CN111800592A - 可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质 - Google Patents

可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质 Download PDF

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CN111800592A CN202010689894.5A CN202010689894A CN111800592A CN 111800592 A CN111800592 A CN 111800592A CN 202010689894 A CN202010689894 A CN 202010689894A CN 111800592 A CN111800592 A CN 111800592A
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Abstract

本发明公开了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质，包括：基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一次校正，否则进入第二次校正条件的判断，判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二次校正，本发明通过对待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布第一断层和第二断层的分布情况进行分析判断，进行两次校正过程，同时实现了图像传感器坏点校正和抑制像元波动。

Description

可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质
技术领域
本发明涉及图像处理领域，具体涉及可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质。
背景技术
现有的图像传感器坏点校正算法都是以待检测像素为中心，考虑其周围5X5的Bayer色彩矩阵的处理，将周围像素与中心像素作比较，若差值超过阈值则判定为坏点，然后取中值或均值或概率估计的结果作为坏点的校正值。这类方法在于对坏点的判定和校正的处理是单一的，对单一图像的处理可以得到理想的效果，但是对存在波动的像元所造成的像素闪烁则没有考虑到，当坏点像素波动时，前一刻可能被判定为坏点，校正为中值或其他值，但是下一刻因为波动产生的灰度值变化，使其不满足坏点判定条件，没有被校正，而校正值与原值之间存在较大差异时，表现在图像上就是该位置的像元前后两帧的像素值变化较大，形成闪烁现象。而且这种闪烁不是传感器本身的像元闪烁，而是坏点校正算法将像元波动放大造成的闪烁，即现有的图像传感器坏点校正算法在解决了坏点问题的同时带来了新的闪烁问题。
为了解决这个问题，可以通过如下方法来处理：再进行一次时域滤波，对图像像素在时域上的波动单独进行抑制处理，或者采用时空域滤波，减少遍历次数，同时进行空域上的坏点校正和时域上的抑制闪烁，这种方法无论是两次遍历还是一次遍历都需要引入时域滤波，即需要图像序列的参与，使得最后输出的结果图像必然存在延迟问题，不适合图像传感器的数据处理，更适用于离线的视频处理。
发明内容
针对上述现有技术存在的问题，本发明提供了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质，对坏点校正算法进行改进，使其对像元波动的放大效应减少，以减弱或抑制图像的闪烁问题。
具体的，本发明的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，包括如下步骤：
(11)基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
(12)判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入步骤(13)，否则进入步骤(14)；
(13)将待检测像素的亮度值校正到跨越过最近的一个第一断层的位置；
(14)判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入步骤(15)，否则完成待检测像素的校正过程；
(15)将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；
所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。
作为上述方案的进一步优化，所述步骤(11)包括：
(21)将包括待检测像素的m*m个像素按照亮度值从高到低排序，获取像素序列；
(22)根据m值的奇偶情况，划分像素序列：
当m为奇数时，将像素序列的前
Figure BDA0002588950820000021
个像素分到亮点坏点候选点序列，后
Figure BDA0002588950820000022
个像素分到暗点坏点候选点序列，第
Figure BDA0002588950820000023
个像素确定为非坏点；
当m为偶数时，将像素序列的前
Figure BDA0002588950820000024
个像素分到亮点坏点候选点序列，后
Figure BDA0002588950820000025
个像素分到暗点坏点候选点序列；
(23)获取待检测像素所在坏点候选点序列，并在序列中加入第
Figure BDA0002588950820000026
个像素形成亮点坏点分析序列或者暗点坏点分析序列。
作为上述方案的进一步优化，所述步骤(13)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第一断层而判断是否需要将待检测像素的亮度值跨越过一个第一断层进行校正，具体步骤包括：
(31)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向下校正到最近的一个第一断层的下限位置；
(32)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向上校正到最近的一个第一断层的上限位置。
作为上述方案的进一步优化，所述步骤(15)中根据待检测像素的亮度值越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，选择将待检测像素的亮度值校正到到达还是越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。
