CN113269926A - 介质检测方法、装置、电子设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种介质检测方法、装置、电子设备和存储介质，方法包括：获取介质通过第一传感器花费的第一时间，获取介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，依据第一时间与第二时间确定滤波阈值，获取介质通过第二传感器时产生的检测信号，依据滤波阈值处理介质的检测信号。本发明实施例中，通过获取介质通过第一传感器花费的第一时间与介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，根据第一时间和第二时间，动态的调整滤波阈值，使滤波效果达到最大，消除由于孔洞导致的触发误报、处理异常等信息，减少了机芯的停机率和计数不准的问题。
Description
技术领域
本发明涉及金融检测技术领域，特别是涉及介质检测方法、装置、电子设备和存储介质。
背景技术
现有的薄片类介质处理装置在处理薄片类介质时，如果薄片类介质存在孔洞、残缺等质量问题，会导致对薄片类介质计数不准确或者出现错误报警，使得薄片类介质处理装置无法正常运行。
以现金自动存取款一体机为例，在顾客存入纸币的过程中，会对纸币进行检测，对检测出为不应交易的纸币退还给客户，对于检测为正常的纸币，在确定顾客存入的金额后，利用验钞部进行第二次检测，然后保存于钞箱中。
目前，存取款过程中纸币的计数都是通过各模块内的传感器来完成的，在第二次检测中，会设置一个固定的阈值，使传感器检测孔洞产生的触发信号无效掉，但是，这种方法只能处理一定直径内的孔洞，对于超出范围内的孔洞或不规则的孔洞并没有办法将它滤除掉，从而导致走钞过程中的计数不准或者导致报卡钞等错误。
发明内容
鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种介质检测方法和相应的一种介质处理装置、电子设备、存储介质。
为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种介质检测方法，应用于薄片类介质处理装置，所述薄片类介质处理装置包括第一传感器和第二传感器，所述方法包括：
获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间；
获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间；
依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值；
获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号；
依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
可选的，所述获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间，包括：
获取所述介质进入所述第一传感器的第一时间节点，以及所述介质离开所述第一传感器的第二时间节点；
根据所述第一时间节点与所述第二时间节点，计算所述介质通过所述第一传感器花费的所述第一时间。
可选的，所述获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间，包括：
获取所述下一介质进入所述第一传感器的第三时间节点；
根据所述第二时间节点与所述第三时间节点，计算所述介质离开所述第一传感器至所述下一介质进入所述第一传感器花费的所述第二时间。
可选的，所述依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值，包括：
判断所述第一时间是否小于所述第二时间；
若所述第一时间小于所述第二时间，将所述第一时间作为所述滤波阈值；
若所述第一时间大于或等于所述第二时间，将所述第二时间作为所述滤波阈值。
可选的，所述检测信号包括高电平信号和低电平信号，所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡，所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡，所述依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号，包括：
确定所述检测信号中的所述低电平信号持续的第三时间；
判断所述第三时间是否小于所述滤波阈值；
若所述第三时间小于所述滤波阈值，消除所述检测信号中的所述低电平信号；
若所述第三时间大于或等于所述滤波阈值，保留所述检测信号中的所述低电平信号。
可选的，所述薄片类介质处理装置还包括计数器，在所述依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号之后，还包括：
控制所述计数器，按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
可选的，所述薄片类介质处理装置为现金存款机、现金取款机、存取款一体机、票据机或者收发卡机。
本发明实施例公开了一种介质处理装置，所述介质处理装置包括第一传感器和第二传感器，包括：
第一时间获取模块，用于获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间；
第二时间获取模块，用于获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间；
滤波阈值确定模块，用于依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值；
