CN101681604A - 驱动电路、显示装置以及电视*** - Google Patents

Abstract

本发明的用于驱动显示面板的液晶驱动用半导体集成电路(10)包括：与显示面板连接的输出端子、输出电路块以及预备输出电路块，该输出电路块包含有能够与输出端子连接的DAC电路(8)，该预备输出电路块包含有能够与输出端子连接的DAC电路(28)，液晶驱动用半导体集成电路(10)还包括：运算放大器(1)，用于对DAC电路(8)所输出的输出信号和DAC电路(28)所输出的输出信号进行比较；判断电路(3)，基于运算放大器(1)的比较结果，对DAC电路(8)是否存在有不良缺陷进行判断；开关(2c)以及开关(2d)，用于在判断电路(3)的判断结果为存在有不良缺陷的情况下，取代DAC电路(8)，使DAC电路(28)与输出端子连接。由此，由于具有易于对输出电路缺陷予以检测的具体构件，所以能够提供在输出电路存在有缺陷时进行自行修复的显示装置驱动用集成电路。

Description

驱动电路、显示装置以及电视***

技术领域

本发明涉及一种能够对DA转换器输出电路的缺陷进行自行检测和自行修复的用于驱动显示面板的驱动电路。

背景技术

近年来，随着液晶面板的大型化和高清晰化，液晶驱动用半导体集成电路上的液晶驱动用输出端子的端子数在不断增加，输出端子输出的多值电压也越来越趋于多灰阶化。例如，现在为主流的液晶驱动用半导体集成电路具有可输出256灰阶电压的500个输出端子。并且，具有1000个以上输出端子的液晶驱动用半导体集成电路也正在开发阶段。此外，随着液晶面板的多色化，可输出1024灰阶电压的液晶驱动用半导体集成电路也处于开发阶段。

以下，参照图27对现有的液晶驱动用半导体集成电路的结构进行说明。图27是表示现有的液晶驱动用半导体集成电路的结构框图。

该图所示液晶驱动用半导体集成电路101能够从n个液晶驱动用信号输出端子分别输出m灰阶的输出电压。首先，就液晶驱动用半导体集成电路101的结构进行说明。在液晶驱动用半导体集成电路101的外部，设有时钟输入端子102、具有多个信号输入端子的灰阶数据输入端子103、LOAD信号(加载信号)输入端子104、作为基准电源端子的V0端子105、V1端子106、V2端子107、V3端子108、V4端子109。此外，液晶驱动用半导体集成电路101还包括n个液晶驱动用信号输出端子111-1～111-n(以下，称液晶驱动用信号输出端子为信号输出端子。并且，对液晶驱动用信号输出端子111-1～111-n进行统称时，称之为信号输出端子111)。此外，液晶驱动用半导体集成电路101包括：基准电路补正电路121、指示用移位寄存电路(pointer shift register circuit)123、锁存电路124、保持电路(hold circuit)125，D/A转换器(DigitalAnalog Converter：以下称之为DAC)电路126以及输出缓冲器127。其中，指示用移位寄存电路123由n级的移位寄存电路123-1～123-n构成，锁存电路124由n个锁存电路124-1～124-n构成，保持电路125由n个保持电路125-1～125-n构成，DAC电路126由n个DAC电路126-1～126-n构成。此外，输出缓冲器127由n个输出缓冲器127-1～127-n构成，并且每个输出缓冲器由运算放大器形成。

其次，对液晶驱动用半导体集成电路101的动作进行说明。指示用移位寄存电路123根据从时钟输入端子102输入的时钟输入信号，对第1个锁存电路124-1至第n个锁存电路124-n依次进行选择。通过指示用移位寄存电路123选择的锁存电路124是用于存储从灰阶数据输入端子103输出的灰阶输出数据的电路。在此，灰阶输出数据是与每个锁存电路124相对应的，换言之，是与每个信号输出端子111相对应的、并与上述时钟输入信号同步的数据。从而，各个锁存电路124-1～124-n能够存储与每个信号输出端子111相对应的、分别为不同值的灰阶输出数据。根据数据LOAD信号，已存储在锁存电路124-1～124-n的灰阶输出数据被分别转送到与这些锁存电路分别相对应的n个保持电路125-1～125-n。然后，保持电路125-1～125-n将锁存电路124-1～124-n所输入的灰阶输出数据作为数字数据输出到DAC电路126-1～126-n。

DAC电路126-1～126-n根据从保持电路125输出的灰阶输出数据，从m种类的灰阶电压中选择1个电压值，并输出至输出缓冲器127-1～127-n。DAC电路126能够根据由基准电源端子V0端子105～V4端子109所输入的电压，输出m种类的灰阶电压。此外，输出缓冲器127对DAC电路126输出的灰阶电压进行缓冲，然后作为液晶面板驱动用信号输出到信号输出端子111-1～111-n。

如上所述，在现有的液晶驱动用半导体集成电路101中，需要与液晶驱动用信号输出端子111相同数量的移位寄存电路123、锁存电路124、保持电路125、DAC电路126以及输出缓冲器127。如果液晶驱动用信号输出端子111的端子数为1000，那么上述电路124～127也分别需要1000个。

如上所述，液晶面板等的显示装置近年来越来越趋于大型化和高清晰化，超高清规格的高清晰电视(HDTV：High Definition Television)具有1920条数据线。由于显示驱动用半导体集成电路必须对数据线逐一提供R、G、B灰阶电压信号，因此，显示驱动用半导体集成电路需要具备1920条×3(R、G、B)＝5760个输出数，即，需要5760个液晶驱动用信号输出端子。在此，如果按照1个显示驱动用半导体集成电路的输出数为720来计算，则需要8个显示驱动用半导体集成电路。

一般情况下，在显示驱动用半导体集成电路形成时，首先在晶圆阶段进行检测，封装之后进行出库检验，组装到液晶面板上之后还要进行显示检测。此外，通过老化(burn-in)或应力检测(stress test)的筛选检测(screening test)，能够筛除有可能初期出现不良缺陷的半导体集成电路。从而，能够避免搭载了存在有不良显示缺陷的显示驱动用半导体集成电路的显示装置流入市场。然而，在极少数的情况下，出库检测和筛选检测时被判断为正常的集成电路由于极微小的缺陷和异物混入附着等原因，在使用显示装置的过程中出现显示不良缺陷。例如，即使在显示驱动用半导体集成电路的1条数据线上发生出货后显示不良缺陷的概率仅为0.01ppm(1亿分之1)，但是在具有5760条数据线的超高清规格的HDTV而言，发生显示不良缺陷的概率是57.5ppm(100万分之57.6)。即，在大约17361台中就可能有1台存在显示不良缺陷的问题，而且越大型化和高清晰化，发生显示不良的概率就越高。

如果发生了上述显示不良缺陷，就必须迅速回收显示装置并且对显示驱动用半导体集成电路进行修理。但是，回收修理不仅耗费巨额的成本，还有损于商品形象。

在此，有人提出了以下的方法，即基于现有技术，在显示驱动用半导体集成电路上设置用于在电路存在有缺陷时作为备用的预备电路，通过使用该预备电路替代存在有缺陷的电路以避免显示驱动用半导体集成电路存在有不良的方法。

具体而言，专利文献1揭示的方法是：在显示驱动用半导体集成电路的移位寄存器的各级上形成预备的并联电路，并进行移位寄存器的自行检查，根据检查结果，从并列电路中选择无缺陷的那一个，从而避免发生以移位寄存器的缺陷为因的显示不良。此外，专利文献2揭示的方法是：在DAC电路的输入和输出端设置选择器，根据记载了缺陷DAC电路的位置的RAM信息，对选择器进行切换，选择无缺陷的DAC电路。

专利文献1：日本国专利申请公开特开平6-208346号(公开日：1994年7月26日)

专利文献2：日本国专利申请公开特开平8-278771号(公开日：1996年10月22日)

发明内容

在专利文献1中虽然揭示了一种在设置有与移位寄存器并联连接的预备电路的情况下检测移位寄存器的缺陷的方法以及将存在有缺陷的移位寄存器切换为预备的移位寄存器的自行修复方法，但是，并没有揭示涉及对其他DAC电路等输出电路的缺陷进行检测的方法、自行修复方法。

另外，在专利文献2中完全没有对存在有缺陷的DAC电路进行检测的方法。

本发明的目的在于提供一种用于驱动显示面板的驱动电路，该驱动电路具有易于对输出电路或输出电路周边的输出电路块的缺陷进行检测的具体构件，且在驱动电路被安装到显示装置之后也能够对存在有缺陷的输出电路或输出电路块进行自行修复。

为了实现上述目的，本发明提供的驱动电路用于驱动显示面板，且具有与上述显示面板连接的输出端子、输出电路块以及预备输出电路块，该输出电路块包含有能够与上述输出端子连接的输出电路，该预备输出电路块包含有与上述输出端子连接的预备输出电路，该驱动电路的特征在于，还包括：比较部，用于对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；判断部，基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；连接切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路，使上述预备输出电路与上述输出端子进行连接。

首先，本发明的驱动电路是用于驱动显示面板的电路。因此，该驱动电路的基本动作是对显示面板所连接的输出端子输出用于驱动显示面板的灰阶电压。

根据上述结构，比较部对上述输出电路块中含有的已与输出端子连接的输出电路所输出的输出信号和上述预备输出电路块中含有的未与输出端子连接的预备输出电路所输出的输出信号进行比较。比较部对2个输出信号进行比较，换而言之，对2个灰阶电压进行比较。由此，对于存在有缺陷的输出电路的情况和不存在缺陷的情况，输出不同值的信号。

具体而言，例如对输出电路输入灰阶m的输入信号，对预备输出电路输入灰阶m+1的输入信号。灰阶m的灰阶电压是比灰阶m+1的灰阶电压低的电压。如果输出电路为正常状态，比较部输出其表示自预备输出电路输入了的灰阶电压较高的信号。另一方面，如果输出电路存在有缺陷，即使输入灰阶m的信号，输出电路只能输出高灰阶电压，在这种情况下，比较部将输出其表示自输出电路输入了的灰阶电压较高的信号。

由此，本发明的驱动电路通过比较部对于输出电路及预备输出电路分别所输出的灰阶电压进行比较，对应于输出电路存在有缺陷的情况和没有缺陷的情况，分别输出不同值的信号。

其次，判断部通过比较部所输出的信号来判断输出电路是否存在有不良缺陷。具体而言，如上所述，在对输出电路输入灰阶m的输入信号，对预备输出电路输入了灰阶m+1的输入信号时，比较部将表示来自输出电路的灰阶电压较高的信号输入至判断部时，判断部判断出输出电路存在有不良缺陷。另一方面，如果比较部将表示来自预备输出电路的灰阶电压较高的信号输入至判断部时，判断部判断出输出电路为正常状态。

并且，本发明的驱动电路具有连接切换部，该连接切换部在判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷时，代替输出电路，使预备输出电路与输出端子进行连接。由此，驱动电路能够在判断部判断出输出电路存在有缺陷的情况下，通过连接切换部，使存在有缺陷的输出电路和输出端子之间的连接断开，而使预备输出电路和输出端子进行连接。

如上所述，本发明的驱动电路具有易于检测出输出电路缺陷的具体构件，从而能够在输出电路存在有缺陷时实现自行修复这样的效果。

另外，本发明的驱动电路优选的是，上述比较部为运算放大器。

通常，用于驱动显示面板的输出电路所输出的输出信号在被缓冲后输出至输出端子。在此，运算放大器将自身的输出对自身的负极性输入端子进行负反馈而成为电压跟随器电路，实现作为缓冲器电路的功能。

由此，如上所述，通过以运算放大器作为比较部，运算放大器具有对来自输出电路的输出信号进行缓冲作用。因而，本发明的驱动电路无需另外具备用于对来自输出电路的输出信号进行缓冲的缓冲器电路，所以能够降低成本。

本发明的驱动电路优选的是，上述输出电路块以及上述预备输出电路块还包含有使用了运算放大器的输出缓冲器，并使用上述运算放大器作为上述比较部，在上述判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路块，使上述预备输出电路块与上述输出端子进行连接。

通过使用实际利用的电路，能够取得在上述输出电路及输出缓冲器存在有缺陷时实现自行修复这样的效果。

本发明的驱动电路优选的是，上述输出电路块以及上述预备输出电路块还包含有使用了运算放大器的输出缓冲器和用于对输入至输出电路的信号进行保存的电路，并使用上述运算放大器作为上述比较部，在上述判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路块，使上述预备输出电路块与上述输出端子进行连接。

通过使用实际利用的电路，能够取得在上述输出电路及输出缓冲器存在有缺陷时实现自行修复这样的效果。

本发明的驱动电路优选还包括用于对输入上述输出电路以及上述预备输出电路的输入信号进行控制的控制部，其中，该控制部对上述输出电路以及上述预备输出电路输入大小不同的输入信号，且输出与大小不同的上述输入信号分别对应的、来自上述比较部的比较结果的期待值；上述判断部在上述比较结果和上述期待值为不同的情况下，判断出上述输出电路存在有不良缺陷。

