CN114325208A - 模块化测试装置及其应用的测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种模块化测试装置，包含承置单元、测试单元及压接单元，承置单元的载具承置可滑移的测试单元，测试单元的承板配置复数个测试器，测试器供承置及测试复数个电子元件，压接单元以可拆式框架装配于承置单元的载具，框架装配复数个压接器，复数个压接器对位于复数个测试器，以模块化测试装置利于修护更换，并于测试单元滑出载具时而供便利取放一批次复数个电子元件，以及于滑入载具时而供压接单元压接复数个电子元件执行测试作业，进而提高使用效能。

Description

模块化测试装置及其应用的测试设备

技术领域

本发明涉及一种模块化而利于修护更换，并提高作业便利性的模块化测试装置。

背景技术

在现今，电子元件于制作完毕后，必须以测试设备对电子元件执行测试作业，以淘汰出不良品。请参阅图1，目前测试设备于机台11的前段部配置供料装置12及收料装置13，于后段部水平排列配置复数个测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F，以测试装置14A为例，其于机台11固设二电性连接的测试座141A及电路板142A，以供对电子元件执行测试作业，测试装置14A另于机台11设置机架143A，机架143A装配压接器144A，压接器144A对应于测试座141A，以供下压测试座141A内的电子元件执行测试作业；测试设备以输送器15伸入于测试装置14A，而于测试座141A取出一已测电子元件，以及将一待测电子元件移入测试座141A而接续执行测试作业，依此类推，输送器15依序于复数个测试装置14B、14C、14D、14E、14F执行取出已测电子元件及放置待测电子元件的作业；然而，输送器15必须多次往复出入复数个测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F，方可移入或移出单一电子元件，不仅增加作动时序而耗费时间，更降低测试产能。另于更换不同型式的测试座、电路板及压接器时，必须逐一于各测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F拆卸测试座、电路板及压接器，以致更换作业繁琐耗时。再者，测试装置14A为供输送器15可移入于压接器144A与测试座141A之间，而必须增加机架143A及压接器144A的架设高度，不仅增加测试装置14A的体积，更延长压接器144A的下压行程而增加作业时间。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种模块化测试装置及其应用的测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种模块化测试装置，其特征在于，包含：

承置单元：设有一载具；

测试单元：包含承板及复数个测试器，该承板能够移入/移出于该承置单元的该载具，该复数个测试器装配于该承板，以供承置及测试该复数个电子元件；

压接单元：包含框架及复数个压接器，该框架装配于该承置单元的该载具，该复数个压接器装配于该框架，以供压接该复数个测试器的该复数个电子元件。

所述的模块化测试装置，其中，还包含一驱动单元，该驱动单元设有至少一驱动器，以驱动该测试单元位移。

所述的模块化测试装置，其中，该测试单元的该承板与该承置单元的该载具间设有至少一滑轨组。

所述的模块化测试装置，其中，该测试单元的该承板设有复数个支撑部件，该复数个支撑部件供承置支撑该复数个测试器。

所述的模块化测试装置，其中，该压接单元于该载具与该框架间设有至少一快拆器。

所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接单元的该压接器包含：

第一活动件；

第二活动件：沿作业轴线而与该第一活动件作相对配置；

作业件：装配于该第一活动件，以供压接电子元件；

驱动源：以供驱动该第一活动件及该第二活动件作反向位移；

作动具：装配于该第二活动件，以供该第二活动件驱动沿该作业轴线作反向位移；

限位件：设于该作动具，以于该限位件承挡受限时，而能够限位该作业件沿该作业轴线反向位移。

所述的模块化测试装置，其中，该压接器还包含调整结构，以供微调该作业件，该调整结构包含第一调整件及第二调整件，该第一调整件装配该框架，并设有第一浮接部，该第二调整件以供该作动具驱动位移，并设有第二浮接部，该第二浮接部与该第一浮接部作相互配合。

所述的模块化测试装置，其中，该压接器还包含至少一挡掣部件，该挡掣部件可设于该测试器、该承板或该框架，以供挡掣该限位件。

所述的模块化测试装置，其中，该压接器还包含复归结构，该复归结构于该第一调整件设有盖板，该盖板与该作动具或该第二活动件间配置第一弹性件。

一种应用模块化测试装置的测试设备，其中，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台，并设有至少一容纳待作业电子元件的供料承置器；