检测信号获取模块，用于获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号；
检测信号处理模块，用于依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
可选的，所述第一时间获取模块，包括：
第一时间节点获取子模块，用于获取所述介质进入所述第一传感器的第一时间节点，以及所述介质离开所述第一传感器的第二时间节点；
第一时间计算子模块，用于根据所述第一时间节点与所述第二时间节点，计算所述介质通过所述第一传感器花费的所述第一时间。
可选的，所述第二时间获取模块，包括：
第二时间节点获取子模块，用于获取所述下一介质进入所述第一传感器的第三时间节点；
第二时间计算子模块，用于根据所述第二时间节点与所述第三时间节点，计算所述介质离开所述第一传感器至所述下一介质进入所述第一传感器花费的所述第二时间。
可选的，所述滤波阈值确定模块，包括：
第一时间判断子模块，用于判断所述第一时间是否小于所述第二时间；
第一滤波阈值确定子模块，用于若所述第一时间小于所述第二时间，将所述第一时间作为所述滤波阈值；
第二滤波阈值确定子模块，用于若所述第一时间大于或等于所述第二时间，将所述第二时间作为所述滤波阈值。
可选的，所述检测信号包括高电平信号和低电平信号，所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡，所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡，所述检测信号处理模块，包括：
第三时间确定子模块，用于确定所述检测信号中的所述低电平信号持续的第三时间；
第二时间判断子模块，用于判断所述第三时间是否小于所述滤波阈值；
信号消除子模块，用于若所述第三时间小于所述滤波阈值，消除所述检测信号中的所述低电平信号；
信号保留子模块，用于若所述第三时间大于或等于所述滤波阈值，保留所述检测信号中的所述低电平信号。
可选的，所述介质处理装置还包括计数器，在所述检测信号处理模块之后，还包括：
介质计数模块，用于控制所述计数器，按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
可选的，所述薄片类介质处理装置为现金存款机、现金取款机、存取款一体机、票据机或者收发卡机。
本发明实施例公开了一种电子设备，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的介质检测方法的步骤。
本发明实施例公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的介质检测方法的步骤。
本发明实施例包括以下优点：
在本发明实施例中，获取介质通过第一传感器花费的第一时间，获取介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，依据第一时间与第二时间确定滤波阈值，获取介质通过第二传感器时产生的检测信号，依据滤波阈值处理介质的检测信号。本发明实施例中，通过获取介质通过第一传感器花费的第一时间与介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，根据第一时间和第二时间，动态的调整滤波阈值，使滤波效果达到最大，消除由于孔洞导致的触发误报、处理异常等信息，减少了机芯的停机率和计数不准的问题。
附图说明
图1是本发明的一种介质检测方法实施例一的步骤流程图；
图2是本发明的一种介质检测方法实施例二的步骤流程图；
图3是本发明的一种传感器检测信号示意图；
图4是本发明的一种介质传输模型示意图；
图5是本发明的一种介质处理装置实施例三的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
参照图1，示出了本发明的一种介质检测方法实施例一的步骤流程图，本发明实施例具体可以包括如下步骤：
步骤101，获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间。
其中，介质为薄片类介质，包括纸币、卡片***等；
本发明实施例应用于薄片类介质处理装置，薄片类介质处理装置为现金存款机、现金取款机、存取款一体机、票据机或者收发卡机等，薄片类介质处理装置包括第一传感器和第二传感器，第一传感器与第二传感器为光电对射传感器，可以检测出通道中是否存在介质遮挡；介质通过薄片类介质处理装置过程由电机匀速带动，介质经过相同距离所花费的时间相同。
具体地，在介质通过第一传感器的过程中，获取介质从刚进入第一传感器到离开第一传感器所花费的第一时间，第一时间也为电机转动过程中经过介质宽度所花费的时间，介质的宽度由介质的面值决定，所以不同面值的介质通过第一传感器花费的第一时间均不相同。
步骤102，获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间。
具体地，获取介质刚离开第一传感器，直到下一张介质刚接触第一传感器的过程所花费的第二时间，第二时间也为电机转动过程中经过介质与下一张介质之间的距离所花费的时间。
步骤103，依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值。
具体地，在获取介质从刚进入第一传感器到离开第一传感器所花费的第一时间，与介质刚离开第一传感器，直到下一张介质刚接触第一传感器的过程所花费的第二时间后，根据第一时间与第二时间去确定滤波阈值。在实际应用中，因为介质面值不同，介质与介质之间的距离不同，导致每一张介质对应的第一时间与第二时间不同，因此需要不断的根据介质的类型(例如纸币的面值)和介质与下一张介质之间的距离，动态的调整滤波阈值。
