CN106768875A - 一种半导体分光方法 - Google Patents

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陈学军
张纯现
胡鹏飞
陈伟方
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Abstract

本发明所涉及一种半导体分光方法，工艺流程为：先将待分等级之有色差LED灯放置在分光测试机指定位置处；操作员打开分光测试***，待设置被测试的参数数值设定成功之后；再启动分光测试机的启动按键，分光测试***开始分光测试与分BIN；所述分光测试***对LED灯进行点亮测试，分光测试***依据实际测试数值与分光参数设定值进行识别判定，对不同测试范围的LED灯进行分类，不同等级的材料落入不同的料盒。因本技术方案采用XY坐标(色温)加λP(峰值波长)分光方式，可有效对同一坐标范围内之有色差之白光材料进行筛选区分，保证分光后LED白光材料的光色一致性，达到有效对有色差材料进行区分的目的。

Description

一种半导体分光方法
【技术领域】
本发明涉及一种用于半导体方面的半导体分光方法。
【背景技术】
现有技术中半导体封装行业常规分白光的方法一般都是采用XY坐标(色温)保证光色一致性，当投入波长范围较宽或有混波长的材料时，产品XY坐标(色温)数值是相同，因不同波长间XY坐标斜率存在差异，光色实际有较明显差异，故现有分光方式分BIN后色差比较明显，无法有效对有色差材料进行区分。
【发明内容】
有鉴于此，本发明所要解决的技术问题是提供一种有效对有色材料进行区分的半导体分光方法。
为此解决上述技术问题，本发明中的技术方案所采用一种半导体分光方法，其工艺流程为：先将待分等级之有色差LED灯放置在分光测试机指定位置处，操作员打开分光测试***，在测试项目中分别设置峰值波长数值范围，电压VF数值范围,亮度IV数值范围，色区XY坐标数值范围，待设置成功之后进行保存；再启动分光测试机的启动按键，分光测试***开始分光测试与分BIN；所述分光测试***对LED灯进行点亮测试，分光测试***依据实际测试数值与分光参数设定值进行识别判定，对不同测试范围的LED灯进行分类，不同等级的材料落入不同的料盒。
本发明的有益技术效果：因本技术方案采用XY坐标(色温)加λP(峰值波长)分光方式，可有效对同一坐标范围内有色差的白光材料进行筛选区分，保证分光后LED白光材料的光色一致性，此部分对于大圆片芯片投料波长范围较大或生产制程中出现波长混料之分光一致性之解决方案，达到有效对有色差材料进行区分的目的。
下面结合实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
【附图说明】
图1为本发明实施例中等级分光软件的操作示意图。
【具体实施方式】
为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请你参考图1所示，下面结合实施例说明一种半导体分光方法，其工艺流程为：先将待分等级之有色差LED灯放置在分光测试机指定位置处，操作员打开分光测试***，在测试项目中分别设置峰值波长数值范围，电压VF数值范围,亮度IV数值范围，色区XY坐标数值范围，待设置成功之后进行保存；再启动分光测试机的启动按键，分光测试***开始分光测试与分BIN；所述分光测试***对LED灯进行点亮测试，分光测试***依据实际测试数值与分光参数设定值进行识别判定，对不同测试范围的LED灯进行分类，不同等级的材料落入不同的料盒。
综上所述，因本技术方案采用XY坐标(色温)加λP(峰值波长)分光方式，可有效对同一坐标范围内有色差的白光材料进行筛选区分，保证分光后LED白光材料的光色一致性，此部分对于大圆片芯片投料波长范围较大或生产制程中出现波长混料之分光一致性之解决方案，达到有效对有色差材料进行区分的目的。
以上参照附图说明了本发明的优选实施例，并非因此局限本发明的权利范围。本领域技术人员不脱离本发明的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本发明的权利范围之内。

Claims (1)

1.一种半导体分光方法，其工艺流程为：先将待分等级之有色差LED灯放置在分光测试机指定位置处，操作员打开分光测试***，在测试项目中分别设置峰值波长数值范围，电压VF数值范围,亮度IV数值范围，色区XY坐标数值范围，待设置成功之后进行保存；再启动分光测试机的启动按键，分光测试***开始分光测试与分BIN；所述分光测试***对LED灯进行点亮测试，分光测试***依据实际测试数值与分光参数设定值进行识别判定，对不同测试范围的LED灯进行分类，不同等级的材料落入不同的料盒。
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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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