CN105486687A - 触摸面板检查装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开触摸面板检查装置和方法。根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置,包括:图像获得部,其中,获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glass?sheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像;区域设定部,其中,接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell-to-cell)比较区域的输入;和缺陷检测部,其中,在上述图像中进行用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素的第1图像检查和用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域的第2图像检查中的至少一个,检测上述玻璃片上的缺陷。
Description
技术领域
本发明涉及用于触摸面板的检查的装置和方法。
背景技术
触摸面板(touchpanel)作为使移动电话、智能手机、平板PC、便携式计算机、桌面计算机等计算机装置的用户进行触摸显示装置的手势而将能够与计算机装置通信的功能赋予显示装置的器件已广泛地使用。
触摸面板能以在玻璃片(glasssheet)上将在X轴方向和Y轴方向上图案化的传感器电极蒸镀的方式制造。以往的大量的触摸面板制造方式,应用了在以对层叠于显示面板的触摸面板适合的大小的单元(cell)单位将玻璃片切断后,将传感器电极在各个单元单位的玻璃上配置的工序,但最近为了提高上述的工序的收率,也尝试了在包含多个单元区域的玻璃片上形成了传感器电极后最终将玻璃片切断成与多个单元区域分别对应的触摸面板的制造方式。
在实际的触摸面板制造工序的进行过程中,由于各种原因,有时在触摸面板的表面或内部附着异物,或者产生污染、损伤,在触摸面板上出现各种形态的缺陷。由此,有时后续有检测这样的缺陷的工序。作为用于这样的缺陷检测的检查方式,通常使用用照相机这样的摄像设备捕捉触摸面板的外观的图像、对其图像进行分析的光学检查方式。
但是,在经过多个工序制造的触摸面板上,存在规则的图案存在的区域、非规则的图案存在的区域、需要用于缺陷检测的检查的区域、可省略这样的检查的区域等多样的区域。此外,对于各区域和各图案的检查条件也未必相同。因此,要求用于更高效率地、以更高正确率检测由多样的区域发生的不同形态的缺陷的新的手法。
韩国公开专利公报第2011-0020437号公开了为了晶片的缺陷检查而比较候补模具(die)与平均标准模具的灰度等级来判定缺陷的方法,但仍然存在考虑模具上的多个区域的各自的特性的必要性。
现有技术文献
专利文献
专利文献:韩国公开专利公报第2011-0020437号
发明内容
发明要解决的课题
本发明的目的在于提供对于触摸面板上的多样的区域能够根据各区域的特性和检查条件更高效率地、更正确地检测触摸面板上的缺陷的触摸面板检查装置。
本发明的目的在于提供这样的触摸面板检查方法。
用于解决课题的手段
1.一种触摸面板检查装置,其包含:
图像获得部,其中,获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glasssheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像;
区域设定部,其中,接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell-to-cell)比较区域的输入;和
缺陷检测部,其中,在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷,所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素,所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。
2.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述图像获得部包含:使用上述玻璃片的布置信息识别上述多个单元区域的输入部;和对经识别的上述多个单元区域进行摄像而获得上述图像的摄像设备。
3.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还在上述单元对单元比较区域内指定检查区域和对于上述检查区域的不同的检查条件,上述缺陷检测部根据上述检查条件进行上述第2图像检查。
4.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还对上述图像指定非检查区域,上述缺陷检测部还对上述非检查区域省略图像检查。
5.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,上述缺陷检测部在上述多个划分的下位区域分别进行上述第1图像检查和上述第2图像检查。
6.上述5的触摸面板检查装置,其中,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案相同。
7.上述5的触摸面板检查装置,其中,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案与上述多个划分的下位区域中的其他的下位区域内的单位单元图案不同。
8.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述周期比较区域的相对位置指定为同样位置,在上述多个划分的下位区域分别指定上述单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。
9.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域分别指定上述周期比较区域的相对位置以使其不同,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述单元对单元比较区域的相对位置指定为同样位置。
10.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含单位单元图案。
