CN112162187A - 一种信号测试*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种信号测试***,本申请中的转接MXM接口以及连接线可以顺利地将待测MXM接口中的各信号一一对应的连接至连接器,而信号获取装置通过与连接器连接便可以通过连接器获取待测MXM接口输出的待测PCIe信号,从而可以实现对待测PCIe信号的信号质量的测试,能够及时发现PCIe信号的信号质量问题,确保待测***PCIe链路的信号完整性,保障了图形处理器的正常使用。
Description
技术领域
本发明涉及信号测试领域,特别是涉及一种信号测试***。
背景技术
MXM(Mobile PCI-Express Module,图形处理器专用PCIe信号接口)接口是基于PCIe(Peripheral Component Interconnect express,高速串行计算机扩展总线)界面的,专为图形处理器设计的设备接口,主板上的MXM接口中的PCIe信号的信号质量可能因为多种原因出现问题,但是现有技术中没有一种成熟的信号测试***可以实现对于MXM接口中的PCIe信号的信号质量的测试,从而无法及时地发现PCIe信号的信号质量问题,影响了图形处理器的正常使用。
因此,如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种信号测试***,可以实现对待测PCIe信号的信号质量的测试,能够及时发现PCIe信号的信号质量问题,确保待测***PCIe链路的信号完整性,保障了图形处理器的正常使用。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种信号测试***,包括:
第一端悬空的转接图形处理器专用PCIe信号接口MXM接口,用于与待测主板上的待测MXM接口接连;
第一端与所述转接MXM接口的第二端连接,第二端与连接器连接的连接线,用于将所述待测MXM接口中的各信号一一对应地连接至所述连接器;
多个所述连接器,用于分别提供与自身对应的所述待测MXM接口中的信号通道的连接端口;
与所述连接器连接的信号获取装置,用于获取所述待测MXM接口输出的待测PCIe信号,以便对所述待测高速串行计算机扩展总线PCIe信号进行测试。
优选地,该信号测试***还包括:
用于与指定的信号接收通道对应的连接器连接的码型切换装置,用于通过其发送码型切换信号至指定的所述信号接收通道,以便待测主板通过与所述信号接收通道对应的待测信号发送通道输出指定码型的待测PCIe信号;
则所述信号获取装置分别与待测信号发送通道对应的所述连接器以及时钟信号通道对应的所述连接器连接,用于获取所述待测信号发送通道输出指定码型的待测PCIe信号,以便对所述待测PCIe信号进行测试。
优选地,该信号测试***还包括:
与所述信号获取装置连接的处理装置,用于采用预设分析软件对所述待测PCIe信号的波形进行分析,以便得出对于所述待测PCIe信号的信号质量测试结果。
优选地,该信号测试***还包括:
与所述处理装置连接的存储器,用于存储所述待测PCIe信号的波形。
优选地,该信号测试***还包括:
与所述处理装置连接的提示器,用于在所述处理装置的控制下提示所述信号质量测试结果。
优选地,所述信号获取装置、所述处理装置、所述存储器以及所述提示器组成的整体为示波器。
优选地,所述预设分析软件为Sigtest。
优选地,所述连接器为SMP连接器或者SMA连接器。
优选地,所述码型切换装置为普通逻辑板CLB板。
本发明提供了一种信号测试***,本申请中的转接MXM接口以及连接线可以顺利地将待测MXM接口中的各信号一一对应的连接至连接器,而信号获取装置通过与连接器连接便可以通过连接器获取待测MXM接口输出的待测PCIe信号,从而可以实现对待测PCIe信号的信号质量的测试,能够及时发现PCIe信号的信号质量问题,确保待测***PCIe链路的信号完整性,保障了图形处理器的正常使用。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种信号测试***的结构示意图;
图2为本发明提供的一种连接器分布示意图;
图3为本发明提供的另一种信号测试***的结构示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种信号测试***,可以实现对待测PCIe信号的信号质量的测试,能够及时发现PCIe信号的信号质量问题,确保待测***PCIe链路的信号完整性,保障了图形处理器的正常使用。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参考图1,图1为本发明提供的一种信号测试***的结构示意图,该信号测试***包括:
第一端悬空的转接图形处理器专用PCIe信号接口MXM接口1,用于与待测主板上的待测MXM接口接连;
第一端与转接MXM接口1的第二端连接,第二端与连接器3连接的连接线2,用于将待测MXM接口中的各信号一一对应地连接至连接器3;
多个连接器3,用于分别提供与自身对应的待测MXM接口中的信号通道的连接端口;
与连接器3连接的信号获取装置4,用于获取待测MXM接口输出的待测PCIe信号,以便对待测高速串行计算机扩展总线PCIe信号进行测试。
具体的,考虑到如上背景技术中的技术问题,又考虑到不同于常规的PCIe接口,MXM接口的形状比较特殊,该特殊的形状可以起到缩小图形处理器体积的效果,但是同时也带来了采用常规的测试***无法对MXM接口中的PCIe信号进行测试的难题,因此本发明实施例中的信号测试***首先包括一个转接MXM接口1,其实就是用于转接的一个MXM接口,其可以与待测MXM接口连接,其作用是可以直接与待测MXM接口之间形成数据连接通路,然后由于转接MXM接口1接线比较方便,因此可以通过连接线2将转接MXM接口1与连接器3连接起来,以实现将待测MXM接口中的各信号一一对应地连接至连接器3的目的,如此一来,每个连接器3便相当于提供了与自身对应的信号通道的连接端口,通过与指定连接器3连接便可以获取该连接器3对应信号通道中的信号,因此可以通过信号获取装置4从连接器3端获取待测MXM接口输出的待测PCIe信号,以便对待测高速串行计算机扩展总线PCIe信号进行测试。
