CN113624137A - 电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质，该电芯检测方法包括：根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片；测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离；基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。能够解决目前电芯检测工艺中检测准确性低的问题。

Description

电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质

技术领域

本申请涉及电芯检测领域，具体而言，涉及一种电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前在叠片电芯的生产工艺中，常用不切断电芯隔膜连续堆叠的方式，在堆叠完成后对电芯进行激光切割，在切割后需要检测电芯的阴阳极片位置是否合格，但由于激光切割的影响，电芯隔膜会产生翘起、褶皱以及烧黑的情况，会对电芯检测造成影响，因此，在目前的电芯检测工艺中存在检测准确性低的问题。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种电芯检测方法、布光方法、装置、电子设备及存储介质，用以解决目前电芯检测工艺中检测准确性低的问题。

第一方面，本申请实施例提供一种电芯检测方法，包括：

根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片；

测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离；

基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。

在上述实现过程中，在采集到的第一图像数据中选取同角位的阳极片、隔膜或阴极片的边界计算阳极片与隔膜间的第一距离和阴极片与阳极片间的第二距离，能够从多个角位计算阳极片与隔膜之间以及阴极片与阳极片之间的距离，从而检测出电芯表层极片的位置是否合格，提升了电芯检测的准确性。

可选地，在所述根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据之前，所述方法包括：

抓取所述隔膜的两条相邻边；

基于所述隔膜的两条相邻边获取所述电芯的定位位置。

在上述实现过程中，通过抓取隔膜的两条相邻边对电芯进行定位，可以根据定位位置使摄像装置准确找到电芯每个角位的位置，使拍摄的第一图像数据更清晰，另外，在电芯检测时由于还需要对电芯打光，因此还可以根据定位位置调整光源，提高电芯检测的准确性。

可选地，所述方法还包括：

采用中孔面光源照射所述电芯，并获取所述电芯的第二图像数据；

基于所述第二图像数据检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片。

进一步地，所述电芯可以为异形电芯，针对所述电芯的异形部分，基于检验参数对比所述异形部分的所述第一图像数据，以检测所述表层极片的所述异形部分的位置是否合格，所述检验参数包括极性、对比度和忽略点中的至少两项。

在上述实现过程中，本申请实施例可以根据检测要求设置检验参数，在要求更高精度时可以设置三种参数，而在需求更高效率时可以设置任意两种参数，能够兼顾检测的精度与效率，提高了电芯检测的灵活性。通过对电芯进行第二次拍摄，能够检测出电芯的隔膜是否有翻折的情况，进一步提高电芯检测的准确性。

第二方面，本申请实施例提供一种电芯检测布光方法，包括：

在电芯周围分别设置至少两个条形光源，所述条形光源与所述电芯位于同一水平面；

设置点光源照射所述电芯，所述点光源在竖直方向上设置在所述电芯与摄像装置之间，所述点光源在水平方向上设置在所述摄像装置的视野之外，以在对所述电芯进行检测时，基于所述条形光源和所述点光源的照射，获取所述电芯的第一图像数据。

在上述实现过程中，条形光源打低角度可以提高光的兼容性，能够适用于热压不好或者边缘褶皱的电芯，而条形光源与电芯位于同一水平面可以凸显电芯边缘的轮廓特征，更清晰地呈现电芯的阴极片、阳极片和隔膜，从而能够降低隔膜对电芯检测的影响，提高电芯检测精度。通过点光源进行补光，也有利于电芯的异形部分的抓边分析，能够提高电芯检测精度。

可选地，所述方法还包括：

在所述摄像装置的镜头下方设置中孔面光源，所述摄像装置通过所述中孔面光源的通孔拍摄所述电芯，以在所述中孔面光源的照射下获取所述电芯的第二图像数据。

在上述实现过程中，通过额外设置中孔面光源能够有效检测出隔膜是否存在翻折的情况，即检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片，提高了检测的准确性。

可选地，所述条形光源和所述点光源的波长的范围为625-630埃，所述中孔面光源的色温的范围为4500-6500开尔文。

第三方面，本申请实施例还提供了一种电芯检测装置，包括：

第一图像获取模块，用于根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片。

测量模块，用于测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离。

判断模块，用于基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。

在上述实现过程中，在采集到的第一图像数据中选取同角位的阳极片、隔膜或阴极片的边界计算阳极片与隔膜间的第一距离和阴极片与阳极片间的第二距离，能够从多个角位计算阳极片与隔膜之间以及阴极片与阳极片之间的距离，从而检测出电芯表层极片的位置是否合格，提升了电芯检测的准确性。

