行再生，并将其输出给控制器111。控制器111，依据存放在内存储器上的程序，控制各部分。再者，控制器111中，保存有将记录动作的间隔待机时间、和试写次数相互对应的试写次数设定表。该表，用于在利用记录动作的间隔待机时间进行记录激光功率重新设定处理(后述)时参照。

盘片100安装在该光盘装置上后，读取读进区域的ADIP上记录的各种控制数据，并存储在控制器111。之后，若输入记录开始指令，则在读进区域的内盘片驱动区或者读出区域的外盘片驱动区进行试写，再通过对试写的区域进行再生，初始设定该记录时的记录激光功率Pws。然后，以初始设定的激光功率开始记录，其后，利用记录动作的间隔待机期间进行记录激光功率的调整，接着以调整后的激光功率进行记录。

以下，对记录激光功率的设定以及调整处理的具体例进行说明。

(实施例1)

参照图3，对本实施例中的记录激光功率Pws的设定方法进行说明。

媒体(盘片)的γ值，满足以下关系式。

γ＝{dm(Pw)/dPw}×{Pw/m(Pw)}…(1)

这里，m(Pw)，为以激光功率Pw进行记录，并将其再生时的调制度。将来自非记录标记区域的反射光强度设为P0，将来自记录标记区域的反射光强度设为P1时，该调制度m(Pw)为(P0-P1)/P0。

另一方面，上述的线性拟合法，其前提为以下关系式成立。

m(Pw)×Pw＝M×(Pw-Pwth)…(2)

这里，M为Pw＝∞时调制度m(Pw)的收敛值。另外，Pwth为m(Pw)×Pw为零时的激光功率Pw的值。

将该式(2)代入式(1)，得到下式。

γ＝Pwth/(Pw-Pwth)…(3)

再有，若将该式(3)关于Pw变形后，根据上述线性拟合法得到的最佳激光功率Pws通过下式可求出。

Pw＝Pwth×(1+1/γ)…(4)

由以上，以多种记录激光功率Pwn进行试写之后，将其再生，根据各个再生信号求出调制度m(Pwn)，根据求出的调制度m(Pwn)求出Sn＝m(Pwn)×Pwn，再有，若对Sn和Pwn的关系特性进行直线拟合，则根据上述式(2)，可知能够获取Pwth作为该拟合直线为零时的激光功率。然后，可知若根据获取的Pwth和该盘片的目标γ值(γtarget)，根据上述式(4)，运算Pw＝Pwth×(1+1/γtarget)，就能够求出该盘片的最佳激光功率Pws。

例如，如图3所示，以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写之后，将其再生求出调制度m(Pw1)、m(Pw2)，根据求出的调制度求2种乘法式S1＝m(Pw1)×Pw1，S2＝m(Pw1)×Pw2，还有，若对S1、S2进行直线拟合，就可以获取Pwth作为拟合直线为零时的激光功率Pw。然后，通过根据获取的Pwth和该媒体的目标γ值(γtarget)，运算Pw＝Pwth×(1+1/γtarget)，就能获取该盘片的最佳激光功率Pws。

再者，图3中，虽然是以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写，但如果以3种以上的记录激光功率进行试写，能够提高拟合直线S的拟合精度。这种情况下，作为拟合直线S＝0求出的Pwth，更容易接近真知，但对应试写次数变多的部分，需要的处理时间也会相应延长。

本实施例中，记录激光功率Pws的初始设定，是以参照上述图3所说明的处理顺序进行的。即，对读进区域的内盘片驱动区或者读出区域的外盘片驱动区，以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写之后，将其再生，并根据该再生信号求出拟合直线S。再根据该拟合直线S获取Pwth后，计算Pw＝Pwth×(1+1/γtarget)，对记录激光功率Pws进行初始设定。这里，γtarget，如上所述，在盘片安装时，根据读进的ADIP获取。再者，对内盘片驱动区或者外盘片驱动区的试写，可以3种以上的激光功率进行。这样，如上述，Pwth更容易接近真知，但对应试写次数变多的部分，需要的处理时间也会相应延长。

