CN111044839B - 电子元件测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电子元件测试设备，其包含供料装置、测试装置及输送装置，该输送装置是在供料装置处取出至少一具第一面第一接点及第二面第二接点的电子元件，并移入该测试装置的测试承置器，以使电子元件的第一接点电性接触第一测试器的第一传输件，该测试装置以驱动机构驱动具第二传输件的第二测试器位移，使第二测试器的第二传输件电性接触电子元件的第二接点，利用第一测试器及第二测试器对该测试承置器上的电子元件执行复数个预设测试作业，以自动化测试电子元件及缩减转运电子元件动作时序，达到提升测试品质及生产效能的实用效益。

Description

电子元件测试设备

技术领域

本发明涉及一种自动化测试双面具第一接点及第二接点的电子元件，以提升测试品质及生产效能的电子元件测试设备。

背景技术

在现今，电子元件(例如扩充功能卡)日趋讲究多功能应用及高储存容量等需求，而配置有复数个记忆体及电路，并于一端设有插接部(即金手指)，以插置于另一应用的电路板上，该电子元件的插接部依预设功能而可利用第一面的第一接点传输电源，以及利用第二面的第二接点传输信号；然由于电子元件历经多道加工制程，例如裁切制程或焊线制程等，业者为确保电子元件的出厂品质，于电子元件制作完成后，即执行测试作业而淘汰不良品；请参阅图1，以扩充功能卡11为例，其是一长型板体而供装配复数个记忆体，并于一端设有插接部111，该插接部111的第一面设有复数个传输电源用的第一接点1111，于第二面设有复数个传输信号用的第二接点1112；因此，业者以人工作业先将扩充功能卡11置入于一电源测试装置，利用扩充功能卡11的第一接点1111与电源测试装置的探针接触，而执行电源测试作业，于完成测试后，再将扩充功能卡11取出翻面，并搬运至一信号测试装置，再利用扩充功能卡11的第二接点1112与信号测试装置的探针接触，而执行信号测试作业；然而，业者必须以人工作业将数量繁多的扩充功能卡11逐一于电源测试装置执行电源测试作业，待完成测试作业后，又必须以人工作业将数量繁多的扩充功能卡11逐一换置于一信号测试装置执行信号测试作业，不仅上、下料作业缓慢耗时，更必须将扩充功能卡11转置于不同测试装置执行测试作业以致无法提高生产效能。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种电子元件测试设备，解决现有技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种电子元件测试设备，其特征是包含：

机台；

供料装置：装配于该机台，并设有至少一承置电子元件的供料承置器，该电子元件是在第一面设有第一接点，在第二面设有第二接点；

测试装置：装配于该机台，并设有测试承置器、第一测试器、测试驱动机构及第二测试器，该测试承置器承置至少一该电子元件，该第一测试器装配于该测试承置器，并设有至少一第一传输件，以供电性接触该电子元件的第一接点，该测试驱动机构设有至少一移载驱动器以及由该移载驱动器驱动作至少一方向位移或摆动的移载具，该第二测试器装配于该测试驱动机构的移载具，并设有至少一第二传输件，以供电性接触该电子元件的第二接点；

输送装置：装配于该机台，并设有至少一移载该电子元件的移料器；

中央控制装置：用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该供料装置设置第一供料承置器、第二供料承置器及推移器，该第一供料承置器承置至少一具有待测电子元件的供料盘，该推移器是在该第一供料承置器及该第二供料承置器间移载该供料盘。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置的测试承置器设置一具有测试承槽的测试承座，该测试承槽供承置该电子元件。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置的第一测试器装配于该测试承座的测试承槽。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试驱动机构是在一基座设置第一移载驱动器，该第一移载驱动器驱动至少一第二移载驱动器作第三方向位移，该第二移载驱动器驱动该移载具作第二方向位移，该移载具供装配该第二测试器。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试驱动机构的第一移载驱动器连结一移动架，该移动架供装配该第二移载驱动器。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该基座与该移动架间设有至少一呈第三方向配置的滑轨组。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，包含至少一校正装置，该校正装置装配于该机台，并设有至少一承置电子元件的校正承置器，至少一校正驱动机构驱动至少一校正具位移，以推移校正该校正承置器上的电子元件。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，该校正承置器设有具有至少一校正承槽的校正承座，并以该校正承槽承置该电子元件，该校正驱动机构设有至少一校正驱动器以及由该校正驱动器驱动作至少一方向位移的传动具，该传动具供装配该校正具。

