CN107727579A - 一种扫描采样起始点的定位方法 - Google Patents

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贾星明
孙敏
桂岳
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Abstract

本发明公开了一种扫描采样起始点的定位方法,包括以下步骤:首先将光源与扫描镜相对设置,光源发出的光线直射在扫描镜上,扫描镜转动后在下方由外向内形成A‑C的光线扫描区;在光线扫描区内侧设置单点探测器,单点探测器探测采集扫描镜的光线C,并将光信号转换为电信号;单点探测器的输出端输出图像信息采集的触发信号。本发明确保了每一帧采集到的图像都能有效拼接,提高了光电识别的精度,使扫描成像起始点的定位更加精确,避免了现有实际工程中起始点漂移情况的发生,进一步提高了图像采集的准确度。

Description

一种扫描采样起始点的定位方法
技术领域
本专利属于工业成像技术领域,尤其涉及一种扫描成像采样起始点的定位方法。
背景技术
过去几年,CCD成像技术在可见光的光电识别领域取得了长足的发展,但也同样面临着一些限制,如在某些特定的场合,需要采用激光作为激发光源激发物质的荧光时,如果采用CCD探测,信号强度太弱导致信噪比明显较低,此时,需要采用特殊的高灵敏度探测器作为光电检测器件,并结合扫描装置,实现成像。
扫描成像时,受扫描元器件稳定性的影响,在整个转动过程中,角速度是不完全匀速的,有一定偏差,采用软件或者硬件定时的方式可以在一段时间内准确的确定采样起始点,但长期运行仍会导致起始点漂移,影响图像采集的准确度。
在公开号为105044062A的中国专利“黄曲霉毒素在线检测装置及采用该装置的物料分选设备”中描述了一种激光扫描成像装置,其采用多面镜将激光反射到物料点,然后接收物料点返回的荧光信号,转动扫描镜实现多点成像,但该装置只给出了成像的基本过程,并未给出是采用哪种方法来确定采样起始点位置。
在专利号为201410490432.5的中国专利“一种照明成像***”同样给出一种激光扫描成像装置,和公开号为105044062A的中国专利的区别仅在于信号探测的方式不同,对于采样起始点的定位是如何保证的未给出相关信息。
从以上分析可知,现有的扫描成像技术基本上只是给出了原理性的方案,对实际工程应用中存在的起始点漂移问题没有得到有效解决,导致方案实际无法应用。
发明内容
为解决的现有扫描成像起始点在实际工程应用中存在的漂移问题,本发明提供了一种克服扫描采样起始点漂移的准确定位方法。
本专利是通过以下技术方案解决上述技术问题的:
一种扫描采样起始点的定位方法,包括以下步骤:首先将光源与扫描镜相对设置,光源发出的光线直射在扫描镜上,扫描镜转动后在下方由外向内形成A-C的光线扫描区;
在光线扫描区内侧设置单点探测器,单点探测器探测采集扫描镜的光线C,并将采集光线C处的光信号转换为电信号;
工作时,单点探测器的输出端输出对当前图像信息采集的触发信号。
进一步的,在扫描镜反射光线C所在位置上设置折光件,折光件反射光线C;将单点探测器设置在折光件对光线C的反射光线所在位置上。
进一步的,所述折光件为镀膜反射镜、金属打磨镜面或贴膜面。
进一步的,所述单点探测器为光电二极管、雪崩二极管或光电倍增管。
进一步的,在单点探测器输出端上连接比较器,比较器甄别出超过幅值h1的信号,将低于h1幅值的信号滤除;
比较器的输出端连接滤波器,滤波器外接AD转换器,AD转换器将信号转成数字信号导入信号采集电路,形成采样触发信号。
本专利的有益效果是:
本发明可直接对扫描镜对光源进入的光线进行反射,且始终保持对扫描镜光线C处的临界反射进行采集,通过单点探测器以及比较器、滤波器和转换器的作用,直接甄选出幅值超过h1的信号触发信号采样电路进行采样,从而确保每一帧采集到的图像都能有效拼接,提高了光电识别的精度,使扫描成像起始点的定位更加精确,避免了现有实际工程中起始点漂移情况的发生,进一步提高了图像采集的准确度。
附图说明
图1为本发明实施例1的原理示意图。
图2为本发明单点探测器信号输出处理流程示意图。
图3为本发明实施例2的原理示意图。
图中序号:光源1、扫描镜2、折光件3、单点探测器4、信号采集设备5。
具体实施方式
为使本专利实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利实施例中的附图,对本专利实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例是本专利一部分实施例,而不是全部实施例。基于本专利中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利保护的范围。
实施例1:
参见图1,一种扫描采样起始点的定位方法,包括以下步骤:
首先将光源1与扫描镜2相对设置,光源1不限于激光光源,还可以是任何准直的光源,如LED、卤素灯;光源1发出的光线直射在扫描镜2上,随着扫描镜2的转动,扫描镜2由外向内形成A-C的光线扫描区,其中光线A至光线B所包含的区域为光学扫描有效范围之内区域,光线B至光线C之间的区域为光学扫描有效范围之外的区域;
在光线扫描区内侧的光线C所在位置上设置单点探测器4,所述单点探测器4为光电二极管、雪崩二极管或光电倍增管;单点探测器4探测采集扫描镜2在C处的反射光信号;参见图2,在单点探测器4输出端上连接比较器,比较器甄别出超过幅值h1的信号,将低于h1幅值的信号滤除;
比较器的输出端连接滤波器,滤波器外接AD转换器,AD转换器将甄选滤除噪音的信号转换成数字信号,形成采样触发信号;
工作时,AD转换器将转换后形成的触发信号可触发外设的信号采集设备5进行采样。
实施例2:
参见图3,在扫描镜2的光线C所在位置上设置折光件3,折光件3为镀膜反射镜、金属打磨镜面或贴膜面;折光件3反射光线C,并将单点探测器4设置在折光件3对光线C的反射光线所在位置上;其余同实施例1。
工作时,每一帧图像都会有一个单点探测器7产生的模拟信号,经过比较器对超过幅值h1的信号的甄别、滤波器的噪声滤除以及AD转换器对信号的转换,使信号采集电路采样准确,始终保持对扫描镜光线C处的临界反射进行采集,从而确保每一帧采集到的图像都能有效拼接,提高了光电识别的精度,使扫描成像起始点的定位更加精确,避免了现有实际工程中起始点漂移情况的发生,进一步提高了图像采集的准确度。