另外，在记录动作的间隔待机期间中进行的记录激光功率Pws的重新设定，通过如下进行：在下个记录位置的前端仅记录给定单位数量的采样数据，依据再生该采样数据时的再生信号、和再生已经记录完成的数据得到的再生信号，如上述图3所示求出拟合直线S，根据求出的拟合直线S获得Pwth，并计算Pw＝Pwth×(1+1/γtarget)。再者，细节在后文中详述。

另外，在记录动作的间隔待机期间中进行的记录激光功率Pws的重新设定如下进行：在下个记录位置的前端仅记录给定单位数量的采样数据，依据再生该采样数据时的再生信号、和将在该间隔待机期间之前刚刚记录的记录区域的末端一侧的几块(block)再生时的再生信号，如上述图3的情况同样，求出拟合直线S，根据求出的拟合直线S获得Pwth，通过计算Pws＝Pwth×(1+1/γtarget)获取记录激光功率Pws的重新设定值。

图4表示记录激光功率的设定以及调整处理的处理流程图。另外，以下，将记录激光功率Pws的初始设定动作称作OPC，将记录激光功率Pws的重新设定动作称作R-OPC。

输入记录开始指令后，执行OPC，初始设定记录激光功率Pws(S101)。然后，如果有最初的记录指令(S102：是)，则光拾取器105访问记录位置，以初始设定的记录激光功率Pws，记录指定块数部分的数据(S103)。

然后，该块的记录结束结束后，接着判断是否有间隔待机期间，若有间隔待机期间(S104：是)，则光拾取器105访问下个记录位置，并执行R-OPC。这样，重新设定记录激光功率Pws(S105)。

然后，在记录激光功率被重新设定后，若没有记录结束指令(S106)，则返回S102，等待下个记录指令。然后，若有下个记录指令(S102：是)，则光拾取器105访问下个记录位置，并以重新设定的记录激光功率Pws，记录指定块数部分的数据(S103)。以下，反复进行同样的处理，直到出现记录结束指令(S106)为止。

图5表示由上述S105执行的R-OPC的处理流程。

首先，控制器111，根据对记录数据进行缓存的存储器的空闲容量、和针对该存储器的数据的传输率以及记录速度等，算出该间隔待机期间的时间长T，并将该时间长T、与自身持有的试写次数设定表进行比较，从试写次数设定表中获取相应的试写次数N(S201)。

这里，若试写次数N为N＝2次(S202：N＝2)，则令光拾取器105访问下次的记录位置，并以当前时刻的激光功率Pws、和将其下降10％的激光功率Pw2，各对该记录位置进行一次采样数据的记录(S203)。然后，对记录的采样数据进行再生，并根据其再生信号，算出各个记录所对应的调制度m1、m2、m3(S204)。再根据调制度m1、m2所对应的激光功率Pws、Pw2，求出乘积值S1、S2(S205)。如上述图3所示，对求出的S1、S2进行直线拟合，求出Pwth(S206)。然后，根据求出的Pwth、和该盘片的目标γ值(γtarget)，计算Pws＝Pwth×(1+1/γ)，从而重新设定记录激光功率Pws(S207)。

若试写次数N为N＝3次(S202：N＝3)，与上述相同，令光拾取器105访问下次的记录位置，并以当前时刻的激光功率Pws、和将其下降10％、20％的激光功率Pw2、Pw3，各对该记录位置进行一次采样数据的记录(S208)。然后，对记录的采样数据进行再生，并根据其再生信号，算出各个记录所对应的调制度m1、m2、m3(S209)。再根据调制度m1、m2、m3所对应的激光功率Pws、Pw2、Pw3，求出乘积值S1、S2、S3(S210)。如上述图3所示，对求出的S1、S2、S3进行直线拟合，求出Pwth(S211)。然后，根据求出的Pwth、和该盘片的目标γ值(γtarget)，计算Pws＝Pwth×(1+1/γ)，从而重新设定记录激光功率Pws(S207)。

若试写次数N为N＝1(S202：N＝1)，则令光拾取器105访问下次的记录位置，并以将当前时刻的激光功率降低10％的激光功率Pw2(Pw2＝Pws×0.9)，记录采样数据(S212)。接着，令光拾取器105，访问在进入该间隔待机期间之前刚刚记录的块的末端位置(从末端起退回给定块数的位置)，并对该末端位置进行再生。然后，根据该再生信号算出调制度m1(S213)，再根据算出的调制度m1、和当前时刻的记录激光功率Pws，算出乘积值S1(S214)。