通过具有上述结构，如果输出电路存在有缺陷时，来自比较部的比较结果即使存在多个模式，能够与各模式对应，由判断电路正确检测出输出电路的不良缺陷。

具体而言，如上所述，当存在有输出电路只能输出高电压这样的缺陷时，对输出电路输入灰阶m的输入信号，对预备输出电路输入灰阶m+1的输入信号，由此，比较部将输出表示自输出电路输入了的灰阶电压较高的信号。另一方面，当存在有输出电路只能输出低电压这样的缺陷时，对输出电路输入灰阶m+1的输入信号，对预备输出电路输入灰阶m的输入信号，在这种情况下，比较部输出表示自预备输出电路输入了的灰阶电压较高的信号。

即使输出电路存在有缺陷这样状况相同，根据输出电路的缺陷种类以及其动作确认方法，来自比较部的比较结果也将成为不同模式。在此，控制部对判断部分别输出与向输出电路以及预备输出电路输入的输入信号对应的、来自比较部的比较结果的期待值。上述判断部在比较结果和期待值为不同的情况下，判断出上述输出电路存在有不良缺陷。

如上所述，控制部对判断部输出与每一输入信号对应的期待值，判断部使用期望值来对输出电路是否存在有不良缺陷进行判断，由此，表示输出电路存在有缺陷的比较结果即使存在多个模式，也能与各模式对应判断出输出电路是否存在有不良缺陷。

本发明的显示面板驱动用的集成电路优选的是，还具有用于存储标记的标记存储部，该标记表示上述判断部的判断结果；上述连接切换部在上述标记的值表示上述输出电路存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路，使上述预备输出电路与上述输出端子进行连接。

如上所述，通过具有用于存储表示判断结果的标记的标记存储部，能够通过电控制进行已判断存在有不良缺陷的输出电路和预备输出电路之间的切换，而且在判断动作结束后也能维持切换后的状态。

本发明的驱动电路优选的是，在对上述显示面板所显示的图像不产生影响的期间，上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接；在上述连接切换部使上述输出端子与上述预备输出电路的输出之间实现连接后，上述预备输出电路对上述输出端子输出输出信号。

通过上述结构，并不会对上述显示面板显示的图像不产生影响，能够将存在有缺陷的输出电路切换为预备的输出电路，从而对输出电路的缺陷实现对应处理。

本发明的驱动电路优选的是，还包括：检测部，对提供给上述驱动电路的电源电流的值进行检测；正常电流值保存部，预先保存有上述驱动电路在正常动作时的上述电源电流的值；电流值比较部，对来自上述检测部的电源电流的值和来自正常电流值保存部的电源电流的值进行比较；驱动电路判断部，基于上述电流值比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷，其中，在上述驱动电路判断部的判断结果表示存在有不良缺陷的情况下，上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

首先，如果驱动电路中某处发生动作不良时，驱动电路所消耗的电源电流值变大。具体而言，如果驱动电路所具有的输出电路存在有缺陷时，驱动电路所消耗的电源电流值变大。

在此，通过具有上述结构，电流值比较部对检测部所检测出的电源电流值和保存部所保存的驱动电路在正常动作时的电源电流值进行比较，集成电路判断部基于电流值比较部的比较结果，能够判断集成电路是否存在有不良缺陷。其结果，集成电路能够对自身内部是否发生动作不良进行判断。

通过比较部以及判断部来检测输出电路的不良缺陷，但是，通过比较部以及判断部所进行的处理要比通过检测部以及电流值比较部基于电源电流值检测出驱动电路的动作不良的时间而言需要更多的时间。

因此，驱动电路的检出部以及电流值比较部基于电源电流值来判断驱动电路自身是否发生动作不良缺陷，且在判断出发生了动作不良缺陷时，比较部、判断部、连接切换部能够检测出发生缺陷的输出电路，并将已发生缺陷的输出电路切换为预备的输出电路，由此，无需白耗时间进行比较部的处理。其结果，驱动电路能够高效率地检测出自身的动作不良缺陷并进行自行修复。

本发明的驱动电路优选的是，在上述显示面板接通电源后，上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

通过上述结构，即使在集成电路动作中发生了输出电路存在有不良缺陷时，通过再接通电源，能够将存在有缺陷的输出电路切换为预备的输出电路，从而对输出电路的缺陷实现对应处理。

本发明的驱动电路优选的是，在上述显示面板的垂直回扫期间，上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

通过上述结构，即使是在显示面板正显示图像时，也不会对显示面板所显示的图像产生影响，将存在有缺陷的输出电路切换为预备的输出电路，从而能够对输出电路的缺陷实现对应处理。

本发明的驱动电路优选的是，还包括用于断开上述输出端子至上述显示面板的信号传输路径的断开部，在上述断开部断开上述输出端子至上述显示面板的信号传输路径后，上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

根据上述结构，对显示面板所显示的图像不会产生影响，将存在有缺陷的输出电路切换为预备的输出电路，从而能够对输出电路的缺陷实现对应处理。

另外，本发明的驱动电路也可以是如下的结构。

即，本发明的驱动电路是用于驱动显示面板的驱动电路，并具有自行修复部，该自行修复部用于对存在有不良缺陷的上述驱动电路自身进行自行修复。

本发明的驱动电路优选的是，具有用于输出输出信号的输出电路，该输出信号是用于驱动上述显示面板的信号；上述自行修复部具有用于对上述输出电路是否存在有不良缺陷进行判断的判断部；在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，对上述驱动电路自身进行自行修复，使得对上述显示面板输出正常的输出信号。

本发明的驱动电路优选的是，具有能够对上述显示面板输出上述输出信号的预备输出电路；上述自行修复部具有切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，作为对上述显示面板的输出信号，该切换部将由存在有不良缺陷的输出电路所输出的输出信号切换为由上述预备输出电路所输出的输出信号。

本发明的驱动电路优选的是，上述判断部具有用于对上述输出电路所输出的输出信号和上述预备输出电路所输出的输出信号进行比较的比较部，并基于该比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷。

本发明的显示装置优选具有上述任意一种驱动电路。

本发明的显示装置具有显示面板和驱动电路，该驱动电路包括用于输出输出信号的输出电路，该输出信号是用于驱动上述显示面板的信号，该显示装置的特征在于：上述驱动电路还包括用于对上述输出电路是否存在有不良缺陷进行判断的判断部以及能够对上述显示面板输出上述输出信号的预备输出电路；上述显示面板具有切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，作为对上述显示面板进行驱动的输出信号，该切换部将存在有不良缺陷的输出电路所输出的输出信号切换为上述预备输出电路所输出的输出信号。

本发明的显示装置可构成为，包括显示面板；输出电路，输出用于驱动上述显示面板的输出信号；预备输出电路，能够对上述显示面板输出上述输出信号；判断部，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；以及切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，作为对上述显示面板进行驱动的输出信号，将存在有不良缺陷的输出电路所输出的输出信号切换为上述预备输出电路所输出的输出信号。

本发明的电视***可构成为，具有上述任意一种显示装置。

本发明的其他目的、特征和优点在以下的描述中会变得十分明了。此外，以下参照附图来明确本发明的优点。

附图说明

图1是表示本发明的一实施方式的显示驱动用半导体集成电路的结构的说明图。

图2是表示本发明的一实施方式的显示装置的结构框图。

图3是表示本发明的一实施方式的动作确认测试1的流程图。

图4是表示本发明的一实施方式的动作确认测试2的流程图。

图5是表示本发明的一实施方式的动作确认测试3的流程图。

图6是表示本发明的一实施方式的动作确认测试4的流程图。

图7是表示本发明的一实施方式的动作确认测试5的流程图。

图8是表示在本发明的一实施方式，使用预备输出电路替代存在有不良缺陷的输出电路的流程图。

图9是表示本发明的一实施方式的从接通显示装置的电源开始，经过动作确认测试之后，进入通常动作的流程图。

图10是表示用于对本发明的一实施方式的运算放大器1进行动作确认的电路结构的说明图。

图11是表示本发明的其他实施方式的显示驱动用半导体集成电路的结构的说明图。

图12是表示本发明的其他实施方式的动作确认测试1的流程图。

图13是表示本发明的其他实施方式的动作确认测试2的流程图。

图14是表示本发明的其他实施方式的动作确认测试3的流程图。

图15是表示本发明的其他实施方式的动作确认测试4的流程图。

图16是表示本发明的其他实施方式的动作确认测试5的流程图。

图17是表示在本发明的其他实施方式，使用预备输出电路替代存在有不良缺陷的输出电路的流程图。

图18是表示本发明的其他实施方式的显示装置的概略结构的框图。

图19是表示本发明的其他实施方式的显示装置的结构框图。

图20是表示本发明的其他实施方式的从接通显示装置的电源开始，经过动作确认之后，进入通常动作的流程图。

图21是表示本发明的其他实施方式的显示装置的结构框图。

图22是表示本发明的一实施方式的电视***的结构框图。

图23的(a)～(f)是表示本发明的一实施方式的输入到显示装置的扫描信号、视频信号、像素电极的电压值的时序图。

图24是表示本发明的一实施方式的动作判断电路的结构框图。

图25是表示在本发明的一实施方式中的在正常动作状态下对集成电路的电源电流值进行检测和保存处理的流程图。

图26是表示在本发明的一实施方式中的根据提供给集成电路的电源电流值，对集成电路的动作不良缺陷进行检测处理的流程图。

图27是表示现有技术的显示驱动用半导体集成电路的结构的说明图。

<附图标记说明>

1-1-运算放大器(比较部)、1-2-运算放大器(比较部)、1-n-运算放大器(比较部)、2c-开关(连接切换部)、2d-开关(连接切换部)、3-1-判断电路(判断部)、3-2-判断电路(判断部)、3-n-判断电路(判断部)、4-1-判断标记(标记存储部)、4-2-判断标记(标记存储部)、4-n-判断标记(标记存储部)、8-1-DAC电路(输出电路)、8-2-DAC电路(输出电路)、8-n-DAC电路(输出电路)、10-液晶驱动用半导体集成电路(驱动电路)、10′-液晶驱动用半导体集成电路(驱动电路)、20-液晶驱动用半导体集成电路(驱动电路)、21-运算放大器(比较部)、21A-运算放大器(比较部)、21B-运算放大器(比较部)、28-DAC电路(预备输出电路)、28A-DAC电路(预备输出电路)、28B-DAC电路(预备输出电路)、50-比较判断部(自行修复部、判断部)、60-切换电路(自行修复部、切换部)、61-切换电路(自行修复部)、80-显示面板、80′-显示面板、90-显示装置、90′-显示装置、90″-显示装置、202-电阻(检测部)、204-A/D转换器(检测部)、206-EEPROM(正常电流值保存部)、208-比较电路(电流值比较部、驱动电路判断部)、300-电视***。

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

(实施方式1)

以下，参照图1～图10，对本发明的实施方式1进行说明。

(显示装置90的结构)

首先，参照图2对本发明的显示装置90的概略结构进行说明。图2是表示显示装置90的概略结构的框图。

如图2所示，显示装置90包括显示面板80和显示驱动用半导体集成电路(以下称之为集成电路)10，集成电路10根据从外部输入的灰阶数据来驱动显示面板80。集成电路(驱动电路)10包括切换电路(自行修复部、切换部)60、切换电路(自行修复部、切换部)61、输出电路块(输出电路)30、预备输出电路块(预备输出电路)40以及比较判断电路(比较部、判断部、自行修复部)50。此外，显示面板80具有像素70，集成电路10的灰阶电压施加于像素70。

(显示装置90的基本动作)

以下对显示装置90的基本动作进行说明。首先，显示装置90包括2种基本动作。具体而言，一种动作是通常动作，显示装置90的集成电路10将从外部输入的灰阶数据转换成灰阶电压(输出信号)，显示面板80根据该灰阶电压来显示图像。另一种动作是自行检测修复动作，集成电路10对输出电路块30是否存在有缺陷进行检测，如果输出电路30存在有不良缺陷，集成电路10将自行进行修复。

以下，对集成电路10的自行检测修复动作的概略进行说明。首先，进行自行检测修复动作时，通过切换电路61向输出电路块30和预备输出电路块40输入来自外部的动作确认用灰阶数据。

输出电路块30和预备输出电路块40分别将输入的灰阶数据转换成灰阶电压并输出到比较判断电路50。比较判断电路50对来自输出电路块的灰阶电压和来自预备输出电路块的灰阶电压进行比较，并根据比较结果，判断输出电路块是否存在有缺陷。

然后，比较判断电路50向切换电路61和切换电路60分别输出表示输出电路块是否存在有不良缺陷的判断结果。切换电路61根据比较判断电路50的判断结果，对由外部输入的灰阶数据的输出对象进行切换。相对于此，切换电路60从输出电路块30和预备输出电路块40分别被输入灰阶电压，然后根据比较判断电路的判断结果，从输入的灰阶电压中选择要输出给显示面板80的灰阶电压。