收料装置：配置于该机台，并设有至少一容纳已作业电子元件的收料承置器；

架体：配置于该机台，并设有复数层架置空间；

复数个所述的模块化测试装置：装配于该架体的该复数层架置空间；

输送装置：配置于该机台，并设有至少一第一输送器，以输送电子元件；

中央控制装置：以供控制及整合各装置作动。

本发明的优点一，提供一种模块化测试装置，包含承置单元、测试单元及压接单元，承置单元的载具承置可滑移的测试单元，测试单元的承板配置复数个测试器，测试器供承置及测试复数个电子元件，压接单元以可拆式框架装配于承置单元的载具，框架装配复数个压接器，复数个压接器对位于复数个测试器，以模块化测试装置利于修护更换，并于测试单元滑出载具时而供便利取放一批次复数个电子元件，以及于滑入载具时而供压接单元压接复数个电子元件执行测试作业，进而提高使用效能。

本发明的优点二，提供一种模块化测试装置，其测试单元的承板装配复数个测试器，于承板移出承置单元时，可供输送器一批次取放复数个电子元件，以缩减取放料作动时序，进而提高生产效能。

本发明的优点三，提供一种模块化测试装置，其压接单元以快拆器将框架装配于承置单元的载具，于变换应用的压接器数量或型式时，利用快拆器而可迅速拆卸框架，以利卸下一批次复数个压接器，而缩减更换作业时间，进而提高生产效能。

本发明的优点四，提供一种模块化测试装置，其压接单元的复数个压接器分别锁固于框架，于修护时，可各别独立更换压接器，毋需更换整组压接单元，进而有效节省成本。

本发明的优点五，提供一种模块化测试装置，其于承置单元装配可滑移的测试单元及可快拆的压接单元，不仅整体微型化，以利应用于空间有限的场所而执行测试作业，并供省力搬运，进而提高使用效能及便利性。

本发明的优点六，提供一种模块化测试装置，其压接单元的压接器于第一活动件与第二活动件间设有驱动源，以驱动第一活动件与第二活动件沿作业轴线作反向位移，第一活动件的底部装配作业件，作业件以供压接电子元件，压接器另设有一由第二活动件驱动位移的作动具，作动具装配至少一限位件，于限位件承挡受限后，而可定位作动具及第二活动件，以防止第一活动件及作业件沿作业轴线退缩位移，使作业件确实压接电子元件执行预设作业，进而提升作业品质。

本发明的优点七，提供一种模块化测试装置，其压接单元的压接器于第一调整件及第二调整件设有相互配合的第一浮接部及第二浮接部，第二调整件并以连接件连接作动具或第二活动件，利用作动具或第二活动件带动第二调整件作一浮动位移(如X方向、Y方向或水平角度Θ)而解除卡掣，使第一活动件可带动作业件作浮动位移，进而微调作业件的位置，使作业件精准压接电子元件，进而提高使用效能。

本发明的优点八，提供一种应用模块化测试装置的测试设备，包含供料装置、收料装置、多层式架体、本发明模块化测试装置、输送装置及中央控制装置；供料装置配置于机台，并设有至少一容纳待作业电子元件的供料承置器；收料装置配置于机台，并设有至少一容纳已作业电子元件的收料承置器；多层式架体配置于机台，并设有复数层，各层设有至少一架置空间；复数个模块化测试装置配置于多层式架体的复数层架置空间，各模块化测试装置以供测试一批次电子元件；输送装置配置于机台，并设有至少一第一输送器，以输送电子元件；中央控制装置以供控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