然后，对由上述S212记录的采样数据进行再生，并根据其再生信号算出调制度m2(S215)。然后，根据算出的调制度m2、和上述记录激光功率Pw2算出乘积值S2(S216)。

这样，在算出乘积值S1、S2之后，如上述图3所示，对S1、S2进行直线拟合，求出Pwth(S217)。然后，根据求出的Pwth，和该盘片的目标γ值(γtarget)，计算Pws＝Pwth×(1+1/γ)，由此对记录激光功率Pws进行重新设定(S207)。

图6，表示记录开始后的时序图。另外，该图为对未记录盘片进行记录时的图。

输入记录开始指令后，则使用读进区域的内盘片驱动区执行OPC，初始设定记录激光功率Pws。然后，若有最初的记录指令REC(1)，则从数据区域的前端起，以记录激光功率Pws顺序进行记录。该记录，进行至设定间隔待机期间为止。

之后，设定间隔待机期间后，算出该间隔待机期间的时间长T，并据此设定试写次数N。该图中，设定试写次数N为N＝2。然后，在下个记录位置，即，接着REC(1)的末端部之后的位置上，以激光功率Pws和Pw2(Pw2＝Pws×0.9)各记录一次采样数据，并根据采样数据的再生信号，执行R-OPC。如此，对记录激光功率Pws进行重新设定。

然后，若有第2次的记录指令REC(2)，则从下个记录位置、即接着REC(1)的末端部的位置起，以重新设定后的激光功率Pws依次进行记录。这时，在该记录位置的前端区域中，REC(2)的前端部分的数据覆盖在采样数据上。

其后，设定间隔待机期间后，算出该间隔待机期间的时间长T，并据此设定试写次数N。该图中，设定试写次数N为N＝1。然后，在下个记录位置、即接着REC(2)的末端部的位置上，以将当前时刻的激光功率Pws降低10％的激光功率，记录采样数据，并根据采样数据的再生信号、和之前刚刚记录的记录数据的再生信号，执行R-OPC。由此对记录激光功率Pws进行重新设定。

然后，若有第3次的记录指令REC(3)，则从下个记录位置、即接着REC(2)的末端部的位置起，以重新设定后的激光功率Pws依次进行记录。这时，在该记录位置的前端区域中，REC(3)的前端部分的数据覆盖在采样数据上

之后，设定间隔待机期间后，算出该间隔待机期间的时间长T，并据此设定试写次数N。该图中，设定试写次数N为N＝3。然后，在下个记录位置、即接着REC(2)的末端部的位置上，以激光功率Pws、Pw2(Pw2＝Pws×0.9)、Pw3(Pw3＝Pws×0.8)各记录一次采样数据，并根据采样数据的再生信号，执行R-OPC。由此对记录激光功率Pws进行重新设定。

以下同样，反复进行记录动作以及记录激光功率Pws的重新设定动作。

如上所述，通过本实施例，由于能利用间隔待机期间，适当地对记录激光功率Pws进行重新设定。因此能避免将记录动作时的处理复杂化，并能够动态地对记录激光功率Pws进行调整或变更，因此能够实现顺利的记录动作。还有，这时，由于通过在下个记录位置上记录采样数据而对激光功率进行重新设定，因此能够设定为反映下个记录位置的状态的激光功率。另外，由于在间隔待机期间的时间长T较长时、以较多的试写次数求取拟合直线S，因此能够提高拟合直线S的拟合精度，从而优化激光功率。再有，由于在间隔待机期间的时间长T较短时，将试写次数控制为1次，并利用时间上接近的之前刚刚的记录数据、来求取拟合直线，因此能够实现顺利且高效地优化激光功率，尤其在未记录盘片的情况下，如图6所示，利用在位置上也接近的记录数据对激光功率进行重新设定，从而能够将激光功率的最优化等级维持得较高。

这样，根据本实施例，能够同时实现处理的简单化和记录激光功率的最优化。

(实施例2)

