CN113740604A - 多用阻抗测试治具 - Google Patents

Abstract

本发明公开了多用阻抗测试治具，包括框体、多个阻抗连接点以及导线，框体用于放置PCB板；多个阻抗连接点设置在框体上，并用于与PCB板的测试点电性连接，其中，多个阻抗连接点按预设规律分布，且多个阻抗连接点能够组合形成至少两种阻抗连接组，不同阻抗连接组所包括的阻抗连接点的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应；导线用于将阻抗连接点与测试机电性连接。本实施例中，由于多个阻抗连接点按照预设规律分布，且多个阻抗连接点能够组合成至少两种阻抗连接组，而不同的阻抗连接组的阻抗连接点的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应，从而本实施例中的多用阻抗测试治具至少能够用于测试两种类型的PCB板的阻抗，从而大大降低了成本。

Description

多用阻抗测试治具

技术领域

本发明涉及阻抗测试治具的技术领域，尤其涉及一种多用阻抗测试治具。

背景技术

为应对PCB板多元化的发展，以及品质的保障，对PCB板的阻抗的要求也越来越严格，所以不同的PCB板都需要去测试其阻抗是否合格，而不同类型的PCB板的阻抗也不一样，每一个类型的PCB板都需要制作一套阻抗测试治具来进行测试，而制作阻抗测试治具的材料非常昂贵，且制作的工时长，工艺相当复杂。

发明内容

鉴于以上问题，本发明提供一种多用阻抗测试治具，能够测试多种类型的PCB板的阻抗。

根据本发明的一方面，提供一种多用阻抗测试治具，包括：

框体，所述框体用于放置PCB板；

多个阻抗连接点，多个所述阻抗连接点设置在所述框体上，并用于与PCB板的测试点电性连接，其中，多个所述阻抗连接点按预设规律分布，且多个所述阻抗连接点能够组合形成至少两种阻抗连接组，不同所述阻抗连接组所包括的阻抗连接点的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应；以及

导线，所述导线用于将所述阻抗连接点与测试机电性连接。

进一步地，所述阻抗连接点具有36个，36个所述阻抗连接点按预设规律分布在所述框体上，且能够组合形成至少两种阻抗连接组。

进一步地，36个所述阻抗连接点均分为4组按预设规律分布的阻抗测试组，4组所述阻抗测试组分布在同一直线上，且沿该直线的某一方向将4组所述阻抗测试组依次定义为第一阻抗测试组、第二阻抗测试组、第三阻抗测试组和第四阻抗测试组，所述第一阻抗测试组和所述第二阻抗测试组按预设距离设置在所述框体上，所述第二阻抗测试组和所述第三阻抗测试组按预设距离设置在所述框体上，所述第三阻抗测试组和所述第四阻抗测试组按预设距离设置在所述框体上。

进一步地，所述第一阻抗测试组和所述第二阻抗测试组之间的距离为120-140mm，所述第二阻抗测试组和所述第三阻抗之间的距离为2-3mm，所述第三阻抗测试组和所述第四阻抗测试组之间的距离为120-140mm。

进一步地，所述第一阻抗测试组和所述第二阻抗测试组之间的距离为134.62mm，所述第二阻抗测试组和所述第三阻抗之间的距离为2.54mm，所述第三阻抗测试组和所述第四阻抗测试组之间的距离为134.62mm。

进一步地，每一所述阻抗测试组中的所述阻抗连接点均呈3X3矩形分布，且在矩形的长度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2-3mm，在矩形的宽度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2-3mm。

进一步地，每一所述阻抗测试组中，在矩形的长度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2.54mm，在矩形的宽度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2.54mm。