更具体地说，如果切换电路61被输入表示输出电路块30存在有不良缺陷的判断结果时，就向预备输出电路块40输出与输出给被判断为不良的输出电路块30的灰阶数据相同的灰阶数据。相对于此，如果切换电路60接收到表示输出电路块30存在有不良缺陷的判断结果时，取代于被判断为不良的输出电路块30所输出的灰阶电压，向显示面板80输出由预备输出电路块40输出的灰阶电压。由此，即使在输出电路块30存在有不良缺陷的情况下，集成电路10也能够通过使用预备输出电路块，向显示面板80输出正常的灰阶电压。

如上所述，由于本发明的集成电路10具备比较判断电路50、切换电路60和切换电路61，因此，能够对自身的不良缺陷进行检测并且自行对自身的不良缺陷进行修复。换言之，集成电路10具有能够检测其自身的不良缺陷并且自行对自身的不良缺陷进行修复的自行修复电路(自行修复部)。

(集成电路10的结构)

以下，参照图1对本发明的集成电路10的结构进行说明。图1是表示集成电路(驱动电路)10的结构的说明图。

如图1所示，集成电路10包括：n个取样电路6-1～6-n(以下对此进行统称时，称之为取样电路6)，用于从灰阶数据输入端子(未图示)通过数据总线来输入与n个液晶驱动用信号输出端子OUT1～OUTn(以下，称之为输出端子OUT1～OUTn)分别相对应的灰阶数据；n个保持电路7-1～7-n(以下对此进行统称时，称之为保持电路7)；n个DAC电路8-1～8-n(以下对此进行统称时，称之为DAC电路8)，用于将灰阶数据转换成灰阶电压信号；n个运算放大器1-1～1-n(以下对此进行统称时，称之为运算放大器1)，对于来自DAC电路8的灰阶电压信号起到缓冲器作用；n个判断电路3-1～3-n(以下对此进行统称时，称之为判断电路3)、n个判断标记4-1～4-n(以下对此进行统称时，称之为判断标记4)、n个上拉/下拉(Pull up/Pull down)电路5-1～5-n(以下对此进行统称时，称之为上拉/下拉电路5)。

此外，如图1所示，集成电路10还包括根据test信号进行导通/截止切换的多个开关2a、根据testB信号进行导通/截止切换的多个开关2b、根据判断标记4的输出信号Flag1～Flagn进行切换的多个开关(连接切换部)2c和开关2d。其中，开关2a、2b、2d在输入“H”信号时切换成导通，在输入“L”信号时切换成截止。而另一方面，开关2c在输入“H”信号时切换成截止，在输入“H”信号时切换成导通。

此外，集成电路10还分别具有一个预备的取样电路26、预备的保持电路27、预备的DAC电路(预备输出电路)28、预备的运算放大器21。

在图1，取样电路6、保持电路7和DAC电路8相当于图2所示的输出电路块30，取样电路26、保持电路27和DAC电路28相当于图2所示的预备电路块40，运算放大器1、判断电路3和判断标记4相当于图2所示的比较判断电路50，与输出端子OUT1～OUTn连接的开关2d和开关2c相当于图2所示的切换电路60，与取样电路6连接的开关2d相当于图2所示的切换电路61。图1所示的集成电路10通过输出端子OUT1～OUTn与图2所示的显示面板80连接，图1中省略了显示面板80。

(集成电路10的通常动作)

以下，参照图1对集成电路10的通常动作，即，向显示面板80(参照图2)输出灰阶电压的动作进行说明。

首先，通常动作下，test信号为“L”，testB信号为“H”。test信号为“L”时，开关2a截止，开关2b导通。由此，各个取样电路6分别被输入与各个取样电路6相应的、来自未图示的指示用移位寄存器的信号STR1～STRn信号(以下对此进行统称时，称之为STR信号)。取样电路6根据输入的STR信号，从灰阶数据输入端子通过数据总线取得与自身相应的灰阶数据。保持电路7根据数据LOAD信号，从取样电路6输入取样电路6所取得的灰阶数据。然后，DAC电路(输出电路)8从保持电路7输入灰阶数据。DAC电路8将输入的灰阶数据转换成灰阶电压信号，并且输出到运算放大器(比较部)1的正极性输入端子。在此，由于开关2b导通，运算放大器1的信号成为自身的负极性输入端子的负反馈。由此，运算放大器1起到电压输出跟随器的作用。从而，运算放大器1对于来自D AC电路8的灰阶电压起到缓冲器电路的作用，将输入到自身正极性输入端子的灰阶电压信号输出到相应的输出端子OUT1～OUTn。在此，开关2c为导通、开关2d为截止。关于开关2c和开关2d的动作，以下将有说明。如果将上述每个输出端子上串联的、包括取样电路6、保持电路7、DAC电路8和运算放大器1的电路块作为输出电路块，该输出电路块的目的在于，将从灰阶数据输入端子输入的灰阶数据转换成用于驱动显示面板80的灰阶电压，并通过输出端子将上述转换后的灰阶电压输出给显示面板80。

(切换成动作确认测试)

然后，将动作切换成用于确认DAC电路8的动作的动作确认测试时，test信号为“H”，testB信号为“L”。首先，通过使得开关2a成为导通，向预备取样电路26输入作为动作确认测试用STR信号的TSTR1信号，向取样电路6输入作为动作确认测试用信号STR的TSTR2信号。此外，向运算放大器1的负极性输入端子输入预备DAC电路28的灰阶电压。另外，由于开关2b为截止，因此切断了运算放大器1的输出向自身负极性端子的负反馈。其结果，运算放大器1成为一个对与自身的正极性输入端子串联连接的DAC电路8的输出电压和预备DAC电路28的输出电压进行比较的比较器。

在此，由对动作确认测试的切换以及动作确认测试的动作进行控制的控制电路(未图示)输出test信号以及testB信号。此外，该控制电路(控制部)同时也是对动作确认测试时通过数据总线所输入的灰阶数据以及数据LOAD信号进行控制的电路。此外，该控制电路可以是与对通常动作中的灰阶数据、数据LOAD信号、移位时钟用输入信号进行控制的控制电路相同的电路，也可以是不同的电路。

(实施方式1的动作确认测试1)

以下，参照图3对动作确认测试1进行说明。图3是表示实施方式1的动作确认测试1的流程图。

在图3所示的步骤S21(以下简称为S21)，test信号为“H”，testB信号为“L”。如上所述，由于S21，运算放大器1将起到比较器的作用。

然后，在S22，对控制电路(未图示)具有的计数器m进行初期化，使得成为0。然后，控制电路使TSTR1信号成为有效，通过数据传总线将与计数器m的值相应的灰阶m的灰阶数值存储到预备取样电路26，在此是将灰阶0的灰阶数据存储到预备取样电路26。此外，控制电路还使TSTR2信号成为有效，并通过数据总线将计数器m的值加1得到的m+1的灰阶数据存储到取样电路6，在此是将灰阶1的灰阶数据存储到取样电路6。然后，预备保持电路27根据数据LOAD信号，从取样电路26取得灰阶0的灰阶数据。DAC电路28从保持电路27输入灰阶数据，并且向运算放大器1的负极性输入端子输出灰阶0的灰阶电压(S23)。另一方面，保持电路7根据数据LOAD信号，从取样电路6取得灰阶1的灰阶数据。DAC电路8从保持电路7输入灰阶数据。各个DAC电路8分别向与自身串联的各个运算放大器1的正极性输入端子输出灰阶1的灰阶电压(S23)。本发明的集成电路10是输出n灰阶的灰阶电压的电路，灰阶0的灰阶电压为最低电压值，灰阶n的灰阶电压为最高电压值。

其次，运算放大器1对从DAC电路8输入到正极性输入端子的灰阶电压和从DAC电路28输入到负极性输入端子的灰阶电压进行比较(S24)。具体而言，运算放大器1向其自身的正极性输入端子输入灰阶1的灰阶电压，向其自身的负极性输入端子输入灰阶0的灰阶电压。此时，如果DAC电路8正常，由于灰阶1的灰阶电压高于灰阶0的灰阶电压，运算放大器1就输出“H”电平的信号。在此，如果运算放大器1输出的是“L”电平的信号，则表示DAC电路8存在不良缺陷。

然后，判断电路(判断部)3被输入运算放大器1的输出信号，并且对输入信号的电平和判断电路3自身所保存的期待值进行比较。在此，判断电路3所保存的期待值来自控制电路。在该动作确认测试1，判断电路3所存储的期待值为“H”电平。

在此，如果通过运算放大器1输入到判断电路3的信号与判断电路3自身所保存的期待值同样为“H”电平，判断电路3则判断DAC电路8正常。与此相对，如果通过运算放大器1输入的信号为“L”电平，判断电路3就判断DAC电路8存在有不良缺陷，并且向判断标记4输出“H”标记。判断标记4通过判断电路3被输入“H”标记的情况下，将输入的“H”标记保存在自身的内部存储器(S25)。

此外，判断电路3还可构成为：当被输入运算放大器1的输出信号时，输入的信号为“H”电平的情况下，向判断标记4输出“L”标记；输入的信号为“L”电平的情况下，向判断标记4输出“H”标记。在此情况下，只要通过判断电路3输入了一次“H”标记，即使此后再有“L”标记通过判断电路3输入，判断标记4也继续保持“H”标记。

此外，判断电路3还可以构成为：当判断出存在不良缺陷时，判断标记4为“H”时，停止进行此后的判断动作。

然后，判断计数器m的值是否是n-1(S26)。计数器m的值为n-1以下时，使得计数器m的值每次增加1，反复进行S23～S25的步骤，直至m的值成为n-1。该n是集成电路10能够输出的灰阶数。

(实施方式1的动作确认测试2)

以下，参照图4说明动作确认测试2。图4是表示实施方式1的动作确认测试2的流程图。

首先，在动作确认测试1，由于输入到运算放大器1的正极性输入端子的灰阶电压高于输入到运算放大器1的负极性输入端子的灰阶电压，因此，存在DAC电路28只能输出低电压或者DAC电路8只能输出高电压等不良缺陷时，判断电路3也输出表示正常的“L”标记。

因此，在动作确认测试2，通过向运算放大器1的正极性端子输入比负极性端子的低的灰阶电压，来进行动作确认。

首先，进行动作确认测试1之后，对计数器m的值进行初期化，使得成为0(S31)。然后，控制电路使TSTR1信号成为有效，并通过数据总线将计数器m的值加1得出的m+1的灰阶数据存储到预备取样电路26，在此是将灰阶1的灰阶数据存储到预备取样电路26。然后，控制电路使TSTR2信号成为有效，并通过数据总线将与计数器m的值相应的灰阶m的灰阶数值存储到取样电路6，在此是将灰阶0的灰阶数据存储到取样电路6。

在此，与动作确认测试1的S23相同，DAC电路28通过保持电路27被输入取样电路26所存储的灰阶数据。并且，DAC电路28向运算放大器1的负极性输入端子输出与输入的灰阶数据相应的、灰阶m+1的灰阶电压。另一方面，DAC电路8通过保持电路7被输入取样电路6所存储的灰阶数据。然后，各个DAC电路8向与自身串联的各个运算放大器1的正极性输入端子输出与输入的灰阶数据相应的灰阶m的灰阶电压，在此输出灰阶0的灰阶电压(S32)。

然后，运算放大器1对从DAC电路8输入到正极性输入端子的灰阶0的灰阶电压和从DAC电路28输入到负极性输入端子的灰阶1的灰阶电压进行比较(S33)。此时，如果DAC电路8正常，那么灰阶1的灰阶电压就比灰阶0的灰阶电压高，运算放大器1输出“L”标记的信号。在此，如果运算放大器1输出的是“H”电平的信号，表示DAC电路8存在有不良缺陷。

然后，判断电路3被输入来自运算放大器1的输出信号后，对输入的信号电平和判断电路3自身所保存的期待值进行比较。在该动作确认测试2，判断电路3所存储的期待值为“L”电平。在此，如果从运算放大器1输入的信号与判断电路3自身所存储的期待值同样是“L”电平，判断电路3就判断DAC电路8正常。与此相对，如果通过运算放大器1输入的信号为“H”，判断电路3就判断为DAC电路8存在有不良缺陷，并且向判断标记4输出“H”标记。判断标记4通过判断电路3输入“H”标记的情况下，将输入的“H”标记保存在自身的内部存储器(S34)。然后，反复进行上述S33～S34的步骤，直至m的值成为n-1(S35、S36)。

(实施方式1的动作确认测试3)

以下，参照图5说明动作确认测试3。图5是表示实施方式1的动作确认测试3的流程图。

在DAC电路8，如果存在有输出断开的缺陷，即使确认测试已结束，运算放大器1仍保持在进行该确认测试时输入的灰阶电压，有时出现通过动作确认测试1和动作确认测试2也无法检测出不良缺陷的问题。对此，在动作确认测试3，在运算放大器1的正极性输入端子上连接有下拉电路。由此，在DAC电路8存在有输出断开时，向运算放大器1的正极性输入端子输入低电压。其结果，在DAC电路8存在有输出断开时，换言之，DAC电路8无输出时，能够防止运算放大器1继续保持已实施完了的确认测试的灰阶电压。

动作确认测试3的具体顺序如图5所示，首先对计数器m进行初期化，使得成为0(S41)。然后，通过上拉/下拉电路5，对运算放大器1的正极性输入端子进行下拉(S42)。此后的步骤S43～S47与上述动作确认测试1的S23～S27相同，在此省略说明。