11.上述10的触摸面板检查装置,其中,上述输入还指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述至少2个划分的下位区域中各自包含在不包括上述非检查区域的区域具有相同图案的单位单元图案,上述缺陷检测部还对于上述非检查区域省略图像检查。
12.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含在上述非检查区域具有不同图案的单位单元图案,上述缺陷检测部还对于上述非检查区域省略图像检查。
13.上述1的触摸面板检查装置,其中,上述缺陷检测部还包含显示通过上述第1图像检查和上述第2图像检查中的至少一个检测的缺陷的位置的输出部。
14.上述13的触摸面板检查装置,其中,上述输出部还响应对于上述显示的选择,显示表示上述缺陷的图像。
15.一种触摸面板检查方法,其包含:
获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片作为一个整体区域进行摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像的阶段;
接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入的阶段;和
在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷的阶段,所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素,所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。
16.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述获得的阶段包括:使用上述玻璃片的布置信息识别上述多个单元区域的阶段;和对经识别的上述多个单元区域进行摄像而获得上述图像的阶段。
17.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还在上述单元对单元比较区域内指定检查区域和对于上述检查区域的不同的检查条件,上述第2图像检查根据上述检查条件进行。
18.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还对上述图像指定非检查区域,上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
19.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,上述检测的阶段包含对上述多个划分的下位区域分别进行上述第1图像检查和上述第2图像检查的阶段。
20.上述19的触摸面板检查方法,其中,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案相同。
21.上述19的触摸面板检查方法,其中,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案与上述多个划分的下位区域中的其他下位区域内的单位单元图案不同。
22.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述周期比较区域的相对位置指定为同样位置,在上述多个划分的下位区域分别指定上述单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。
23.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域分别指定上述周期比较区域的相对位置以使其不同,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述单元对单元比较区域的相对位置指定为同样位置。
24.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含单位单元图案。
25.上述24的触摸面板检查方法,其中,上述输入还指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述至少2个划分的下位区域中各自包含在不包括上述非检查区域的区域具有相同图案的单位单元图案,上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
26.上述15的触摸面板检查方法,其中,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含在上述非检查区域具有不同图案的单位单元图案,上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
27.上述15的触摸面板检查方法,其中,还包含显示通过上述第1图像检查和上述第2图像检查中的至少一个检测的缺陷的位置的阶段。
28.上述27的触摸面板检查方法,其中,还包含响应对于上述显示的选择而显示表示上述缺陷的图像的阶段。
发明的效果
本发明的触摸面板检查装置和方法,由于对于触摸面板上的多样的区域根据各区域的特性和检查条件容易地进行基于图像分析的检查,因此能够更高效率地、更正确地检测触摸面板上的缺陷。
附图说明
图1是表示本发明的一实施例涉及的触摸面板检查装置的图。
图2是表示本发明的一实施例涉及的触摸面板用玻璃片的布置的图。
图3是根据本发明的一实施例对图1的图像获得部的构成进行图示的方框图。
图4是根据本发明的一实施例对用户在周期比较区域和单元对单元比较区域的指定中适合的用户界面进行图示。
图5是根据本发明的一实施例用于说明指定的周期比较区域和单元对单元比较区域的图。
图6是根据本发明的一实施例用于说明在单元对单元比较区域内部指定的检查区域和对于该检查区域不同的检查条件的图。
图7是根据本发明的一实施例对表示检测的缺陷的位置的用户界面进行图示。
图8是根据本发明的一实施例对表示通过横/纵周期比较法检测的缺陷的图像进行例示。
图9是根据本发明的一实施例对表示通过单元对单元比较法检测的缺陷的图像和表示经比较的周边单元区域内的对应的部分的图像进行例示。
具体实施方式
以下参照附图对本发明的具体的实施例进行说明。但是,其只不过是例示,本发明并不限于此。
本发明的实施例的说明中,对于与本发明关联的公知的技术的具体的说明,在判断为可使本发明的主旨不会模糊不清的情况下省略其详细说明。而且,后述的用语是考虑本发明中的功能而定义的用语,其有时因用户、运用者的意图或惯例等而改变。因此,其定义必须以本说明书的全部的内容为基础。
