CN102842803A - 可快速拆组电连接模块的测试连接器 - Google Patents

Abstract

本发明是一种可快速拆组电连接模块的测试连接器，其主要于一基座的装配孔中组装一组可整组直接拆换的电连接模块，所述电连接模块包含一元件导引框以及一电连接构件，所述电连接构件可拆组的装设于元件导引框底部，该测试连接器可安装于手动或自动化测试设备中，以元件导引框提供待测电子元件置入其中，使电子元件通过电连接构件电性连接测试设备进行功能性检测，本发明于测试连接器的电连接构件故障或需要清洁时，通过电连接模块直接自基座中拆组的组合构造设计，而能快速拆换电连接模块或其电连接构件，立即接续进行检测作业，减少IC测试机台因更换或清洁电连接构件而停机或待机的时间，达到接近不停机的生产作业状态。

Description

可快速拆组电连接模块的测试连接器

技术领域

本发明是关于一种测试电连接器，尤指一种具备快速更换电连接模块功用的测试电连接器。

背景技术

目前应用于手动式检测装置或自动化检测设备中的检测连接器用于提供待测集成电路元件置放定位的装置，并利用该检测装置的电连接构件(如：导电胶片、探针等)作为待测集成电路元件与测试载板间电接触的媒介，所述电连接构件安装于该测试座底部，并利用螺丝将该测试座锁固于检测设备的电路载板上，使电连接构件的信号输出入端子分别电性接触电路载板表面相应的接触垫。当待测集成电路元件置入该测试座的元件定位槽中，操作者手动或利用机器对待测集成电路元件施以一力量，使集成电路元件底面的每一输出入端子(如接脚、引垫、球垫等)分别通过导电构件中相应的信号输出入端子连接电路载板上相对应的接触垫，进而由检测装置或检测设备的检测***进行功能性检测，以判断待测集成电路元件的功能是否正确。

前述测试连接器长时间被应用于集成电路元件的检测作业时，因测试连接器中的电连接构件遭受多次测试加压而会失去其原来性质(如伸缩弹性或电气特性等)而损坏，或因多次测试加压而脏污，故为确保测试的正确性，电连接构件使用一段时间之后，即须加以更换或下生产线清洁维护。然而，因电连接构件是通过锁固于电路载板上的测试座加以固定，故每一次更换电连接构件时，即需使检测设备停机，再拆解测试座、更换电连接构件以及重新对位锁固测试座，一般而言，每更换电连接构件一次，即须停机数十分钟之久，对检测作业效率影响甚大，因此，如何使电连接构件的替换作业更为快速简便，为测试连接器设计领域亟待改善的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种可快速拆组电连接模块的测试连接器，希由此设计改善现有测试连接器的电连接构件更换费时费工，且会导致检测设备停机时间过久，影响检测作业效率等问题。

为达成前揭目的，本发明所设计的可快速拆组电连接模块的测试连接器包含：

一基座，所述基座中形成至少一个由上而下贯通的装配孔；以及

至少一电连接模块，所述电连接模块能整组拆换的安装于基座的装配孔，所述电连接模块包含一元件导引框以及一电连接构件，所述元件导引框中形成一由上而下贯通的元件置入孔，所述电连接构件能拆组的装设于元件导引框底部，并通过元件导引框能拆组的定位于基座的装配孔中，所述电连接构件位于基座的装配孔底部。

在优选的实施方式中，所述电连接构件与元件导引框底部之间形成相应的定位凹部与定位凸部配合的组合构造。

在优选的实施方式中，所述电连接构件与元件导引框底部之间通过卡接方式组合。

在优选的实施方式中，所述电连接构件与元件导引框底部之间通过螺丝锁固。

在优选的实施方式中，所述元件导引框底部通过弹性体弹力抵止固定所述电连接构件。

在优选的实施方式中，所述电连接构件与元件导引框底部之间通过定位销插设固定。

在优选的实施方式中，所述元件导引框与基座之间通过螺丝锁固。

在优选的实施方式中，所述元件导引框与基座之间通过卡接组合。

在优选的实施方式中，所述元件导引框与基座之间通过磁铁磁吸固定。

在优选的实施方式中，所述元件导引框与基座之间通过定位销与定位孔插接固定。

本发明的可快速拆组电连接模块的测试连接器的特点及优点是：由此可快速拆组电连接模块的测试连接器设计，使其可安装于手动或自动化测试设备中，以元件导引框提供待测电子元件置入其中，使电子元件通过电连接构件电性连接测试设备进行功能性检测，其中，于测试连接器的电连接构件故障或脏污时，通过电连接模块直接自基座中拆组的组合构造设计，让使用者能够快速拆换电连接模块或其电连接构件，立即接续进行检测作业，有效缩短停机时间，达到接近不停机的检测作业状态。

附图说明

图1是揭示本发明测试连接器的一较佳实施例的立体分解示意图。

图2至图5揭示本发明测试连接器使用不同的电连接构件的其它较佳实施例的组合剖面示意图。

图6是揭示本发明测试连接器的电连接模块于元件导引框底面使用弹性体固定电连接构件的另一较佳实施例的底视平面示意图。

图7是图1所示测试连接器较佳实施例结合测试载板与手动式测试盖的立体示意图。

图8是图1所示测试连接器较佳实施例结合测试载板与自动检测设备的定位板的立体示意图。

图9是待测集成电路元件置入测试连接器的使用状态参考图。

图10是图1所示测试连接器较佳实施例于更换电连接模块的操作示意图。

元件符号说明

1……测试连接器        2……基座

20……装配孔           201……孔壁

21……定位穿孔         22……定位凸柱

23……定位销           3……电连接模块

30……元件导引框       301……元件置入孔

302……定位孔          303……定位凹部

304……定位凸部        305……卡勾

31……电连接构件       311……定位凸部

312……定位凹部        32……弹性体

34……磁铁             35……螺丝

4……测试载板          5……测试盖

6……定位板            60……定位孔

7……集成电路元件

具体实施方式

如图1所示，是揭示本发明可快速拆组电连接模块的测试连接器的一较佳实施例，所述测试连接器1的组成包含一基座2以及至少一电连接模块3，其中：

所述的基座2中形成至少一个由上而下贯通的装配孔20，如图1所示，该基座2于所述装配孔20***可成形多个定位穿孔21，其中部分的定位穿孔21可供螺丝穿设其中，用以将基座2固定于电路载板上，另于基座2顶面也可设置定位凸柱22，作为基座2对位组装的用途。

所述电连接模块3可整组直接拆换的安装于基座2的装配孔20中，所述电连接模块3包含一元件导引框30以及一电连接构件31，所述元件导引框30中形成一由上而下贯通的元件置入孔301，所述元件置入孔301是依待测集成电路元件的外形尺寸而设计，所述电连接构件31可拆组的装设于元件导引框30底部，并提供多个信号输出入端子，并通过元件导引框30可拆组固定于基座2的装配孔20中，电连接构件31位于基座2的装配孔20底部；所述电连接构件31可为具有多数导线的导电胶片(如图3所示)、或一承载板与多个导电胶条(或导电胶块)的组合(如图1、图2所示)、或是具有多个柱状导电粒子的导电片(如图4所示)、或是具有多个伸缩式探针的探针矩阵(如图5所示)，或其它具有由上而下特定方向导电功能的导电构件等，并以所述导线、导电粒子、导电块、探针等作为信号输出入端子。

所述元件导引框30与基座2之间的组合构造设计，可以是螺丝锁固、卡接组合定位、磁铁磁吸定位、弹性体以弹力抵止固定、定位销与定位孔插接固定等组合构造来达成。如图1所示的较佳实施例，基座2的装配孔20形成上段孔径大于下段孔径的阶级孔，装配孔20上段相应于元件导引框30外形，于基座2的装配孔20上、下段衔接处周边孔壁201处设置至少一定位销23，于元件导引框30中设置相应于定位销23的定位孔302，使元件导引框30置入基座2的装配孔20上段中，电连接构件31位于基座2装配孔20下段中，定位销23穿设于相应的定位孔302，使元件导引框30固定于基座2中，并可自基座2中直接拆组元件导引框30。如图1所示的较佳实佳例中，定位销23还可为铁质材质所制成，另于元件导引框30的定位孔302上方设置一磁铁34，使定位销23可为磁铁34予以磁吸固定。

所述电连接构件31可拆组的装设于元件导引框30底部，电连接构件31与元件导引框30底部之间可通过相应的定位凹部303、312与定位凸部311、304配合的组合构造(如图2、图3所示)，或者，电连接构件31与元件导引框30两者之间也可利用卡接组合方式、螺丝锁固方式、弹性体32以弹力抵止固定(如图6所示)、定位销与定位孔的插设固定等组合构造来达成。所述电连接构件31依所选用的导电胶片(如图3所示的较佳实施例)、承载板与多个导电胶条(或导电胶块)的组合(如图1、图2所示的较佳实施例)、具有多个柱状导电粒子的导电片(如图4所示的较佳实施例)、或具有多个伸缩式探针的探针矩阵(如图5所示的较佳实施例)，或者是其它具有由上而下特定方向导电功能的导电构件等型式，而选择合适的电连接构件与元件导引框的组合方式。