如上所述，通过对运算放大器1的正极性输入端子进行下拉，再进行动作确认测试1的顺序，能够在DAC电路8存在有输出断开的情况下，使得运算放大器1输出“L”电平的信号。其结果，判断电路3根据输入的“L”电平的信号，作出DAC电路8存在有不良缺陷的判断，并且判断标记4存储“H”标记。

(实施方式1的动作确认测试4)

以下，参照图6说明动作确认测试4。图6是表示实施方式1的动作确认测试4的流程图。

在此，动作确认测试4与动作确认测试3同样，是为了对应DAC电路8存在有断开缺陷时的测试方法。如图6所示，首先对计数器m进行初期化，使得成为0(S51)。然后，通过上拉/下拉电路5，对运算放大器1的正极性输入端子进行上拉(S52)。接下来的步骤S53～S57与上述动作确认测试2的S32～S36相同，因此省略说明。

如上所述，通过对运算放大器1的正极性输入端子进行上拉，再进行动作确认测试2的测试顺序，能够在DAC电路8存在有断开缺陷的情况下，使得运算放大器1输出“H”电平的信号。其结果，判断电路3根据输入的“H”电平的信号，作出DAC电路8存在有不良缺陷的判断，并且判断标记4存储“H”标记。

(实施方式1的动作确认测试5)

以下，参照图7说明动作确认测试5。图7是表示实施方式1的动作确认测试5的流程图。

在DAC电路8，有时存在有相邻的2个灰阶发生短路的缺陷。当发生此类相邻的2个灰阶短路的缺陷时，DAC电路8将输出这2个短路的灰阶的中间电压。发生此类不良缺陷的情况下，DAC电路8所输出的灰阶电压相对于正常情况，其电压的偏离程度达不到1灰阶(gray scale：灰度)以上。因此，通过动作确认测试1～4，检测不出此类不良缺陷。动作确认测试5的目的在于检测DAC电路8的此类相邻的2个灰阶发生短路的不良缺陷。

如图7中所示，首先对计数器m的值进行初期化，使得成为0(S61)。然后，使TSTR1信号和TSTR2信号成为有效，通过数据总线将灰阶m的灰阶数据存储到取样电路26和取样电路6，在此是将灰阶0的灰阶数据存储到取样电路26和取样电路6。接下来，DAC电路28和DAC电路8分别通过保持电路27和保持电路7，从取样电路26和取样电路6取得灰阶0的灰阶数据。然后，DAC电路28和DAC电路8分别向运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子输出灰阶0的灰阶电压(S62)。

然后，通过未图示的开关，使运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子发生短路。在动作确认测试1和动作确认测试2，如果判断为DAC电路8无不良缺陷，分别输入正极性输入端子和负极性输入端子的灰阶电压之差达不到1灰阶以上。从而，正极性输入端子和负极性输入端子之间的短路不会引发大电流流入的问题。

在此，由于运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子发生短路，运算放大器1的2个输入端子输入同样的灰阶电压。但是，由于运算放大器1原来所具有输入输出的偏移电压，因此，即使其2个输入端子输入相同的灰阶电压，运算放大器1也会输出“H”或者“L”。在运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子发生短路的情况下，运算放大器1的输出电平作为期待值被保存在判断电路3(S63)。

然后，将未图示的开关切换成截止，解除运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子之间的短路。此时，运算放大器1的正极性输入端子被输入来自DAC电路8的灰阶0的灰阶电压，而负极性输入端子被输入来自DAC电路28的灰阶0的灰阶电压。在此，只要输入DAC电路8和输入DAC电路28不存在不良缺陷，运算放大器1的输出与判断电路3所存储的期待值成为相同的输出。由此，判断电路3对运算放大器1的输出和其自身所保存的期待值进行比较(S64)。如果发现运算放大器1的输出和期待值相异，判断电路3就向判断标记4输出“H”标记(S65)。

然后，通过未图示的开关来切换运算放大器1的输入，使得运算放大器1的正极性输入端子输入来自DAC电路28的灰阶电压，并且使得负极性输入端子输入来自DAC电路8的灰阶电压(S66)。然后进行与S64相同的处理(S67)。在S67，如果运算放大器1的输出和判断电路3所保存的期待值相异，判断电路3向判断标记4输出“H”标记(S68)。如上所述，通过切换正极性输入端子和负极性输入端子，无论判断电路3所存储的期待值是“H”电平还是“L”电平，都能够检测出DAC电路8的不良缺陷。

反复进行上述S62～S68的步骤，并且使计数器m的值每次都增加1，直至计数器m的值成为n(S69、S70)。

(自行修复)

以下，参照图8，对在判断标记4所存储的是“H”标记的情况下，换言之，在上述动作确认测试1～5，通过判断电路3判断出DAC电路8-1～8-n中有某一个存在不良缺陷的情况下的进行修复进行说明。图8是表示通过对判断为存在有不良缺陷的DAC电路8和预备DAC电路28进行切换，进行自行修复的流程图。

在DAC电路8被判断为存在有不良缺陷的情况下，判断电路3向判断标记4输出“H”标记。然后，判断标记4被输入来自判断电路3输出的“H”标记，并且在其内部保存该“H”标记。在此，控制电路关于判断标记4是否存储了“H”标记进行检测(S71)。如果控制电路检测出判断标记4并没有存储“H”标记，接下来进入S75的处理。但如果控制电路检测出判断标记4存储了“H”标记，接下来对判断标记4-1～4-n分别存储的“H”标记的个数进行确认。在此，判断标记4存储了多个“H”标记的情况下，进行S73的处理。而标记4只存储了一个“H”标记的情况下，进行S74的处理(S72)。

在S74，将与保存了“H”标记的判断标记4相对应的DAC电路8切换成预备DAC电路28(S74)。首先，对存在有不良缺陷的DAC电路8和预备DAC电路28的切换顺序进行说明，在此，假设与液晶驱动用信号输出端子OUT1相应的判断标记4-1存储的是“H”标记。

判断标记4-1向开关2c和开关2d输出成为“H”电平的输出信号Flag1。由于输出信号Flag1的输入，被输入了“H”电平的信号的开关2c成为截止，而开关2d成为导通。由此由此，运算放大器1-1的输出和液晶驱动用信号输出端子OUT1之间的连接被开关2c切断。输入取样电路6-1的STR1信号通过开关2d被输出到取样电路26。由此，在取样电路26也对与液晶驱动用信号输出端子OUT1相应的灰阶数据进行存储。此外，开关2d对运算放大器21的输出和液晶驱动用信号输出端子OUT1进行连接。如上所述，通过判断标记4-1所输出的输出信号Flag1来切换开关2c和2d，从而能够将存在有不良缺陷的DAC电路8-1切换成预备DAC电路28。

其次，对S73的处理进行说明。判断标记4存储了多个“H”标记的情况下，可考虑预备DAC电路28出现不良缺陷的概率较大。因此，在S73，控制电路使得判断标记4所存储的标记全都成为“L”标记，并进入S75的处理。如果S71的判断结果是“否”，在进行S73的处理或者S74的处理之后，控制电路将test信号切换成“L”，将testB信号切换成“H”，并且进入通常动作(S75)。

如上所述，通过动作确认测试1～5和自行修复处理，集成电路10能够将存在有不良缺陷的DAC电路切换成预备DAC电路28。此外，在第1实施方式，还具有与预备DAC电路28相应的预备的取样电路26和保持电路27。从而，不只是DAC电路，在取样电路6和保持电路7存在有不良缺陷的情况下，也能够切换成预备的取样电路26和保持电路27。

以下，参照图9，对接通集成电路10所搭载的显示装置的电源之后进行动作确认测试，最后进入通常动作的顺序进行说明。图9是表示从接通显示装置的电源开始经过动作确认测试，至进入通常动作的处理顺序的流程图。

如图9所示，首先接通显示装置的电源，通过对集成电路10进行初期化，使得判断标记4全都成为“L”(S81)。然后，通过控制电路将test信号切换成“H”、testB信号切换成“L”，从而使得集成电路10切换成动作确认测试状态(S82)。然后，控制电路和集成电路10进行上述动作确认测试(S83)。接下来，控制电路对于动作确认测试1～5是否结束进行确认，并且将存在有不良缺陷的电路切换成预备电路，进入通常动作(S84)。

(运算放大器1的动作确认)

上述动作确认测试以运算放大器1处于正常状态作为前提。但是，运算放大器1也可能存在有不良缺陷。因此，在本实施方式中，优选在进行上述动作确认测试之前，对运算放大器1的动作进行确认。以下，参照图10，对运算放大器1的动作确认进行说明。图10是表示用于进行运算放大器1的动作确认的周边电路结构的说明图。

如图10所示，运算放大器1的正极性输入端子与开关S5相连接，开关S5用于对DAC电路8的输出和预定电压进行切换。并且，开关S5的B侧(输入预定电压的一侧)与开关S3连接，开关S3对2个预定电压Vref1和Vref2进行切换。运算放大器1的负极性输入端子与开关S6相连接，开关S6对运算放大器1输出的用于进行负反馈的输出和预定电压进行切换。并且，开关S6的B侧(输入预定电压的一侧)与开关S4连接，开关S4用于对2个预定电压Vref1和Vref2进行切换。

以下，就运算放大器1的通常动作进行说明。运算放大器1进行通常动作时，通过将开关S5切换到A侧(DAC电路8的输出侧)，开关S6也切换到A侧，使运算放大器1作为电压输出跟随器的电路进行动作。

以下，就进行运算放大器1的动作确认的顺序进行说明。首先，将开关S1和S2切换到B侧。由此，切断运算放大器1的负反馈，使运算放大器1作为比较器进行动作。然后，将开关S3和S4切换到A侧。由此，运算放大器1的正极性输入端子输入Vref1，负极性输入端子输入Vref2。在此，Vref1和Vref2是预先生成的电压，Vref1的电压值大于Vref2的电压值。并且，Vref1和Vref2之间的电压值的差大于运算放大器1的偏移值。此时，由于输入到正极性输入端子的Vref1的电压大于输入到负极性输入端子的Vref2的电压，因此，运算放大器1输出“H”电平的信号。判断电路3对运算放大器1的输出进行检测，并且对检测值和判断电路3自身所存储的期待值“H”进行比较。在此，如果运算放大器1的输出为“L”电平，判断电路3就判断出运算放大器1存在有不良缺陷。判断电路3所保存的期待值是由控制电路所赋予的。

此外，不能排除因运算放大器1的比较动作发生不良缺陷进而导致运算放大器1只输出“H”电平的信号的可能性。对此，将开关S3和S4切换到B侧，向运算放大器1的正极性输入端子输入Vref2，向负极性输入端子输入Vref1。此时，由于输入到负极性输入端子的Vref1的电压高于输入到正极性输入端子的Vref2的电压，因此，运算放大器1的输出为“L”电平。判断电路3对运算放大器1的输出进行检测，并且对检测值和判断电路3自身所保存的期待值“L”进行比较。运算放大器1的输出为“H”电平时，判断电路3能够判断出运算放大器1已存在有不良缺陷。在此，通过控制电路对开关S3～S6进行切换。

(实施方式2)

以下，参照图11～图17来说明本发明的实施方式2。在此，只对实施方式2中不同于实施方式1的部分进行说明，省略重复内容。

首先简述实施方式1和实施方式2的不同之处。在实施方式1，由运算放大器1对DAC电路8的输出和DAC电路28的输出进行比较。而在实施方式2，以相邻的2个DAC电路8为一组，由运算放大器1对该相邻的2个DAC电路8的输出进行比较。

(显示驱动用半导体集成电路20的结构)

以下，参照图11，对本发明的显示驱动用半导体集成电路(以下简称集成电路)20的结构进行说明。图11是表示集成电路(显示装置驱动用集成电路)20的结构的说明图。

运算放大器1与DAC电路8串联连接，DAC电路8的输出被输入到运算放大器1的正极性输入端子。来自与运算放大器1相邻的运算放大器串联连接的DAC电路8的输出，被输入到运算放大器1的负正极性输入端子。具体而言，如图11所示，将来自DAC电路8-1的输出输入到运算放大器1-1的正极性输入端子，并通过开关2a将来自DAC电路8-2的输出输入到运算放大器1-1的负极性输入端子。同样，将来自DAC电路8-2的输出输入到运算放大器1-2的正极性输入端子，并通过开关2a将来自DAC电路8-1的输出输入到运算放大器1-2的负极性输入端子。此外，集成电路20还具有预备取样电路26A和预备取样电路26B、预备保持电路27A和预备保持电路27B、预备DAC电路28A和预备DAC电路28B、运算放大器21A和运算放大器21B、上拉/下拉电路25A和上拉/下拉电路25B。另外，将来自DAC电路28A的输出输入到运算放大器21A的正极性输入端子，通过开关2a将来自DAC电路28B的输出输入到运算放大器21A的负极性输入端子。此外，也是将来自DAC电路28B的输出输入到运算放大器21B的正极性输入端子，通过开关2a将来自DAC电路28A的输出输入到运算放大器21B的负极性输入端子。