所述的电子元件测试设备，其特征在于，还包含至少一收料装置，该收料装置装配于该机台，并设有至少一收料承置器，以承置已测的电子元件。

本发明的优点在于，提供一种电子元件测试设备，其包含供料装置、测试装置及输送装置，该输送装置是在供料装置处取出至少一具第一面第一接点及第二面第二接点的电子元件，并移入该测试装置的测试承置器，以使电子元件的第一接点电性接触第一测试器的第一传输件，该测试装置以驱动机构驱动具第二传输件的第二测试器位移，使第二测试器的第二传输件电性接触电子元件的第二接点，利用第一测试器及第二测试器对该测试承置器上的电子元件执行复数个预设测试作业，以自动化测试电子元件及缩减转运电子元件动作时序，达到提升测试品质及生产效能的实用效益。

附图说明

图1是现有扩充功能卡的示意图。

图2是本发明电子元件测试设备的示意图。

图3是本发明测试装置的示意图(一)。

图4是本发明测试装置的示意图(二)。

图5是本发明校正装置的示意图。

图6是本发明电子元件测试设备的使用示意图(一)。

图7是本发明电子元件测试设备的使用示意图(二)。

图8是本发明电子元件测试设备的使用示意图(三)。

图9是本发明电子元件测试设备的使用示意图(四)。

图10是本发明电子元件测试设备的使用示意图(五)。

图11是本发明电子元件测试设备的使用示意图(六)。

附图标记说明：[现有技术]扩充功能卡11；插接部111；第一接点1111；第二接点1112；[本发明]机台20；供料装置30；第一供料承置器31；第二供料承置器32；推移器33；收料装置40；收料承置器41；测试装置50；测试承置器51；测试承座511；测试承槽512；第一测试器52；第一电路板521；第一测试座522；第一传输件5221；测试驱动机构53；基座531；第一压缸532；移动架533；滑轨5341；滑座5342；第二压缸535；移载具536；第二测试器54；第二电路板541；第二测试座542；第二传输件5421；输送装置60；移料驱动机构61；移料器62；校正装置70；校正承置器71；校正承槽712；校正承座711；校正驱动机构72；第三压缸721；传动具722；校正具73；供料盘81；扩充功能卡82；第一接点821；第二接点822；收料盘83。