附图说明

图1是现有测试装置的使用示意图。

图2是本发明模块化测试装置的前视图。

图3是本发明模块化测试装置的侧视图。

图4是本发明压接器与测试器的示意图。

图5是本发明压接器的侧视图。

图6是本发明模块化测试装置的使用示意图(一)。

图7是本发明模块化测试装置的使用示意图(二)。

图8是本发明模块化测试装置的使用示意图(三)。

图9是本发明模块化测试装置的使用示意图(四)。

图10是本发明模块化测试装置应用于测试设备的配置图。

附图标记说明：[现有技术]机台11；供料装置12；收料装置13；测试装置14A、14B、14C、14D、14E、14F；测试器141A；电路板142A；机架143A；压接器144A；输送器15；[本发明]测试装置20；载具21；底板211；侧板212；测试区213；承板22；支撑部件221；容置孔222；电路板231；测试座232；探针2321；承挡面2322；第一定位部件2323；挡掣部件2324；滑轨组24；马达251；皮带轮组252；框架26；扣具261；第一活动件271；第一表面2711；容置空间2712；装配面2713；套合块2714；导孔2715；气室2716；通气道2717；延伸部2718；让位部2719；第二活动件272；第二表面2721；连接面2722；压接件273；下压部2731；挡面2732；第二定位部件2733；作动具274；第一构件2741；第二构件2742；第三构件2743；限位件275；第一调整件276；第一浮接部2761；容置槽2762；底板2763；第一通孔2764；第二调整件277；第二浮接部2771；第二通孔2772；连接件278；第一弹性件279；盖板280；第二弹性件281；立柱282；卡抵块283；作业轴线L；工作桌30；机台40；换料区41；供料装置50；供料承置器51；收料装置60；收料承置器61；架体70；架置空间71；输送装置80；第一输送器81；第二输送器82；第三输送器83；第四输送器84。

具体实施方式

为使对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图2至图5，本发明模块化测试装置20包含承置单元、测试单元及压接单元，可视作业需求，还包含一驱动单元，以自动化驱动测试单元移入/移出承置单元。

承置单元设有至少一载具21，载具21可为面板、架体或箱体，其型式可为一平板型或ㄩ型，载具21仅需承置测试单元、压接单元及驱动单元，不受限于本实施例；于本实施例，载具21包含底板211及二侧板212，二侧板212呈Z方向固设于底板21，底板211与二侧板212间形成一测试区213。

测试单元包含承板22及复数个测试器，承板22可移入/移出于承置单元的载具21，复数个测试器装配于承板22，以供对电子元件执行测试作业，于修护更换测试单元时，可取出承板22，而一次更换一批次复数个测试器，以提高作业便利性；更进一步，承板22与载具21间设有滑轨组，承板22可供手动式或自动式位移，例如于承板22配置把手，把手可供手动式拉动承板22位移；例如承板22连结一驱动器，驱动器驱动承板22自动式位移。

于本实施例，承板22位于载具21的测试区213，并设有复数个支撑部件221，支撑部件221可与承板22一体成型或各为独立元件，于本实施例，承板22开设有复数个容置孔222，各容置孔222装配一为块体的支撑部件221。承板22的复数个支撑部件221供装配复数个测试器，各测试器包含电性连接的电路板231及具探针2321的测试座232，测试座232供承置及测试电子元件，并以栓具锁固于承板22的支撑部件221，利用支撑部件221辅助支撑测试座232而防止受压变形。测试座232以顶面作为承挡面2322，并设有为定位孔的第一定位部件2323。又承板22与载具21间设有复数个呈X方向配置的滑轨组24，各滑轨组24于承板22的底面设置滑轨，以及于载具21的底板211配置复数个可供滑轨滑置的滑座，承板22利用滑轨组24而于载具21上平稳位移。

驱动单元于承板22与载具21间配置至少一驱动器，驱动器可为压缸或包含马达及至少一传动组，不受限于本实施例；于本实施例，驱动器包含马达251及一为皮带轮组252的传动组，马达251装配于载具21的侧板212，并以转轴驱动皮带轮组252，皮带轮组252连结带动承板22及复数个测试器作自动式移入/移出载具21的测试区213。

压接单元设有至少一框架26及复数个压接器，框架26装配于承置单元的载具21，复数个压接器装配于框架26，以供压接测试器的电子元件；更进一步，框架26可作固定式或活动式装配于载具21，例如框架26以栓具或快拆器组装于载具21，以供拆卸整组压接单元；于本实施例，框架26与载具21间设有一为扣具261的快拆器，框架26利用扣具261扣合组装于载具21，并供修护更换压接单元时，可开启扣具261，以利迅速快拆取下框架26及一批次复数个压接器，进而提高作业便利性。