(集成电路20的通常动作)

在集成电路20的通常动作下，与实施方式1同样，test信号为“L”电平、testB信号为“H”电平。由此，DAC电路8将通过保持电路7输入的灰阶数据转换成灰阶电压信号，并且作为灰阶电压输出到运算放大器1的正极性输入端子。在此，由于开关2b为导通，运算放大器1的输出成为对其自身的负极性输入端子的负反馈。由此，运算放大器1起到电压输出跟随器的作用。从而，运算放大器1对于DAC电路8的灰阶电压起到缓冲器作用，并且向相应的输出端子OUT1～OUTn进行输出。

(动作确认测试的切换)

切换成集成电路20的动作确认测试时，将test信号切换成“H”电平、testB信号切换成“L”电平。首先，通过使开关2a成为导通，向取样电路26A以及第奇数个的取样电路6(取样电路6-1、6-3...6-(n-1))输入TSTR1信号，并且向取样电路26B以及第偶数个的取样电路6(取样电路6-2、6-3...6-n)输入TSTR2信号。另外，由于开关2a为导通，因此，第奇数个的运算放大器1的负极性输入端子被输入来自相邻的第偶数个的DAC电路8的输出，而第偶数个的运算放大器1的负极性输入端子被输入来自相邻的第奇数个的DAC电路8的输出。在此，由于testB信号为“L”电平，因此开关2b成为截止。由此，运算放大器1向其自身的负极性输入端子的负反馈被切断。其结果，运算放大器1成为比较器，对与自身串联连接的DAC电路8的输出和与自身相邻的DAC电路8的输出进行比较。

(实施方式2的动作确认测试1)

以下，参照图12对实施方式2的动作确认测试1进行说明。图12是表示实施方式2的动作确认测试1的流程图。

首先，控制电路使test信号成为“H”电平、使testB信号成为“L”电平(S101)。由此，运算放大器1作为比较器进行动作(S102)。然后，控制电路将第奇数个的判断电路3(判断电路3-1、3-3...3-(n-1))的期待值设定在“L”电平。并且，控制电路将第偶数个的判断电路3(判断电路3-2、3-4...3-n)的期待值设定在“H”电平。

然后，控制电路对自身所具备的计数器m进行初期化，使得成为0(S103)。并且，控制电路使TSTR1信号成为有效，取样电路26A以及第奇数个的取样电路6通过数据总线被输入灰阶m的灰阶数据。此外，控制电路使TSTR2信号成为有效，取样电路26B以及第偶数个的取样电路6通过数据总线被输入灰阶m+1的灰阶数据(S104)。

在此，考虑到计数器m的值为0的情况，第奇数个的运算放大器1通过与自身串联连接的第奇数个的DAC电路8向自身的正极性输入端子输入灰阶0的灰阶电压。另外，第奇数个的运算放大器1通过与自身相邻的第偶数个的DAC电路8向自身的负极性输入端子输入灰阶1的灰阶电压。在此，连接在运算放大器1的2个输入端子的DAC电路8都正常时，第奇数个的运算放大器1的输出将成为“L”。相对于此，第偶数个的运算放大器1通过与自身串联连接的第偶数个的DAC电路8向自身的正极性输入端子输入灰阶1的灰阶电压，而第偶数个的运算放大器1通过与自身相邻的第奇数个的DAC电路8向自身的负极性输入端子输入灰阶0的灰阶电压。在此，连接在运算放大器1的2个输入端子的DAC电路8都正常时，第偶数个的运算放大器1的输出将成为“H”。

然后，判断电路3判断运算放大器1的输出信号的电平是否与自身所存储的期待值相一致(S105)。在此，如果运算放大器1的输出与期待值相异，判断电路3就会向判断标记4输出“H”标记(S106)。反复进行上述S104～S106的处理，使计数器m的值每次都增加1，直至计数器m的值成为n-1(S107、S108)

(实施方式2的动作确认测试2)

以下，参照图13说明实施方式2的动作确认测试2。图13是表示实施方式2的动作确认测试2的流程图。

较之于实施方式2的动作确认测试1，在实施方式2的动作确认测试2中，将第奇数个和第偶数个的灰阶电压关系设为相反的关系，其他内容相同。

首先，控制电路将第奇数个的判断电路3的期待值设定成“H”，并且将第偶数个的判断电路3的期待值设定成“L”。此外，控制电路对自身具备的计数器m进行初期化，使得成为0(S111)。

然后，控制电路使TSTR1信号成为有效，取样电路26A以及第奇数个的取样电路6通过数据总线被输入灰阶m+1的灰阶数据。并且，控制电路使TSTR2信号成为有效，取样电路26B以及第偶数个的取样电路6通过数据总线输入灰阶m的灰阶数值(S112)。

在此，考虑计数器m的值为0的情况，第奇数个的运算放大器1通过与自身串联连接的第奇数个的DAC电路8向自身的正极性输入端子输入灰阶1的灰阶电压，而第奇数个的运算放大器1通过与自身相邻的第偶数个的DAC电路8向自身的负极性输入端子输入灰阶0的灰阶电压。在此，连接在运算放大器1的2个输入端子的DAC电路8都正常时，第奇数个的运算放大器1的输出将成为“H”。相对于此，第偶数个的运算放大器1通过与自身串联连接的第偶数个的DAC电路8向自身的正极性输入端子输入灰阶0的灰阶电压，而第偶数个的运算放大器1通过与自身相邻的第奇数个的DAC电路8向自身的负极性输入端子输入灰阶1的灰阶电压。在此，连接在运算放大器1的2个输入端子的DAC电路8都正常时，第偶数个的运算放大器1的输出将成为“L”。

然后，判断电路3对运算放大器1的输出的电平和自身所存储的期待值进行比较(S113)。在此，如果运算放大器1的输出与期待值相异，判断电路3就向判断标记4输出“H”标记。反复进行上述S112～S114的处理，使计数器m的值每次都增加1，直至计数器m的值成为n-1(S115、S116)。

(实施方式2的动作确认测试3)

以下，参照图14说明实施方式2的动作确认测试3。图14是表示实施方式2的动作确认测试3的流程图。

正如实施方式1的动作确认测试3的说明，DAC电路8存在断开缺陷时，确认测试已结束，运算放大器1仍然保持在进行该确认测试时输入的灰阶电压，即使通过实施方式2的动作确认测试1和动作确认测试2也可能检测不出不良缺陷。

首先，与动作确认测试1～2同样，控制电路对自身所具备的计数器m进行初期化，使得成为0(S121)。并且，在集成电路20，DAC电路8的正极性输入端子与上拉/下拉电路5连接。在此，对上拉/下拉电路5进行控制，使得对第奇数个的运算放大器1的正极性输入端子进行上拉(S122)。其结果，第奇数个的DAC电路8存在有断开缺陷时，将向第奇数个的运算放大器1的正极性输入端子输入高电压。相对于此，对上拉/下拉电路5进行控制，使得对第偶数个的运算放大器1的正极性输入端子进行下拉(S122)。其结果，第偶数个的DAC电路8存在有断开缺陷时，将向第偶数个的运算放大器1的正极性输入端子输入低电压。

接下来的S123～S127处理与实施方式2的动作确认测试1相同，在此省略说明。

(实施方式2的动作确认测试4)

以下，参照图15说明实施方式2的动作确认测试4。图15是表示实施方式2的动作确认测试4的流程图。

在此，本实施方式2的动作确认测试4的目的在于检测出与动作确认测试3相同的不良缺陷。首先，与上述动作确认测试同样，控制电路对自身所具备的计数器m进行初期化，使得成为0(S131)。然后，控制电路对上拉/下拉电路5进行控制，使得对第奇数个的运算放大器1的正极性输入端子进行下拉(S122)。其结果，第奇数个的DAC电路8存在有断开缺陷时，将向第奇数个的运算放大器1的正极性输入端子输入低电压。相对于此，控制电路对上拉/下拉电路5进行控制，使得对第偶数个的运算放大器1的正极性输入端子进行上拉(S122)。其结果，第偶数个的DAC电路8存在有断开缺陷时，将向第偶数个的运算放大器1的正极性输入端子输入高电压。

接下来的S133～S137处理与实施方式2的动作确认测试2相同，在此省略说明。

(实施方式2的动作确认测试5)

以下，参照图16说明实施方式2的动作确认测试5。图16是表示实施方式2的动作确认测试5的流程图。

正如实施方式1的动作确认测试5的说明，在DAC电路8有时会出现相邻的2个灰阶短路的问题。实施方式2的动作确认测试5的目的就在于检测出此类不良缺陷。

如图16所示，首先，控制电路对自身所具备的计数器m进行初期化，使得成为0(S141)。然后，使TSTR1和TSTR2成为有效，并通过数据总线将灰阶m的灰阶数据输入到取样电路26A、取样电路26B和取样电路6。然后，通过使数据LOAD信号成为有效，使得第奇数个的DAC电路8和第偶数个的DAC电路8输出同样是灰阶m的灰阶电压(S142)。然后，通过未图示的开关，控制电路使运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子发生短路。通过运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子之间的短路，运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子将输入相同的灰阶电压。然后，作为期待值，判断电路3存储该运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子之间发生短路时的运算放大器的输出电平(S143)。

然后，将未图示的开关切换成截止，解除运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子之间的短路。此时，在第奇数个的运算放大器1，正极性输入端子通过与自身串联连接的第奇数个的DAC电路8输入灰阶m的灰阶电压，而负极性输入端子通过与自身相邻的第偶数个的DAC电路8输入灰阶m的灰阶电压。此外，在第偶数个的运算放大器1，正极性输入端子通过与自身串联连接的第偶数个的DAC电路8输入灰阶m的灰阶电压，而负极性输入端子通过与自身相邻的第奇数个的DAC电路8输入灰阶m的灰阶电压。在此，判断电路3对自身所存储的期待值和运算放大器1的输出进行比较(S144)。如果发现运算放大器1的输出和期待值相异，判断电路3就向判断标记4输出“H”标记。并且，判断标记4在其内部保存由判断电路3输出的“H”标记。

然后，控制电路通过未图示的开关，对DAC电路8输出给运算放大器1的正极性输入端子和负极性输入端子的信号进行切换(S146)。接下来的处理与S147相同(S147)。此外，与S145同样，运算放大器1的输出和判断电路3所存储的期待值相异时，判断电路3向判断标记4输出“H”标记(S148)。

反复进行上述S142～S148的步骤，使得计数器m的值每次都增加1，直至计数器m的值成为n(S149、S150)。

(实施方式2的自行修复)

以下，参照图17，对在判断标记4所存储的是“H”标记的情况下，即，在上述动作确认测试1～5中判断电路3判断出某DAC电路8存在不良缺陷的情况下的修复进行说明。图17是表示将被判断为不良缺陷的DAC电路8与预备DAC电路28A或预备DAC电路28B进行切换而进行自行修复的流程图。

首先，控制电路对判断标记4是否保存了“H”标记进行检测(S151)。如果控制电路检测出判断标记4并没有保存“H”标记，就进入S153的处理。相对于此，控制电路在检测出判断标记4保存了“H”标记的情况下，将与保存了“H”标记的判断标记4相对应的DAC电路切换成预备DAC电路28A或者预备DAC电路28B。由于在实施方式2是以2个DAC电路8为一组进行动作确认，因此，即使发现判断标记4存储了“H”标记，也判别不出1组中究竟是哪个电路发生了不良缺陷。从而，在实施方式2，与保存了“H”标记的判断标记4相对应的1组DAC电路8，即，第奇数个以及第偶数个的2个DAC电路8将被分别切换成预备DAC电路28A以及预备DAC电路28B(S152)。以下，以DAC电路8-1存在有不良缺陷为例，具体进行说明。

在此，DAC电路8-1存在有不良缺陷的情况下，通过动作确认测试1～5，判断电路3-1和判断电路3-2分别向判断标记4-1和判断标记4-2输出同样的“H”标记。然后，判断标记4-1和判断标记4-2分别向开关2c和开关2d输出上述从判断电路3-1和判断电路3-2输入的“H”标记，使得开关2c成为截止、开关2d成为导通。其结果，取样电路26A输入STR1信号，取样电路26B输入STR2信号。由此，取样电路26A通过数据总线取得与液晶驱动用信号输出端子OUT1相对应的灰阶数据，取样电路26B通过数据总线取得与液晶驱动用信号输出端子OUT2相对应的灰阶数据。由于开关2c为截止状态，因此运算放大器1-1的输出和液晶驱动用信号输出端子OUT1之间的连接被切断，运算放大器1-2的输出和液晶驱动用信号输出端子OUT2之间的连接也被切断。此外，由于开关2d为导通状态，因此运算放大器21A的输出和液晶驱动用信号输出端子OUT1之间形成连接，运算放大器21B的输出和液晶驱动用信号输出端子OUT2之间形成连接。

如上所述，将存在有不良缺陷的DAC电路8和与其成对配置的DAC电路8所形成的1组DAC电路8，切换为预备DAC电路28A和预备DAC电路28B，由此，能够将存在有不良缺陷的DAC电路8切换成预备DAC电路26A或者预备DAC电路26B。

然后，控制电路将test信号设定成“L”、将testB信号设定成“H”后，进入通常动作(S153)。

(实施方式3)

在以上说明的实施方式1和实施方式2中，切换电路60(参照图2)被包含在集成电路10或集成电路20中，切换电路60对输出电路块30(参照图2)的灰阶电压和预备输出电路块40(参照图2)的灰阶电压进行切换。但是，本发明并不限定于此，也可以将切换电路60设置在显示面板侧。

以下，作为本发明的实施方式3介绍一种在显示面板侧设置了切换电路60的显示装置90′，其结构和动作如下。在此，只说明本实施方式中的不同于实施方式1的部分，省略重复部分的说明。

(显示装置90′的概略结构)

首先，参照图18，说明本实施方式的显示装置90′的概略结构。图18是表示显示装置90′的概略结构的框图。

如图18所示，显示装置90′具有显示面板80′和集成电路(驱动电路)10′，集成电路10′根据从外部输入的灰阶数据来驱动显示面板80′。在此，集成电路10′不同于集成电路10之处在于不具备切换电路60，其他结构相同。此外，显示面板80′不同于显示面板80之处在于具备切换电路60，其他结构相同。

(显示装置90′的结构)

以下，参照图19，说明本实施方式的显示装置90′的详细结构。图19是表示集成电路10′的结构的框图。

如图19所示，集成电路10′包括：用于通过数据总线从灰阶数据输入端子(未图示)输入与n个输出端子OUT1～OUTn分别相应的灰阶数据的n个取样电路6、n个保持电路7、用于将灰阶数据转换成灰阶电压信号的DAC电路8、对来自DAC电路8的灰阶电压信号起到缓冲器电路作用的运算放大器1、n个判断电路3以及n个上拉/下拉电路5。

此外，如图19所示，集成电路10′还包括根据test信号进行导通/截止切换的多个开关2a、根据testB信号进行导通/截止切换的多个开关2b、根据LF信号进行导通/截止切换的多个开关2f。其中，开关2a、2b以及2f在输入“H”信号时切换成导通，输入“L”信号时切换成截止。并且，集成电路10′还分别具有一个预备取样电路26、预备保持电路27、预备DAC电路28、预备运算放大器21、预备输出端子OUT0等。

另一方面，如图19所示，显示面板80′具有与集成电路10′所具备的输出端子OUT1～OUTn分别连接的连接端子(未图示)、判断标记9-1～9-n(以下进行统称时，称之为判断标记9)、根据来自控制电路(未图示)的LF信号进行导通/截止切换的开关2f、根据LF信号的反转信号LFB信号进行导通/截止切换的开关2e、根据判断标记9的输出信号Flag1～Flagn进行导通/截止切换的开关2c和2d。其中，开关2d、2e、2f在输入“H”信号时切换成导通，输入“L”信号时切换成截止。而开关2c在输入“L”信号时切换成导通，输入“H”信号时切换成截止。

此外，本实施方式的显示面板80′是液晶显示面板，如图19所示，在集成电路10′的各个输出端子OUT，通过开关2e以及开关2c连接数据信号线SL-1～SL-n(以下进行统称时，称之为数据信号线SL)。另外，每个数据信号线SL上都连接有与扫描信号线GL的数量相同个数的像素P。在图19，与数据信号线SL-1连接的像素P称之为像素P-1，与数据信号线SL-n连接的像素P称之为像素P-n。

(实施方式3中的自行修复)

以下，关于本实施方式的显示装置90′，对在动作确认测试的结果表明判断标记4保存了“H”标记的情况下的修复处理进行说明。本实施方式的动作确认测试方法与实施方式1的动作确认测试1～5相同，因此省略说明。

首先，动作确认测试1～5结束的时刻，test信号为“H”，testB信号为“L”。因此，运算放大器1和输出端子OUT之间的连接被开关2b切断。在此，进行动作确认测试1～5之后，控制电路输出“H”的LF信号的同时也输出“L”的LFB信号。由于输出该“H”的LF信号，开关2f成为导通，各判断标记4通过各输出端子OUT与各判断标记9连接。并且，各判断标记4通过各输出端子OUT将自身所保存的“H”标记或者“L”标记作为Flag1～Flagn，输出到各判断标记9。各判断标记9将各判断标记4输出的Flag1～Flagn保存到其内部存储器，并且输出给与自身连接的开关2c以及开关2d。此外，在LF信号为“H”的期间内，由于LFB信号变为“L”，所以各开关2e截止。由此，能够防止判断标记4输出的Flag1～Flagn被输出到数据信号线SL-1～SL-n，其结果，判断标记4输出的Flag1～Flagn不会对像素P造成任何影响。

以下，对显示装置90′的自行修复动作的详细内容进行说明，以与输出端子OUT1相对应的判断标记4-1存储了“H”标记的情况为例进行说明。

首先，与输出端子OUT1相对应的判断标记4-1存储了“H”标记的情况下，换言之，DAC电路8-1存在有不良缺陷时，从判断标记4-1向判断标记9-1输出“H”标记，并且判断标记9-1在自身所具备的内部存储器记录该输出的“H”标记。在本例，判断标记4-2～4-n记录有“L”标记。

然后，判断标记9-1向与自身连接的开关2c以及开关2d输出“H”标记的Flag1。由此，与判断标记9-1连接的开关2c断开输出端子OUT1和数据信号线SL-1之间的连接，并且，与判断标记9-1连接的开关2d接通输出端子OUT0和数据信号线SL-1之间的连接。另外，由于判断标记9-2～9-n分别向与自身连接的开关2c以及开关2d输出“L”标记的Flag2～Flagn，因此，与判断标记9-2～9-n连接的开关2c成为导通，与判断标记9-2～9-n连接的开关2d截止。其结果，各信号线SL-2～SL-n通过开关2e分别连接OUT2～OUTn。

各判断标记9根据判断标记4输出的Flag1～Flagn，对与自身连接的开关2c以及2d进行切换之后，控制电路输出“L”的LF信号的同时也输出“H”的LFB信号。由此，各输出端子OUT2～OUTn和各数据信号线SL-2～SL-n分别相连接。

然后，控制电路输出“L”的LF信号之后，通过输出“L”的test信号和“H”的testB信号，数据信号线SL-1通过输出端子OUT0与运算放大器21的输出相连接。相对于此，数据信号线SL-2～SL-n分别通过输出端子OUT2～OUTn与运算放大器1-2～1-n相连接。由于判断标记4-1所输出的Flag1使得与取样电路6-1连接的开关2d成为导通，因此，输入到取样电路6-1的灰阶数据(与数据信号线SL-1相对应的灰阶数据)也被输入到取样电路26。其结果，与数据信号线SL-1相对应的灰阶数据从输出端子OUT0输入到数据信号线SL-1以取代从输出信号OUT1输入到数据信号线SL-1。关于分别输入取样电路6和预备取样电路26的灰阶数据的切换，与实施方式1的动作相同，因此省略说明。

如上所述，显示装置90′能够通过进行自行修复动作，以预备DAC电路28替代被检测出存在有不良缺陷的DAC电路8，并且向数据信号线SL输出正常的灰阶电压。与实施方式1同样，在本实施方式也具有与预备DAC电路28相对应的预备的取样电路26和保持电路27。因此，不仅是DAC电路8，即使取样电路6或者保持电路7存在有不良缺陷时，也能够切换成预备的取样电路26和保持电路28。

以下，参照图20，对显示装置90′的从接通电源、进行动作确认测试，至进入通常动作的处理顺序进行说明。图20是表示显示装置90′的从接通电源，进行动作确认测试，至进入通常动作的处理顺序的流程图。

如图20所示，首先，显示装置90′检测出用户接通电源的操作之后，对集成电路10进行初期化处理，使得判断标记4所保存的所有标记都成为“L”标记(S161)。然后，控制电路将test信号切换成“H”，将testB信号切换成“L”，将集成电路10′切换成动作确认测试的状态(S162)。然后，控制电路以及集成电路10进行上述动作确认测试(S163)。接着，控制电路对动作确认测试1～5是否已全部完成动作确认测试(S164)。在控制电路在S164中检测出动作确认测试1～5尚未结束的情况下，显示装置90′则根据来自控制电路的指示，返回S163，对未完成的动作进行确认。另一方面，当控制电路在S164中检测出动作确认测试1～5均已完成时，输出“H”的LF信号以及“L”的LFB信号。如果检测出有不良电路(取样电路6、保持电路7、DCA电路9、运算放大器1)，则将不良电路切换成预备电路(取样电路26、保持电路27、DCA电路29、运算放大器21)，最终进入通常动作(S165)。

在本实施方式的显示装置90′中，作为用来保存判断电路3-1的判断结果即标记的电路，具备判断标记4和判断标记9。此外，作为显示装置90′的变形例，可采用如下结构，即，不具备判断标记9、开关2f、开关2e，由判断标记4来控制开关2c和2d的结构。此时，虽然可省去用来控制开关2f和2e的LF信号和LFB信号，但是需要具备用来连接判断标记4和开关2c、2d的配线和连接端子。

(实施方式4)

以上的实施方式1～实施方式3中说明了通过输出端子OUT连接集成电路和显示面板的结构。此外，省去输出端子OUT，集成电路和显示面板为一体化形成的显示装置也属于本发明的范围内。

以下，作为实施方式4，参照图21，对集成电路和显示面板形成为一体化的显示装置90”进行说明。本实施方式的显示装置90”是实施方式1的显示装置90的变形例。在本实施方式，只对不同于实施方式1的部分进行说明，省略重复部分的说明。

(显示装置90”的结构)

首先，参照图21，对本实施方式的显示装置90”的结构进行说明。图21是表示显示装置90”的结构框图。

如图21所示，显示装置90”与实施方式1所示的集成电路10和显示面板80并无区别，运算放大器1和运算放大器21的输出通过开关2b、开关2c以及开关2d与数据信号线SL直接连接。即，本实施方式的显示装置90”与实施方式1的显示装置90的相异之处在于是否具有输出端子OUT，其他的结构完全相同。

在此，说明了作为实施方式1的变形例的本实施方式。此外，在实施方式2和实施方式3也可以采用不使用输出端子OUT的、集成电路和显示面板形成为一体化的结构，具有一体化的结构的显示装置也属于本发明的范围内。

(电视***)

以下，参照图22，对具备了实施方式1的显示装置90的电视***300进行说明。图22是表示电视***300的结构框图。在下述说明中，电视***300所具备的是实施方式1的显示装置90，但是本发明的电视***并不限定于此，也可以替代显示装置90而使用实施方式2～4的显示装置。

(电视***300的结构)

如图22所示，电视***300包括：接收广播波的天线301；将所接收的广播波解调为视频音频信号的调谐器部302；将解调后的视频音频信号分离成视频信号和音频信号的信号分离部303；将分离后的视频信号解码成数字视频信号的视频信号处理部304；取得作为灰阶数据的经解码后的数字视频信号，并根据所取得的灰阶数据通过显示面板80(参照图2)显示视频图像的显示装置90；将分离后的音频信号解码成数字音频信号的音频信号处理部305以及音频信号输出部306。该音频信号输出部306将解码后的数字音频信号转换成模拟音频信号，并且以转换后的模拟音频信号作为声音，通过扩音器进行播放。

(电视***300的动作)

以下，对电视***300的动作处理进行说明。首先，通过天线301接收广播机构播放的广播波，并且向调谐器部302输出已接收的广播波。调谐器部302将接收的广播波解调成视频音频信号，并输出到信号分离部303。信号分离部303将接收的视频音频信号分离成视频信号和音频信号，并且分别输出到视频信号处理部304和音频信号处理部305。视频信号处理部304对接收的视频信号进行解码，使得成为数字视频信号，并且作为灰阶信号向显示装置90输出经解码后的数字视频信号。显示装置90通过其自身具备的显示面板80显示接收到的灰阶数据。另一方面，音频信号处理部305对通过信号分离部303分离的音频信号进行解码，使得成为数字音频信号，并且向声频输出部306进行输出。音频信号输出部306将上述数字音频信号转换成模拟音频信号之后，通过其自身具备的扩音器对模拟音频信号进行播放。

作为视频音频信号取得部，本发明的电视***300使用了天线301和调谐器部302来接收广播机构播送的广播波。但是，本发明并不限定于此，还可以采用从记录介质读取出其记录内容数据的DVD放映机等内容读取装置、通过PC(个人电脑)从互联网上取得信息的结构。

在实施方式1和实施方式4中说明了在接通液晶驱动用半导体集成电路10的电源之后，立即进行动作确认测试以及自行修复处理动作的结构。但是本发明并不限定于此，也可以采用向液晶驱动用半导体集成电路10输入控制信号的结构，由此可在任何定时进行动作确认测试以及自行修复。例如，从显示装置的控制器向液晶驱动用半导体集成电路10输入用于表示显示回扫期间的信号，在该定时进行动作确认测试和自行修复。