具体实施方式

为使对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图2、图3、图4、图5，本发明电子元件测试设备包含机台20、供料装置30、收料装置40、测试装置50、输送装置60及中央控制装置(图未示出)，更包含至少一校正装置70；该供料装置30装配于该机台20，并设有至少一供料承置器，以承置至少一具第一面第一接点及第二面第二接点的待测电子元件，更进一步，该供料承置器可直接承置电子元件或承置具电子元件的料盘，该供料承置器可为承板或皮带输送轮组，或包含承置件及托移件，该供料承置器可单纯承置电子元件，或承置及作至少一方向移载电子元件，于本实施例中，该供料装置30设置第一供料承置器31、第二供料承置器32及推移器33，该第一供料承置器31承置至少一具待测电子元件的供料盘81，该待测电子元件是扩充功能卡82，其一端插接部的第一面设有第一接点，于第二面设有第二接点，该推移器33是在第一供料承置器31及第二供料承置器32间作第一方向(如X方向)位移，以将第一供料承置器31处的供料盘81推移至第二供料承置器32，第二供料承置器32承置一具待测扩充功能卡82的供料盘81，以供输送装置60取料，然该第一供料承置器31及第二供料承置器32的配置及动作方式不以本实施例为限，例如该第一供料承置器31可将至少一具待测电子元件的供料盘81由第一位置作第二方向(如Z方向)向上输送至第二位置，该推移器33将供料盘81由第二位置推移至第二供料承置器32的第三位置，第二供料承置器32承置具待测电子元件的供料盘81以供取料，待取料完毕，第二供料承置器32将空的供料盘81由第三位置作Z方向向下位移输送至第四位置收置；该收料装置40装配于该机台20，并设有至少一收料承置器41，以承置已测的电子元件，更进一步，该收料承置器41可直接承置电子元件或承置具电子元件的料盘，收料承置器41可为承板或皮带输送轮组，或包含承置件及托移件，收料承置器可单纯承置电子元件，或承置及作至少一方向移载电子元件，于本实施例中，该收料承置器41配置至少一空的收料盘83，以承置至少一已测的扩充功能卡82；该测试装置50装配于机台20，并包含测试承置器51、第一测试器52、测试驱动机构53及第二测试器54，该测试承置器51承置至少一电子元件，更进一步，该测试承置器51是固定式配置或作至少一方向位移，于本实施例中，该测试承置器51固设于机台20，并设有一具复数个测试承槽512的测试承座511，各测试承槽512供承置待测的扩充功能卡82，该第一测试器52装配于测试承置器51，并设有至少一第一传输件，以对电子元件执行第一预设测试作业，该第一预设测试作业可为电源测试作业或信号测试作业等，于本实施例中，第一测试器52设有电性连接的第一电路板521及复数个具第一传输件5221的第一测试座522，复数个第一测试座522装配于测试承座511的复数个测试承槽512内，并使第一传输件5221朝向上方，以供电性接触该扩充功能卡82的第一接点而执行一为电源测试作业的第一预设测试作业，一测试驱动机构53设有至少一移载驱动器以及由该移载驱动器驱动作至少一方向位移或摆动的移载具，更进一步，该移载驱动器可为压缸或线性马达，也或包含马达及传动组，也或一驱动该移载具摆动的角度驱动源，该测试驱动机构53可设置一移载驱动器以驱动该移载具作Z方向位移或摆动，也或设置复数个移载驱动器以分别驱动该移载具作Z方向位移及第三方向(如Y方向)位移，于本实施例中，该测试驱动机构53是在一基座531设置一为第一压缸532且呈Y方向配置的第一移载驱动器，该第一压缸532驱动该第二移载驱动器作Y方向位移，更进一步，该第一压缸532的第一活塞杆连结驱动一移动架533，该移动架533供装配第二移载驱动器，并与基座531间设有至少一呈第三方向配置的滑轨组，该滑轨组的滑轨5341装配于基座531的侧面，而滑座5342则装配于移动架533，使第一压缸532经由移动架533而带动第二移载驱动器作Y方向位移，并使移动架533利用滑座5342沿基座531上的滑轨5341滑移而辅助平稳位移，该第二移载驱动器驱动至少一移载具作第二方向位移，于本实施例中，该第二移载驱动器装配于移动架533，并为第二压缸535且呈第二方向配置，该第二压缸535的第二活塞杆连结一呈X方向配置的移载具536，使测试驱动机构53利用第一压缸532及第二压缸535带动移载具536作Z－Y方向位移，该第二测试器54装配于测试驱动机构53的移载具536，并设有至少一第二传输件，以对电子元件执行第二预设测试作业，该第二预设测试作业可为电源测试作业或信号测试作业等，于本实施例中，该第二测试器54装配于该测试驱动机构53的移载具536底面，并设有电性连接的第二电路板541及复数个具第二传输件5421的第二测试座542，并使第二传输件5421朝向下方，以供电性接触该扩充功能卡82的第二接点而执行一为信号测试作业的第二预设测试作业；该输送装置60装配于该机台20，并设置至少一移载电子元件的移料器，更进一步，输送装置60可设置一于供料装置30、测试装置50及收料装置40间移载电子元件的移料器，也或设置复数个移料器，其一移料器于供料装置30及测试装置50间移载待测的电子元件，另一移料器于测试装置50及收料装置40间移载已测的电子元件，于本实施例中，该输送装置60设置一移料驱动机构61以驱动一移料器62作X－Y－Z方向位移，以于供料装置30、测试装置50及收料装置40间移载待测的扩充功能卡82及已测的扩充功能卡82；该校正装置70装配于该机台20，并设置校正承置器71、校正驱动机构72及校正具73，该校正承置器71承置至少一电子元件，该校正驱动机构72驱动校正具73作至少一方向位移，该校正具73推移校正电子元件，更进一步，该校正承置器71设有至少一承置电子元件的校正承槽，并可固设于机台20或于机台20上作至少一方向位移，该校正驱动机构72设有至少一校正驱动器以及由该校正驱动器驱动作至少一方向位移的传动具，并以该传动具供装配该校正具73，该校正驱动器可为压缸或线性马达，也或包含马达及传动组，另于该传动具与校正具73间可设置至少一转接件(图未示出)，以调整校正具73的装配位置，于本实施例中，该校正承置器71设置一具有复数个校正承槽712的校正承座711，并以校正承槽712承置待测的扩充功能卡82，该校正驱动机构72的校正驱动器斜向配置且为第三压缸721，第三压缸721的活塞杆连结带动该传动具722作斜向位移，复数个校正具73装配于该传动具722，并分别位于复数个校正承槽712的一角部，复数个校正具73由传动具722带动同步作斜向位移，以推移校正复数个校正承槽712内的复数个扩充功能卡82；该中央控制装置(图未示出)用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