根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置,包括:图像获得部,其中,获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glasssheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像;区域设定部,其中,接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell-to-cell)比较区域的输入;和缺陷检测部,在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷,所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素,所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域,由于利用触摸面板上的各区域的特性和检查条件容易地进行基于图像分析的检查,因此能够更高效率地、更正确地检测触摸面板上的缺陷。
图1为表示根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置的图。
如图1中图示那样,触摸面板检查装置(100)包括图像获得部(110)、区域设定部(120)、缺陷检测部(130)和输出部(140)。触摸面板检查装置(100)的各部件用计算机装置体现,可用与这样的计算机装置连动地动作的其他装置体现。
图像获得部(110)以对包含单元区域的触摸面板用玻璃片进行摄像而获得图像的方式构成。在各个单元区域中可包含与该单元区域对应的单位单元图案。各单位单元图案可相同,也有时不同。检查对象体的玻璃片只要是可使用光学系进行基于图像分析的检查的触摸面板用玻璃片,则对其种类并无特别限制。例如,图像获得部(110)能够获得将具有图2中图示的布置(layout)的例示的触摸面板用玻璃片(200)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域而摄像的图像。作为一个实例,图像获得部(110)能够对触摸面板用玻璃片(200)上的多个单元区域(210-1~210-15)分别摄像,获得包含多个单元区域(210-1~210-15)各自的图像的扫描图像。
因此,根据本发明的一实施例的图像获得部(110)能够如图3中图示那样包含输入部(112)、摄像设备控制部(114)、摄像设备(116)和存储器(118)。
输入部(112)能够(例如,以文件形式)接收触摸面板用玻璃片(200)的布置信息。例如,输入部(112)能够使用该布置信息来识别触摸面板用玻璃片(200)上的单元区域(210-1~201-15)。由此,输入部(112)能够获得单元区域(210-1~210-15)各自的位置信息而保存于存储器(118)。
摄像设备控制部(114),能够以摄像设备(116)将包含单元区域(210-1~210-15)的触摸面板用玻璃片(200)作为一个整体区域或者分割为划分的区域而摄像的方式使摄像设备(116)移动。例如,摄像设备控制部(114)能够从存储器(118)判断读取经识别的单元区域(210-1~210-15)各自的位置信息,以摄像设备(116)捕捉单元区域(210-1~210-15)各自的图像的方式根据判断读取的位置信息使摄像设备(116)在X轴和/或Y轴方向移动。另一方面,有时在触摸面板用玻璃片(200)上的单元区域的周边存在用于传感器电极的蒸镀的基准点(260)、对玻璃片(200)或各单元区域赋予的制品序号(lotnumber)这样的标记(270、280),摄像设备控制部(114)能够以如下方式控制:用摄像设备(116)不对该标记摄像而获得包含单元区域(210-1~210-15)各自的图像的扫描图像。这种情况下,不需要用于防止在图像分析中这样的标记作为玻璃片(200)上的缺陷被认识的另外的机构。
摄像设备(116)能够在摄像设备控制部(114)的控制下对触摸面板用玻璃片(200)的外观(例如,图2中所示的表面)摄像而获得表示单元区域(210-1~210-15)的图像。此外,摄像设备(116)能够将获得的图像保存于存储器(118)。摄像设备(116)只要能够接收从触摸面板用玻璃片(200)这样的检查对象体入射的光而捕捉图像,则并无特别限定,能够包括照相机(例如,CCD(Charge-CoupledDevice,电荷耦合器件)照相机)、光传感器等。图3中虽然没有图示,但为了摄像设备(116)的摄像,可在检查对象体的周围配置对检查对象体照射光的光源。例如,可将LED灯(LightEmittingDiodeLamp,发光二极管灯)、金属卤化物灯(MetalHalideLamp)这样的卤素灯、荧光灯、白炽电灯泡等作为光源使用。此外,摄像设备(116)和光源的配置、摄像设备(116)的摄像角度和光源的光照射角度,只要能够进行检查对象体的适当的摄像和适当的光照射,则并无特别限制。
此外,参照图1,对触摸面板检查装置(100)的剩余的部件进行说明。
根据本发明的一实施例,用户能够将对于由图像获得部(110)获得的图像的多种类型的输入(例如,对于获得的图像指定周期比较区域和单元对单元(cell-to-cell)比较区域的输入)提供给区域设定部(120)。因此,用户能够在使用了输入设备(例如,鼠标这样的指向设备、键盘、触摸输入设备和/或声音输入设备)的多种类型的动作(例如,使用鼠标这样的指向设备的点击(click)、悬停(hovering)和拖放(draganddrop)等动作,以及使用键盘将文本输入的按压一个键或二个以上的键的组合等动作)中进行至少一个。
区域设定部(120)以接收这样的输入而构成。因此,区域设定部(120),为了接收如上所述的输入,能够提供适合的用户界面。例如,区域设定部(120)能够接收对于由图像获得部(110)获得的图像指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入。此外,区域设定部(120)能够接收对于由图像获得部(110)获得的图像指定多个划分的下位区域的输入。此时,划分的下位区域各自内的单位单元图案可相同。另一方面,划分的下位区域各自内的单位单元图案可与其他的下位区域内的单位单元图案不同。