压接器包含第一活动件271、第二活动件272、驱动源、压接件273、作动具274及限位件275，可视作业需求，压接器还包含调整结构、复归结构。

第一活动件271可为一缸本体或面板，而沿作业轴线L位移，并于第一表面2711沿作业轴线L凹设有容置空间2712，及以相对第一表面2711的一面作为装配面2713，于本实施例，第一活动件271为一缸本体，并于侧面设有套合块2714，套合块2714开设有导孔2715。

第二活动件272与第一活动件271沿作业轴线L作相对配置，第二活动件272可沿作业轴线L作反向位移，更进一步，第二活动件272可为面板、活塞或膜片，于本实施例，第二活动件272为一活塞，并可位移地装配于第一活动件271的容置空间2712，第二活动件272的第二表面2721与容置空间2712的内底面间形成一气室2716，另第二活动件272以相对第二表面2721的一面作为连接面2722。

驱动源以供驱动第一活动件271及第二活动件272作反向位移，更进一步，驱动源可为气囊、压电元件或包含气室及通气道，只要可驱动第一活动件271及第二活动件272作反向位移均可，不受限于本实施例。例如驱动源为气囊，可直接装配连结于第一活动件271的第一表面2711与第二活动件272的第二表面2721，于气囊充气膨胀时，以驱动第一活动件271及第二活动件272作反向位移，而可省略第一活动件271的容置空间2712及气室2716。例如驱动源包含气室及通气道，气室设于第一活动件271的容置空间2712内底面与第二活动件272的第二表面2721间，通气道可设于第一活动件271或第二活动件272，通气道将气体输入于气室，以驱动第一活动件271及第二活动件272作反向位移。于本实施例，驱动源包含气室2716及通气道2717，气室2716位于第一活动件271的容置空间2712内底面与第二活动件272的第二表面2721间，通气道2717位于第一活动件271，其一端相通气室2716，另一端连通供气设备(图未示出)及气压检知器，以供输入气体至气室2716。

压接件273装配于第一活动件271，以供压接电子元件，更进一步，压接件273装配至少一温控器，温控器可为加热件或致冷晶片，以使电子元件位于模拟日后应用场所温度的测试环境；于本实施例，压接件273装配于第一活动件271的装配面2713，并设有至少一下压部2731，以对电子元件执行压接作业。另压接件273于下压部2731的周侧设有挡面2732及第二定位部件2733，挡面2732的位置高度高于下压部2731，并于相对应第一定位部件2323的位置凸设有为定位销的第二定位部件2733。

再者，压接器可视作业需求，于压接件273的下压部2731装配电性连接的另一电路板(图未示出)及另复数支探针(图未示出)，以供测试具双面接点的电子元件。

作动具274装配于第二活动件272，以供第二活动件272驱动沿作业轴线L作反向位移；更进一步，作动具274包含至少一第一构件2741，以装配于第二活动件272，装配方式可为锁固或跨置等方式，均可供第二活动件272带动第一构件2741同步位移；于本实施例，作动具274包含第一构件2741、第二构件2742及第三构件2743，更进一步，第一构件2741、第二构件2742及第三构件2743可为一体成型或各别为独立构件；于本实施例，作动具274的第一构件2741、第二构件2742及第三构件2743各别为独立构件，第一构件2741为一面板，并呈水平配置锁固于第二活动件272的连接面2722，第二构件2742为呈Z轴向配置的导杆，其一端组装于第一构件2741，另一端穿伸出第一活动件271的导孔2715，以供第一活动件271沿第二构件2742平稳作Z方向位移，第三构件2743为一呈X方向配置的架体，并组装于第二构件2742的另一端，使得第二活动件272可带动第一构件2741、第二构件2742及第三构件2743同步反向位移。