其中,本申请中的信号测试***的制造步骤可以包括原理图设计、信号完整性仿真、Layout布线设计、打板、测试验证、应用六个部分,由于本申请中信号测试***的用途是用来测试,那么首先要保证信号在治具上传输不会对信号产生影响,根据PCIe相关规范要求,此治具信号线的衰减不得大于2dB,为实现此目的,我们要从板材、走线宽度、走线距离、阻抗要求等方面进行严格的仿真,从而制定出合理的布线规则。
具体的,可以根据仿真结果指定合理的布线规则并严格按照布局规则进行布线设计,在Layout布线设计完成后由PCB厂商进行打板,打板完成后可以进行阻抗、Loss等测试,确保治具满足规范和设计要求。最后可以将信号测试***通过上述转接MXM接口1与待测设备连接,通过SMA-SMP线缆与示波器连接,连接完成后开展测试。
具体的,为了更好地对本发明实施例进行说明,请参考图2,图2为本发明提供的一种连接器3分布示意图,如图2所示,本申请中的各个连接器3对应的信号通道主要包括信号输出通道、信号接收通道以及时钟信号通道三部分,由于图2中所示出的是对于X16通道的待测MXM接口的测试,图2中的信号输出通道为16组(图2中的Tx通道),信号接收通道也为16组(图2中的Rx通道),时钟信号通道为一组(CLK通道),由于本申请中可以通过连接器3(例如SMP连接器)将PCIe信号引出,在信号传输路径上除了连接器3不需要加任何其他器件,以保证引出信号的真实性。
具体的,连接线2实际上可以为多条,每一条连接线2可以负责将转接MXM接口1中的一条信号通道对应的连接至一个连接器3上,其形式可以为多种类型,例如可以为PCB电路板上的走线形式,其布线方式可以为多种类型,本发明实施例在此不做限定。
具体的,本发明实施例中的信号测试***中,连接器3可以将待测MXM接口中的PCIe信号接口提供至信号获取装置4,连接器3与信号获取装置4之间可以通过多种类型的线缆连接,例如可以通过SMP-SMA线缆连接,符合相关测试标准。
其中,待测MXM接口可以为多种通道数量的MXM接口,例如可以为X16通道的MXM接口等,其中可以包含16组信号输入通道以及16组信号输出通道等,本发明实施例在此不做限定。
本发明提供了一种信号测试***,本申请中的转接MXM接口以及连接线可以顺利地将待测MXM接口中的各信号一一对应的连接至连接器,而信号获取装置通过与连接器连接便可以通过连接器获取待测MXM接口输出的待测PCIe信号,从而可以实现对待测PCIe信号的信号质量的测试,能够及时发现PCIe信号的信号质量问题,确保待测***PCIe链路的信号完整性,保障了图形处理器的正常使用。
为了更好地对本发明实施例进行说明,请参考图3,图3为本发明提供的另一种信号测试***的结构示意图,在上述实施例的基础上:
作为一种优选的实施例,该信号测试***还包括:
用于与指定的信号接收通道对应的连接器3连接的码型切换装置5,用于通过其发送码型切换信号至指定的信号接收通道,以便待测主板通过与信号接收通道对应的待测信号发送通道输出指定码型的待测PCIe信号;
则信号获取装置4分别与待测信号发送通道对应的连接器3以及时钟信号通道对应的连接器3连接,用于获取待测信号发送通道输出指定码型的待测PCIe信号,以便对待测PCIe信号进行测试。
具体的,对待测MXM接口的信号测试实际上是对待测MXM接口中的每一组信号输出通道输出的PCIe信号的测试,在本发明实施例中可以对每一组信号输出通道的多个速率级别分别进行测试,而每一个速率级别下的信号码型不同,因此可以通过码型切换装置5来控制待测MXM接口切换输出信号的码型,从而完成对于信号输出通道的不同速率级别的PCIe信号的测试。
其中,速率级别可以有多种,例如可以包括1.0、2.0、以及3.0速率等,而通常情况1.0速率级别中的码型有一种,2.0速率级别中的码型有两种,3.0速率级别中的码型有多种,但是在测试时对于3.0速率级别可以仅需对preset 7这一种码型进行测试,本发明实施例在此不做限定。
值得一提的是,在具体进行测试的时候,每次可以针对其中的一组信号输出通道输出的PCIe信号进行测试,例如在对图2中的Tx0+以及Tx0-这组信号输出通道输出的PCIe信号进行测试的时候,可以将信号获取装置4与图2中的Tx0+以及Tx0-这组连接器3以及CLK+以及CLK-这组连接器3连接,并将码型切换装置5与Rx0+或者Rx0-连接器3连接即可。
作为一种优选的实施例,该信号测试***还包括:
与信号获取装置4连接的处理装置,用于采用预设分析软件对待测PCIe信号的波形进行分析,以便得出对于待测PCIe信号的信号质量测试结果。
具体的,为了便于快速对待测PCIe信号的信号质量进行检测,本发明实施例中可以通过处理装置,采用预设分析软件对待测PCIe信号的波形进行分析,以便得出对于待测PCIe信号的信号质量测试结果,这种方式可以第一时间对采集到的PCIe信号进行智能处理,提高了测试结果的得出速度,增加了测试效率。
作为一种优选的实施例,该信号测试***还包括:
与处理装置连接的存储器,用于存储待测PCIe信号的波形。
具体的,为了便于工作人员在需要的时候调取PCIe信号的波形,本发明实施例中设置了存储器对于待测PCIe信号的波形进行存储,如此一来工作人员在需要的时候便可以直接调取某次对于待测MXM接口的信号测试过程中的波形数据并进行相关分析。
作为一种优选的实施例,该信号测试***还包括:
与处理装置连接的提示器,用于在处理装置的控制下提示信号质量测试结果。
具体的,为了便于工作人员快速得知信号质量测试结果,本申请中可以通过提示器在第一时间对信号质量测试结果进行提示,如此一来工作人员无需主动去获取信号质量测试结果然后进行查看,提高了工作效率。
当然,也可以通过提示器对波形进行提示,便于工作人员实时查看波形进行人工分析等。