Claims (5)

1.一种扫描采样起始点的定位方法,其特征在于,包括以下步骤:首先将光源(1)与扫描镜(2)相对设置,光源(1)发出的光线直射在扫描镜(2)上,扫描镜(2)转动后由外向内形成A-C的光线扫描区;
在光线扫描区内侧设置单点探测器(4),单点探测器(4)探测采集扫描镜(2)的光线C,并将采集光线C处的光信号转换为电信号;
工作时,单点探测器(4)的输出端输出对当前图像信息采集的触发信号。
2.根据权利要求1所述的一种扫描采样起始点的定位方法,其特征在于:在扫描镜(2)C处反光射线所在位置上设置折光件(3),折光件(3)反射光线C;将单点探测器(4)设置在折光件(3)对光线C的反射光线所在位置上。
3.根据权利要求2所述的一种扫描采样起始点的定位方法,其特征在于:所述折光件(3)为镀膜反射镜、金属打磨镜面或贴膜面。
4.根据权利要求1所述的一种扫描采样起始点的定位方法,其特征在于:所述单点探测器(4)为光电二极管、雪崩二极管或光电倍增管。
5.根据权利要求1所述的一种扫描采样起始点的定位方法,其特征在于:在单点探测器(4)输出端上连接比较器,比较器甄别出超过幅值h1的信号,将低于h1幅值的信号滤除;
比较器的输出端连接滤波器,滤波器外接AD转换器,AD转换器将信号转成数字信号,形成采样触发信号。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111182290A (zh) * 2019-12-31 2020-05-19 未来(北京)黑科技有限公司 图像检测方法及装置、存储介质、电子装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1683948A (zh) * 2004-04-12 2005-10-19 三星电子株式会社 光学扫描装置和检测同步信号的方法
CN101093375A (zh) * 2006-06-21 2007-12-26 三星电子株式会社 光扫描单元和包括其的电子照相成像设备
CN106442564A (zh) * 2016-10-17 2017-02-22 中国科学院上海光学精密机械研究所 大口径超光滑表面缺陷的检测装置和检测方法
CN106442565A (zh) * 2016-10-26 2017-02-22 中国科学院上海光学精密机械研究所 高速激光线扫描的表面缺陷检测装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1683948A (zh) * 2004-04-12 2005-10-19 三星电子株式会社 光学扫描装置和检测同步信号的方法
CN101093375A (zh) * 2006-06-21 2007-12-26 三星电子株式会社 光扫描单元和包括其的电子照相成像设备
CN106442564A (zh) * 2016-10-17 2017-02-22 中国科学院上海光学精密机械研究所 大口径超光滑表面缺陷的检测装置和检测方法
CN106442565A (zh) * 2016-10-26 2017-02-22 中国科学院上海光学精密机械研究所 高速激光线扫描的表面缺陷检测装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111182290A (zh) * 2019-12-31 2020-05-19 未来(北京)黑科技有限公司 图像检测方法及装置、存储介质、电子装置
CN111182290B (zh) * 2019-12-31 2021-11-19 未来(北京)黑科技有限公司 图像检测方法及装置、存储介质、电子装置

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