作为上述方案的进一步优化，所述步骤(15)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第二断层而判断是否需要进行校正过程，具体步骤包括：
(51)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达最近的一个第二断层下限的距离A2；
判断A2是否大于预设校正阈值；
若是，则将待检测像素亮度值向下校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将待检测像素亮度值向下校正到越过所述最近的一个第二断层的位置；
(52)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达第二断层下限的距离A2；
判断A1是否大于预设校正阈值；
若是，则将待检测像素亮度值向上校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将将待检测像素亮度值向上校正到越过所述最近的一个第二断层的位置。
本发明的一种可以抑制像元波动的坏点校正装置，包括：
邻域像素分类模块，用于基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
第一校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一校正执行模块，否则进入第二校正条件判断模块；
第一校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到跨越过一个第一断层的位置；
第二校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二校正执行模块，否则完成待检测像素的校正过程；
第二校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；
所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。
作为上述方案的进一步优化，所述第二校正执行模块包括：
第二断层位置分布获取单元，用于判断待检测像素位置和待检测像素所在坏点分析序列中的所有第二断层的位置关系；
像元波动判断单元，用于判断当待检测像素在亮点坏点分析序列中时，待检测像素下方是否有至少一个第二断层，当待检测像素在暗点坏点分析序列中时，待检测像素上方是否有至少一个第二断层，若是，则待检测像素发生像元波动，需要进行校正，否则未发生像元波动；
校正候选位置获取单元，用于获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
校正候选位置选择单元，用于判断待检测像素位置越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，若是，则校正位置选择到达所述最近的一个第二断层的位置，否则校正位置选择越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。
作为上述方案的进一步优化，所述第一校正执行模块包括：
第一断层位置分布获取单元，用于判断待检测像素位置和待检测像素所在坏点分析序列中的所有第一断层的位置关系；
校正条件判断单元，用于判断当待检测像素在亮点坏点分析序列中时，待检测像素下方是否有至少一个第一断层，当待检测像素在暗点坏点分析序列中时，待检测像素上方是否有至少一个第一断层，若是，则待检测像素为坏点，需要进行校正，否则待检测像素为非坏点；
校正位置获取单元，用于获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置，并将待检测像素的亮度值校正到跨越过所述最近的一个第一断层的上限位置。
本发明基于上述可以抑制像元波动的坏点校正方法，还提供了一种存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述可以抑制像元波动的坏点校正方法的步骤。
本发明基于上述可以抑制像元波动的坏点校正方法，还提供了一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行上述可以抑制像元波动的坏点校正方法的步骤。
本发明的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质和终端，具备如下有益效果：
1.本发明中通过分别设置第一/二分段阈值，先根据待检测像素所在分析序列中第一断层和待检测像素的位置关系，对待检测像素的亮度值进行校正到跨越过一个第一断层的位置，消除使待检测像素成为坏点的第一断层，再根据检测像素所在分析序列中第二断层和待检测像素的位置关系，对待检测像素的亮度值进行校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置，消除使待检测像素发生像元波动的第二断层，通过两次校正过程同时实现了图像传感器坏点校正和抑制像元波动，避免了图像传感器上一些像元因感光波动造成的单像素点闪烁现象。
2.本发明在第一次校正过程中，对待检测像素的亮度值进行校正到跨越过一个第一断层的位置，即校正幅度仅仅跨越过距离待检测像素最近的一个第一断层，仅将待检测像素的亮度值跳跃一个断层，减小了校正过程中像素在时域上的亮度值的波动。
3.本发明在第二次校正过程中，对待检测像素的亮度值进行校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置，一方面校正幅度仅仅与最近的一个第二断层的位置相关，减小了校正过程中像素在时域上的亮度值的波动，同时，通过预设校正阈值的设置，判断校正幅度是到达最近的一个第二断层位置还是越过最近的一个第二断层的位置，避免了待检测像素发生像元波动时校正幅度超过预设校正阈值，进一步减小了校正过程中像素在时域上的亮度值的波动。
附图说明
图1为本发明的可以抑制像元波动的坏点校正方法的整体流程框图；
图2为本发明的可以抑制像元波动的坏点校正方法的第一次校正流程框图；
图3为本发明的可以抑制像元波动的坏点校正方法中，当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时，第二次校正流程框图；
图4为本发明的可以抑制像元波动的坏点校正方法中，当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时，第二次校正流程框图；
图5为本发明的可以抑制像元波动的坏点校正装置模块结构框图。
具体实施方式
下面结合具体实施例和附图对本发明的技术方案进一步说明。