步骤104，获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号。
具体地，在介质通过第一传感器后会接着经过第二传感器，在介质通过第二传感器的过程中，第二传感器会根据是否检测到通道中存在介质遮挡，生成检测信号，其中生成的检测信号包含因孔洞导致的干扰信号。
步骤105，依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
具体地，在依据第一时间与第二时间确定介质对应的滤波阈值，并获取介质通过第二传感器时产生的检测信号后，可依据滤波阈值对检测信号做滤波处理，滤除因孔洞导致的干扰信号。
在本发明实施例中，获取介质通过第一传感器花费的第一时间，获取介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，依据第一时间与第二时间确定滤波阈值，获取介质通过第二传感器时产生的检测信号，依据滤波阈值处理介质的检测信号。本发明实施例中，通过获取介质通过第一传感器花费的第一时间与介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，根据第一时间和第二时间，动态的调整滤波阈值，使滤波效果达到最大，消除由于孔洞导致的触发误报、处理异常等信息，减少了机芯的停机率和计数不准的问题。
参照图2，示出了本发明的一种介质检测方法实施例二的步骤流程图，本发明实施例具体可以包括如下步骤：
步骤201，获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间。
在本发明一实施例中，所述步骤201，包括：获取所述介质进入所述第一传感器的第一时间节点，以及所述介质离开所述第一传感器的第二时间节点；根据所述第一时间节点与所述第二时间节点，计算所述介质通过所述第一传感器花费的所述第一时间。参照图3，为本发明的一种传感器检测信号示意图，如图可见，在第二传感检测到存在介质遮挡变为无介质遮挡的瞬间，会触发一个下降沿，将高电平信号转变为低电平信号，在第二传感器检测到无介质遮挡变为有介质遮挡的瞬间，会触发一个上升沿，将低电平信号转变为高电平信号。
其中，在介质进入第一传感器的瞬间，第一传感器会检测到存在介质遮挡，检测生成的信号会触发一个上升沿，该上升沿的时间节点即为第一时间节点，在介质离开第一传感器的瞬间，第一传感器会检测到存在介质遮挡变为无介质遮挡，检测生成的信号会触发一个下降沿，该下降沿的时间节点即为第二时间节点。
具体地，在介质通过第一传感器的过程中，获取介质刚进入第一传感器的第一时间节点，介质刚离开第一传感器的第二时间节点，计算第一时间节点与第二时间节点的差值，得到介质通过第一传感器所花费的第一时间。
步骤202，获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间。
在本发明一实施例中，所述步骤202，包括：获取所述下一介质进入所述第一传感器的第三时间节点；根据所述第二时间节点与所述第三时间节点，计算所述介质离开所述第一传感器至所述下一介质进入所述第一传感器花费的所述第二时间。
其中，在下一张介质刚进入第一传感器的瞬间，第一传感器会检测到存在介质遮挡，检测生成的信号会触发一个上升沿，该上升沿的时间节点即为第三时间节点。
具体地，在获取到介质离开第一传感器的第二时间节点，与下一介质刚进入第一传感器的第三时间节点后，计算第二时间节点与第三时间节点的差值，得到介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间。
步骤203，判断所述第一时间是否小于所述第二时间。
具体地，在获取介质从刚进入第一传感器到离开第一传感器所花费的第一时间，与介质刚离开第一传感器，直到下一张介质刚接触第一传感器的过程所花费的第二时间后，对第一时间与第二时间进行比较，判断第一时间是否小于第二时间。
步骤204，若所述第一时间小于所述第二时间，将所述第一时间作为所述滤波阈值。
具体地，在对第一时间与第二时间进行比较，判断第一时间是否小于第二时间，若第一时间小于第二时间，将第一时间作为滤波阈值。
步骤205，若所述第一时间大于或等于所述第二时间，将所述第二时间作为所述滤波阈值。
具体地，在对第一时间与第二时间进行比较，判断第一时间是否小于第二时间，若第一时间大于或等于第二时间，将第二时间作为滤波阈值。
步骤206，获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号。
步骤207，依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
在本发明一实施例中，所述步骤207，包括：确定所述检测信号中的所述低电平信号持续的第三时间；判断所述第三时间是否小于所述滤波阈值；若所述第三时间小于所述滤波阈值，消除所述检测信号中的所述低电平信号；若所述第三时间大于或等于所述滤波阈值，保留所述检测信号中的所述低电平信号。
其中，检测信号包括高电平信号和低电平信号，高电平信号用于表征第二传感器有介质遮挡，低电平信号用于表征第二传感器无介质遮挡。
具体地，确定检测信号中处于无介质遮挡的低电平信号的持续时间，即第三时间，将第三时间与滤波阈值进行比较，判断第三时间是否小于滤波阈值，若第三时间小于滤波阈值，表明该低电平信号为第二传感器检测孔洞产生，消除检测信号中的该低电平信号，滤除由于孔洞导致的干扰信号，若第三时间大于或等于滤波阈值，符合要求，保留该低电平信号。
在本发明一实施例中，所述薄片类介质处理装置包括计数器，在所述依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号之后，还包括：控制所述计数器，按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