本实施例，与上述实施例1相比，对记录激光功率的设定方法进行部分变更，从而提高激光功率的最优化等级。即，上述实施例1中，是根据上述式(1)至式(4)，对记录激光功率进行设定，而本实施例中，改变其中的式(2)至式(4)，来设定记录激光功率。

即，由于上述线性拟合法，是以式(2)成立为前提，本发明者通过验证，发现实际的记录特性与该前提并非高精度地一致。然后，本发明者，发现下式比上述式(2)更符合实际的记录特性。

m(Pw)×pw²＝M×(Pw-Pwth)…(5)

将式(5)代入上述式(1)，可得到下式。

γ＝{2Pwth-Pw}/(Pw-Pwth)…(6)

对式(6)关于Pw进行变形后，以下式求出最佳激光功率Pws。

Pw＝Pwth×{1+1/(γ+1)}…(7)

本实施例中，根据式(5)和式(7)，进行记录激光功率的初始设定(OPC)和重新设定(R-OPC)。即，OPC中，以2种记录激光功率Pw1、Pw2进行试写后，将其再生求出调制度m(Pw1)、m(Pw2)，根据求出的调制度求出2种乘积值S1＝m×(Pw1)×Pw1²、S2＝m(Pw2)×Pw2²，再对S1、S2进行直线拟合，并获取Pwth作为拟合直线为零的激光功率Pw。然后，根据获取的Pwth和该盘片的目标γ值(γtarget)，通过计算Pw＝Pwth×{1+1/(γtarget+1)}，获取该盘片的最佳激光功率Pws。

另外，在R-OPC中，在下个记录位置的前端仅记录给定单位数量的采样数据，根据将该采样数据再生时的再生信号，与上述OPC的情况同样，求出拟合直线S，根据求出的拟合直线S获取Pwth，通过计算Pw＝Pwth ×{1+1/(γtarget+1)}，获取记录激光功率Pws的重新设定值。

图7，表示记录激光功率的设定以及调整处理的处理流程图。该处理流程，与上述实施例1的处理流程(图5)相比，上述计算式变更所对应的处理步骤(S220、S221、S222、S223、S224、S225)不同。其它处理步骤，与上述实施例1的处理流程相同。

以下，通过验证例来说明采用该计算式的技术效果。

(验证例1)

本验证例，将制造商A的DVD+RW作为采样盘片，对调制度m(Pwn)、乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)，乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)进行实测及计算，并据此算出最佳激光功率Pw。

图8中用数值表示该情况下的实测计算结果。图9将求出的调制度m(Pwn)表示为曲线图；图10将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(实施例1：线性拟合法)表示为曲线图；图11将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)表示为曲线图。

如图10所示，可看出在乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)中，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝147.09x-1632.1)上蛇行。因此，当以例如16(mw)～20(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，与以20(mw)～24(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，拟合直线的斜率相差较大，两种情况下获取的Pwth1也相差较大。即，线性拟合法中，会因进行试写的激光功率范围不同导致Pwth1产生较大差异。因此，据此算出的激光功率Pw，也会受到试写时设定的激光功率Pwn很大的影响。

再者，图10中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和上述线性拟合法算出的Pwth1以及最佳激光功率Pw。

与此相对，本实施例中的激光功率调整方法中，如图11所示，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝4132.1x-55751)上，基本一致吻合。因此，无论以哪个范围的激光功率进行试写，拟合直线的斜率都基本相同，其结果是，总能获得基本相同的Pwth2。因此，据此算出的激光功率Pw，也与试写时采用何种激光功率Pwn无关，具有基本相同的值。

另外，图11中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和实施方式算出的Pwth2以及最佳激光功率Pw。

(验证例2)

本验证例，将不同于上述制造商A的制造商B的DVD+RW盘片作为采样盘片，对调制度m(Pwn)、乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)、乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)进行实测计算，并据此算出最佳激光功率Pw。

图12中用数值表示该情况下的实测计算结果。图13将求出的调制度m(Pwn)表示为曲线图；图14将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(实施例1：线性拟合法)表示为曲线图；图15将求出的乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn²(本实施例)表示为曲线图。