本发明提供了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，能同时处理图像在空域和时域上的问题，通过两次校正过程，不仅在图像的空域上有效校正了图像像元中的坏点，而且能够抑制像元在时域上的大幅度波动，避免了图像传感器上一些像元因感光波动造成的单像素点闪烁现象，包括如下步骤：
(11)以待检测像素点为中心像素点，建立Bayer色彩矩阵，获取相同通道的m*m单通道矩阵；
基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
具体的，将包括待检测像素的m*m个像素按照亮度值从高到低排序，获取像素序列；容易理解的是，在m*m邻域矩阵的像素序列中，当待检测像素在前半部分位置时，最有可能是亮点坏点，作为亮点坏点候选点，校正时需要将其亮度值向下校正即将亮度值减小，即校正方向为向下，当待检测像素在后半部分位置时，最有可能是暗点坏点，作为暗点坏点候选点，校正时需要将其亮度值向上校正即将亮度值增大，即校正方向为向上。
(22)考虑到邻域矩阵中不止存在一个坏点的情况，根据m值的奇偶情况，划分像素序列，将包含待检测像素在内的多于一半的像素作为坏点分析序列：
当m为奇数时，将像素序列的前
Figure BDA0002588950820000071
个像素分到亮点坏点候选点序列，后
Figure BDA0002588950820000072
个像素分到暗点坏点候选点序列，第
Figure BDA0002588950820000073
个像素确定为非坏点；
当m为偶数时，将像素序列的前
Figure BDA0002588950820000074
个像素分到亮点坏点候选点序列，后
Figure BDA0002588950820000075
个像素分到暗点坏点候选点序列；
(23)获取待检测像素所在坏点候选点序列，并在序列中加入第
Figure BDA0002588950820000076
个像素形成亮点坏点分析序列或者暗点坏点分析序列。
当待检测像素在亮点坏点候选点序列中时，将第
Figure BDA0002588950820000077
个像素加在亮点坏点候选点序列的最前面形成亮点坏点分析序列，当待检测像素在暗点坏点候选点序列中时，将第
Figure BDA0002588950820000078
个像素加在暗点坏点候选点序列的最后面形成暗点坏点分析序列，这样坏点分析序列中的所有像素按照亮度值从高到低排序。
然后，根据待检测像素所在坏点分析序列，依次获取相邻两像素的亮度值梯度；
设置大于预设第一/二分段阈值的区间为第一/二断层，其中，第一分段阈值大于第二分段阈值。
将亮度值梯度大于第一预设分段阈值的区间记为第一断层位置；
(12)判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入步骤(13)，否则进入步骤(14)；
(13)将待检测像素的亮度值校正到跨越过一个第一断层的位置；该步骤中包括根据待检测像素的校正方向是否具有第一断层而判断是否需要进行校正过程，具体的：
(31)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；此时，在亮点坏点分析序列中，所有像素按照亮度值从高到低排序，待检测像素位置下方没有第一断层，说明待检测像素的亮度值在整个m*m邻域矩阵中是比较靠近中间亮度的，没有发生大的异常跳跃，不需要校正。
当待检测像素位置下方有至少一个第一断层时，此时需要校正，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向下校正到最近的一个第一断层的下限位置；
待检测像素位置下方可能有多个第一断层，而本实施例中，校正位置的选择仅涉及到待检测像素位置下方与其距离最近的一个第一断层；也就是说，校正幅度仅只跳跃了一个断层(待检测像素校正后的像素值与原值的差值定义为校正幅度或跳跃幅度)，避免了第一次校正过程中待检测像素发生时域上亮度值的大波动。
(32)类似于亮点坏点分析序列的第一次校正过程，当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向上校正到最近的一个第一断层的上限位置。
然后，根据待检测像素所在坏点分析序列中，相邻两像素的亮度值梯度，将亮度值梯度大于第二预设分段阈值的区间记为第二断层位置；
(14)判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入步骤(15)，否则完成待检测像素的校正过程；
(15)将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；该步骤中包括根据待检测像素的校正方向是否具有第二断层而判断是否需要进行校正过程，以及根据待检测像素的亮度值越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，选择将待检测像素的亮度值校正到到达还是越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值，具体的：
(51)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达最近的一个第二断层下限的距离A2；
判断A2是否大于预设校正阈值，若是，则将待检测像素亮度值向下校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将待检测像素亮度值向下校正到越过所述最近的一个第二断层的位置；
(52)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达第二断层下限的距离A2；
判断A1是否大于预设校正阈值；
若是，则将待检测像素亮度值向上校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将待检测像素亮度值向上校正到越过所述最近的一个第二断层的位置。
针对上述过程，以邻域矩阵m取3为例，以待检测像素点为中心像素点，建立5*5Bayer色彩矩阵，获取相同通道的3*3单通道矩阵；
采用对同通道的3*3邻域矩阵中的9个像素进行分析，并将预设第一分段阈值TH1设为25，预设第二分段阈值TH2设为10，预设校正阈值TH_C设为15。
将该通道图像中9个像素的亮度值进行从高到低排序，判断待检测像素为最亮的4个像素中的一个还是最暗的4个像素中的一个，当然待检测像素的亮度值在排序中位于第5位时，说明待检测像素为非坏点，当在其它位置时，都是需要进行进一步判断是否为坏点的，以待检测像素为最暗的4个像素中的一个为例进行分析，对排序后的后面5个像素的亮度梯度值进行双阈值判断，第一次判断是否超过第一分段阈值，第二次判断是否超过第二分段阈值。