作为一个实例,如图4中图示那样,区域设定部(120)能够提供将表示单元区域(210-1~210-15)中的一个(例如,由用户或触摸面板检查装置(100)任意地选择的单元区域(210-9))的图像(410)显示的用户界面(400)。由此,区域设定部(120)能够接收以单元区域(210-1~210-15)中各自的周期比较区域的相对位置和单元对单元比较区域的相对位置成为同样位置的方式指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入。
作为另一个实例,由区域设定部(120)接收的输入不仅对获得的图像指定多个划分的下位区域,而且能够在划分的下位区域中的至少2个下位区域中相同地指定周期比较区域的相对位置,能够在划分的下位区域中分别指定单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。与其不同地,被区域设定部(120)接收的输入,在对于获得的图像指定多个划分的下位区域时,能够在划分的下位区域分别指定周期比较区域的相对位置以使其不同,能够在划分的下位区域中的至少2个下位区域中指定单元对单元比较区域的相对位置以使其相同。
然后,对于周期比较区域和单元对单元比较区域进一步具体地考察。如由图4的图像(410)看到那样,单元区域(210-1~210-15)各自可被划分为包含ITO(IndiumTinOxide,氧化铟锡)图案、金属图案等这样的电极图案的区域(411)和不包含这样的电极图案的区域(412)。此外,在不包含电极图案的区域(412)能够存在二个孔(hole)(例如,光入射到在使用单元区域的电子设备中内藏的照相机中的照相机孔和从该电子设备放出红外线的IR孔)(413、414)、标识(logo)(415)、标记(mark)(416)和/或与单元区域关联的特定记号(417)。
用于由图像检测缺陷的通常的方式中的一个是在获得的图像中用预先设定的横和/或纵方向的像素周期单位检查周期比较区域内的像素。例如,这样的横/纵周期比较法,在将X轴方向上的a个像素和Y轴方向上的b个像素的图像部分与周边的相同大小的图像部分比较而相互对应的位置的像素不同的情况下,判定为存在缺陷。但是,对于电极图案存在的区域(411)、孔(413、414)、标识(415)、标记(416)和记号(417)存在的单元区域(210-1~210-15)的图像,难以统一地应用横/纵周期比较法,这是因为如果采用该比较法,有时判定为在正常的单元区域也存在缺陷。
取而代之,区域设定部(120)对于用户而言,能够对于获得的图像在用户界面(400)上指定周期比较区域和单元对单元比较区域。例如,如图5中图示那样,用户采用横/纵周期比较法设定区域(512、513、514、515、516、517)的检查方法时,能够将采用单元对单元比较法设定区域(511、518、519、520)的检查方法的输入提供给区域设定部(120)。例如,单元对单元比较法能够在获得的图像中在触摸面板用玻璃片(200)上的单元区域中的3个以上的单元区域之间比较单元对单元比较区域。例如,能够采用对于相当于单元区域(210-2)及其左右邻接的单元区域(210-1和210-3)内的区域(511、518、519、520)的图像部分进行图案比较、检测缺陷、识别缺陷的位置的单元对单元比较法。
此外,由区域设定部(120)接收的输入可以是对于获得的图像指定非检查区域的输入。例如,区域设定部(120)能够接收以省略区域(521)的图像检查的方式指定的输入。
进而,由区域设定部(120)接收的输入,在对于获得的图像指定多个划分的下位区域时,可以是指定划分的下位区域各自的非检查区域的输入。此时,在划分的下位区域中的至少2个下位区域中,各自可包含单位单元图案(例如,在指定的非检查区域具有不同的图案的单位单元图案和/或在不包括指定的非检查区域的区域具有相同图案的单位单元图案)。
另一方面,区域设定部(120)对于用户而言,能够在用户界面(400)上指定在单元对单元比较区域内部彼此划分的检查区域和对于该检查区域的不同的检查条件。例如,区域(511)内的彼此不同种类的图案(例如,ITO图案和金属图案)有时检查条件彼此不同,这是因为对于某种类的图案,即使存在缺陷也发挥其功能,另一方面,对于另一种类的图案有时不是这样。因此,如图6中图示那样,用户能够通过用户界面(400)将在图案部位分别设定检查区域(611、612、613)、对于各检查区域设定不同的检查条件的输入提供给区域设定部(120)。
缺陷检测部(130)以如下方式构成:进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测缺陷,所述第1图像检查在由图像获得部(110)获得的图像中通过横/纵周期比较法对周期比较区域内的像素进行比较,所述第2图像检查在该图像中通过单元对单元比较法对单元对单元比较区域进行比较。作为一个实例,缺陷检测部(130)能够根据由区域设定部(120)接收的输入,对于单元区域(210-1~210-15)各自的图像进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个。此外,缺陷检测部(130)能够对单元对单元比较区域中的检查区域分别利用不同的检查条件判定缺陷的有无。另一方面,缺陷检测部(130)能够省略对于非检查区域的图像检查(例如,第1图像检查和第2图像检查)。进而,区域设定部(120)接收到对于由图像获得部(110)获得的图像指定多个划分的下位区域的输入的情况下,缺陷检测部(130)能够对下位区域分别进行第1图像检查和第2图像检查。
缺陷检测部(130)通过第1图像检查和第2图像检查中的至少一个检测缺陷的情况下,输出部(140)以表示检测到的缺陷的位置的方式构成。例如,如图7中图示那样,输出部(140)能够提供表示对于单元区域(210-1~210-15)检测到的缺陷位于何处的用户界面(700)。
此外,输出部(140)能够响应对于表示某缺陷的位置的显示的用户选择来显示该缺陷的图像。缺陷发生的单元区域的图像具有相当大的容量的情况下,与显示该图像相比,显示包含缺陷的一部分的图像对于触摸面板检查装置(100)而言负担减少。