请参阅图6，该供料装置30的第一供料承置器31承置一具待测扩充功能卡82的供料盘81，并以推移器33顶推第一供料承置器31处的供料盘81作X方向位移至第二供料承置器32暂置，该输送装置60以移料驱动机构61驱动该移料器62作X－Z－Y方向位移，令移料器62于第二供料承置器32处的供料盘81取出复数个待测的扩充功能卡82。

请参阅图6、图7，为使移料器62准确将待测的扩充功能卡82移入测试装置50，执行待测扩充功能卡82的摆置校正作业，即该输送装置60以移料驱动机构61驱动该移料器62作X－Z－Y方向位移将复数个待测的扩充功能卡82移入该校正装置70的校正承座711的复数个校正承槽712，并以各校正承槽712相对于校正具73的一角作为基准角部，该校正装置70以第三压缸721经传动具722带动复数个校正具73同步作斜向位移，令复数个校正具73斜向推移复数个待测的扩充功能卡82靠抵于校正承槽712的基准角部，进而同步校正复数个待测的扩充功能卡82的摆置位置，以供输送装置60的移料器62的中心位置对位于待测扩充功能卡82的中心位置，进而使移料器62准确拾取移载待测的扩充功能卡82。

请参阅图6、图7、图8，于校正装置70完成待测扩充功能卡82的校正作业后，该校正装置70的第三压缸721经传动具722带动复数个校正具73同步作斜向反向位移，使复数个校正具73脱离复数个待测的扩充功能卡82；该输送装置60以移料驱动机构61驱动该移料器62作X－Z－Y方向位移于校正装置70的复数个校正承槽712取出复数个待测的扩充功能卡82，并移入该测试装置50的测试承座511的复数个测试承槽512，由于该待测扩充功能卡82的第一接点821朝向下方，使得该第一接点821电性接触该第一测试器52的第一测试座522的第一传输件5221，以便执行电源测试作业。