此外，还可以在液晶驱动用半导体集成电路10上形成用于对液晶驱动用半导体集成电路10的异常状态进行检测的电路，在液晶驱动用半导体集成电路10发生异常时进行动作确认测试和自行修复处理动作。例如，对液晶驱动用半导体集成电路10输出的信号的电流进行检测，检测出的电流大于设定的电流时，进行动作确认测试和自行修复的处理动作。

此外，也可以定期进行动作确认测试和自行修复的处理动作。例如，在每次不进行视频显示的垂直回扫期间进行，或者在达到预先设定的累计显示时间时进行。

另外，也可以在视频显示期间的一部分进行动作确认测试和自行修复的处理动作。例如，由于在液晶显示装置中，像素对显示电压进行保存，完成显示电压的充电之后，即使将液晶驱动用半导体集成电路10的输出转换成高阻抗，对显示也无影响。在显示期间的一部分，将液晶驱动用半导体集成电路10的输出转换成高阻抗，进行动作确认测试和自行修复的处理动作。此时，如果没有充分的时间进行所有模式的动作确认测试，例如也可以在1显示行的显示期间进行1种模式判断，在显示1个画面的显示期间或者显示多个画面的期间内完成处理动作。

由于本发明的集成电路10(参照图1)能够自行检测自身的缺陷(动作确认测试)，因此有必要停止用于驱动显示面板80(参照图2)的输出信号。集成电路10在进行自行检测的期间内，不能驱动显示面板80。从而，集成电路10的自行检测的定时必须是在对于显示装置的视频显示无影响的期间内。

在本发明的实施方式，作为集成电路10进行自行检测的期间，说明了在接通显示装置的电源时的启动过程中进行集成电路10的自行检测以及自行修复。理由在于，只要是在显示装置的启动过程中，显示装置就不进行视频显示，因此，即使集成电路10进行自行检测和自行修复，也不会对显示装置的视频显示造成影响。

如上所述，本实施方式的集成电路10在接通显示装置的电源时的启动过程中进行检测自身的缺陷的自行检测。但是，本发明并不限定于此，也可以在显示装置的启动过程以外的期间内进行自行检测和自行修复。

以下，对于在显示装置的启动过程以外的期间内进行自行检测和自行修复的情况进行说明。

(实施例1)

(垂直回扫期间的自行检测和自行修复)

首先，作为第1个实施例，在显示装置的垂直回扫期间内进行集成电路10的自行检测和自行修复，该自行检测和自行修复不对显示装置的视频显示造成影响。其理由如下。

以下，参照图23(a)～(f)，对于向显示装置输入各种信号的定时进行说明。图23(a)～(f)是表示向液晶显示装置输入各种信号的定时的时序图。

图23的(a)表示扫描信号线SCN1，扫描信号线SCN1是从用于驱动显示装置的扫描线的扫描侧驱动电路输出的、赋予显示装置的第1条扫描信号线的扫描信号；同图的(b)表示从扫描侧驱动电路输出的、赋予显示装置的第2条扫描信号线的扫描信号线SCN2；同图的(c)表示从集成电路10(参照图2)传输给视频信号反转电路的、与显示装置的第j条数据信号线相对应的视频信号DSj；同图的(d)表示从视频信号反转电路传输给数据侧驱动电路的、与显示装置的第j条数据信号线相对应的视频信号DRVj；同图的(e)表示传输给显示装置的第j条数据信号线的视频信号DATAj；同图的(f)表示施加在与显示装置的第1条扫描信号线、第j条数据信号线同时连接的像素的驱动电压VD1j。此外，图23中所示的时刻t1～t5的期间TV是显示装置进行垂直扫描的期间，期间TV1是垂直回扫期间，时刻t1～t3的期间TH是进行水平扫描的期间，时刻t2～t3的期间TH1是水平回扫期间。上述视频信号反转电路在每个水平扫描期间TH以及垂直扫描期间TV对显示装置的各像素的显示电极的极性进行反转，因此，上述视频信号反转电路是对集成电路10的视频信号DSj的极性进行反转的电路。

如图23的(a)和(b)所示，扫描侧驱动电路对于显示装置的各扫描信号线，从第1条扫描信号线开始，使扫描的定时依次延迟水平扫描期间TH，依次输出扫描信号SCN1、扫描信号SCN2...、扫描信号SCNm。此外，在每个垂直扫描期间TV，扫描侧驱动电路对于显示装置的各扫描信号线，反复输出各扫描信号SCN1～扫描信号SCNm。在此，显示装置包括m个扫描信号线。

如图23(c)所示，集成电路10输出的视频信号DSj被输入到视频信号反转电路。然后，视频信号反转电路在每个水平扫描期间TH，对视频信号DSj的极性进行反转，并且在每个垂直扫描期间TV，也对极性进行反转，生成图23(d)所示的视频信号DRVj。此外，视频信号反转电路将生成的视频信号DRVj传输给数据侧驱动电路。

然后，数据侧驱动电路在每个水平扫描期间TH，对视频信号反转电路的视频信号DRVj进行取样，并且使得取样信号值延迟1个水平扫描期间TH，然后作为图23的(e)表示的视频信号DATAj传输给显示装置的第j条数据信号线。

然后，在与第1条扫描信号线和第j条数据信号线同时连接的显示装置的像素(以下称之为像素1j)，根据时刻t1～t2的水平扫描期间TH的扫描信号SCN1，像素1j内的TFT导通。其结果，通过第j条数据信号线，时刻t1～t2的视频信号DATAj的视频信号电压被作为驱动电压VD1j施加在像素1j内的显示电极。在时刻t2～t5，对于施加在像素1j的显示电极的驱动电压VD1j，即使像素1j内的TFT的导通被切断，也能够继续保持时刻t1～t2之间的电压电平。同样，在与第2条扫描信号线和第j条数据信号线同时连接的显示图像的像素(以下称之为像素2j)，根据时刻t3～t4的水平扫描期间TH的扫描信号SCN2，像素2j内的TFT导通。其结果，通过第j条数据信号线，在时刻t3～t4，视频信号DATAj的视频信号电压被作为驱动电压VD2j施加在像素2j内的显示电极。同样对于施加在像素2j的显示电极的驱动电压，即使像素2j内的TFT的导通被切断，也能够继续保持时刻t3～t4之间的电压电平。

如上所述，对于显示装置的各像素的驱动电压，即使各像素内的TFT的导通被切断时，也能够继续保持TFT导通时被施加的驱动电压的电压电平。因此，扫描侧驱动电路并不向扫描信号线输出用于导通各像素的TFT的扫描信号SCN1～SCNm。换言之，在各像素的TFT的导通被切断的垂直回扫期间TV1，显示装置并不需要向各像素的显示电极施加电压。即，集成电路10并不需要输出作为驱动电压的视频信号DSj，即使切断集成电路10和显示装置之间的电连接，对于显示装置的视频显示也并无影响。

从而，只要是在显示装置的垂直回扫期间，集成电路10能够不影响显示装置的视频显示地进行自行检测以及自行修复。

(整个集成电路10的动作不良缺陷检测)

在本实施方式，集成电路10通过自行检测处理对其自身的输出电路块的不良缺陷进行检测，检测对象是所有的输出电路块。即，按照与各数据信号线相对应的每个输出电路块逐一进行检测。因此，进行自行检测处理时需要一定的时间。

由此，如果集成电路10的各输出电路块上不存在有动作不良缺陷的可能性时，集成电路10就没必要进行自行检测处理。换言之，只要在各输出电路块有可能发生动作不良缺陷的情况下进行集成电路10的自行检测处理即可。

在此，集成电路10具有动作判断电路，能够对整个集成电路10是否可能存在有动作不良缺陷进行判断。通过动作判断电路，只在判断出集成电路10的某处有可能存在有动作不良缺陷的情况下，才进行自行检测处理，从而能够防止不必要的自行检测处理。

以下，参照图24～图26，对集成电路10所具有的动作判断电路200进行说明，判断电路200对整个集成电路10是否存在动作不良的可能性进行判断。

首先，如果集成电路10发生动作不良缺陷时，提供给集成电路10的电源电流将大于正常动作的情况，换言之，电源电流将大于在产品出库检查被判断为良品的初期阶段的水平。即，如果提供给集成电路10的电源电流的值比正常动作时的值大出规定程度，就意味着集成电路10发生了动作不良缺陷。对此，动作判断电路200对提供给集成电路10的电源电流值进行检测，根据检测出的电源电流的值，判断集成电路10是否存在动作不良缺陷。

(动作判断电流200的结构)

以下，参照图24，对动作判断电路200的结构进行说明。图24是表示动作判断电路200的结构框图。

如图24所示，动作判断电路200包括电阻(检测部)202和开关203，电阻202和开关203被设在集成电路10和用于给集成电路10提供电源的VA201之间，并且电阻202和开关203并联连接。此外，动作判断电路200还包括与电阻202和开关203的集成电路10侧的一端相连接的A/D转换器(检测部)204、用于对A/D转换器204输出的输出信号进行输入的开关205、与开关205的一侧的输出端子相连接的非挥发性存储器EEPROM206(正常电流值保存部)、与开关205的另一侧的输出端子相连接的数据锁存电路207、用于对EEPROM206的输出值和数据锁存电路207的输出值进行比较的比较电路(电流值比较部、驱动电路判断部)208。此外，比较电路208通过其输出端子将比较电路208的比较结果输送到集成电路10所具有的控制电路。集成电路还通过控制电路对开关203和开关205的切换进行控制。

(动作判断电路200的概略动作)

动作判断电路200预先将与集成电路10的正常动作时的电源电流值相对应的值作为基准数据保存在EEPROM206。在此，动作判断电路200对集成电路10是否发生了动作不良缺陷进行判断时，首先检测与提供给集成电路10的电源电流值相对应的值，再对检测得到的值和预先保存在EEPROM206的基准数据的值进行比较，如果检测得到的值比基准数据的值大且超过规定值，就做出集成电路10存在有动作不良缺陷的判断。并且，动作判断电路200向集成电路10所具备的控制电路输出用于表示集成电路10有动作不良缺陷的信号，控制电路根据该信号开始自行检测处理和自行修复处理。

(生成和保存基准数据的处理)

如上所述，动作判断电路200需预先在EEPROM206中保存基准数据。以下，参照图25，对动作判断电路200在EEPROM206保存基准数据的处理进行说明。图25是表示动作判断电路200在EEPROM206中保存基准数据的动作处理的流程图。

如图25所示，生成基准数据时，控制电路断开开关203，VA201的电源电流流入电阻202(S301)。在此，电阻202的电阻值是使集成电路10在正常动作时电阻202引起的电压降为0.1V的电阻值。在此，优选在考虑集成电路的消耗电流的基础上，来决定电阻202的电阻值。

然后，A/D转换器204将电阻202的在集成电路10侧的一端的电压值转换成数字值(S302)。A/D转换器204通过开关205将转换的数字值输入EEPROM206。EEPROM206将该从A/D转换器204输入的数字值作为基准数据进行保存(S303)。在S303中开关205根据控制电路的指示进行切换，实现A/D转换器204和EEPROM206之间的连接。

然后，在EEPROM206保存基准数据之后，控制电路使开关203短路，集成电路10恢复至通常动作状态(S304)。在具备了集成电路10的显示装置产品的出库阶段，换言之，在通过各种各样的出库检查判断出集成电路10处于正常的阶段，进行S301～S304中的基准数据的生成和保存处理。

(通过动作判断电路200检测动作不良缺陷的处理)

以下，参照图26，就通过动作判断电路200来检测集成电路10的动作不良缺陷的处理进行说明。图26是表示通过动作判断电路200对集成电路10的动作不良缺陷进行检测处理的流程图。

如图26所示，首先控制电路进行控制，使得开关203断开，VA201的电源电流流入电阻202(S305)。

然后，A/D转换器204将电阻202的在集成电路10侧的一端的电压值转换成数字值(S306)。A/D转换器204通过开关205将转换的数字值输入数据锁存电路207。数据锁存电路207将该从A/D转换器204输入的数字值作为检测数据进行保存(S307)。在S306中开关205根据控制电路的指示进行切换，实现A/D转换器204和数据锁存电路207之间的连接。

然后，比较电路208读取EEPROM206所保存的基准数据和数据锁存电路207所保存的检测数据，并且对读取到的基准数据值和检测数据进行比较(S308)。比较电路208还对基准数据的值和检测数据的值之间的差是否为预定的值以上(例如，3以上的数字值)进行检测(S309)。当基准数据的值和检测数据的值之差达到了预定的值以上(例如，3以上的数字值)，比较电路208就向集成电路10的控制电路发出表示集成电路10存在有动作不良缺陷的信号。

在此，控制电路接收到比较电路208发出的表示集成电路10存在有动作不良缺陷的信号之后，开始进行集成电路10的自行检测(S311)。在集成电路10的自行检测中，当集成电路10检测出自身的输出电路块存在有不良缺陷，集成电路10将存在有不良缺陷的输出电路块的输出切换成预备输出电路块的输出，进行自行修复。通过S311的集成电路10的自行检测，如果未能检测出输出电路块的不良缺陷，可考虑是因其他原因导致的电源电流值变动。在此情况下，如果由于电源电流值有变动，动作判断电路200则进行S301～S304所示的基准数据的生成和保存处理，并且将变动后的电源电流值作为新的基准数据保存在EEPROM206(S312)。进行S312之后，控制电路使开关203短路，动作判断电路200和集成电路10恢复至通常动作状态(S310)。