5个像素的差值形成了4个梯度，先进行第一分段阈值的判定，检测这4个梯度是否存在第一断层，存在几个第一断层；
若存在第一断层，则继续判断待检测像素与第一断层的位置关系，以一个第一断层为例，若待检测像素位于第一断层上方，说明其亮度值在整个邻域矩阵中处于中间，不会是坏点，则保留原值；若待检测像素位于第一断层下方，则说明其属于坏点，即只要待检测像素的灰度值位于第一断层下方，就判定其为坏点，进入坏点第一次校正过程，完成第一校正过程后，进入第二分段阈值的判定。
若不存在第一断层，则直接进入第二分段阈值的判定，检测这4个梯度是否存在第二断层，存在几个第二断层；同样的，只要待检测像素的亮度值位于第二断层下方，就判定其为坏点，进入坏点第二次校正过程。
对于第一校正过程，将其校正为其临近第一断层上方最靠近的像素值，即无论实际分布有几个断层，校正的像素值变动只跳跃了一个断层。
对于不存在第一断层时，先进行第二断层阈值判定，检测第二断层的分布，对于处于第二断层下方的待检测像素的校正，需要再进行一次与预设校正阈值的比较判定，即待检测像素跳跃一个小断层后的像素值与原值的差值，如果小于校正阈值，则将待检测像素校正到第二断层上方最近的像素值，即跳跃了一个第二断层，如果大于校正阈值，则将待检测像素校正到第二断层下方最近的像素值。
双阈值的坏点判定方式防止了坏点判定的单一性，第二断层校正处理时的校正阈值判断限制了待检测像素的校正跳动，减少了其在时域上的像素值波动。
实验表明，在第一分段阈值TH1＝25，第二分段阈值TH2＝10，校正阈值TH_C＝15时，不仅能够有效校正图像中的静态坏点，同时对动态的闪烁的坏点也能实现很好的抑制闪烁的作用，可使波动范围在20个灰度值以内。
本发明实施例还提供了一种可以抑制像元波动的坏点校正装置，包括：
邻域像素分类模块，用于基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
第一校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一校正执行模块，否则进入第二校正条件判断模块；
第一校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到跨越过一个第一断层的位置；
第二校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二校正执行模块，否则完成待检测像素的校正过程；
第二校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；
所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。
其中，第二校正执行模块包括：
第二断层位置分布获取单元，用于判断待检测像素位置和待检测像素所在坏点分析序列中的所有第二断层的位置关系；
像元波动判断单元，用于判断当待检测像素在亮点坏点分析序列中时，待检测像素下方是否有第二断层，当待检测像素在暗点坏点分析序列中时，待检测像素上方是否有第二断层，若是，则待检测像素发生像元波动，需要进行校正，否则未发生像元波动；
校正候选位置获取单元，用于获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
校正候选位置选择单元，用于判断待检测像素位置越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，若是，则校正位置选择到达所述最近的一个第二断层的位置，否则校正位置选择越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。
其中，第一校正执行模块包括：
第一断层位置分布获取单元，用于判断待检测像素位置和待检测像素所在坏点分析序列中的所有第一断层的位置关系；
校正条件判断单元，用于判断当待检测像素在亮点坏点分析序列中时，待检测像素下方是否有第一断层，当待检测像素在暗点坏点分析序列中时，待检测像素上方是否有第一断层，若是，则待检测像素为坏点，需要进行校正，否则待检测像素为非坏点；
校正位置获取单元，用于获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置，并将待检测像素的亮度值校正到跨越过所述最近的一个第一断层的上限位置。
本发明实施例还提供了一种存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行前述可以抑制像元波动的坏点校正方法的步骤。所述存储介质可以包括ROM、RAM、磁盘或光盘等。所述存储介质还可以包括非挥发性存储器(non-volatile)或者非瞬态(non-transi tory)存储器等。
本发明实施例还提供了一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行前述可以抑制像元波动的坏点校正方法的步骤。
本发明不局限于上述具体的实施方式，本领域的普通技术人员从上述构思出发，不经过创造性的劳动，所做出的种种变换，均落在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：包括如下步骤：
(11)基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
(12)判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入步骤(13)，否则进入步骤(14)；
(13)将待检测像素的亮度值校正到跨越过最近的一个第一断层的位置；
(14)判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入步骤(15)，否则完成待检测像素的校正过程；
(15)将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；
所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。
2.根据权利要求1所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(11)包括：
(21)将包括待检测像素的m*m个像素按照亮度值从高到低排序，获取像素序列；
(22)根据m值的奇偶情况，划分像素序列：
当m为奇数时，将像素序列的前
Figure FDA0002588950810000011
个像素分到亮点坏点候选点序列，后
Figure FDA0002588950810000012
个像素分到暗点坏点候选点序列，第