进一步地，所述框体包括上基板、下基板以及多个连接柱，多个所述连接柱的两端分别固定在所述上基板和所述下基板上，所述阻抗连接点设置在所述上基板上。

进一步地，所述阻抗连接点包括开设在所述上基板上的阻抗连接孔，所述阻抗连接孔用于与PCB板的测试点电性连接。

进一步地，所述阻抗连接点还包括安装在所述阻抗连接孔内的顶针，所述顶针与所述导线电性连接，所述顶针用于与所述PCB板的测试点电性连接。

实施本发明实施例，将至少具有如下有益效果：

本实施例中，多个阻抗连接点设置在框体上，阻抗连接点用于与PCB板的测试点电性连接，导线将阻抗连接点与测试机电性连接，从而能够测试PCB的阻抗，由于多个阻抗连接点按照预设规律分布，且多个阻抗连接点能够组合成至少两种阻抗连接组，而不同的阻抗连接组的阻抗连接点的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应，从而本实施例中的多用阻抗测试治具至少能够用于测试两种类型的PCB板的阻抗，从而大大降低了生产制造阻抗测试治具的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为一个实施例中的多用阻抗测试治具整体结构示意图；

图2为图1中的多用阻抗测试治具的部分结构示意图；

图中：100、框体；110、上基板；111、螺纹孔；120、下基板；130、连接柱；200、阻抗连接点；210、阻抗连接孔；220、顶针；230、阻抗测试组；231、第一阻抗测试组；232、第二阻抗测试组；233、第三阻抗测试组；234、第四阻抗测试组。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果所述特定姿态发生改变时，则所述方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本发明中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个所述特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

参照图1以及图2，本发明一实施例提供了一种多用阻抗测试治具，本实施例中的多用阻抗测试治具包括框体100、多个阻抗连接点200以及导线(图中未示出)，框体100用于放置PCB板，多个阻抗连接点200设置在框体100上，阻抗连接点200用于与PCB板的测试点电性连接，导线的一端与阻抗连接点200电性连接，导线的另一端与测试机电性连接，从而通过导线将阻抗连接点200与测试机电性连接，其中，多个阻抗连接点200按照预设规律分布设置在框体100上，且多个阻抗连接点200能够组合形成至少两种阻抗连接组，不同的阻抗连接组所包括的阻抗连接点200的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应，从而本实施例中的多用阻抗测试治具至少能够用于测试两种类型的PCB板的阻抗，从而大大降低了生产制造阻抗测试治具的成本。

需要说明的是，本实施例中的任意两个阻抗连接组可以包含相同的阻抗连接点200，即其中的某些阻抗连接点200可以用于组成不同的阻抗连接组，当然，本实施例中的任意两个阻抗连接组也可以是不包含相同的阻抗连接点200，即各阻抗连接组独立设置在框体100上。

另外需要明的是，不同的阻抗连接组所包括的阻抗连接点200的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应中的一一对应指的是，其中某种阻抗连接组所包括的阻抗连接点200的数量只能与其中一种PCB板的测试点的数量相同或为整数倍数关系。

参照图1以及图2，本实施例中的框体100包括上基板110、下基板120以及多个连接柱130，连接柱130的两端分别与上基板110和下基板120固定连接，当然也可以是可拆卸式连接，比如，连接柱130的两端分别与上基板110和下基板120螺纹连接，上基板110与下基板120通过连接柱130间隔设置，优选为上基板110与下基板120平行设置，本实施例中的阻抗连接点200设置在上基板110上，导线设置在上基板110与下基板120之间。需要说明的是，可以通过连接板替换连接柱130，通过连接板同样能够将上基板110与下基板120间隔设置。

参照图1以及图2，本实施例中，上基板110包括面板(图中未示出)、铜基板(图中未示出)以及铝板(图中未示出)，面板、铜基板以及铝板从上至下依次叠置，面板、铜基板以及铝板在同一位置处均开设有固定孔(图中未示出)，通过固定孔将面板、铜基板以及铝板固定在一起，具体地，固定孔开设有内螺纹。

参照图1以及图2，本实施例中的阻抗连接点200包括开设在上基板110上的阻抗连接孔210，阻抗连接孔210用于与PCB测试板的测试点电性连接，优选地，本实施例中的阻抗连接点200还包括顶针220，顶针220安装在阻抗连接孔210内，顶针220的一端延伸出阻抗连接孔210，并用于与PCB板的测试点电性连接，导线的一端与顶针220电性连接，具体地，导线的一端与顶针220的另一端电性连接，导线的另一端与测试机电性连接。

在某些实施例中，顶针220通过焊锡固定在针孔内，具体地，顶针220通过焊锡固定在铜基板上，导线的一端电性连接在铜基板上，导线的另一端电性连接在测试机上，本实施例中只需要少量的导线即可将阻抗连接点200与测试件电性连接，从而可以节省很多导线，也避免了导线之间的相互缠绕。