此外，在S309，比较电路208检测出基准数据的值和检测数据的值之差未达到预定的值(例如，小于3的数字值)时，进入S310的处理。

(实施例2)

(集成电路10的定期自行检测)

集成电路10还可以定期进行自行检测(动作确认测试)和自行修复。具体而言，在上述实施例1的显示装置的每个垂直回扫期间，集成电路10可以进行自行检测(动作确认测试)和自行修复的处理。此时，对垂直同步信号进行计数，显示的次数每次达到规定数时进行处理。此时，可以在非挥发性存储器中形成计数器，通过计数器对垂直同期信号的次数进行计数。此外，集成电路10还可以具备用于测定时间的计时器，通过该计时器来记录动作时间，每次达到预先设定的累计动作时间时，集成电路10就进行自行检测和自行修复。

(实施例3)

此外，也可以在显示装置进行视频显示的显示期间的一部分时间内进行集成电路10的自行检测(动作确认测试)和自行修复的处理动作。例如，由于显示装置的各像素保持显示电极的电压，因此显示电极结束充电之后，即使将集成电路10的输出端子OUT1～OUTn设成高阻抗，显示装置的视频显示也不会受影响。

从而，在显示装置进行视频显示的显示期间的一部分时间内，将集成电路10的输出端子OUT1～OUTn设成高阻抗，进行自行检测(动作确认测试)和自行修复的处理动作。作为将输出端子OUT1～OUTn设成高阻抗的一个例子，可以举出在每个用来连接输出端子OUT1～OUTn和显示装置的信号传输路径上串联设置开关，通过断开该开关，使得输出端子OUT1～OUTn和显示装置成为高阻抗，换言之，切断电连接。

此外，自行检测(动作确认测试)包括在实施方式1中说明的几种模式。在此，如果没有充分的时间进行所有模式的自行检测(动作确认测试)，也可以在1显示行的显示期间，进行一部分模式的自行检测(动作确认测试)(例如1种)。由此，能够在显示装置的相当于1帧的显示期间或者多帧的显示期间内进行所有模式的自行检测(动作确认测试)。另外，通过采用上述非一次性完成所有模式的自行检测的方法，而是分多次进行进行所有模式的自行检测(动作确认测试)的方法，能够在图23所示的水平回扫期间进行自行检测(动作确认测试)。

在上述实施例1～3中，以实施方式1的集成电路10为例进行了说明。但是，本发明并不限定于此，也能够适用于实施方式2和实施方式3的集成电路10’、20以及实施方式4的显示装置90”。

此外，在本实施方式1～4中，对于以液晶显示面板实施视频显示的液晶显示装置进行了说明。但是，本发明并不限定于此，也能够适用于液晶显示装置以外的显示装置，例如等离子电视等。

本发明并不限定于上述各种实施方式，能够在权利要求的范围内进行变更，通过对不同的实施方式所揭示的技术进行适宜组合而获得的实施方式也属于本发明的范畴内。

此外，本发明的显示装置驱动用集成电路还能够具有以下的结构。

(第1结构)

本发明的用于驱动显示装置的集成电路的特征在于：在每个用于驱动显示装置的输出端子具备输出电路、输出缓冲器以及上述输出电路和输出缓冲器以外的预备输出电路、预备输出缓冲器。在输出缓冲器上使用运算放大器，使得输出缓冲器具有自动对输出电路的动作进行确认的功能。对输出电路的动作进行确认时，使上述运算放大器作为比较器进行动作，通过作为比较器进行动作的运算放大器，对上述预备输出电路输出的电压值和从每个输出端子的输出电路输出的电压值进行比较，从而对上述预备输出电路和每个输出端子的输出电路的动作进行确认。

(第2结构)

本发明的基于上述第1结构所示的用于驱动显示装置的集成电路，其特征在于：通过动作确认，如果判断出存在有动作不良缺陷的、与输出端子相连接的输出电路和输出缓冲器，就使用上述预备输出电路和预备输出缓冲器进行替代，从而实现输出电路和输出缓冲器的自行修复。

(第3结构)

本发明的用于驱动显示装置的集成电路的特征在于：在每个用于驱动显示装置的输出端子具备输出电路、输出缓冲器以及上述输出电路和输出缓冲器以外的预备输出电路和预备输出缓冲器；还具备能够自动对输出电路的动作进行确认并可存储用于表示动作确认结果的标记的寄存器；在输出缓冲器上使用运算放大器，对输出电路的动作进行确认时，使上述运算放大器作为比较器进行动作，并通过作为比较器进行动作的上述运算放大器，对上述预备输出电路输出的电压值和从每个输出端子的输出电路输出的电压值进行比较，从而对上述预备输出电路和每个输出端子的输出电路的动作进行确认，并将用于表示动作确认结果的标记存储在上述寄存器，且使用上述预备输出电路和预备输出缓冲器替代与存储了表示为已存在有不良缺陷的标记的输出端子相连接的输出电路和输出缓冲器，从而实现输出电路和输出缓冲器的自行修复。

(第4结构)

本发明的用于驱动显示装置的集成电路的特征在于：在每个用于驱动显示装置的输出端子具备输出缓冲器以及该输出缓冲器以外的预备输出缓冲器；在输出缓冲器上使用运算放大器，使上述运算放大器作为比较器进行动作，并且向比较器施加预先准备的输入电压，根据上述输入电压，计算出上述比较器的理论输出电压值，并且以该理论输出电压值作为期待值；对上述期待值和通过施加上述输入电压而获得的上述输出缓冲器的输出电压进行比较，当与期待值相异时，将上述输出缓冲器替换成上述预备输出缓冲器。

(第5结构)

本发明的基于上述第1结构至第4结构中任意一种的用于驱动显示装置的集成电路，其特征在于：接通电源时，对输出端子的输出电路或者输出缓冲器的动作自动进行确认，并且进行自行修复，即，使用预备电路替换已存在有动作不良缺陷的输出电路或者输出缓冲器后，进行显示动作。

如上所述，本发明的显示面板驱动用集成电路包括比较部、判断部和连接切换部，其中，比较部用于对输出电路输出的输出信号和预备输出电路输出的输出信号进行比较；判断部用于根据比较部的比较结果，判断输出电路是否存在不良缺陷；在判断部判断出存在不良缺陷时，通过连接切换部，以预备输出电路与上述输出端子进行连接替代输出电路与上述输出端子进行连接。从而，即使驱动电路已安装于显示面板后也能够简单地检测出输出电路的缺陷，并能够在输出电路存在有缺陷时自行进行修复。

在本发明的详细说明中介绍的具体实施方式和实施例，其目的在于明确本发明的技术内容，并不表示对本发明的解释只局限与这些具体例的狭义范围内，在根据本发明的精神和权利要求的范围内，可进行各种各样的变更并实施之。

(工业可利用性)

本发明提供一种具备能够对输出电路的缺陷进行检测和自行修复的具体构件并易于处理输出电路的不良缺陷的显示装置驱动用集成电路，尤其能够适用于大型液晶显示装置和高清晰电视。

Claims (19)

1.一种驱动电路，用于驱动显示面板，其特征在于：

具有自行修复部，该自行修复部用于对存在有不良缺陷的上述驱动电路自身进行自行修复。

2.根据权利要求1所述的驱动电路，其特征在于：

具有用于输出输出信号的输出电路，该输出信号是用于驱动上述显示面板的信号；

上述自行修复部具有用于对上述输出电路是否存在有不良缺陷进行判断的判断部；

在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，对上述驱动电路自身进行自行修复，使得对上述显示面板输出正常的输出信号。

3.根据权利要求2所述的驱动电路，其特征在于：

具有能够对上述显示面板输出上述输出信号的预备输出电路；

上述自行修复部具有切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，作为对上述显示面板的输出信号，该切换部将由存在有不良缺陷的输出电路所输出的输出信号切换为由上述预备输出电路所输出的输出信号。

4.根据权利要求3所述的驱动电路，其特征在于：

上述判断部具有用于对上述输出电路所输出的输出信号和上述预备输出电路所输出的输出信号进行比较的比较部，并基于该比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷。

5.一种显示装置，其特征在于：

具有上述权利要求1至4中任意一项所述的驱动电路以及上述显示面板。

6.一种显示装置，具有显示面板和驱动电路，该驱动电路包括用于输出输出信号的输出电路，该输出信号是用于驱动上述显示面板的信号，该显示装置的特征在于：

上述驱动电路还包括用于对上述输出电路是否存在有不良缺陷进行判断的判断部以及能够对上述显示面板输出上述输出信号的预备输出电路；

上述显示面板具有切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，作为对上述显示面板进行驱动的输出信号，该切换部将存在有不良缺陷的输出电路所输出的输出信号切换为上述预备输出电路所输出的输出信号。

7.一种显示装置，其特征在于包括：

显示面板；

输出电路，输出用于驱动上述显示面板的输出信号；

预备输出电路，能够对上述显示面板输出上述输出信号；

判断部，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；以及

切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，作为对上述显示面板进行驱动的输出信号，将存在有不良缺陷的输出电路所输出的输出信号切换为上述预备输出电路所输出的输出信号。

8.一种电视***，其特征在于，

具有权利要求5至7中任意一项所述的显示装置。

9.一种驱动电路，其用于驱动显示面板，且具有与上述显示面板连接的输出端子、输出电路块以及预备输出电路块，该输出电路块包含有能够与上述输出端子连接的输出电路，该预备输出电路块包含有与上述输出端子连接的预备输出电路，该驱动电路的特征在于，还包括：

比较部，用于对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；

判断部，基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；

连接切换部，在上述判断部的判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路，使上述预备输出电路与上述输出端子进行连接。

10.根据权利要求9所述的驱动电路，其特征在于：

上述比较部为运算放大器。

11.根据权利要求9所述的驱动电路，其特征在于：

上述输出电路块以及上述预备输出电路块还包含有使用了运算放大器的输出缓冲器，并使用上述运算放大器作为上述比较部，在上述判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路块，使上述预备输出电路块与上述输出端子进行连接。

12.根据权利要求9所述的驱动电路，其特征在于：

上述输出电路块以及上述预备输出电路块还包含有使用了运算放大器的输出缓冲器和用于对输入至输出电路的信号进行保存的电路，并使用上述运算放大器作为上述比较部，在上述判断结果表示为存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路块，使上述预备输出电路块与上述输出端子进行连接。

13.根据权利要求9至12中任意一项所述的驱动电路，其特征在于：

还包括用于对输入上述输出电路以及上述预备输出电路的输入信号进行控制的控制部，其中，

该控制部对上述输出电路以及上述预备输出电路输入大小不同的输入信号，且输出与大小不同的上述输入信号分别对应的、来自上述比较部的比较结果的期待值；

上述判断部在上述比较结果和上述期待值为不同的情况下，判断出上述输出电路存在有不良缺陷。

14.根据权利要求9至13中任意一项所述的驱动电路，其特征在于：

还具有用于存储标记的标记存储部，该标记表示上述判断部的判断结果；

上述连接切换部在上述标记的值表示上述输出电路存在有不良缺陷的情况下，取代上述输出电路，使上述预备输出电路与上述输出端子进行连接。

15.根据权利要求9至14中任意一项所述的驱动电路，其特征在于：

在对上述显示面板所显示的图像不产生影响的期间，

上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；

上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；

在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接；

在上述连接切换部使上述输出端子与上述预备输出电路的输出之间实现连接后，上述预备输出电路对上述输出端子输出输出信号。

16.根据权利要求9至15中任意一项所述的驱动电路，其特征在于，还包括：

检测部，对提供给上述驱动电路的电源电流的值进行检测；

正常电流值保存部，预先保存有上述驱动电路在正常动作时的上述电源电流的值；

电流值比较部，对来自上述检测部的电源电流的值和来自正常电流值保存部的电源电流的值进行比较；

驱动电路判断部，基于上述电流值比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷，

其中，

在上述驱动电路判断部的判断结果表示存在有不良缺陷的情况下，

上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；

上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；

上述连接切换部在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

17.根据权利要求9至16中任意一项所述的驱动电路，其特征在于：

在上述显示面板接通电源后，

上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；

上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；

在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

18.根据权利要求9至16中任意一项所述的驱动电路，其特征在于：

在上述显示面板的垂直回扫期间，

上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；

上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；

在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

19.根据权利要求9至18中任意一项所述的驱动电路，其特征在于：

还包括用于断开上述输出端子至上述显示面板的信号传输路径的断开部，

在上述断开部断开上述输出端子至上述显示面板的信号传输路径后，

上述比较部对来自上述输出电路的输出信号和来自上述预备输出电路的输出信号进行比较；

上述判断部基于上述比较部的比较结果，判断上述输出电路是否存在有不良缺陷；

在通过上述判断部判断为存在有不良缺陷的情况下，上述连接切换部将判断为存在有不良缺陷的输出电路与上述输出端子的连接切换为上述预备输出电路与上述输出端子的连接。

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