可选地，电芯检测装置还可以包括定位模块，所述定位模块用于抓取所述隔膜的两条相邻边，并基于所述隔膜的两条相邻边获取所述电芯的定位位置。

在上述实现过程中，通过抓取隔膜的两条相邻边对电芯进行定位，可以根据定位位置使摄像装置准确找到电芯每个角位的位置，使拍摄的第一图像数据更清晰，另外，在电芯检测时由于还需要对电芯打光，因此还可以根据定位位置调整光源，提高电芯检测的准确性。

可选地，测量模块还可用于：

控制中孔面光源照射所述电芯，并获取所述电芯的第二图像数据；

基于所述第二图像数据检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片。

可选地，测量模块可具体用于：

针对所述电芯的异形部分，基于检验参数对比所述异形部分的所述第一图像数据，以检测所述阴极片的所述异形部分的位置是否合格，所述检验参数包括极性、对比度和忽略点中的至少两项。

在上述实现过程中，本申请实施例可以根据检测要求设置检验参数，在要求更高精度时可以设置三种参数，而在需求更高效率时可以设置任意两种参数，能够兼顾检测的精度与效率，提高了电芯检测的灵活性。通过对电芯进行第二次拍摄，能够检测出电芯的隔膜是否有翻折的情况，进一步提高电芯检测的准确性。

第四方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器读取并运行所述程序指令时，执行上述任一实现方式中的步骤。

第五方面，本申请实施例还提供了一种存储介质，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时，执行上述任一实现方式中的步骤。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的一种电芯检测方法的流程示意图；

图2为本申请实施例提供的一种定位电芯的步骤示意图；

图3为本申请实施例提供的一种检测隔膜是否翻折的步骤示意图；

图4为本申请实施例提供的一种检测角位示意图；

图5为本申请实施例提供的一种电芯检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。例如，附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的***、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现方式中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的***来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

请参看图1，图1为本申请实施例提供的一种电芯检测方法的流程示意图，该方法可以包括如下步骤：

在步骤S12中，根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片。

在步骤S13中，测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离。

在步骤S14中，基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。

其中，可以采用摄像装置获取电芯的第一图像数据，摄像装置可以是一个，通过一个摄像装置分别采取电芯多个角位的第一图像数据，摄像装置也可以是多个，多个摄像装置设置在电芯上方，同时采取电芯多个角位的第一图像数据，本申请实施例中的“角位”指代待检测电芯的边界部分，例如角位1可以指代电芯各部分的一条边线所处的位置。

示例性的，本申请实施例检测的电芯为叠片电芯，以AS表示阳极片与隔膜间的第一距离，以AC表示阴极片与阳极片间的第二距离，由于电芯的阳极片或阴极片在隔膜的下方，会存在拍摄不清的情况，因此在第一图像数据中从预设的至少两个角位选取多段间隔数据进行计算，以得到AS和AC的值，从而根据AS和AC的值判断待检测的叠片电芯是否合格。

在另一些实施例中，电芯也可以是由沿竖直方向堆叠的阳极片、隔膜和阴极片堆叠而成。

在上述步骤中，为了提高容错率而采取至少两个角位获取间隔数据。应当理解的是，在以下本申请实施例提供的施行步骤中选取11个角位对电芯进行检测仅仅是示意性的，在实际过程中选取角位的多少可以根据待检测电芯的形状而具体设置。由此可见，本申请实施例在采集到的第一图像数据中选取同角位的阳极片、隔膜或阴极片的边界计算阳极片与隔膜间的第一距离和阴极片与阳极片间的第二距离，能够从多个角位计算阳极片与隔膜之间以及阴极片与阳极片之间的距离，从而检测出电芯表层极片的位置是否合格，提升了电芯检测的准确性。

可选地，在步骤S12之前，本申请实施例提供一种定位电芯的实施步骤，请参看图2，图2为本申请实施例提供的一种定位电芯的步骤示意图，该步骤可以包括如下：

在步骤S111中，抓取所述隔膜的两条相邻边。

在步骤S112中，基于所述隔膜的两条相邻边获取所述电芯的定位位置。

其中，可以通过检测平台上的摄像装置对电芯进行预拍摄，对拍摄的图像进行识别，在检测的电芯为异形电芯时，可以抓取异形电芯的非异形部隔膜的边线，以及获取与该边线相邻的任一边线，以线段表示电芯的两条相邻边线，从而实现电芯定位。

由此可见，通过抓取隔膜的两条相邻边对电芯进行定位，可以根据定位位置使摄像装置准确找到电芯每个角位的位置，使拍摄的第一图像数据更清晰，另外，在电芯检测时由于还需要对电芯打光，因此还可以根据定位位置调整光源，提高电芯检测的准确性。

可选地，在步骤S14之后，本申请实施例提供一种检测隔膜是否翻折的实施步骤，请参看图3，图3为本申请实施例提供的一种检测隔膜是否翻折的步骤示意图，该步骤可以包括如下：