例如,假定在图7的用户界面(700)中所示的图形显示(701)表示通过横/纵周期比较法检测的第1缺陷的位置,图形显示(702)表示通过单元对单元周期比较法检测的第2缺陷的位置。由图7可知,第1缺陷和第2缺陷在单元区域(210-7)上发生。如果用户在用户界面(700)上选择图形显示(701)的情况下,输出部(140)能够响应这样的用户选择显示表示第1缺陷的图像。例如,图8表示在表示该单元区域的表題的同时表示第1缺陷和周边部分的图像(800)。如果用户在用户界面(700)上选择图形显示(702)的情况下,输出部(140)能够响应这样的用户选择而显示表示第2缺陷的图像。例如,图9表示在表示该单元区域的表題的同时表示第2缺陷和预先设定的大小的周边部分的图像(900)。进而,为了用户的方便,输出部(140)能够显示表示通过单元对单元比较法比较的周边单元区域内的对应的部分的图像。例如,采用单元对单元比较法将单元区域(210-7)与单元区域(210-8、210-9)比较的情况下,输出部(140)也能够显示表示单元区域(210-8)的一部分的图像(例如,图9的图像(910))和表示单元区域(210-9)的一部分的图像(例如,图9的图像(920)),该图像表示与单元区域(210-7)上的第2缺陷对应的部分。
此外,本发明的另一实施例提供触摸面板检查方法,其包括:获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片作为一个整体区域进行摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像的阶段;接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入的阶段;和在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷的阶段,所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素,所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。例如,这样的触摸面板检查方法可使用根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置(例如,前述的触摸面板检查装置(100))进行。
以上对本发明的代表的实施例详细地进行了说明,但本发明所属的技术领域中具有通常的知识的人能够理解:对于上述的实施例在不脱离本发明的范畴的限度内能够进行多种变形。因此,本发明的权利范围并不限于说明的实施例而确定,不仅是后述的专利权利要求,而且必须由与该专利权利要求均等的范围等确定。
附图标记的说明
100:触摸面板检查装置
110:图像获得部
112:输入部
114:摄像设备控制部
116:摄像设备
118:存储器
120:区域设定部
130:缺陷检测部
140:输出部
Claims (28)
1.一种触摸面板检查装置,其包含:
图像获得部,其中,获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像;
区域设定部,其中,接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入;和
缺陷检测部,其中,在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷,所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素,所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。
2.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述图像获得部包含:使用上述玻璃片的布置信息识别上述多个单元区域的输入部;和对经识别的上述多个单元区域进行摄像而获得上述图像的摄像设备。
3.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还在上述单元对单元比较区域内指定检查区域和对于上述检查区域的不同的检查条件,上述缺陷检测部根据上述检查条件进行上述第2图像检查。
4.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还对上述图像指定非检查区域,上述缺陷检测部还对上述非检查区域省略图像检查。
5.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,上述缺陷检测部在上述多个划分的下位区域分别进行上述第1图像检查和上述第2图像检查。
6.根据权利要求5所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案相同。
7.根据权利要求5所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案与上述多个划分的下位区域中的其他的下位区域内的单位单元图案不同。
8.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述周期比较区域的相对位置指定为同样位置,在上述多个划分的下位区域分别指定上述单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。
9.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域分别指定上述周期比较区域的相对位置以使其不同,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述单元对单元比较区域的相对位置指定为同样位置。
10.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域各自包含单位单元图案。
11.根据权利要求10所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述至少2个划分的下位区域中各自包含在不包括上述非检查区域的区域具有相同图案的单位单元图案,上述缺陷检测部还对于上述非检查区域省略图像检查。
12.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含在上述非检查区域具有不同图案的单位单元图案,上述缺陷检测部还对于上述非检查区域省略图像检查。
13.根据权利要求1所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述缺陷检测部还包含显示通过上述第1图像检查和上述第2图像检查中的至少一个检测的缺陷的位置的输出部。
14.根据权利要求13所述的触摸面板检查装置,其特征在于,上述输出部还响应对于上述显示的选择,显示表示上述缺陷的图像。
15.一种触摸面板检查方法,其包含:
