CN102331952A - 嵌入式设备测试***及方法 - Google Patents

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林玉龙
董华
谭杰君
谢奕勇
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing

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Abstract

一种嵌入式设备测试***，运行于主机中，所述主机与嵌入式设备通信连接，该***包括：启动侦测模块，用于侦测嵌入式设备是否启动；登录模块，用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备；状态侦测模块，用于侦测嵌入式设备当前的设备状态；确定模块，用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态，以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令；及测试模块，用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备，对嵌入式设备执行相应的测试。本发明还提供一种嵌入式设备测试方法。本发明能够根据测试过程中出现的情况作出相应的处理，保证测试的顺利进行。

Description

嵌入式设备测试***及方法
技术领域
本发明涉及一种测试***及方法，特别是关于一种嵌入式设备测试***及方法。
背景技术
脚本测试是嵌入式设备(例如：安防板卡)常用的测试方法。脚本测试通常需要依靠经验设定每个测试项目的测试时间，对于一些不太确定时间的测试项目，只能采用最长可能时间去测试。当一个测试项目完成时设定的测试时间可能还没有到达，需要等待一段时间才可执行下一个测试项目。此外，脚本测试要按照预先设定的测试流程进行各个项目的测试。测试期间的任何突发状况都有可能导致测试的失败。因而，目前的脚本测试需要花费大量的测试时间，测试效率低下，并且易于出错。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种嵌入式设备测试***，能够根据测试过程中出现的情况作出相应的处理，保证测试的顺利进行。
此外，还有必要提供一种嵌入式设备测试方法，能够根据测试过程中出现的情况作出相应的处理，保证测试的顺利进行。
一种嵌入式设备测试***，运行于主机中，所述主机与嵌入式设备通信连接，该***包括：启动侦测模块，用于侦测嵌入式设备是否启动；登录模块，用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备；状态侦测模块，用于侦测嵌入式设备当前的设备状态；确定模块，用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态，以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令；及测试模块，用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备，对嵌入式设备执行相应的测试。
一种嵌入式设备测试方法，应用于主机中，所述主机与嵌入式设备通信连接，该方法包括步骤：侦测嵌入式设备是否启动；侦测到嵌入式设备启动后，登录嵌入式设备；侦测嵌入式设备当前的设备状态；判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态；若嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态，则确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令；及将确定的测试命令发送至嵌入式设备，以执行相应的测试。
本发明侦测嵌入式设备的设备状态，根据嵌入式设备的设备状态对嵌入式设备执行相应的测试，当一个测试项目完成时即可进行下一测试项目的测试，节省了测试时间，提高了测试效率，保证了测试的顺利进行。
附图说明
图1为本发明嵌入式设备测试***较佳实施例的应用环境示意图。
图2为图1中嵌入式设备测试***的功能模块图。
图3为本发明嵌入式设备测试方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
  嵌入式设备测试***   10
  主机   11
  嵌入式设备   12
  接口   13
  存储器   14
  处理器   15
  启动侦测模块   200
  登录模块   210
  状态侦测模块   220
  确定模块   230
  测试模块   240
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明嵌入式设备测试***较佳实施例的应用环境示意图。所述嵌入式设备测试***10运行于主机11中，该主机11通过接口13与嵌入式设备12通信连接。所述嵌入式设备12可以是手机、掌上电脑、个人数字助理等手持式电子设备，还可以是其他类型的电子设备，如安防板卡。所述接口13可以是串口、网口、USB接口，还可以是其他类型的通信端口。所述主机11还包括存储器14及处理器15。所述存储器14存储嵌入式设备测试***10的程序指令以及嵌入式设备测试***10运行过程中产生的数据。所述处理器15执行该嵌入式设备测试***10的程序指令，以对嵌入式设备12进行测试。
参阅图2所示，是图1中嵌入式设备测试***的功能模块图。所述嵌入式设备测试***10包括启动侦测模块200、登录模块210、状态侦测模块220、确定模块230及测试模块240。
所述启动侦测模块200用于侦测嵌入式设备12是否启动。在本实施例中，若启动成功，则嵌入式设备12发送启动成功的消息至主机11，侦测到该启动成功的消息后，启动侦测模块200确认该嵌入式设备12已启动。
所述登录模块210用于在侦测到嵌入式设备12启动后登录嵌入式设备12。在本实施例中，嵌入式设备12存储有预先设定的用户名和密码，登录模块210使用该预先设定的用户名及密码登录嵌入式设备12。
所述状态侦测模块220用于侦测嵌入式设备12当前的设备状态。在本实施例中，嵌入式设备12在指定时刻(例如：每一项测试结束时)主动将当前的设备状态发送给主机11，状态侦测模块220侦测该嵌入式设备12主动发送的当前的设备状态。状态侦测模块220还可以发送状态查询请求给嵌入式设备12，使得嵌入式设备12根据该状态查询请求返回当前的设备状态。需要说明的是，嵌入式设备12有一个初始状态，表示要开始测试；嵌入式设备12还有至少一个结束状态，表示要结束测试。
所述确定模块230用于判断嵌入式设备12当前的设备状态是否是结束状态，以及在嵌入式设备12当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备12当前的设备状态相对应的测试命令。在本实施例中，嵌入式设备12存储有预先设定的状态-命令对照表，该状态-命令对照表定义嵌入式设备12的各个设备状态与测试命令的对应关系。确定模块230根据该状态-命令对照表查找与嵌入式设备12当前的测试状态相对应的测试命令。例如，若嵌入式设备12处于处理器测试结束的设备状态，则相应的测试命令为内存测试；若嵌入式设备12处于内存测试结束的设备状态，则相应的测试命令为闪存测试。
所述测试模块240用于将确定的测试命令发送给嵌入式设备12，对嵌入式设备12执行相应的测试。例如，测试模块240将内存测试的测试命令发送给嵌入式设备12，对嵌入式设备12执行内存测试。又如，测试模块240将闪存测试的测试命令发送给嵌入式设备12，对嵌入式设备12执行闪存测试。
参阅图3所示，是本发明嵌入式设备测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S301，启动侦测模块200侦测嵌入式设备12是否启动。在本实施例中，若启动成功，则嵌入式设备12发送启动成功的消息至主机11，侦测到该启动成功的消息后，启动侦测模块200确认该嵌入式设备12已启动。
侦测到嵌入式设备12启动后，步骤S302，登录模块210登录嵌入式设备12。在本实施例中，嵌入式设备12存储有预先设定的用户名和密码，登录模块210使用该预先设定的用户名及密码登录嵌入式设备12。
步骤S303，状态侦测模块220侦测嵌入式设备12当前的设备状态。在本实施例中，嵌入式设备12在指定时刻(例如：每一项测试结束时)主动将当前的设备状态发送给主机11，状态侦测模块220侦测该嵌入式设备12主动发送的当前的设备状态。状态侦测模块220还可以发送状态查询请求给嵌入式设备12，使得嵌入式设备12根据该状态查询请求返回当前的设备状态。
步骤S304，确定模块230判断嵌入式设备12当前的设备状态是否是结束状态，若嵌入式设备12当前的设备状态是结束状态，则结束测试。
否则，若嵌入式设备12当前的设备状态不是结束状态，步骤S305，确定模块230确定与嵌入式设备12当前的设备状态相对应的测试命令。在本实施例中，嵌入式设备12存储有预先设定的状态-命令对照表，该状态-命令对照表定义嵌入式设备12的设备状态与测试命令的对应关系。确定模块230根据该状态-命令对照表查找与嵌入式设备12当前的测试状态相对应的测试命令。例如，若嵌入式设备12处于处理器测试结束的设备状态，则相应的测试命令为内存测试；若嵌入式设备12处于内存测试结束的设备状态，则相应的测试命令为闪存测试。
步骤S306，测试模块240将确定的测试命令发送给嵌入式设备12，对嵌入式设备12执行相应的测试，返回步骤S303。例如，测试模块240将内存测试的测试命令发送给嵌入式设备12，对嵌入式设备12执行内存测试。又如，测试模块240将闪存测试的测试命令发送给嵌入式设备12，对嵌入式设备12执行闪存测试。