如图14所示，可看出在乘积值Sn＝m(Pwn)×Pwn(线性拟合法)中，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝139.96x-1036.9)上蛇行。因此，当以例如11(mw)～15(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，与以15(mw)～19(mw)范围的激光功率进行试写的情况中，拟合直线的斜率相差较大，两种情况下获取的Pwth1也相差较大。即，线性拟合法中，会因进行试写的激光功率范围不同导致Pwth1产生较大差异。因此，据此算出的激光功率Pw，也会受到试写时设定的激光功率Pwn很大的影响。

再者，图14中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和上述线性拟合法算出的Pwth1以及最佳激光功率Pw。

与此相对，本实施例中的激光功率调整方法中，如图15所示，乘积值Sn的曲线，在拟合直线(y＝3155.1x-30661)上，基本一致吻合。因此，无论以哪个范围的激光功率进行试写，拟合直线的斜率都基本相同，其结果是，总能获得基本相同的Pwth2。因此，据此算出的激光功率Pw，也与试写时采用何种激光功率Pwn无关，具有基本相同的值。

另外，图15中，右下虚线框内的数据，表示依据该盘片上设定的目标γ值(根据该盘片的ADIP获取)、和实施方式算出的Pwth2以及最佳激光功率Pw。

这样，本实施例中，无论试写时或者重新设定时设定为怎样的激光功率，都能够顺利地设定最佳激光功率。而且，由于乘积值Sn的曲线，与拟合直线基本吻合，因此如上述，即使只通过2个点的乘积值Sn，也能够获取合适的拟合直线，因此，即使通过较少的试写次数也能够设定合适的激光功率。

(实施例3)

上述实施例1、2中，虽然在试写次数N为N＝1时，是利用之前刚刚记录的数据对激光功率Pws进行重新设定，但本实施例中，不利用之前刚刚记录的数据，而只根据采样数据，对记录激光功率Pws进行校正。

本实施例中，在记录激光功率的初始设定时，根据拟合直线求出与记录激光功率的设定值对应的乘积值S0(参照图16)，并将其保存在控制器111的内置存储器中。然后，在试写次数N为N＝1的情况下，以这时的记录激光功率Pws记录采样数据，根据其再生信号求出乘积值，并对该乘积值、和上述内置存储器内保存的乘积值进行比较，来设定激光功率Pws的校正值(校正系数等)。

图17，表示这种情况下的处理流程。本处理流程，改变了上述图7的处理流程(实施例2)中的、试写次数N为N＝1时的处理步骤。

试写次数N为N＝1时，控制器111，令光拾取器105下个的记录位置，并以当前时刻的激光功率Pws、在该记录位置上进行只一次采样数据的记录(S230)。然后，对记录的采样数据进行再生，并根据该再生信号，算出调制度m2(S231)，再根据算出的调制度m2和激光功率Pws，求出乘积值(S232)。接着，从自身内置的存储器中，获取与记录激光功率的初始设定值对应的乘积值S0(S233)，并对该S0和由上述S232求出的乘积值S进行比较，设定校正系数α(S234)。然后，将设定的校正系数α乘以当前时刻的激光功率Pws，从而获取新的记录激光功率Pws(S235)。

再者，校正系数α，是依据S0和S的大小关系，通过统计或实验来设定。例如，控制器111，保存有将S0对S的比率、和校正系数α的值相互对应的表，根据该表，设定各个时刻的校正系数α。

图18表示处理流程的变更例。本处理流程，与上述图17的处理流程相比，改变了S240～S242。即，控制器111，从自身的内置存储器中，获取与记录激光的初始设定值对应的乘积值S0(S233)后，对该S0与由上述S232求出的乘积值S进行大小比较(S240)。然后，如果S比S0小，则在当前时刻的记录激光功率Pw上加上预先设定的校正值ΔPw(S241)，相反，如果S比S0大，则从当前时刻的记录激光功率Pw中减去校正值ΔPw(S242)，从而得到新的记录激光功率Pws。

根据本实施例，由于在试写次数N为N＝1的情况下，不用读取之前记录的数据，因此与上述实施例1、2相比，能够实现处理的迅速化。这样，即使在间隔待机期间的时间长T相当短的情况下，也能够顺利地对激光进行校正。