获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片作为一个整体区域进行摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像的阶段;
接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元比较区域的输入的阶段;和
在上述图像中进行第1图像检查和第2图像检查中的至少一个来检测上述玻璃片上的缺陷的阶段,所述第1图像检查用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素,所述第2图像检查用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域。
16.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述获得的阶段包括:使用上述玻璃片的布置信息识别上述多个单元区域的阶段;和对经识别的上述多个单元区域进行摄像而获得上述图像的阶段。
17.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还在上述单元对单元比较区域内指定检查区域和对于上述检查区域的不同的检查条件,上述第2图像检查根据上述检查条件进行。
18.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还对上述图像指定非检查区域,上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
19.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,上述检测的阶段包含对上述多个划分的下位区域分别进行上述第1图像检查和上述第2图像检查的阶段。
20.根据权利要求19所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案相同。
21.权利要求19所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述多个划分的下位区域各自内的单位单元图案与上述多个划分的下位区域中的其他下位区域内的单位单元图案不同。
22.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述周期比较区域的相对位置指定为同样位置,在上述多个划分的下位区域分别指定上述单元对单元比较区域的相对位置以使其不同。
23.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域分别指定上述周期比较区域的相对位置以使其不同,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域将上述单元对单元比较区域的相对位置指定为同样位置。
24.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含单位单元图案。
25.根据权利要求24所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述至少2个划分的下位区域中各自包含在不包括上述非检查区域的区域具有相同图案的单位单元图案,上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
26.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,上述输入还对上述图像指定多个划分的下位区域,指定上述多个划分的下位区域各自的非检查区域,在上述多个划分的下位区域中的至少2个下位区域中各自包含在上述非检查区域具有不同图案的单位单元图案,上述检测的阶段对于上述非检查区域省略图像检查。
27.根据权利要求15所述的触摸面板检查方法,其特征在于,还包含显示通过上述第1图像检查和上述第2图像检查中的至少一个检测的缺陷的位置的阶段。
28.根据权利要求27所述的触摸面板检查方法,其特征在于,还包含响应对于上述显示的选择而显示表示上述缺陷的图像的阶段。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140134956A KR101687163B1 (ko) | 2014-10-07 | 2014-10-07 | 터치 패널 검사 장치 및 방법 |
KR10-2014-0134956 | 2014-10-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105486687A true CN105486687A (zh) | 2016-04-13 |
CN105486687B CN105486687B (zh) | 2020-05-15 |
Family
ID=55673809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201510644460.2A Active CN105486687B (zh) | 2014-10-07 | 2015-10-08 | 触摸面板检查装置和方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6619194B2 (zh) |
KR (1) | KR101687163B1 (zh) |
CN (1) | CN105486687B (zh) |
TW (1) | TW201621584A (zh) |
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Publication number | Publication date |
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JP2016076214A (ja) | 2016-05-12 |
CN105486687B (zh) | 2020-05-15 |
TW201621584A (zh) | 2016-06-16 |
KR101687163B1 (ko) | 2016-12-16 |
KR20160041313A (ko) | 2016-04-18 |
JP6619194B2 (ja) | 2019-12-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |