CN110244136A - 多探头扫描测试架 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种多探头扫描测试架，包括：机架；至少两组承载于所述机架的多探头测试组件，所述多探头测试组件包括：承载于所述机架的第一剪叉式支架；以及，装配于所述剪叉式支架的位于同一轴线的各节点处的测试探头；以及，用于所述驱动各第一剪叉式支架伸缩的第一驱动机构。由于设置了至少两组多探头测试组件，且每组多探头测试组件中具有多个测试探头，因此提高了天线的测试速度，当第一驱动机构驱动第一剪叉式支架伸缩时，由于测试探头设置在节点处，因此在第一剪叉式支架伸缩时，各测试探头之间的距离也同步发生了改变，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强。
Description
技术领域
本发明涉及天线测量技术领域，更具体地说，它涉及一种多探头扫描测试架。
背景技术
为适应现代通信设备的需求，阵列天线在逐渐得到普及和广泛的应用，阵列天线就是用多个天线单元来提高包括高增益在内的天线性能。
在民用的交通工具中，需要阵列天线在较宽频带内支持通信、雷达、情报交换和导航，由于不同的阵列天线阵子间距、阵子数量都不相同，传统的阵列天线测试时采用单个探头对多个阵子逐一扫描即可获取每个阵子的辐射性能，然而随着阵列天线的大规模使用，该方法测试效率难以满足日益增长的测试需求。
而传统的多探头测试方案虽然能够加快天线测试速度，但由于各探头间间距固定，一套多探头天线测试***只能测试对应探头间距的阵列天线，适用性较差。
发明内容
针对现有技术存在的不足，本发明实施例的目的在于提供一种多探头扫描测试架，具有可调节各探头之间的间距以测试不同规格的阵列天线的优点。
本发明实施例的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
一种多探头扫描测试架，包括：
机架；
承载于所述机架的多探头测试组件，所述多探头测试组件包括：承载于所述机架的第一剪叉式支架；以及，装配于所述第一剪叉式支架的位于同一轴线的各节点处的测试探头；以及，
用于所述驱动各第一剪叉式支架伸缩的第一驱动机构。
实现上述技术方案，由于每组多探头测试组件中具有多个测试探头，因此提高了天线的测试速度，当第一驱动机构驱动第一剪叉式支架伸缩时，由于测试探头设置在节点处，因此在第一剪叉式支架伸缩时，各测试探头之间的距离也同步发生了改变，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强。
进一步的，所述第一剪叉式支架的两端均为相互铰接的短杆并形成第一承载端和第二承载端，所述第一承载端承载于所述机架；
所述第一驱动机构包括：
滑动式装配于所述机架的推移杆，各所述第一剪叉式支架的第二承载端承载于所述推移杆；以及，
与所述推移杆相装配、用于驱动所述推移杆沿所述第一剪叉式支架伸缩方向移动的第一驱动组件。
进一步的，所述第一驱动组件从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构。
实现上述技术方案，第一驱动组件对推移杆施加驱动力时，即可驱动各第一剪叉式支架发生伸缩运动，从而调整了测试探头之间的距离。
进一步的，各所述测试探头设置于所述第一剪叉式支架的中心节点处。
实现上述技术方案，使得各测试探头在调节时仅在第一剪叉式支架的伸缩方向上发生变化，调节过程更加方便。
进一步的，所述多探头测试组件至少设置两组，相邻所述多探头测试组件中的测试探头为极化方向相反的单极化探头。
实现上述技术方案，可以替代传统的双极化探头进行测试，由于单极化探头的尺寸要小于双极化探头，从而减小测试探头的尺寸。
进一步的，所述第一承载端滑动式装配于所述机架，所述第二承载端滑动式装配于所述推移杆，所述机架上还设有用于推动各所述第一剪叉式支架相互靠近或远离的第二驱动机构。
实现上述技术方案，通过第二驱动机构驱动相邻第一剪叉式支架相互靠近或远离，从而调节了相邻多探头测试组件中测试探头之间的距离，可以适配更多规格的阵列天线。
进一步的，所述第二驱动机构包括：
第二剪叉式支架，所述第二剪叉式支架的两端均为相互铰接的短杆并形成第三承载端和第四承载端，所述第三承载端承载于所述机架，各所述第一承载端与所述第二剪叉式支架的位于同一轴线的节点相装配；以及，
与所述第四承载端相装配、用于驱动所述第一剪叉式支架沿所述第二剪叉式支架伸缩方向移动的第二驱动组件。
进一步的，所述第二驱动组件从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构。
实现上述技术方案，第二驱动组件对第二剪叉式支架施加驱动力时，即可驱动第二剪叉式支架发生伸缩运动，从而调整了第一剪叉式支架之间的距离，即调节了相邻多探头测试组件中测试探头之间的距离。
进一步的，各所述第一承载端与所述第二剪叉式支架的中心节点相装配。
实现上述技术方案，使得各测试探头在调节时仅在第二剪叉式支架的伸缩方向上发生变化，调节过程更加方便。