以上，虽对本发明的实施方式作了说明，但本发明并非仅限于上述实施方式，当然还可以有其它各种变更。

例如，上述实施方式中，OPC下的试写次数为2次，但也可以是2次以上的试写次数。再者，R-OPC下的试写次数，如上所述，受到与间隔待机期间之间的关系的制约。

另外，上述实施方式中，虽然是等待间隔待机期间到来后，执行R-OPC，但也可以是当1次记录动作持续超过给定时间时，强制结束记录动作来执行R-OPC。这样，能够避免记录激光功率Pws长期维持的状况发生，因此能够顺利实现记录动作。另外，当这样强制结束记录动作时，优选随着激光功率的重新设定的结束，迅速地恢复记录动作。

再者，上述实施方式中，虽设定试写次数为1次、2次、3次3个阶段，但也可设定为1次、2次两个阶段。再者，还可以设定为4次以上，但由于实际上，不大可能有可以进行4次以上试写的间隔待机期间，因此在3次以内比较合理。

另外，上述实施方式中，虽然在试写次数为2次、3次时、是根据当时的激光功率(减少10％、20％)对激光功率进行设定，但也可代之以预先设定的激光功率。

再者，虽然上述实施例3中，是比较乘积值S和S0来对激光功率进行修正，但也可对调制度m和其它评估参数进行大小比较。这种情况下，在控制器111中，保存与记录激光功率的初始设定值对应的评估参数来代替S0。

此外，本发明的实施方式，可在权利要求所述的技术思想范围内，适当地进行各种变更。

再有，上述实施方式中，虽然是每次间隔待机期间到来时都执行R-OPC，但也可在从上一个R-OPC执行时起、到经过一定时间为止的这段期间内，即使下个间隔待机期间到来也不执行R-OPC等，在间隔待机期间的到来、和R-OPC的执行之间，指定给定的规则。

Claims

1、一种光盘装置，在可擦写盘片上记录及再生信息，其特征在于，具有：

时间长检测模块，对记录动作的间隔待机期间的时间长T进行检测；

试写次数设定模块，根据由所述时间长检测模块检测出的时间长T，对试写次数N进行设定；

采样数据记录模块，在该间隔待机期间内，以各不相同的激光功率进行所述N次采样数据记录；

采样数据再生模块，在该间隔待机期间内，对由所述采样数据记录模块记录的采样数据进行再生；以及，

功率校正模块，根据由所述采样数据再生模块再生的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性，对记录激光功率进行校正。

2、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

所述功率校正模块，根据由所述采样数据再生模块再生的、记录激光功率不同的多种再生信号，求出决定记录特性相关的参数a、与记录激光功率的关系的近似特性，并依据求出的近似特性，对记录激光功率进行重新设定。

3、根据权利要求2所述的光盘装置，其特征在于，

所述参数a，是将再生信号的调制度、和记录激光功率相乘得到的乘积值；所述功率校正模块，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

4、根据权利要求2所述光盘装置，其特征在于，

所述参数a，是将再生信号的调制度、和记录激光功率的平方相乘得到的乘积值；所述功率校正模块，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

5、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

当由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，

所述采样数据记录模块，以与当前时刻的激光功率不同的激光功率记录采样数据；

所述采样数据再生模块，除了由所述采样数据记录模块记录的采样数据，还对通过到目前为止的记录动作所记录的记录完成数据进行再生；

所述功率校正模块，依据所述采样数据的再生信号、和所述记录完成数据的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并根据求出的记录特性，校正记录激光功率。

6、根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于：

当由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，

所述采样数据记录模块，以比当前时刻的激光功率低给定比例的激光功率来记录采样数据。

7、根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于：

当由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，

所述采样数据再生模块，对在该间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的记录完成数据进行再生。

8、根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

当由所述试写次数设定模块设定的试写次数N为1次时，

所述采样数据记录模块，以当前时刻的激光功率记录采样数据；

所述功率校正模块，根据所述采样数据的再生信号求出与记录再生特性相关的给定参数b的值，并对该参数b的值b1、和激光功率处于最佳状态时的参数b的值b0进行大小比较，并依据该比较结果，对所述当前时刻的激光功率进行校正。