限位件275设于作动具274，以于限位件275承挡受限时，而可定位第二活动件272，以防止第一活动件271及压接件273退缩位移；更进一步，限位件275与作动具274可为一体成型或各别为独立元件，限位件275可呈Y方向或Z方向设于作动具274；例如限位件275可为一面板，并呈Y方向延伸设于作动具274的第三构件2743；例如限位件275可为一L型件，并呈Z方向配置于作动具274的第一构件2741或第三构件2743，当限位件275配置于第一构件2741，作动具274可省略第三构件2743。

调整结构包含第一调整件276、第二调整件277及连接件278，还包含第一弹性件279及盖板280。第一调整件276设有第一浮接部2761，第二调整件277设有第二浮接部2771，第二浮接部2771与第一浮接部2761作相互配合，更进一步，第一浮接部2761与第一调整件276可一体成型或各别为独立元件，例如第一调整件276可一体成型一为弧凸块的第一浮接部2761；例如第一调整件276可装配一具有为珠体的第一浮接部2761的面板；同样地，第二浮接部2771与第二调整件277也可一体成型或各别为独立元件；另第二浮接部2771与第一浮接部2761可呈相互配合的弧形或V形，其形状只要于第二调整件277未浮动时，可使第一调整件276及第二调整件277相互配合卡掣。连接件278连接第二调整件277与作动具274或第二活动件272，利用作动具274或第二活动件272带动第二调整件277作一浮动位移(如X方向、Y方向或水平角度Θ)而解除卡掣，使第一活动件271可带动压接件273作浮动位移，进而微调压接件273的摆置位置或摆置角度，使压接件273精准压接电子元件。

于本实施例，第一调整件276为一面板，并锁固装配于框架26，于拆卸第一调整件276时，可便利取出整个压接器；第一调整件276与作动具274的第一构件2741具有适当间距，第一调整件276于相对第二活动件272的位置设有容置槽2762，容置槽2762的底板2763开设有第一通孔2764，以供穿置第二调整件277，第一调整件276于底板2763设有复数个为弧凸块的第一浮接部2761。第二调整件277为一面板，并位于第一调整件276的容置槽2762，且与容置槽2762间具有适当的移动间距，第二调整件277于相对应第一调整件276的第一浮接部2761的位置设有呈弧槽的第二浮接部2771，于未作动状态，第二调整件277以本身的自重或第一构件2741或第二活动件272的自重，令第二浮接部2771贴合卡掣于第一调整件276的第一浮接部2761。连接件278为一栓具，并锁接第二调整件277及第一构件2741，令第一构件2741带动第二调整件277的第二浮接部2771脱离第一浮接部2761或沿第一浮接部2761作浮动位移而解除卡掣，使第二活动件272带动第一活动件271及压接件273作浮动位移(如X-Y方向或水平角度Θ)，进而微调压接件273的摆置位置或摆置角度。

复归结构于第一调整件276与作动具274或第二活动件272间配置第一弹性件279，以带动作动具274复位；于本实施例，第二调整件277开设有第二通孔2772，供穿置第一弹性件279，第一弹性件279的一端顶抵于作动具274的第一构件2741，另一端顶抵一锁固于第一调整件276的盖板280，以带动作动具274复位。

复归结构另于作动具274与第一活动件271间配置至少一第二弹性件281，以带动第一活动件271复位；于本实施例，复归结构于第一活动件271的二相对套合块2714间设有延伸部2718，延伸部2718设有呈凹槽的让位部2719，复归结构于作动具274的第三构件2743相对应让位部2719的位置设有立柱282，立柱282穿套第二弹性件281及卡抵块283，卡抵块283的一面顶抵于第一活动件271的延伸部2718，以顶撑第一活动件271，卡抵块283的另一面顶抵于第二弹性件281。

然测试时序，压接机构的限位件275于承挡受限后，可限位第二活动件272及第一活动件271，至于挡掣限位件275的设计可视作业需求，而于测试座232、承板22或框架26上，且相对于限位件275的位置设有至少一挡掣部件；例如限位件275呈Y方向配置时，可于测试座232或承板22相对应限位件275的位置设有一为挡片的挡掣部件；例如限位件275呈Z方向配置时，可于框架26相对应限位件275的位置设有一为挡槽的挡掣部件，前述举例设计均可挡掣限位件275，不受限于本实施例。于本实施例，测试座232于相对限位件275的位置设有一呈Y方向延伸且为挡片的挡掣部件2324，挡掣部件2324与测试座232可为一体成型或各别为独立元件，作动具274于未作动状态，可使限位件275与挡掣部件2324具有适当间距。