请参阅图8、图9，该测试装置50的第一压缸532驱动移动架533作Y方向向前位移，该移动架533即带动第二压缸535、移载具536及第二测试器54同步作Y方向位移，使第二测试器54位于测试承座511的上方，且相对于复数个待测的扩充功能卡82，该第二压缸535再驱动该移载具536作Z方向向下位移，该移载具536即带动第二测试器54同步作Z方向位移，由于该待测扩充功能卡82的第二接点822朝向上方，使得该第二测试器54的第二测试座542的第二传输件5421压抵且确实电性接触该待测扩充功能卡82的第二接点822，使第二测试器54对该待测扩充功能卡82执行信号测试作业，然该测试装置50以移载具536带动第二测试器54的第二传输件5421压抵且电性接触该待测扩充功能卡82的第二接点822时，再利用待测扩充功能卡82压抵第一测试器52的第一传输件5221，使该第一测试器52的第一传输件5221确实电性接触该待测扩充功能卡82的第一接点821，使第一测试器52对该待测扩充功能卡82执行电源测试作业；因此，该测试装置50可通过移载具536、第二测试器54及待测扩充功能卡82而对第一测试器52执行压抵作用，并使该扩充功能卡82于一测试装置50上确实执行信号测试作业及电源测试作业，毋须增设下压治具及费时更换搬运于不同测试装置，达到提高生产效能及节省成本的实用效益。

请参阅图10、图11，于完成该扩充功能卡82的信号测试作业及电源测试作业，该测试装置50的第二压缸535带动该移载具536及第二测试器54作Z方向向上位移复位，以脱离已测的扩充功能卡82，并以第一压缸532带动该移动架533、第二压缸535、移载具536及第二测试器54作Y方向向后位移复位，以离开测试承座511上方，该输送装置60以移料驱动机构61驱动该移料器62作X－Z－Y方向位移而于测试装置50的复数个测试承槽512取出复数个已测的扩充功能卡82，并依测试结果，而移载至该收料装置40的收料承置器41的收料盘83收置。

Claims (9)

1.一种电子元件测试设备，其特征是包含：

机台；

供料装置：装配于该机台，并设有至少一承置电子元件的供料承置器，该电子元件是在第一面设有第一接点，在第二面设有第二接点；

测试装置：装配于该机台，并设有测试承置器、第一测试器、测试驱动机构及第二测试器，该测试承置器承置至少一该电子元件，该第一测试器装配于该测试承置器，并设有至少一第一传输件，以供电性接触该电子元件的第一接点，该测试驱动机构是在一基座设置第一移载驱动器，第一移载驱动器供驱动至少一第二移载驱动器作第三方向位移，该第二移载驱动器供驱动移载具作第二方向位移，该第二测试器装配于该测试驱动机构的移载具，并设有至少一第二传输件，以供电性接触该电子元件的第二接点；

输送装置：装配于该机台，并设有至少一移载该电子元件的移料器；

中央控制装置：用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，该供料装置设置第一供料承置器、第二供料承置器及推移器，该第一供料承置器承置至少一具有待测电子元件的供料盘，该推移器是在该第一供料承置器及该第二供料承置器间移载该供料盘。

3.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置的测试承置器设置一具有测试承槽的测试承座，该测试承槽供承置该电子元件。

4.根据权利要求3所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试装置的第一测试器装配于该测试承座的测试承槽。

5.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，该测试驱动机构的第一移载驱动器连结一移动架，该移动架供装配该第二移载驱动器。

6.根据权利要求5所述的电子元件测试设备，其特征在于，该基座与该移动架间设有至少一呈第三方向配置的滑轨组。

7.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，包含至少一校正装置，该校正装置装配于该机台，并设有至少一承置电子元件的校正承置器，至少一校正驱动机构驱动至少一校正具位移，以推移校正该校正承置器上的电子元件。

8.根据权利要求7所述的电子元件测试设备，其特征在于，该校正承置器设有具有至少一校正承槽的校正承座，并以该校正承槽承置该电子元件，该校正驱动机构设有至少一校正驱动器以及由该校正驱动器驱动作至少一方向位移的传动具，该传动具供装配该校正具。

9.根据权利要求1所述的电子元件测试设备，其特征在于，还包含至少一收料装置，该收料装置装配于该机台，并设有至少一收料承置器，以承置已测的电子元件。

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