9、根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于：

所述功率校正模块，依据所述值b0相对值b1的比率，设定校正系数α，并将该校正系数α乘以当前时刻的激光功率来设定新的激光功率。

10、根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于：

所述功率校正模块，依据所述值b0与值b1的大小关系，通过在当前时刻的激光功率上加上或者减去校正值ΔPw，来设定新的激光功率。

11、根据权利要求1～10的任一项所述的光盘装置，其特征在于：

所述采样数据记录模块，在下个记录位置上记录所述采样数据，所述下个记录位置接在刚刚记录的数据的末端。

12、一种光盘装置，在可擦写盘片上记录及再生信息，其特征在于，具备的控制器进行以下控制处理：

控制处理1，用于对记录动作的间隔待机期间的时间长T进行检测；

控制处理2，用于根据检测出的时间长T设定试写次数N；

控制处理3，用于在所述间隔待机期间内，以各不相同的激光功率进行N次的采样数据记录；

控制处理4，用于对由所述采样数据的记录所记录的采样数据进行再生；以及，

控制处理5，用于根据再生的再生信号求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性对记录激光功率进行校正。

13、根据权利要求12所述的光盘装置，其特征在于：

用于对记录激光功率进行校正的控制处理，根据由用于对所述采样数据进行再生的控制处理所再生的、记录激光功率不同的多种再生信号，求出决定记录特性相关参数a、和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性，对记录激光功率进行重新设定。

14、根据权利要求13所述的光盘装置，其特征在于：

所述参数a，是将再生信号的调制度、和记录激光功率相乘得到的乘积值；用于对所述记录激光功率进行校正的控制处理，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

15、根据权利要求13所述的光盘装置，其特征在于：

所述参数a，是将再生信号的调制度、和记录激光功率的平方相乘得到的乘积值；用于对所述记录激光功率进行校正的控制处理，求取决定该乘积值和记录激光功率之间的关系的近似特性，并依据求出的近似特性、和对该盘片要求的γ值，重新设定记录激光功率。

16、根据权利要求12所述的光盘装置，其特征在于：

当由用于设定所述试写次数N的控制处理所设定的试写次数N为1次时，

用于对所述采样数据进行记录的控制处理，以与当前时刻的激光功率不同的激光功率记录采样数据；

用于对所述采样数据进行再生的控制处理，除了对用于对所述采样数据进行记录的控制处理所记录的采样数据进行再生，还对通过到目前为止的记录动作所记录的记录完成数据进行再生；

用于对所述记录激光功率进行校正的控制处理，根据所述采样数据的再生信号、和所述记录完成数据的再生信号，求出当前时刻的记录特性，并依据求出的记录特性，对记录激光功率进行校正。

17、根据权利要求16所述的光盘装置，其特征在于：

当由用于对所述试写次数N进行设定的控制处理设定的试写次数N为1次时，

用于对所述采样数据进行记录的控制处理，以比当前时刻的激光功率低给定比例的激光功率记录采样数据。

18、根据权利要求16所述的光盘装置，其特征在于：

用于对所述采样数据进行再生的控制处理，对在该间隔待机期间之前刚刚记录的数据块中的记录完成数据进行再生。

19、根据权利要求12所述的光盘装置，其特征在于：

用于对所述采样数据进行记录的控制处理，其以当前时刻的激光功率对采样数据进行记录；

用于对所述记录激光功率进行校正的控制处理，根据所述采样数据的再生信号求出与记录再生特性相关的给定参数b的值，对该参数b的值b1、和在激光功率处于最佳状态时的参数b的值b0进行大小比较，并根据该比较结果，对当前时刻的激光功率进行校正。

20、根据权利要求19所述的光盘装置，其特征在于：

用于对所述记录激光功率进行校正的控制处理，依据所述值b0相对值b1的比率，设定校正系数α，并将该校正系数α乘以当前时刻的激光功率来设定新的激光功率。

21、根据权利要求19所述的光盘装置，其特征在于：

用于对所述记录激光进行校正的控制处理，依据所述值b0与值b1的大小关系，通过在当前时刻的激光功率上加上或者减去校正值ΔPw，来设定新的激光功率。

22、根据权利要求12～21的任一项所述的光盘装置，其特征在于：

用于对所述记录激光功率进行校正的控制处理，在下个记录位置上记录所述采样数据，所述下个记录位置接在刚刚记录的数据的末端。