Figure FDA0002588950810000013
个像素确定为非坏点；
当m为偶数时，将像素序列的前
Figure FDA0002588950810000014
个像素分到亮点坏点候选点序列，后
Figure FDA0002588950810000015
个像素分到暗点坏点候选点序列；
(23)获取待检测像素所在坏点候选点序列，并在序列中加入第
Figure FDA0002588950810000016
个像素形成亮点坏点分析序列或者暗点坏点分析序列。
3.根据权利要求2所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(13)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第一断层而判断是否需要将待检测像素的亮度值跨越过一个第一断层进行校正，具体步骤包括：
(31)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向下校正到最近的一个第一断层的下限位置；
(32)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向上校正到最近的一个第一断层的上限位置。
4.根据权利要求3所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(15)中根据待检测像素的亮度值越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，选择将待检测像素的亮度值校正到到达还是越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。
5.根据权利要求4所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(15)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第二断层而判断是否需要进行校正过程，具体步骤包括：
(51)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达最近的一个第二断层下限的距离A2；
判断A2是否大于预设校正阈值；
若是，则将待检测像素亮度值向下校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将将待检测像素亮度值向下校正到越过所述最近的一个第二断层的位置；
(52)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达第二断层下限的距离A2；
判断A1是否大于预设校正阈值；
若是，则将待检测像素亮度值向上校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将将待检测像素亮度值向上校正到越过所述最近的一个第二断层的位置。
6.一种可以抑制像元波动的坏点校正装置，其特征在于：包括：
邻域像素分类模块，用于基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
第一校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一校正执行模块，否则进入第二校正条件判断模块；
第一校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到跨越过一个第一断层的位置；
第二校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二校正执行模块，否则完成待检测像素的校正过程；
第二校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；
所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。
7.根据权利要求6所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正装置，其特征在于：所述第二校正执行模块包括：
第二断层位置分布获取单元，用于判断待检测像素位置和待检测像素所在坏点分析序列中的所有第二断层的位置关系；
像元波动判断单元，用于判断当待检测像素在亮点坏点分析序列中时，待检测像素下方是否有至少一个第二断层，当待检测像素在暗点坏点分析序列中时，待检测像素上方是否有至少一个第二断层，若是，则待检测像素发生像元波动，需要进行校正，否则未发生像元波动；
校正候选位置获取单元，用于获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
校正候选位置选择单元，用于判断待检测像素位置越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，若是，则校正位置选择到达所述最近的一个第二断层的位置，否则校正位置选择越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。
8.根据权利要求6所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正装置，其特征在于：所述第一校正执行模块包括：
第一断层位置分布获取单元，用于判断待检测像素位置和待检测像素所在坏点分析序列中的所有第一断层的位置关系；
校正条件判断单元，用于判断当待检测像素在亮点坏点分析序列中时，待检测像素下方是否有至少一个第一断层，当待检测像素在暗点坏点分析序列中时，待检测像素上方是否有至少一个第一断层，若是，则待检测像素为坏点，需要进行校正，否则待检测像素为非坏点；
校正位置获取单元，用于获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置，并将待检测像素的亮度值校正到跨越过所述最近的一个第一断层的上限位置。
9.一种存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于：所述计算机指令运行时执行权利要求1至5中任一项所述可以抑制像元波动的坏点校正方法的步骤。
10.一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机指令，其特征在于：所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至5中任一项所述可以抑制像元波动的坏点校正方法的步骤。
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