请参阅图4、图6、图7，本发明的模块化测试装置20轻便且易搬运，可便利摆置于一承载物(如实验室的实验台桌或小型工作桌)，模块化测试装置20的载具21也可以定位用元件(如栓具或定位销)而定位于承载物；于本实施例中，模块化测试装置20锁固于小型工作桌30的桌板。于测试时，驱动单元以马达251经皮带轮组252带动测试单元的承板22作X方向位移移出载具21的测试区213，由于压接器的限位件275未贴接测试座232的挡掣部件2324，使得承板22可载送一批次复数个测试座232同步移出测试区213，而位于载具21的外部，以供输送器(图未示出)将一批次复数个待测电子元件移入测试座232；之后，马达251经皮带轮组252带动承板22载送一批次复数个具待测电子元件的测试座232移入测试区213。

请参阅图8、图9，由于测试座232相对于压接器，并令挡掣部件2324位于压接器的限位件275的上方，于压测时，压接器的通气道2717输入气体至第一活动件271的气室2716，气室2716内的气体分别推动第一活动件271及第二活动件272沿作业轴线L作反向位移，第一活动件271即带动压接件273同步作Z方向向下位移，若压接件273的第二定位部件2733与测试座232的第一定位部件2323具有微小位差，压接件273的第二定位部件2733会顶抵于测试座232的承挡面2322；由于气室2716内的气体无法推动压接件273继续向下位移，在气室2716内持续输入气体的状态下，气体会推动第二活动件272沿作业轴线L作Z方向反向向上位移，第二活动件272再顶推作动具274及第二调整件277作Z方向向上浮动，第二活动件272即利用第二调整件277的第二浮接部2771沿第一调整件276的第一浮接部2761作Y方向浮动位移，而带动第一活动件271及压接件273作Y方向位移，以微调压接件273的位置，使压接件273的第二定位部件2733对位测试座232的第一定位部件2323。

然而，作动具274作Z方向向上位移时，并以第三构件2743带动限位件275同步位移，令限位件275抵顶于测试座232的挡掣部件2324，以限位作动具274，由于作动具274连接第二活动件272，也同步限位第二活动件272，在气室2716保持一定预设气压的要件下，气室2716的气体即顶推第一活动件271带动压接件273沿作业轴线L作Z方向向下位移，使压接件273的第二定位部件2733***于测试座232的第一定位部件2323，并使第一活动件271承受气室2716的气体向下推力，而有效防止第一活动件271及压接件273沿作业轴线L反向位移，不仅可使压接件273的下压部2731顺利压接电子元件，更可使压接件273确实以预设下压力压接电子元件，进而提高测试品质。