具体地，在依据滤波阈值对第二传感器检测到的检测信号进行处理后，通过控制薄片类介质处理装置中的计数器，按照处理后的检测信号对介质进行计数，例如检测信号中存在一段高电平信号则确定为一张介质通过。
在本发明实施例中，获取介质通过第一传感器花费的第一时间，获取介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，判断第一时间是否小于第二时间，若第一时间小于第二时间，将第一时间作为滤波阈值，若第一时间大于或等于第二时间，将第二时间作为滤波阈值，获取介质通过第二传感器时产生的检测信号，依据滤波阈值处理介质的检测信号。本发明实施例中，通过获取介质通过第一传感器花费的第一时间与介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，并比较第一时间与第二时间，选取其中较短的时间作为滤波阈值，使传感器的滤波能够更准确和有效，消除由于孔洞导致的触发误报、处理异常等信息，减少了机芯的停机率和计数不准的问题。
为使本领域技术人员更好地理解本发明实施例，参照图4，通过一个示例来进一步说明本发明实施例。
如图4所示，介质进入和离开第一传感器时总共会产生一对触发时间，触发时间设定如下：
T1：为介质的进入(上升沿)触发时间；
T2：为介质的离开(下降沿)触发时间；
下一介质进入第一传感器也会产生一次触发时间，触发时间设定如下：
T3：为下一介质的进入(上升沿)触发时间；
通过介质的进入第一传感器时间T1和离开第一传感器时间T2可以获取介质的宽度W(第一时间)：
W＝T2-T1；
通过介质在第一节点的离开时间T1和下一介质在第一节点的进入时间T3计算得到两张介质的介质间距BD(第二时间)：
BD＝T3-T2；
介质可能会存在孔洞，但是孔洞的大小绝对不会超过介质的宽度W和介质之间的距离BD，所以根据介质的宽度W和介质之间的距离BD去确定第二传感器的滤波阈值L，L应满足以下条件：
L<W；
L<BD；
通过比较取满足两个条件的值，得到即将设定到MCU的滤波阈值L，在主控层(上层)将L通过设计的协议下发到MCU，使MCU在根据此设定值进行滤波，设计的通信协议如下：
表1通信协议表：
表2参数说明表：
通过设定在MCU的滤波阈值L，在第二传感器消除由介质孔洞产生的低电平信号(干扰信号)。
在本发明实施例中，实际的介质运行过程，是不断的计算介质的宽度(第一时间)和介质之间的距离(第二时间)，设置不同的滤波阈值L，使传感器的滤波能够更准确和有效，能够达到最大的容错性，消除由于孔洞导致的触发误报、处理异常等信息，减少了机芯的停机率和计数不准的问题。
需要说明的是，对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
参照图5，示出了本发明的一种介质处理装置实施例三的结构框图，所述介质处理装置包括第一传感器和第二传感器，具体可以包括如下模块：
第一时间获取模块501，用于获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间；
第二时间获取模块502，用于获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间；
滤波阈值确定模块503，用于依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值；
检测信号获取模块504，用于获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号；
检测信号处理模块505，用于依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
在本发明一实施例中，所述第一时间获取模块501，包括：
第一时间节点获取子模块，用于获取所述介质进入所述第一传感器的第一时间节点，以及所述介质离开所述第一传感器的第二时间节点；
第一时间计算子模块，用于根据所述第一时间节点与所述第二时间节点，计算所述介质通过所述第一传感器花费的所述第一时间。
在本发明一实施例中，所述第二时间获取模块502，包括：
第二时间节点获取子模块，用于获取所述下一介质进入所述第一传感器的第三时间节点；
第二时间计算子模块，用于根据所述第二时间节点与所述第三时间节点，计算所述介质离开所述第一传感器至所述下一介质进入所述第一传感器花费的所述第二时间。
在本发明一实施例中，所述滤波阈值确定模块503，包括：
第一时间判断子模块，用于判断所述第一时间是否小于所述第二时间；
第一滤波阈值确定子模块，用于若所述第一时间小于所述第二时间，将所述第一时间作为所述滤波阈值；
第二滤波阈值确定子模块，用于若所述第一时间大于或等于所述第二时间，将所述第二时间作为所述滤波阈值。
在本发明一实施例中，所述检测信号包括高电平信号和低电平信号，所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡，所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡，所述检测信号处理模块505，包括：
第三时间确定子模块，用于确定所述检测信号中的所述低电平信号持续的第三时间；
第二时间判断子模块，用于判断所述第三时间是否小于所述滤波阈值；
信号消除子模块，用于若所述第三时间小于所述滤波阈值，消除所述检测信号中的所述低电平信号；
信号保留子模块，用于若所述第三时间大于或等于所述滤波阈值，保留所述检测信号中的所述低电平信号。