Claims (6)

1.一种嵌入式设备测试***，运行于主机中，所述主机与嵌入式设备通信连接，其特征在于，该***包括：
启动侦测模块，用于侦测嵌入式设备是否启动；
登录模块，用于在侦测到嵌入式设备启动后登录嵌入式设备；
状态侦测模块，用于侦测嵌入式设备当前的设备状态；
确定模块，用于判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态，以及在嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态时确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令；及
测试模块，用于将确定的测试命令发送至嵌入式设备，对嵌入式设备执行相应的测试。
2.如权利要求1所述的嵌入式设备测试***，其特征在于，所述主机通过串口、网口或USB接口与嵌入式设备通信连接。
3.如权利要求1所述的嵌入式设备测试***，其特征在于，所述确定模块根据预先设定的状态-命令对照表确定与嵌入式设备当前的测试状态相对应的测试命令。
4.一种嵌入式设备测试方法，应用于主机中，所述主机与嵌入式设备通信连接，其特征在于，该方法包括步骤：
侦测嵌入式设备是否启动；
侦测到嵌入式设备启动后，登录嵌入式设备；
侦测嵌入式设备当前的设备状态；
判断嵌入式设备当前的设备状态是否是结束状态；
若嵌入式设备当前的设备状态不是结束状态，则确定与嵌入式设备当前的设备状态相对应的测试命令；及
将确定的测试命令发送至嵌入式设备，以执行相应的测试。
5.如权利要求4所述的嵌入式设备测试方法，其特征在于，所述主机通过串口、网口或USB接口与嵌入式设备通信连接。
6.如权利要求4所述的嵌入式设备测试方法，其特征在于，所述测试命令根据预先设定的状态-命令对照表来确定。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110825624A (zh) * 2019-08-06 2020-02-21 厦门亿联网络技术股份有限公司 一种嵌入式设备的模块测试***及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1553738A (zh) * 2003-05-26 2004-12-08 华为技术有限公司 一种对短消息中心功能进行测试的方法及***
US7173538B2 (en) * 2004-06-25 2007-02-06 Rm2, Inc. Apparatus, system and method for monitoring a drying procedure
CN101539877A (zh) * 2008-03-17 2009-09-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 嵌入式设备测试***及方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1553738A (zh) * 2003-05-26 2004-12-08 华为技术有限公司 一种对短消息中心功能进行测试的方法及***
US7173538B2 (en) * 2004-06-25 2007-02-06 Rm2, Inc. Apparatus, system and method for monitoring a drying procedure
CN101539877A (zh) * 2008-03-17 2009-09-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 嵌入式设备测试***及方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110825624A (zh) * 2019-08-06 2020-02-21 厦门亿联网络技术股份有限公司 一种嵌入式设备的模块测试***及方法

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