在步骤S31中，采用中孔面光源照射所述电芯，并获取所述电芯的第二图像数据。

在步骤S32中，基于所述第二图像数据检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片。

其中，中孔面光源可以是白光，摄像装置可以是黑白相机，可以采用黑白相机对待检测的电芯进行拍摄，提高电芯与背景的对比度，从而凸显出电芯边缘的轮廓特征。

进一步地，所述电芯可以为异形电芯，针对所述电芯的异形部分，基于检验参数对比所述异形部分的所述第一图像数据，以检测所述电芯表层极片的所述异形部分的位置是否合格，所述检验参数包括极性、对比度和忽略点中的至少两项。

由此可见，本申请实施例可以根据检测要求设置检验参数，在要求更高精度时可以设置三种参数，而在需求更高效率时可以设置任意两种参数，能够兼顾检测的精度与效率，提高了电芯检测的灵活性。通过对电芯进行第二次拍摄，能够检测出电芯的隔膜是否有翻折的情况，进一步提高电芯检测的准确性。

本申请实施例以异形电芯的检测为例进行说明，异形电芯存在异形部分，检测异形电芯是否合格，需要检测异形电芯的表层极片位置是否合格，以及检测隔膜下层的极片是否暴露。因此增加中孔面光源照射电芯，检测隔膜区域是否出现黑点，以此判断下层极片是否暴露。

本申请实施例中将检测台划分为四个图像获取区域，请参看图4，图4为本申请实施例提供的一种检测角位示意图，图中虚线矩形为对应的四个图像获取区域，在每个图像获取区域中的带有标号的正方形即为在图像获取区域设置的相机，实线封闭不规则图形为待检测的异形电芯，实线封闭不规则图形周围的数字代表对应的角位。

在每个图像获取区域上方设置一台相机，在检测台上设置有点光源、条形光源和中孔面光源，在所有相机拍摄后，根据预设的11个角位，可以在每个角位中选取三段间隔数据计算AS和AC的值，用最接近预设参数值的数据进行分析，在实际的检测过程中，表层极片和隔离膜效果都比较稳定，基本不会出现抓边错误的问题，因此主要检测的一条边就是下层极片，由于下层极片被隔离膜包裹，容易造成误判的情况，因此选取三段间隔数据进行分析，以结果最为预设标准值的线段进行判断。

同时针对角位11的异形部分，设置不同极性、不同对比度以及不同忽略点中的至少两项参数对角位11的间隔数据进行分析，本申请实施例中的异形部分以圆弧为例，在上述的实施例中，采取的参数可以根据实际情况具体选择，在要求更高的精准度时可以设置三项参数进行分析，而在要求更高的检测速度时，也可以仅采用三项参数中的任意两项进行分析。在实际的检测过程中，异形部分最常见的导致误判的原因是隔膜的翘起、褶皱或激光切割不良造成的隔膜烧黑的原因，因此可以对圆弧部分设置三种参数将阳极片的圆弧和阴极片的圆弧之间的距离进行对比，检测电芯是否合格。

在第一次拍摄后，打开中孔面光源，进行第二次拍摄获取第二图像数据，当隔膜有翻折的情况时，会在隔膜区域出现黑点，黑点即为暴露出的下层极片。

将两次获取的图像数据输入至处理终端，判断该电芯是否合格。

应当理解的是，本申请实施例提供的异形检测实施步骤仅仅是示意性的，在具体实施过程中，异形部分可以是其他种类的形状，不应当局限于本申请实施例中提出的形状。而相机的数量以及分布也可以根据实际情况具体设置，本申请的保护范围不应当局限于本申请所提供的实施例。

基于同一发明构思，本申请实施例提供一种电芯检测布光方法，包括：

在电芯周围分别设置至少两个条形光源，所述条形光源与所述电芯位于同一水平面。

设置点光源照射所述电芯，所述点光源在竖直方向上设置在所述电芯与摄像装置之间，所述点光源在水平方向上设置在所述摄像装置的视野之外，以在对所述电芯进行检测时，基于所述条形光源和所述点光源的照射，获取所述电芯的第一图像数据。

其中，本申请实施例以矩形的检测台为例，结合参看图4，可以在检测台的四条边上各设置一条形光源，条形光源打低角度，且安装位置与待检测电芯位于同一水平面，点光源可以设置在电芯的斜上方，可以对电芯的异形部分进行补光。条形光源和点光源均可以为红色光。

由此可见，条形光源打低角度可以提高光的兼容性，能够适用于热压不好或者边缘褶皱的电芯，而条形光源与电芯位于同一水平面可以凸显电芯边缘的轮廓特征，更清晰地呈现电芯的阴极片、阳极片和隔膜，从而能够降低隔膜对电芯检测的影响，提高电芯检测精度。通过点光源进行补光，也有利于电芯的异形部分的抓边分析，能够提高电芯检测精度。

可选地，所述方法还可以包括：

在所述摄像装置的镜头下方设置中孔面光源，所述摄像装置通过所述中孔面光源的通孔拍摄所述电芯，以在所述中孔面光源的照射下获取所述电芯的第二图像数据。

其中，电芯在加工时会进行激光切割，而激光切割会容易导致电芯隔膜出现翻折的情况，翻折后的电芯会导致电芯隔膜下层的极片裸露出来，影响电芯的质量。而采用面光源对电芯进行照射，若隔膜存在翻折的情况便会在图像的隔膜区域中出现黑点。

由此可见，通过额外设置中孔面光源能够有效检测出隔膜是否存在翻折的情况，即检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述下层极片，提高了检测的准确性。

进一步地，所述条形光源和所述点光源的波长的范围为625-630埃，所述中孔面光源的色温的范围为4500-6500开尔文。

其中，波长范围为625-630埃的光穿透性较好，可以穿透隔膜给阳极片打光，并且不要求相机配置，有较高实用性，而中孔面光源的色温在4500-6500开尔文时，采用黑白相机拍摄出的图像为正白光的颜色。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供一种电芯检测装置50，请参看图5，图5为本申请实施例提供的一种电芯检测装置的结构示意图，该电芯检测装置50可以包括：

第一图像获取模块51，用于根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片。

测量模块52，用于在测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离。

判断模块53，用于基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。

可选地，电芯检测装置50还可以包括定位模块，所述定位模块用于抓取所述隔膜的两条相邻边，并基于所述隔膜的两条相邻边获取所述电芯的定位位置。

可选地，测量模块52还可用于：

控制中孔面光源照射所述电芯，并获取所述电芯的第二图像数据；

基于所述第二图像数据检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片。

可选地，测量模块52可具体用于：

针对所述电芯的异形部分，基于检验参数对比所述异形部分的所述第一图像数据，以检测所述表层极片的所述异形部分的位置是否合格，所述检验参数包括极性、对比度和忽略点中的至少两项。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器读取并运行所述程序指令时，执行上述任一实现方式中的步骤。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种存储介质，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器读取并运行时，执行上述任一实现方式中的步骤。

所述存储介质可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)等各种可以存储程序代码的介质。其中，存储介质用于存储程序，所述处理器在接收到执行指令后，执行所述程序，本发明实施例任一实施例揭示的过程定义的电子终端所执行的方法可以应用于处理器中，或者由处理器实现。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。

可以替换的，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。

在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电芯检测方法，其特征在于，包括：

根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片；

测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离；

基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据之前，所述方法包括：

抓取所述隔膜的两条相邻边；

基于所述隔膜的两条相邻边获取所述电芯的定位位置。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采用中孔面光源照射所述电芯，并获取所述电芯的第二图像数据；

基于所述第二图像数据检测所述电芯的隔膜区域是否暴露出所述阳极片或所述阴极片。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电芯为异形电芯，所述方法还包括：

针对所述电芯的异形部分，基于检验参数对比所述异形部分的所述第一图像数据，以检测所述表层极片的所述异形部分的位置是否合格，所述检验参数包括极性、对比度和忽略点中的至少两项。

5.一种电芯检测布光方法，其特征在于，包括：

在电芯周围分别设置至少两个条形光源，所述条形光源与所述电芯位于同一水平面；

设置点光源照射所述电芯，所述点光源在竖直方向上设置在所述电芯与摄像装置之间，所述点光源在水平方向上设置在所述摄像装置的视野之外，以在对所述电芯进行检测时，基于所述条形光源和所述点光源的照射，获取所述电芯的第一图像数据。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述摄像装置的镜头下方设置中孔面光源，所述摄像装置通过所述中孔面光源的通孔拍摄所述电芯，以在所述中孔面光源的照射下获取所述电芯的第二图像数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述条形光源和所述点光源的波长的范围为625-630埃，所述中孔面光源的色温的范围为4500-6500开尔文。

8.一种电芯检测装置，其特征在于，包括：

第一图像获取模块，用于根据电芯的定位位置获取所述电芯至少两个角位的第一图像数据，所述电芯包括沿竖直方向堆叠的阴极片、隔膜和阳极片；

测量模块，用于测量所述阳极片和所述隔膜的同角位边缘在水平方向上的第一距离以及所述阴极片与所述阳极片的同角位边缘在水平方向上的第二距离；

判断模块，用于基于所述第一距离和/或所述第二距离检测所述电芯表层极片的位置是否合格。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器运行所述程序指令时，执行权利要求1-7中任一项所述方法中的步骤。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器运行时，执行权利要求1-7任一项所述方法中的步骤。

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