作为一种优选的实施例,信号获取装置4、处理装置、存储器以及提示器组成的整体为示波器。
具体的,示波器具有功能强大、准确性高以及稳定性强等优点。
当然,除了示波器外,信号获取装置4、处理装置、存储器以及提示器分别还可以为其他具体类型,本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例,预设分析软件为Sigtest。
具体的,Sigtest具有准确性高、稳定性强以及处理速度快等优点。
当然,除了Sigtest外,预设分析软件还可以为其他多种类型,本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例,连接器3为SMP连接器或者SMA连接器。
具体的,SMP连接器以及SMA连接器均具有体积小、结构简单以及成本低等优点。
当然,除了SMP连接器或者SMA连接器外,连接器3还可以为其他多种类型,本发明实施例在此不做限定。
作为一种优选的实施例,码型切换装置5为CLB(Common Logic Board,普通逻辑板)板。
具体的,考虑到通过常规PCIe接口的测试治具CLB板本身就可以进行码型切换信号的发送,因此本申请可以采用CLB板作为码型切换装置5,使用起来方便快捷,无需通过计算机等设备进行码型切换信号的发送,提高了工作效率。
其中,CLB板在与连接器3进行连接的时候,可以通过自身的J85连接器3与信号测试***中的连接器3连接。
当然,除了CLB板外,码型切换装置5还可以为其他多种类型,本发明实施例在此不做限定。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其他实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (9)
1.一种信号测试***,其特征在于,包括:
第一端悬空的转接图形处理器专用PCIe信号接口MXM接口,用于与待测主板上的待测MXM接口接连;
第一端与所述转接MXM接口的第二端连接,第二端与连接器连接的连接线,用于将所述待测MXM接口中的各信号一一对应地连接至所述连接器;
多个所述连接器,用于分别提供与自身对应的所述待测MXM接口中的信号通道的连接端口;
与所述连接器连接的信号获取装置,用于获取所述待测MXM接口输出的待测PCIe信号,以便对所述待测高速串行计算机扩展总线PCIe信号进行测试。
2.根据权利要求1所述的信号测试***,其特征在于,该信号测试***还包括:
用于与指定的信号接收通道对应的连接器连接的码型切换装置,用于通过其发送码型切换信号至指定的所述信号接收通道,以便待测主板通过与所述信号接收通道对应的待测信号发送通道输出指定码型的待测PCIe信号;
则所述信号获取装置分别与待测信号发送通道对应的所述连接器以及时钟信号通道对应的所述连接器连接,用于获取所述待测信号发送通道输出指定码型的待测PCIe信号,以便对所述待测PCIe信号进行测试。
3.根据权利要求2所述的信号测试***,其特征在于,该信号测试***还包括:
与所述信号获取装置连接的处理装置,用于采用预设分析软件对所述待测PCIe信号的波形进行分析,以便得出对于所述待测PCIe信号的信号质量测试结果。
4.根据权利要求3所述的信号测试***,其特征在于,该信号测试***还包括:
与所述处理装置连接的存储器,用于存储所述待测PCIe信号的波形。
5.根据权利要求4所述的信号测试***,其特征在于,该信号测试***还包括:
与所述处理装置连接的提示器,用于在所述处理装置的控制下提示所述信号质量测试结果。
6.根据权利要求5所述的信号测试***,其特征在于,所述信号获取装置、所述处理装置、所述存储器以及所述提示器组成的整体为示波器。
7.根据权利要求4所述的信号测试***,其特征在于,所述预设分析软件为Sigtest。
8.根据权利要求2所述的信号测试***,其特征在于,所述连接器为SMP连接器或者SMA连接器。
9.根据权利要求2至8任一项所述的信号测试***,其特征在于,所述码型切换装置为普通逻辑板CLB板。
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---|---|
CN (1) | CN112162187A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113014339A (zh) * | 2021-02-20 | 2021-06-22 | 山东英信计算机技术有限公司 | PCIe外插卡接收通道的质量测试方法、装置及设备 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102043748A (zh) * | 2009-10-13 | 2011-05-04 | 无锡江南计算技术研究所 | PCIe测试平台 |
CN105045697A (zh) * | 2015-06-24 | 2015-11-11 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种pcie信号完整性测试***和方法 |
CN206193764U (zh) * | 2016-10-09 | 2017-05-24 | 西安鼎控工业智能技术有限公司 | 一种cpu模块功能测试主板 |
CN107145416A (zh) * | 2017-05-05 | 2017-09-08 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种支持ocp接口的pcie信号测试方法及测试治具*** |
CN107491369A (zh) * | 2017-08-18 | 2017-12-19 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种快速pcie3.0信号完整性的检测方法及*** |