参照图1以及图2，本实施例中的阻抗连接点200具有36个，36个阻抗连接点200按预设规律分布在上基板110上，且能够组合形成至少两种阻抗连接组，以至少能够用于测试两种类型的PCB板的阻抗，具体地，在上基板110上按照预设规律开设36个阻抗连接孔210。

参照图1以及图2，本实施例中，将阻抗连接点200均分为4组阻抗测试组230，每一组阻抗测试组230均由9个阻抗连接点200组成，且每一阻抗测试组230中的9个阻抗连接点200均按照预设的规律分布在上基板110上，本实施例中的4组阻抗测试组230任意进行组合，至少能够组合形成两种阻抗连接组。

参照图1以及图2，本实施例中的每一组阻抗测试组230中的阻抗连接点200均呈3X3矩形分布，且在矩形的长度方向上，相邻两个阻抗连接点200之间的距离为2-3mm，在矩形的宽度方向上，相邻两个阻抗连接点200之间的距离为2-3mm。

优选地，每一组阻抗测试组230中，在矩形的长度方向上，相邻两个阻抗连接点200之间的距离为2.54mm，在矩形的宽度方向上，相邻两个阻抗连接点200之间的距离为2.54mm。

需要说明的是，相邻两个阻抗连接点200之间的距离是指相邻两个阻抗连接孔210的中心轴线之间的距离。

参照图1以及图2，本实施例中，4组阻抗测试组230呈直线分布，且沿该直线的某一方向，将4组阻抗测试组230依次定义为第一阻抗测试组231、第二阻抗测试组232、第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234，第一阻抗测试组231和第二阻抗测试组232按预设距离设置在上基板110上，第二阻抗测试组232和第三阻抗测试组233按预设距离设置在框上基板110上，第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234按预设距离设置在上基板110上。

需要说明的是，上述实施例中出现多个预设距离，但是不代表每一个预设距离所代表的距离是相同的，同样，上述实施例中的多个按预设规律分布也不代表按照同样的规律分布。

参照图1以及图2，本实施例中，第一阻抗测试组231和第二阻抗测试组232之间的距离为120-140mm，第二阻抗测试组232和第三阻抗之间的距离为2-3mm，第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234之间的距离为120-140mm。

优选地，第一阻抗测试组231和第二阻抗测试组232之间的距离为134.62mm，第二阻抗测试组232和第三阻抗之间的距离为2.54mm，第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234之间的距离为134.62mm。

参照图1以及图2，本实施例中的36个阻抗连接点200至少能够组合为以下5组阻抗连接组，具体如下：

第一组阻抗连接组由36个阻抗连接点200组成，具体地，第一组阻抗连接组通过第一阻抗测试组231、第二阻抗测试组232、第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234组合形成，第一阻抗连接组能够用于与测试点的数量为36个的PCB板配合测试。

第二组阻抗连接组由18个阻抗连接点200组成，具体地，第二组阻抗连接组通过第一阻抗测试组231和第二阻抗测试组232组合形成，或第二组阻抗连接组通过第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234组合形成，第二阻抗连接组能够用于与测试点的数量为18个的PCB板配合测试。

第三组阻抗连接组由27个阻抗连接点200组成，具体地，第三组阻抗连接组通过第一阻抗测试组231、第二阻抗测试组232和第三阻抗测试组233组合形成，或第三组阻抗连接组通过第二阻抗测试组232、第三阻抗测试组233和第四阻抗测试组234组合形成，第三阻抗连接组能够用于与测试点的数量为27个的PCB板配合测试。

第四组阻抗连接组由9个阻抗连接点200组成，具体地，第四组阻抗连接组通过第一阻抗测试组231或第二阻抗测试组232或第三阻抗测试组233或第四阻抗测试组234组合形成，第四阻抗连接组能够用于与测试点的数量为9个的PCB板配合测试。

第五组阻抗连接组由18个阻抗连接点200组成，具体地，第五组阻抗连接组通过第二阻抗测试组232和第三阻抗测试组233组合形成，第五阻抗连接组能够用于与测试点的数量为18个的PCB板配合测试，但是，第五组阻抗连接组与第二组阻抗连接组所能够测试的PCB的类型不同。