请参阅图2～图5、图10，本发明模块化测试装置20应用于测试设备，测试设备包含机台40、供料装置50、收料装置60、多层式架体70、本发明模块化测试装置20、输送装置80及中央控制装置(图未示出)；供料装置50配置于机台40，并设有至少一容纳待作业电子元件的供料承置器51；收料装置60配置于机台40，并设有至少一容纳已作业电子元件的收料承置器61；多层式架体70配置于机台40，并设有复数层，各层设有至少一架置空间71；复数个模块化测试装置20配置于多层式架体70的复数层架置空间71，各模块化测试装置20以供测试一批次电子元件，于本实施例中，架体70各层的架置空间71供装配模块化测试装置20的载具21，而可迅速将载具21承载整组的测试单元、压接单元及驱动单元装配于架体70上，以利修护更换；输送装置80配置于机台40，并设有至少一第一输送器，以输送电子元件；更进一步，第一输送器可为移料器或搬盘器，输送装置80依作业需求而增设至少一第二输送器，第二输送器可为载台，第二输送器可配置于机台40，或与一第三输送器同步作Z方向位移至架体70的各层架置空间71前方，又第二输送器配置于机台40可采定点固设，或于机台40上作至少一方向位移；再者，第二输送器可设有复数个承槽，以供容置待测电子元件及已测电子元件，而第一输送器则为移料器，以供移载电子元件；第二输送器可承载一供料承置器51及一收料承置器61，以迅速供应整盘具待测电子元件的供料承置器51，以及利用收料承置器61收置整盘已测电子元件，而第一输送器则为搬盘器，以供搬移供料承置器51。于本实施例，输送装置80包含第一输送器81、第二输送器82、第三输送器83及第四输送器84，第一输送器81为一搬盘器，以将供料装置50的具整盘待测电子元件的供料承置器51搬移至一为载台的第二输送器82，第二输送器82并设有一空的收料承置器61，于模块化测试装置20的驱动单元驱动测试单元的承板22载送复数个测试座232由测试区213移出至换料区41，第二输送器82与第三输送器83同步作Z方向位移至承板22的一方，第三输送器83的复数个吸嘴可作变距调整位置，以一次于复数个测试座232取出复数个已测的电子元件，并移载至第二输送器82的收料承置器61收置，第三输送器83再于第二输送器82的供料承置器51取出复数个待测电子元件，并移载至承板22的复数个测试座232，测试装置20的驱动单元驱动承板22载送复数个具待测电子元件的测试座232由换料区41移入至测试区213而执行测试作业；第四输送器84为一搬盘器，以将第二输送器82的收料承置器61依测试结果，而搬移至收料装置60收置；中央控制装置以供控制及整合各装置作动，以执行自动化作业，达到提升作业效能的实用效益。

Claims (10)

1.一种模块化测试装置，其特征在于，包含：

承置单元：设有一载具；

测试单元：包含承板及复数个测试器，该承板能够移入/移出于该承置单元的该载具，该复数个测试器装配于该承板，以供承置及测试该复数个电子元件；

压接单元：包含框架及复数个压接器，该框架装配于该承置单元的该载具，该复数个压接器装配于该框架，以供压接该复数个测试器的该复数个电子元件。

2.如权利要求1所述的模块化测试装置，其特征在于，还包含一驱动单元，该驱动单元设有至少一驱动器，以驱动该测试单元位移。

3.如权利要求1所述的模块化测试装置，其特征在于，该测试单元的该承板与该承置单元的该载具间设有至少一滑轨组。

4.如权利要求1所述的模块化测试装置，其特征在于，该测试单元的该承板设有复数个支撑部件，该复数个支撑部件供承置支撑该复数个测试器。

5.如权利要求1所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接单元于该载具与该框架间设有至少一快拆器。

6.如权利要求1至5中任一项所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接单元的该压接器包含：

第一活动件；

第二活动件：沿作业轴线而与该第一活动件作相对配置；

作业件：装配于该第一活动件，以供压接电子元件；

驱动源：以供驱动该第一活动件及该第二活动件作反向位移；

作动具：装配于该第二活动件，以供该第二活动件驱动沿该作业轴线作反向位移；

限位件：设于该作动具，以于该限位件承挡受限时，而能够限位该作业件沿该作业轴线反向位移。

7.如权利要求6所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接器还包含调整结构，以供微调该作业件，该调整结构包含第一调整件及第二调整件，该第一调整件装配该框架，并设有第一浮接部，该第二调整件以供该作动具驱动位移，并设有第二浮接部，该第二浮接部与该第一浮接部作相互配合。

8.如权利要求6所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接器还包含至少一挡掣部件，该挡掣部件可设于该测试器、该承板或该框架，以供挡掣该限位件。

9.如权利要求6所述的模块化测试装置，其特征在于，该压接器还包含复归结构，该复归结构于该第一调整件设有盖板，该盖板与该作动具或该第二活动件间配置第一弹性件。

10.一种应用模块化测试装置的测试设备，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置于该机台，并设有至少一容纳待作业电子元件的供料承置器；

收料装置：配置于该机台，并设有至少一容纳已作业电子元件的收料承置器；

架体：配置于该机台，并设有复数层架置空间；

复数个如权利要求1所述的模块化测试装置：装配于该架体的该复数层架置空间；

输送装置：配置于该机台，并设有至少一第一输送器，以输送电子元件；

中央控制装置：以供控制及整合各装置作动。

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