如图1及图5所示的较佳实施例，揭示电连接构件31通过螺丝35(或定位销)固定于元件导引框30底部的组合构造；如图4所示的较佳实施例，揭示元件导引框30通过其底部卡勾305以卡接方式固定电连接构件31；如图5所示的较佳实施例，揭示电连接构件31通过螺丝固定于元件导引框30底部的组合构造；如图6所示的较佳实施例，揭示电连接构件31通过设置于元件导引框30底部的弹性体32以弹力予以抵止定位的组合构造。

本发明测试连接器应用于集成电路元件检测作业时，如图7所示，揭示该测试连接器应用于手动检测装置的实施例，其中该测试连接器1安装于具有线路的测试载板4，使测试连接器1中的电连接构件31的多个信号输出入端子底端电性接触测试载板4上相应的接触垫，其次作业人员以手动方式将待测集成电路元件置放于元件导引框30的元件置入孔301中，再手持测试盖5盖合于测试连接器1上，并对待测集成电路元件施以一力量，使待测集成电路元件底部的每一输出入端子(如接脚、引垫、球垫等)分别电接触电连接构件31上的信号输出入端子，再通过测试载板4电性连接测试***进行功能性检测。

如图8所示，揭示多个测试连接器1应用于自动化检测设备的定位板中的实施例，其中，使该些测试连接器1分别固定于测试载板4上，使每一测试连接器1的电连接构件31的信号输出入端电接触测试载板4上相应的接触垫，再各组分别安装于一定位板6底部，其中利用基座2与定位板6相结合，并使每一测试连接器1中可拆组的电连接模块3对应于定位孔60中，并通过定位板6安装于测试设备的机台上，并使每一测试连接器1分别连通测试载板4电性连接测试***。于测试时，如图9所示，其是利用自动化检测设备中的运动机构吸取多个待测集成电路元件7移置定位板6中，使每一待测集成电路元件置入相应测试连接器1的元件导引框30的元件置入孔301中，使待测集成电路元件底部的每一输出入端子(如接脚、引垫、球垫等)分别电接触电连接构件31上的信号输出入端子，再通过测试载板4电性连接测试***进行功能性检测。

本发明测试连接器应用于集成电路元件检测作业后，其中电连接构件31因长时间被施加力量而会损耗或脏污，故为确保检测作业的正确须进行更换，于更换时，如图10所示，其以手持工具将电连接模块3直接自基座2中向上取出，将备用替换的电连接模块3置入基座2中；或者，于电连接模块3自基座2中取出后，将电连接模块3中的电连接构件31自元件导引框30底部取下，换上备用替换的电连接构件31，再重新置入基座2的装配孔20中，即能接续进行待测集成电路元件的检测作业。

由以上说明可知，本发明通过电连接模块3可以直接自基座2中拆组的组合构造设计，让使用者能够快速拆换电连接模块3或其电连接构件31，立即接续进行检测作业，故能有效缩短停机时间，达到接近不停机的检测作业状态。

以上所述，仅是揭示本发明的较佳实施例，并非对本发明作任何形式上的限制，任何所属技术领域中具有通常知识的技术人员在不脱离本发明所提出的技术特征的范围内，利用本发明所揭示技术内容所作出局部更动或修饰的等效实施例，均仍属于本发明技术特征的范围内。

Claims (10)

1.一种可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，包含：

一基座，所述基座中形成至少一个由上而下贯通的装配孔；以及

至少一电连接模块，所述电连接模块能整组拆换的安装于基座的装配孔，所述电连接模块包含一元件导引框以及一电连接构件，所述元件导引框中形成一由上而下贯通的元件置入孔，所述电连接构件能拆组的装设于元件导引框底部，并通过元件导引框能拆组的定位于基座的装配孔中，所述电连接构件位于基座的装配孔底部。

2.如权利要求1所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述电连接构件与元件导引框底部之间形成相应的定位凹部与定位凸部配合的组合构造。

3.如权利要求1所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述电连接构件与元件导引框底部之间通过卡接方式组合。

4.如权利要求1所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述电连接构件与元件导引框底部之间通过螺丝锁固。

5.如权利要求1所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述元件导引框底部通过弹性体弹力抵止固定所述电连接构件。

6.如权利要求1所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述电连接构件与元件导引框底部之间通过定位销插设固定。

7.如权利要求1至6任一项所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述元件导引框与基座之间通过螺丝锁固。

8.如权利要求1至6任一项所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述元件导引框与基座之间通过卡接组合。

9.如权利要求1至6任一项所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述元件导引框与基座之间通过磁铁磁吸固定。

10.如权利要求1至6任一项所述的可快速拆组电连接模块的测试连接器，其特征在于，所述元件导引框与基座之间通过定位销与定位孔插接固定。

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