在本发明一实施例中，所述介质处理装置包括计数器，在所述检测信号处理模块505之后，还包括：
介质计数模块，用于控制所述计数器，按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
在本发明一实施例中，所述薄片类介质处理装置为现金存款机、现金取款机、存取款一体机、票据机或者收发卡机。
在本发明实施例中，获取介质通过第一传感器花费的第一时间，获取介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，依据第一时间与第二时间确定滤波阈值，获取介质通过第二传感器时产生的检测信号，依据滤波阈值处理介质的检测信号。本发明实施例中，通过获取介质通过第一传感器花费的第一时间与介质离开第一传感器至下一介质进入第一传感器花费的第二时间，根据第一时间和第二时间，动态的调整滤波阈值，使滤波效果达到最大，消除由于孔洞导致的触发误报、处理异常等信息，减少了机芯的停机率和计数不准的问题。
对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本发明实施例公开了一种电子设备，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上介质检测方法实施例所述的步骤。
本发明实施例公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上介质检测方法实施例所述的步骤。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种介质检测方法、一种介质处理装置、电子设备和存储介质，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种介质检测方法，其特征在于，应用于薄片类介质处理装置，所述薄片类介质处理装置包括第一传感器和第二传感器，所述方法包括：
获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间；
获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间；
依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值；
获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号；
依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间，包括：
获取所述介质进入所述第一传感器的第一时间节点，以及所述介质离开所述第一传感器的第二时间节点；
根据所述第一时间节点与所述第二时间节点，计算所述介质通过所述第一传感器花费的所述第一时间。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间，包括：
获取所述下一介质进入所述第一传感器的第三时间节点；
根据所述第二时间节点与所述第三时间节点，计算所述介质离开所述第一传感器至所述下一介质进入所述第一传感器花费的所述第二时间。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值，包括：
判断所述第一时间是否小于所述第二时间；
若所述第一时间小于所述第二时间，将所述第一时间作为所述滤波阈值；
若所述第一时间大于或等于所述第二时间，将所述第二时间作为所述滤波阈值。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测信号包括高电平信号和低电平信号，所述高电平信号用于表征所述第二传感器有介质遮挡，所述低电平信号用于表征所述第二传感器无介质遮挡，所述依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号，包括：
确定所述检测信号中的所述低电平信号持续的第三时间；
判断所述第三时间是否小于所述滤波阈值；
若所述第三时间小于所述滤波阈值，消除所述检测信号中的所述低电平信号；
若所述第三时间大于或等于所述滤波阈值，保留所述检测信号中的所述低电平信号。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述薄片类介质处理装置还包括计数器，在所述依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号之后，还包括：
控制所述计数器，按照处理后的所述检测信号对所述介质进行计数。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，所述薄片类介质处理装置为现金存款机、现金取款机、存取款一体机、票据机或者收发卡机。
8.一种介质处理装置，其特征在于，所述介质处理装置包括第一传感器和第二传感器，所述装置包括：
第一时间获取模块，用于获取所述介质通过所述第一传感器花费的第一时间；
第二时间获取模块，用于获取所述介质离开所述第一传感器至下一介质进入所述第一传感器花费的第二时间；
滤波阈值确定模块，用于依据所述第一时间与所述第二时间确定滤波阈值；
检测信号获取模块，用于获取所述介质通过所述第二传感器时产生的检测信号；
检测信号处理模块，用于依据所述滤波阈值处理所述介质的检测信号。
9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的介质检测方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的介质检测方法的步骤。
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