需要说明的是，本实施例中的多用阻抗测试治具不仅包括以上5组阻抗连接组，通过其它的配合方式还可以组合形成其它阻抗连接组，以用于测试其它类型的PCB板的阻抗。

在某些实施例中，4组由9个阻抗连接点200组成的阻抗测试组230沿直线均匀间隔分布。当然还可以是按照其它的方式进行分布4组阻抗测试组230，比如4组阻抗测试组230呈矩形分布。

在某些实施例中，上基板110上不仅设置有36个阻抗连接点200，还可以是其它的数量，比如45个阻抗连接点200，或27个阻抗连接点200。当然随着PCB板的技术进步，上基板110上还可以设置40个阻抗连接点200或其它数量的阻抗连接点200。

参照图1以及图2，本实施例中的上的框体100上开设有螺纹孔111，通过螺纹孔111以将框体100固定在测试机上，具体地，螺纹孔111开设在上基板110上。

本实施例中的多用阻抗测试治具还包括针脚(图中未示出)，针脚设置在框体100上，具体地，导线的一端与阻抗连接点200电性连接，导线的另一端与针脚电性连接；针脚与测试机电性连接。

以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.多用阻抗测试治具，其特征在于，包括：

框体，所述框体用于放置PCB板；

多个阻抗连接点，多个所述阻抗连接点设置在所述框体上，并用于与PCB板的测试点电性连接，其中，多个所述阻抗连接点按预设规律分布，且多个所述阻抗连接点能够组合形成至少两种阻抗连接组，不同所述阻抗连接组所包括的阻抗连接点的数量与不同类型的PCB板的测试点的数量一一对应；以及

导线，所述导线用于将所述阻抗连接点与测试机电性连接。

2.根据权利要求1所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，所述阻抗连接点具有36个，36个所述阻抗连接点按预设规律分布在所述框体上，且能够组合形成至少两种所述阻抗连接组。

3.根据权利要求2所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，36个所述阻抗连接点均分为4组按预设规律分布的阻抗测试组，4组所述阻抗测试组分布在同一直线上，且沿该直线的某一方向将4组所述阻抗测试组依次定义为第一阻抗测试组、第二阻抗测试组、第三阻抗测试组和第四阻抗测试组，所述第一阻抗测试组和所述第二阻抗测试组按预设距离设置在所述框体上，所述第二阻抗测试组和所述第三阻抗测试组按预设距离设置在所述框体上，所述第三阻抗测试组和所述第四阻抗测试组按预设距离设置在所述框体上。

4.根据权利要求3所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，所述第一阻抗测试组和所述第二阻抗测试组之间的距离为120-140mm，所述第二阻抗测试组和所述第三阻抗之间的距离为2-3mm，所述第三阻抗测试组和所述第四阻抗测试组之间的距离为120-140mm。

5.根据权利要求4所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，所述第一阻抗测试组和所述第二阻抗测试组之间的距离为134.62mm，所述第二阻抗测试组和所述第三阻抗之间的距离为2.54mm，所述第三阻抗测试组和所述第四阻抗测试组之间的距离为134.62mm。

6.根据权利要求3所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，每一所述阻抗测试组中的所述阻抗连接点均呈3X3矩形分布，且在矩形的长度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2-3mm，在矩形的宽度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2-3mm。

7.根据权利要求6所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，每一所述阻抗测试组中，在矩形的长度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2.54mm，在矩形的宽度方向上，相邻两个所述阻抗连接点之间的距离为2.54mm。

8.根据权利要求1-7中任一项所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，所述框体包括上基板、下基板以及多个连接柱，多个所述连接柱的两端分别固定在所述上基板和所述下基板上，所述阻抗连接点设置在所述上基板上。

9.根据权利要求8所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，所述阻抗连接点包括开设在所述上基板上的阻抗连接孔，所述阻抗连接孔用于与PCB板的测试点电性连接。

10.根据权利要求9所述的多用阻抗测试治具，其特征在于，所述阻抗连接点还包括安装在所述阻抗连接孔内的顶针，所述顶针与所述导线电性连接，所述顶针用于与所述PCB板的测试点电性连接。

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