CN108153630A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-06-12 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种信号测试装置 |
CN108255652A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-07-06 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种信号测试装置 |
CN109542710A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-03-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种信号测试治具和信号测试方法 |
CN109828872A (zh) * | 2018-12-28 | 2019-05-31 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 信号测试装置及方法 |
CN109840170A (zh) * | 2017-11-28 | 2019-06-04 | 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 | Pcie信号量测电路 |
CN210037935U (zh) * | 2019-05-08 | 2020-02-07 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种U.3接口的PCIe信号测试治具 |
CN111505483A (zh) * | 2020-04-27 | 2020-08-07 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种连接器接口的测试治具及设备 |
-
2020
- 2020-09-11 CN CN202010956142.0A patent/CN112162187A/zh active Pending
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102043748A (zh) * | 2009-10-13 | 2011-05-04 | 无锡江南计算技术研究所 | PCIe测试平台 |
CN105045697A (zh) * | 2015-06-24 | 2015-11-11 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种pcie信号完整性测试***和方法 |
CN206193764U (zh) * | 2016-10-09 | 2017-05-24 | 西安鼎控工业智能技术有限公司 | 一种cpu模块功能测试主板 |
CN107145416A (zh) * | 2017-05-05 | 2017-09-08 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种支持ocp接口的pcie信号测试方法及测试治具*** |
CN107491369A (zh) * | 2017-08-18 | 2017-12-19 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种快速pcie3.0信号完整性的检测方法及*** |
CN109840170A (zh) * | 2017-11-28 | 2019-06-04 | 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 | Pcie信号量测电路 |
CN108153630A (zh) * | 2017-12-21 | 2018-06-12 | 曙光信息产业股份有限公司 | 一种信号测试装置 |
CN108255652A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-07-06 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种信号测试装置 |
CN109542710A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-03-29 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种信号测试治具和信号测试方法 |
CN109828872A (zh) * | 2018-12-28 | 2019-05-31 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 信号测试装置及方法 |
CN210037935U (zh) * | 2019-05-08 | 2020-02-07 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种U.3接口的PCIe信号测试治具 |
CN111505483A (zh) * | 2020-04-27 | 2020-08-07 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种连接器接口的测试治具及设备 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113014339A (zh) * | 2021-02-20 | 2021-06-22 | 山东英信计算机技术有限公司 | PCIe外插卡接收通道的质量测试方法、装置及设备 |
CN113014339B (zh) * | 2021-02-20 | 2022-12-09 | 山东英信计算机技术有限公司 | PCIe外插卡接收通道的质量测试方法、装置及设备 |
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