进一步的，当所述第一驱动组件为驱动气缸时，所述驱动气缸的底座固定于所述机架，所述驱动气缸的活塞杆固定于所述推移杆。
综上所述，本发明具有以下有益效果：
其一，提高了天线的测试速度；
其二，可调节各测试探头之间的距离，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强；
其三，减小了测试探头的尺寸。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一的结构示意图。
图2为本发明实施例二的结构示意图。
图中：1、机架；11、导轨；2、多探头测试组件；21、第一剪叉式支架；211、第一承载端；212、第二承载端；213、第二滑块；22、测试探头；3、第一驱动机构；31、推移杆；311、滑槽；32、第一驱动组件；4、第二驱动机构；41、第二剪叉式支架；411、第三承载端；412、第四承载端；42、第二驱动组件。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
一种多探头扫描测试架，如图1所示，包括：机架1；承载于机架1的多探头测试组件2，多探头测试组件2包括：承载于机架1的第一剪叉式支架21；以及，装配于第一剪叉式支架21的位于同一轴线的各节点处的测试探头22；以及，用于驱动各第一剪叉式支架21伸缩的第一驱动机构3。
具体的，第一剪叉式支架21由多根相互铰接的支杆构成，且第一剪叉式支架21的两端均为相互铰接的短杆并形成第一承载端211和第二承载端212，第一承载端211通过螺栓固定于机架1。
各测试探头22设置于第一剪叉式支架21的中心节点处，从而使得各测试探头22在调节时仅在第一剪叉式支架21的伸缩方向上发生变化，调节过程更加方便；多探头测试组件2至少设置两组，相邻多探头测试组件2中的测试探头22为极化方向相反的单极化探头，从而可以替代传统的双极化探头进行测试，由于单极化探头的尺寸要小于双极化探头，从而减小测试探头22的尺寸。
第一驱动机构3包括：滑动式装配于机架1的推移杆31，各第一剪叉式支架21的第二承载端212装配于推移杆31；以及，与推移杆31相装配、用于驱动推移杆31沿第一剪叉式支架21伸缩方向移动的第一驱动组件32。
第一驱动组件32从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构；当第一驱动组件32选用驱动气缸时，驱动气缸的底座通过螺栓固定于机架1，驱动气缸的活塞杆焊接于推移杆31；当第一驱动组件32选用丝杆驱动结构时，第一驱动组件32包括固定于机架1的驱动电机、以及固定于驱动电机的转轴且与推移杆31螺纹连接的驱动丝杆；当第一驱动组件32选用齿轮齿条驱动结构时，第一驱动组件32包括：固定于推移杆31的驱动电机、固定于机架1且沿第一剪叉式支架21伸缩方向分布的驱动齿条、以及固定于驱动电机的转轴且与驱动齿条相啮合的驱动齿轮；本实施例中，第一驱动组件32选用驱动气缸，即驱动气缸的活塞杆在伸缩的过程中即可对推移杆31施加驱动力，驱动各第一剪叉式支架21发生伸缩运动，从而调整了测试探头22之间的距离。
由于设置了至少两组多探头测试组件2，且每组多探头测试组件2中具有多个测试探头22，因此提高了天线的测试速度，当第一驱动机构3驱动第一剪叉式支架21伸缩时，由于测试探头22设置在节点处，因此在第一剪叉式支架21伸缩时，各测试探头22之间的距离也同步发生了改变，从而可以适配多种规格的阵列天线，适用性强。
实施例二：
一种多探头扫描测试架，如图2所示，本实施例与实施例一的区别在于，第一承载端211滑动式装配于机架1，在一侧设置有导轨11，第一承载端211的铰接点处设置有与导轨11相配合的第一滑块，从而形成第一承载端211与机架1的滑动式装配；各第一剪叉式支架21的第二承载端212滑动式装配于推移杆31，在第一推移杆31上开设有滑槽311，第二承载端212的铰接点处设有与滑槽311相配合的第二滑块213，从而实现第二承载端212与推移杆31的滑动式装配；
在机架1上还设有用于推动各第一剪叉式支架21相互靠近或远离的第二驱动机构4，第二驱动机构4包括：第二剪叉式支架41，第二剪叉式支架41也由多根相互铰接的支杆构成、并垂直于第一剪叉式支架21的伸缩方向布置，第二剪叉式支架41的两端均为相互铰接的短杆并形成第三承载端411和第四承载端412，第三承载端411固定于机架1，各第一承载端211与第二剪叉式支架41的位于同一轴线的节点相装配；以及，与第四承载端412相装配、用于驱动第一剪叉式支架21沿第二剪叉式支架41伸缩方向移动的第二驱动组件42。
具体的，导轨11的下表面开设有通槽，各第一承载端211的铰接点向下延伸并穿过通槽与第二剪叉式支架41的中心节点相装配，从而使得各测试探头22在调节时仅在第二剪叉式支架41的伸缩方向上发生变化，调节过程更加方便。
第二驱动组件42从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构；当第二驱动组件42选用驱动气缸时，驱动气缸的底座通过螺栓固定于机架1，驱动气缸的活塞杆焊接于第四承载端412的铰接点；当第二驱动组件42选用丝杆驱动结构时，第二驱动组件42包括固定于机架1的驱动电机、以及固定于驱动电机的转轴且与第四承载端412的铰接点螺纹连接的驱动丝杆；当第二驱动组件42选用齿轮齿条驱动结构时，第二驱动组件42包括：固定于第四承载端412的铰接点的驱动电机、固定于机架1且沿第二剪叉式支架41伸缩方向分布的驱动齿条、以及固定于驱动电机的转轴且与驱动齿条相啮合的驱动齿轮；本实施例中，第二驱动组件42选用驱动气缸，即驱动气缸的活塞杆在伸缩的过程中即可对第四承载端412的铰接点施加驱动力，驱动第二剪叉式支架41发生伸缩运动，从而调整了第一剪叉式支架21之间的距离，即调节了相邻多探头测试组件2中测试探头22之间的距离，从而可以适配更多规格的阵列天线。
在上述实施例中，对各个实施例的描述各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可能采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所述涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。
本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置，可通过其他的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元之间的间接耦合或通信连接，可以是电信或者其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而并非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种多探头扫描测试架，其特征在于，包括：
机架(1)；
承载于所述机架(1)的多探头测试组件(2)，所述多探头测试组件(2)包括：承载于所述机架(1)的第一剪叉式支架(21)；以及，装配于所述第一剪叉式支架(21)的位于同一轴线的各节点处的测试探头(22)；以及，
用于驱动各所述第一剪叉式支架(21)伸缩的第一驱动机构(3)。
2.根据权利要求1所述的多探头扫描测试架，其特征在于，所述第一剪叉式支架(21)的两端均为相互铰接的短杆并形成第一承载端(211)和第二承载端(212)，所述第一承载端(211)承载于所述机架(1)；
所述第一驱动机构(3)包括：
滑动式装配于所述机架(1)的推移杆(31)，各所述第一剪叉式支架(21)的第二承载端(212)承载于所述推移杆(31)；以及，
与所述推移杆(31)相装配、用于驱动所述推移杆(31)沿所述第一剪叉式支架(21)伸缩方向移动的第一驱动组件(32)。
3.根据权利要求2所述的多探头扫描测试架，其特征在于，所述第一驱动组件(32)从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构。
4.根据权利要求1或2或3所述的多探头扫描测试架，其特征在于，各所述测试探头(22)设置于所述第一剪叉式支架(21)的中心节点处。
5.根据权利要求4所述的多探头扫描测试架，其特征在于，所述多探头测试组件(2)至少设置两组，相邻所述多探头测试组件(2)中的测试探头(22)为极化方向相反的单极化探头。
6.根据权利要求2所述的多探头扫描测试架，其特征在于，所述第一承载端(211)滑动式装配于所述机架(1)，所述第二承载端(212)滑动式装配于所述推移杆(31)，所述机架(1)上还设有用于推动各所述第一剪叉式支架(21)相互靠近或远离的第二驱动机构(4)。
7.根据权利要求6所述的多探头扫描测试架，其特征在于，所述第二驱动机构(4)包括：
第二剪叉式支架(41)，所述第二剪叉式支架(41)的两端均为相互铰接的短杆并形成第三承载端(411)和第四承载端(412)，所述第三承载端(411)承载于所述机架(1)，各所述第一承载端(211)与所述第二剪叉式支架(41)的位于同一轴线的节点相装配；以及，
与所述第四承载端(412)相装配、用于驱动所述第一剪叉式支架(21)沿所述第二剪叉式支架(41)伸缩方向移动的第二驱动组件(42)。
8.根据权利要求7所述的多探头扫描测试架，其特征在于，所述第二驱动组件(42)从如下结构中选择单独或者组合适用：驱动气缸、丝杆驱动结构或者齿轮齿条驱动结构。
9.根据权利要求7或8所述的多探头扫描测试架，其特征在于，各所述第一承载端(211)与所述第二剪叉式支架(41)的中心节点相装配。
10.根据权利要求3所述的多探头扫描测试架，其特征在于，当所述第一驱动组件(32)为驱动气缸时，所述驱动气缸的底座固定于所述机架(1)，所述驱动气缸的活塞杆固定于所述推移杆(31)。
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| WO2019169702A1 (zh) | 2019-09-12 |
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